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散斑干涉实验

散斑干涉实验
散斑干涉实验

散斑干涉实验

光信息科学与技术08级3班 组别:B17

一、实验目的

1、了解散斑的性质及特点。

2、掌握散斑和离面散斑的测试方法。

二、实验原理

1、散斑的形成

当相干光照射一个粗糙物体的表面(或通过透明的粗糙面)时,在物体表

面前的空间,可得到一种无规律分布且明暗相间的颗粒状光斑,称为散斑。要

形成散斑且散斑质量较好必须具备以下条件:

(1)有能发生散射光的粗糙表面;

(2)粗糙表面深度须大于入射光波长;

(3)入射光线的相干度要足够高,如使用激光。

图1、散斑图像

散斑携带了散射面的丰富信息,可以通过散斑的性质来推测物体表面的性质。由于这种办法的无损、快速等诸多优点,它被广泛应用于工业控制的缺陷检测、医学的光活检等领域,且受到越来越多的关注

2、散斑的大小

散斑颗粒的大小,可用它的平均直径来表示,颗粒尺寸的严格定义是两相邻亮斑间距离的统计平均值。此值由产生散斑的激光波长及粗糙表面圆型照明区域对该散斑的孔径角'

u 决定:

散斑平均半径=='0.6/sin u λ (1)

上式说明散斑的大小粗略对应于散射光的干涉条纹间距。散斑的形状与照明区域的形状有关,若照明区域增大则散斑变小。上面所讲的散斑是由粗糙表面的散射光干涉而直接形成的,称为直接散斑(如图2所示)。若经过一个光学系统,在它的像平面上形成的散斑,称为成像散斑,亦称主观散斑(如图3所示)。

图2、客观散斑的形成 图3、主观散斑原理图

成像平面上P 点的散斑直径v σ,决定于透镜出射光瞳对P 点的孔径角'

u ,即

='0.6/sin u λ=0.6/NA λ=1.2(1+M )F λ (2)

其中NA 为透镜的数值孔径,M 是透镜的放大率。

主观散斑是物面上的散斑图像成像所得,这个物方散斑图的平均直径用表示:

='0.6/M*sin u 0.6/M*NA λλ= (3)

3、散斑的光强分布

正常散斑图是杂乱无章的随机散斑图,其强度分布为负指数概率密度函数。概率最大的 强度趋于零,即黑散斑比其他强度的散斑都多。

若把来自同一光源的均匀亮度的参考光束加到散斑场上参考光方向必须沿形成散斑的光束方向,该参考光会影响散斑的大小与强度分布。当引入较强的参考光时由于产生主干涉现象,干涉条纹间隔加倍,散斑直径也加倍。

4、离面位移(形变)的散斑测量

设A 1、A 2分别是被测场M1与参考面M2产生的散斑场在P 点上的振幅。P 点合成振幅为A 1+ A 2,强度取决于A 1、A 2的位相。当物体M1位移(或变形)后,若位相差的改变为2π,4π,……相应的程差改变为λ,2λ,……,变形前后的散斑场强度一致,称为相关。若程差改变为λ/2,3λ/2,……,亮散斑变为黑散斑,称为不相关。将变形前后的图像拍下来,对两幅散斑图像进行相减,可得相关位移信息。 5、RMS 值和pv 值

面型是光学制造中的重要精度指标之一,简单来说是表面不平整度。面型的两个参数PV 和RMS 值,PV 是表示表面的最高处与最低处的差值,RMS 值是表面高低的平均值。

max min PV x x =- (4)

RMS = (5)

Em 是测量的最大值与均方根值之差,即

max Em x RMS =- (6)

三、实验用具与装置

实验用具:激光器、金属片、平面反射镜、分光棱镜、CCD 光电接收器、透镜、衰减器,可调光阑,扩束

镜。

实验装置:

图4、测量光路图

四、实验步骤

1、打开激光多功能光电测试实验仪的电源(CSY-10L 型),激光器开至Ⅲ档迅速起辉,等待约10s ,激光光强稳定,回拨至Ⅰ档。检查CCD 光电接收器上的电信号灯是否亮。

2、按照图4,把所需仪器装在对应的位置,注意图中2、

3、

4、

5、6的位置已经调好。

3、把可调光阑的位置调到成像透镜的后焦面上,孔径调到最小。用纸挡住散斑样品(分别为钢片、铝片、铜片)的光束,然后调节参考平面镜工作台的俯仰角度,微调旋钮,使其反射的光束入射到光阑的孔

径之内,再反过来用同样的方法调节散斑样品的反射光入射到光阑内,并使两束光会聚的焦点重合。

4、打开软件csylaser,选择实验类型A,按“活动图像”键。调节CCD的位置使条纹清晰后锁定它,使

光强适中。微调工作台10、11的微调旋钮使干涉条纹清晰,然后调节11上的测微螺杆或在csylaser上按“PZT自动扫描”的“开始”键,使反射镜产生轴向位移,并观察条纹平移。若条纹有明显平移现象,则表明调节成功,否则得重调光路。

5、打开软件wave,点击“实时采样”按钮打开采样窗口,选择扫描周期为1,扫描步数为8,再点击“采样”,扫描完毕后按“返回”键,返回主界面,并保存扫描图片。

6、旋进工作台10的旋进按钮,使散斑样品产生微弱位移,然后再重复步骤4~6。点击工具栏上的“工具”

菜单,选择“波面相减”键,打开刚才保存的文件1,得到所要的形变量的图,保存它的综合数据图。

操作注意事项:

1、注意衰减器消光的作用以及使用

2、调节准直透镜与扩束镜的对焦要有耐心

3、要用纸片垫在反射前面边上,防止压坏镜面

4、当放入钢片和铝片时,由于其反射率强,所以反射镜前不用放衰减器;而放入铜片时,由于铜片的反

射率低,所以要用衰减器滤去反射镜过强的反射光。

5、成像透镜焦距为18cm

五、实验过程记录与数据处理分析

1、调节光路共轴,两光斑与光阑处重合。

2、于csvlaser软件观察,现象为:反射镜移动条纹移动数正向增加时,条纹往里收缩;条纹移动减小时,

条纹往外扩张。

3、用不同样品进行实验,对比散斑图,观察到,钢片样品散斑比较亮,铝样品其次,铜样品散斑最暗,

这与各样品的反光性质及表面粗糙程度有关。

4、用Wave软件实时采样,得出三维立体透视图及测试结果。

由于实验图像不能从电脑上拷贝出来,只能用到拍摄到的数据。

回想实验过程,可以知道钢片和铝片的散斑干涉图样都比较亮,条纹也较清晰;其中数钢片的散斑亮度最大、条纹更均匀,这是由于钢的反射率最大的缘故。三者中铜的反射率最低,因此散斑要较模糊,亮度很低,并且其中的干扰光已占不小部分。

分析结果数据的参数:测试波长 =632.80nm,被检测口径D=24.84mm

由上分析可得分析数据如表1:

表1 各样品的散斑数据

由表1可以看出,样品表面的光滑程度由大到小分别是:钢片、铝片、铜片。

此实验数据结果还是挺好的,说明实验比较符合理论分析。

六、思考题

1、什么叫散斑和成像散斑?散斑干涉技术有何用途?

答:当一束激光射到物体的粗糙表面上时,由该物体上各点散射的光强位相是随机分布的,他们相加以后的振幅与位相都是随机的,故在粗糙表面前面的空间将布满明暗相同的亮斑与暗斑,这些亮斑与暗斑的分布是杂乱的,所以称为散斑,散斑布满整个空间。散斑经过一个光学系统,在它的像平面上形成的散斑,即为成像散斑。本实验采用成像散斑,有利于利用透镜从空间散斑中确定所需的散斑采样面,同时也方便利用CCD进行数据采集。

被激光照明的粗糙物面在透镜的像面上形成散资图,此法称为散斑照相。若这时另外加一个相干的参考光,该相干的参考光可以是平面波、球面波.甚至是另一粗糙面的散斑场,这种组合散斑场的技术,就称为散斑干涉术。激光散斑干涉在许多领域得到应用。包括:测量纵向位移的散斑干涉技术,测量横向位移的散斑干涉技术,激光散射法测量圆柱内孔表面质量,测量粗糙表面光洁度等等。

2、什么叫做成像散斑?散斑技术有何用途?

答:在直接散斑的粗糙面与观察屏之间加入一个光学系统,使散射光在光学成像系统的像平面上形成散斑,称为成像散斑。

由于散斑携带着物体粗糙表面的某些信息,借助于散斑不仅可以研究物体粗糙表面本身的信息,而且还可研究其形状与位置的变化。当物体表面(或内部)的某一点发生相应的微小位移时,要引起所对应的散斑点发生相应的移动。利用散斑分析技术如二次曝光的照相方法将物体表面(或内部)产生的微小位移前后的散斑记录在同一张记录材料上时,通过分析比较就可测量出物体表面(或内部)的微小位移和形变。该方法用于无损检测中就可检测出被测物表面或内部的缺陷。利用散斑作为信息载体测量漫反射表面位移和变形检测就是有散斑照相术和散斑干涉。散斑照相术在实验力学检测获得一系列的应用,如面内位移、位移梯度、表面斜率和形貌等的测量;散斑干涉主要用于离面位移和形貌的测量。

3、怎样从数据图读出被测面位移量?

答:使散斑样品产生微弱的离面位移,将位移后得到的散斑图像与位移前的图像进行“图像相减”,得到所要的散斑形变量。

4、散斑干涉测量中,什么情况称相关?什么情况称不相关?

答:当样品发生位移(形变)时,前后两散斑场的位相差发生变化,合成的散斑场强度随之发生变化。

若位相差的改变为

,

4,

π

……,即程差的改变为

,2,

λλ

……,则变形前后的散斑场强度一致,此种情况

称为相关。

若位相差的改变为

,

3,π

π

……,即程差的改变为

/2,3/2,

λλ

……,则变形前后的散斑场明暗相反,此种情

况称为不相关。

5、散斑的基本性质?

答:当相干光照射一个粗糙物体的表面(或通过透明的粗糙面)时,在物体表面前的空间,可得到一种无规律分布且明暗相间的颗粒状光斑,称为散斑。散斑颗粒的大小定义是两相邻亮斑间距离的统计平均值,此值是由产生散斑的激光波长及粗糙表面圆形照明区域对该散斑的孔径角所决定。散斑的强度分布为负指数概率密度函数,这种完全杂乱无章的随机散斑图称为正常散斑图。

散斑干涉实验

散斑干涉实验 光信息科学与技术08级3班 组别:B17 一、实验目的 1、了解散斑的性质及特点。 2、掌握散斑和离面散斑的测试方法。 二、实验原理 1、散斑的形成 当相干光照射一个粗糙物体的表面(或通过透明的粗糙面)时,在物体表 面前的空间,可得到一种无规律分布且明暗相间的颗粒状光斑,称为散斑。要 形成散斑且散斑质量较好必须具备以下条件: (1)有能发生散射光的粗糙表面; (2)粗糙表面深度须大于入射光波长; (3)入射光线的相干度要足够高,如使用激光。 图1、散斑图像 散斑携带了散射面的丰富信息,可以通过散斑的性质来推测物体表面的性质。由于这种办法的无损、快速等诸多优点,它被广泛应用于工业控制的缺陷检测、医学的光活检等领域,且受到越来越多的关注 2、散斑的大小 散斑颗粒的大小,可用它的平均直径来表示,颗粒尺寸的严格定义是两相邻亮斑间距离的统计平均值。此值由产生散斑的激光波长及粗糙表面圆型照明区域对该散斑的孔径角' u 决定: 散斑平均半径=='0.6/sin u λ (1) 上式说明散斑的大小粗略对应于散射光的干涉条纹间距。散斑的形状与照明区域的形状有关,若照明区域增大则散斑变小。上面所讲的散斑是由粗糙表面的散射光干涉而直接形成的,称为直接散斑(如图2所示)。若经过一个光学系统,在它的像平面上形成的散斑,称为成像散斑,亦称主观散斑(如图3所示)。 图2、客观散斑的形成 图3、主观散斑原理图 成像平面上P 点的散斑直径v σ,决定于透镜出射光瞳对P 点的孔径角' u ,即 ='0.6/sin u λ=0.6/NA λ=1.2(1+M )F λ (2) 其中NA 为透镜的数值孔径,M 是透镜的放大率。 主观散斑是物面上的散斑图像成像所得,这个物方散斑图的平均直径用表示: ='0.6/M*sin u 0.6/M*NA λλ= (3) 3、散斑的光强分布 正常散斑图是杂乱无章的随机散斑图,其强度分布为负指数概率密度函数。概率最大的 强度趋于零,即黑散斑比其他强度的散斑都多。

激光散斑测量讲解

引言 散斑现象普遍存在于光学成像的过程中,很早以前牛顿就解释过恒星闪烁而行星不闪烁的现象。由于激光的高度相干性,激光散斑的现象就更加明显。最初人们主要研究如何减弱散斑的影响。在研究的过程中发现散斑携带了光束和光束所通过的物体的许多信息,于是产生了许多的应用。例如用散斑的对比度测量反射表面的粗糙度,利用散斑的动态情况测量物体运动的速度,利用散斑进行光学信息处理、甚至利用散斑验光等等。激光散斑可以用曝光的办法进行测量,但最新的测量方法是利用CCD和计算机技术,因为用此技术避免了显影和定影的过程,可以实现实时测量的目的,在科研和生产过程中得到日益广泛的应用,因此是值得在教学实验中推广的一个实验。本实验的目的是让学生初步了解激光散斑的特性,学习有关散斑光强分布和散射体表面位移的实时测量方法:相关函数法,通过本实验还可以了解激光光束的基本特点以及CCD光电数据采集系统。这些都是当代科研和教育技术中很有用的基本技术和知识。 实验原理 激光散斑的基本概念: 激光自散射体的表面漫反射或通过一个透明散射体(例如毛玻璃)时,在散射表面或附近的光场中可以观察到一种无规分布的亮暗斑点,称为激光散斑(Laser Speckles)或斑纹。如果散射体足够粗糙,这种分布所形成的图样是非常特殊和美丽的(对比度为1)。

激光散斑是由无规散射体被相干光照射产生的,因此是一种随机过程。要研究它必须使用概率统计的方法。通过统计方法的研究,可以得到对散斑的强度分布、对比度和散斑运动规律等特点的认识。 图1 光散斑的产生(图中为透射式,也可以是反射式的情形) 图1说明激光散斑具体的产生过程。当激光照射在粗糙表面上时,表面上的每一点都要散射光。因此在空间各点都要接受到来自物体上各个点散射的光,这些光虽然是相干的,但它们的振幅和位相都不相同,而且是无规分布的。来自粗糙表面上各个小面积元射来的基元光波的复振幅互相迭加,形成一定的统计分布。由于毛玻璃足够粗糙,所以激光散斑的亮暗对比强烈,而散斑的大小要根据光路情况来决定。散斑场按光路分为两种,一种散斑场是在自由空间中传播而形成的(也称客观散斑),另一种是由透镜成像形成的(也称主观散斑)。在本实验中我们只研究前一种情况。当单色激光穿过具有粗糙表面的玻璃板,在某一距离

散斑干涉实验

数字散斑干涉法测量横梁的面内位移 摘要:运用数字散斑干涉法研究横梁的面内位移。数字散斑计量采用CCD记录数字散斑图,因此不需要进行显影和定影等冲洗处理。数字散斑计量除了可以采用相加模式外,还可以采用相减模式。采用相减模式不需要进行滤波处理即可显现干涉条纹。 关键词:数字散斑干涉法,面内位移,散斑图。 20世纪70年代采用光电子器件(摄像机)代替全息地底片记录散斑图并存储在磁带上,由摄像机输入的物体变形后的散斑图通过电子处理方法不断与磁带中存储的物体变形前的散斑图进行比较后显示器上显示散斑干涉条纹,这种方法称为电子散斑干涉法。 进入20世纪80年代,随着计算机技术、电荷耦和器件和数字图像处理技术的快速发展,散斑计量技术进入了数字化时代,出现了数字散斑干涉法。数字散斑干涉法把物体变形前后的散斑图通过采样和量化变成数字图像,通过数字图像处理再现干涉条纹或相位分布。目前,数字散斑干涉已经取代了电子散斑干涉法。 另外,随着计算机技术,光电子技术与图像处理技术的发展,出现了数字散斑相关技术。同时,基于散斑计量技术,还出现了粒子图像测速技术。数字散斑计量的基本原理与传统散斑计量(也称为光学散斑计量)相同,差别主要表现在传统散斑计量由于采用全息底片记录散斑图,因此需要进行显影和定影等冲洗过程。另外,传统散斑计量只能采用相加模式,因此必须进行滤波处理,以便消除直流分量从而显现干涉条纹。而数字散斑计量由于采用CCD 记录数字散斑图,因此不需要进行显影和定影等冲洗处理。另外通过CCD记录的物体变形前后的数字散斑图可以存储咋同一帧存中,也可以存储在不同的帧存中,因此数字散斑计量除了可以采用相加模式,还可以采用相减模式或相关模式。采用相减模式不需要进行滤波处理即可显现干涉条纹。 目前该技术可进行变形、振型、形状、温度分布和无损检测等方面的测量,建筑物现场监测、复合材料的无损检测、焊缝质量检测、表面粗糙度检测等方面的研究都有过详细的报道。总之,该技术在航空航天、轮机工程、土木电子及生物医学等领域的测试中有非常重要的地位。 1、实验目的 采用数字散斑干涉技术和相移干涉技术测量物体的残余变形分布,通过相位解展开技术获取残余变形场的连续相位分布。加深对散斑干涉的感性认识,学会使用数字散斑计量技术对散斑干涉进行分析以及位移的计算。 2、实验设备和器具

激光散斑测量实验报告

实验报告 陈杨 PB05210097 物理二班 实验题目:激光散斑测量 实验目的: 了解单光束散斑技术的基本概念,并应用此技术测量激光散斑的大小和毛玻璃的面内位移。 实验内容: 本实验中用到的一些已知量:(与本次实验的数据略有不同) 激光波长λ = 0.0006328mm 常数π = 3.14159265 CCD像素大小=0.014mm 激光器内氦氖激光管的长度d=250mm 会聚透镜的焦距f’=50mm 激光出射口到透镜距离d1=650mm 透镜到毛玻璃距离=d2+P1=150mm 毛玻璃到CCD探测阵列面P2=550mm 毛玻璃垂直光路位移量dξ和dη, dξ=3小格=0.03mm,dη=0 光路参数:P1=96.45mm ρ(P1)=96.47mm P2= 550mm dξ=3小格=0.03mm (理论值) 数据及处理: 光路参数: P1+d2=15cm P2=52.5cm

d1=激光出射口到反射镜的距离+反射镜到透镜距离=33.6+28.5=62.1cm f ’=5cm d=250mm λ=632.8nm (1)理论值S 的计算: 经过透镜后其高斯光束会发生变换,在透镜后方形成新的高斯光束 由实验讲义给的公式: 2'2 012'11 '' 2)()1(d f W f d d f f λπ+--- = πλd W 01= 201W d πλ= 代入数据,可得: '' 1 21 221''12 2 22 01 02 2 2 2101102 d 15(1)() 5 62.11559.6332439.63362.12515511f d f cm P d d f f cm cm P cm cm cm cm cm cm cm cm d W W d d W d f f W λπ πλ???? ? ? ???? ?????? ?? ? ? ? ? ? ? ? ????? ???? -=-=--+-=-+ =≈-+= = -+-+= 可得 由公式-31.80010cm ≈? 此新高斯光束射到毛玻璃上的光斑大小W 可以由计算氦氖激光器的

剪切电子散斑干涉仪的实验应用

万方数据

图1是剪切散斑的光路图 L:扩束镜;M:反射镜;W:Wollaston棱镜;P:偏振镜。楔块的楔角为a,肛是折射率,在像平面上被测量物体的剪切量: 觑’=Dl(肛一1)口 同样地,如折合到物体表面的剪切量为 n 既=甄7is.--0=Do(p—1)口(1) 工,l 其中D。和D。分别为透镜到物体表面和到成像平面的距离。这里假设楔块的楔角是沿x方向。图2为剪切散斑记录光路。同样,如楔块的楔角是沿Y方向的则剪切也是沿,,方向。 图2剪切散斑记录光路 对于整个物体来说,在像平面上形成了两个互相剪切的像,它们的波前分别为: U(X,y)=otexp[O(x,,,)](2) U(菇+舐,Y)=aexp[o(x+舐,Y)](3) 这里a表示光的振幅分布,p(菇,,,)和p(z+缸,Y)分别表示为两个剪切像的相位分布。这样,在像平面上两个像叠加结果为: Ur=re(茗,Y)=ty(菇+舐,y)(4) 其光强则为: ,=UrUr‘=2a2[1+cos∥_]r] ∥x=秒(菇+融,),)一日(茁,,,)(5) 当物体变形后,光波将形成一个相位的相应变化△∥。变形后的光强将变为: ,’=2a2[1+1308(∥x+△∥j)](6) 在剪切电子散斑干涉中,采用光电子元件(通常CCD摄像机)进行记录并直接输入计算机。它采用与电子散斑干涉法相同的信息表征模式,即用变形前后两幅散斑图像相减,其合成的记录光强为式(5)和现代科学仪器20081(6)相减: Ir=I,7(r)一,(r)I =|4Ⅱ2sinh学】sin学I(7)这种相减方式把本底光强或背景光强去除,而突 出了由于变形引起的相位变化△矽。的结果。当△勿。=2nor+儡r/2,其中,l=0,4-1,4-2…时,,,为极大值,即为亮条纹,从(7)可以看出,通过计算机可以很快地、直接地获得表示物体位移导数的条纹图。但是由于其存在的高频散斑的调制,图像质量较差,所以,必须采用滤波以及相位处理的方法进一步处理。 3实验设备 我们实验所采用的剪切电子散斑干涉仪是由同济大学与上海71l研究所联合研制的。剪切电子散斑干涉大多使用剪切棱镜,棱镜是由两个直角棱镜组成,当一束光垂直人射到棱镜表面上时,在后表面形成两束互相分开的,振动方向互相垂直的平面偏振光。这两束光互为参考光和物光而干涉,但其振动方向互相垂直,所以需要在棱镜后加一块偏振片,使其振动方向相同。图3为ESSPI的内部构造,图4为整套设备。它的优点在于光路布置简单,两束相干光波强度基本相等,因而可达到等光强的要求。: 图3仪器内部构造 图4整套设备  万方数据

激光散斑测量2011412225741

实验名称:激光散斑的测量 实验目的: 1.测量散斑的统计半径(通过计算散斑场各点光强的自相关函数并拟合求出)W P S πλ2 = 。2.测量散斑的位移(通过计算两个散斑场各点光强的互相关函数并拟合求出))) (1(12 P P d x x ρ+=?。3.由以上两式求出照在毛玻璃上光斑的大小以及毛玻璃的实际位移量等。 实验原理: 1.激光散斑的基本概念 激光自散射体的表面漫反射或通过一个透明散射体(例如毛玻璃)时,在散射表面或附近的光场中可以观察到一种无规分布的亮暗斑点,称为激光散斑(laser Speckles )或斑纹。如果散射体足够粗糙,这种分布所形成的图样是非常特殊和美丽的。 激光散斑是由无规散射体被相干光照射产生的,因此是一种随机过程。要研究它必须使用概率统计的方法。通过统计方法的研究,可以得到对散斑的强度分布、对比度和散斑运动规律等特点的认识。 图2说明激光散斑具体的产生过程。当激光照射在粗糙表面上时,表面上的每一点都要散射光。因此在空间各点都要接受到来自物体上各个点散射的光,这些光虽然是相干的,但它们的振幅和位相都不相同,而且是无规分布的。来自粗糙表面上各个小面积元射来的基元光波的复振幅互相迭加,形成一定的统计分布。由于毛玻璃足够粗糙,所以激光散斑的亮暗对比强烈,而散斑的大小要根据光路情况来决定。散斑场按光路分为两种,一种 散斑场是在自由空间中传播而形成的(也称客观散斑),另一种是由透镜成象形成的(也称主观散斑)。在本实验中我们只研究前一种情况。当单色激光穿过具有粗糙表面的玻璃 以是反射式的情形)

板,在某一距离处的观察平面上可以看到大大小小的亮斑分布在几乎全暗的背景上,当沿光路方向移动观察面时这些亮斑会发生大小的变化,如果设法改变激光照在玻璃面上的面积,散斑的大小也会发生变化。由于这些散斑的大小是不一致的,因此这里所谓的大小是指其统计平均值。它的变化规律可以用相关函数来描述。 2. 激光散斑光强分布的相关函数的概念 如图3所示激光高斯光束(参见附录1)投射在毛玻璃上(ξ,η),在一定距离处放置的观察屏(x,y)上的形成的散斑的光强分布为I(x,y)。 (1)自相关函数 假设观察面任意两点上的散斑光强分布为I(x 1,y 1),I(x 2,y 2),我们定义光强分布的自相关函数为: G (x 1,y 1;x 2,y 2)=〈I(x 1,y 1) I(x 2,y 2) 〉 其中I(x 1,y 1)表示观察面上任一点Q 1的光强,I(x2,y2)表示观察面上另一点Q 2上的光强,〈〉表示求统计平均值。根据散斑统计学和衍射理论得G (?x ,?y )=〈I〉2[1+ exp (-(?x2+?y2)/S 2)] 进行归一化处理,可以得到归一化的自相关函数为: 其中S 的意义即代表散斑的平均半径。这是一个以1为底的高斯分布函数。从附录2中可以知道S 与激光高斯光斑半径W (在毛玻璃上的光斑)的关系式为W P S πλ/2=,因此测量出S 的大小就可以求出W (2)两个散斑场光强分布的互相关函数: 假设观察面任意一点Q 1上的散斑光强分布为I(x 1,y 1),当散射体发生一个变化后(如散射体发生一个微小的平移2 20ηξd d d +=)观察面任意一点Q 2上的散斑光强分布为I’ (x 2,y 2)。我们定义光强分布的互相关函数为:G C (x 1,y 1;x 2,y 2)=〈I(x 1,y 1) I’(x 2,y 2) 〉 同理可得,两个散斑场的互相关函数为: }])) (/1([ ex p{}])) (/1([ ex p{1{),(22 122122S P P d y S P P d x I y x G C ρρηξ++?-++?-+>==

激光散斑和激光多普勒测量

激光散斑和激光多普勒测量 从图1.3 可知,激光散斑主要应用于微循环的血流监测,这是因为激光散斑测量 法相对于放射性微球技术 [25] 、荧光示踪检测法 [26] 和氢离子稀释 [27] 等方法,具有非接触、 无创伤、能对血流分布快速成像等优点。具有相同优点的另外一种光学检测技术——激光多普勒速度测量技术,是利用粒子散射光的强度波动引起的多普勒频移来测量散射子的速度,它可用于监控血流以及人体其它组织或器官的运动。激光多普勒技术用于测量血流速度的研究始于20 世纪70 年代,至今已经发展为成熟的医疗诊断工具。与激光多普勒技术不同的是,激光散斑是受激光照射物体产生的随机干涉效应的颗粒状图案。如果物体由单个移动散射体(如血细胞)组成,散射图案会有波动。这些波动包含了散射体运动变化的信息。尽管激光散斑技术看起来和激光多普勒技术大相径庭,一个是多普勒现象,一个是干涉现象,但是通过数学分析,这两种方法在最终的数学表达上是可以统一的 (1.1 a)描述的是频率变化引起的强度变化,(1.1 b)是相位变化引起的强度变化。可以 看出激光散斑和激光多普勒是观察同一现象的两种不同途径,却各有自身的发展。 相干光照射的运动散射粒子会引起光强的随机波动,其物理基础可以通过两种方 式来表示:随机相干图案的波动(时间积分和微分的时变散斑或动态散斑)和不同频率之间产生的拍频和混频(多普勒频移)。图1.4 展示了运动散射粒子引起的随机光强波动的测量方法。 .2 激光散斑测量与统计特性 5 固体或流体的散射粒子运动时,会产生多普勒频移。对同向运动的散射体,其所 有的或大部分的散射光具有相同的频移,这时需要加入参考光源来产生频率差。不移动的参考光源与运动散射粒子频移的频率差与散射粒子的运动速度相关,这就是典型的激光多普勒测速仪的外差测量法。当散射粒子运动产生的多普勒频移具有一定的范围,即产生了多普勒频移谱,这时频移之间会发生相互的自拍频,在零频附近展开,此为频率的零差,可以使用光子相干光谱测量 [14,15] 。

毕业设计论文——激光散斑测物体位移

武汉轻工大学 毕业设计(论文) 论文题目:基于激光散斑进行位移测量 院系: 电气与电子工程学院 学号: 101204222 姓名: 王斌 专业: 电子信息科学与技术 指导老师: 李丹 二零一四年五月

摘要 用散斑法测量无题的位移、应变、振动、等是散斑法在实验力学中的主要应用之一。这种测量方法不但有非接触的优点,而且可以测量面内及离面的位移。物体表面以及内部的应变、比较圆满地解决振动与瞬变的问题。本文主要介绍了散斑测量技术的发展情况,对激光散斑的特性进行了系统的分析。 激光散斑测量法是在全息方法基础上发展起来的一种测量方法,这种方法具有很强的实用价值。散斑位移测量不仅可以实现离面微位移的测量,也可以进行面内微位移测量。主要是对面内微位移进行了测量研究,利用设计的测量系统将物体发生位移前后的散斑图由CCD记录下来,分别用数字散斑相关法和散斑照相法对散斑图像进行了分析处理,并得出了相应的结论。最后,对以上两种测量法的特点和测量误差产生的原因都作了简单的分析和比较。 关键词:激光散斑;位移测量;数字图像处理;位移散斑图

Abstract One main application of the speckle measurement method in experimental mechanics is to measure the displacement, strain, vibration and so on. This method can not only processed non-contact measurement, but also can measure the in-plane or out-plane displacement and transient. In this paper, we introduced the development of speckle measurement technique, and systemically analyzed the characters of speckle. The laser speckle based on holography is of great practical value and can measure micro-displacement. In surface micro-displacement is focused on in this paper. The two laser speckle patterns are respectively shot before and after the object is moved. Digital speckle correlation method and speckle photography are used to measure a small displacement moved along x or y axle. The above two methods are compared at the end of the paper. Keywords:laser speckle; displacement measurement; digital image process; displacement of speckle pattern

数字散斑干涉(DSPI)研究的文献综述

数字散斑干涉振动测量技术研究进展 摘要:数字散斑干涉技术(DSPI)是一种光学测试方法,具有非接触、高灵敏度、全场、实时、无损检测的特点,在振动测量方面有着较大的优势。本文从图像处理、相移技术等方面阐述了数字散斑干涉振动测量的发展现状,并对其中的关键技术进行了比较和分析。 关键词:数字散斑干涉,振动测量,数字图像处理,相移技术 Research Progress on V ibration Measurement Using Digital Speckle Pattern Interferometry Abstract:Digital speckle pattern interferometry (DSPI) is an optical testing and measuring method,a non-contact, high-sensitivity, full-field, real-time, non-destructive one, which has an advantage in vibration analysis. This paper introduces the recent progress on DSPI vibration measurement from aspects of digital image processing and phase shifting, also compares and analyzes their key technologies. Keywords:Digital speckle pattern interferometry; Vibration measurement; Digital image processing; Phase shifting 0 引言 散斑计量技术是现代光测力学技术中的一种。它具有非接触、无损、全场、高精度、实时测量的特点,在轮廓、应变、位移和振动测量方面有着广泛的应用前景[1]。目前广泛采用的振动测试技术,包括加速度传感器、应变式传感器等,由于均为单点测量,且会为结构带来附加质量,从而对振动产生影响,无法应用于微小振动测量。数字散斑干涉振动测量技术可以直接显示被测表面的模态振型,并且对环境稳定性的要求低于全息干涉方法[2],这一系列优势使数字散斑干涉法成为激光测振技术中的一个重要分支。 采用激光散斑来研究振动测量的方法,最先由Massey于1968年开始进行研究。随后发展起来的散斑剪切干涉法[3],从而实现了对振动中形变的导数进行测量。在最初的散斑计量技术中,用于记录散斑条纹图的介质为全息干板。此后,随着电子技术的发展,出现了采用磁带记录散斑图的测量方法,即电子散斑测量技术,最初于20世纪70年代初由J.N.Butters和J.A.Leendertz

激光散斑的测量讲解

激光散斑的测量 By 金秀儒 物理三班 Pb05206218

实验题目:激光散斑的测量 学号:PB05206218 姓名:金秀儒 实验目的: 了解激光散斑的统计特性,学会两种处理激光散斑的重要方法----自相关函数法和互相关函数法。 实验仪器: 氦氖激光器,全反射镜,双偏振片,透镜,毛玻璃, CCD ,计算机。 实验原理: 激光自散射体的表面漫反射或通过一个透明散射体时,在散射体表面或附近的光场中可以观察到一种无规则分布的亮暗斑点,称为激光散斑。 (1)自相关函数 假设观察面任意两点上的散斑光强分布为I 11(x ,y ),22I (x ,y ), 我们定义光强分布的自相关函数为: G (x1,y1;x2,y2)=〈I(x1,y1) I(x2,y2) 〉 进行归一化处理,可以得到归一化的自相关函数为: 222(,)()/1exp[()/]g x y G x I x y S ??=?<>=+-?+? (2)两个散斑场光强分布的互相关函数: 假设观察面任意一点Q1上的散斑光强分布为I 11(x ,y ),当散射体发生一个变化后(如散射体发生一个微小的平移220d d d ξη= +Q2上的散斑光强分布为I'11(x ,y ) 定义光强分布的互相关函数为:11221122GC x ,y ;x ,y )=(;可以,归一化的互相关函数为:21212 22 (1/()) (1/()) (,)1exp{[ ]}exp{[ ]}C x d P P y d P P g x y S S ξηρρ?++?++??=+-- 实验光路图 1.氦氖激光器 2.双偏振片 3.全反射镜 4.透镜 5.毛玻璃 https://www.wendangku.net/doc/002205946.html,D 7. 计算机

激光散斑位移测量方法研究

第23卷 第1期2008年3月 北京机械工业学院学报 Journal of Beijing I nstitute ofM achinery Vol.23No.1 Dec.2008 文章编号:1008-1658(2008)01-0039-03 激光散斑位移测量方法研究 李晓英,郎晓萍 (北京信息科技大学 光电信息与通信工程学院,北京100192) 摘 要:激光散斑测量法是在全息方法基础上发展起来的一种测量方法,这种方法具有很强的实用价值。散斑位移测量不仅可以实现离面微位移的测量,也可以进行面内微位移测量。 主要是对面内微位移进行了测量研究,利用设计的测量系统将物体发生位移前后的散斑图由CCD 记录下来,分别用数字散斑相关法和散斑照相法对散斑图像进行了分析处理,并得出了相应的结论。最后,对以上两种测量法的特点和测量误差产生的原因都作了简单的分析和比较。 关 键 词:激光散斑;位移测量;数字图像处理 中图分类号:O436.1 文献标识码:A Research of d ispl acem en t m ea surem en t ba sed on l a ser speckle L I Xiao2ying,LANG Xiao2p ing (School of Phot oelectric I nfor mati on and Telecommunicati on Engineering, Beijing I nfor mati on Science and Technol ogy University,Beijing100192,China) Abstract:The laser s peckle based on hol ography is of great p ractical value and can measure m icr o2 dis p lace ment.I n surface m icr o2dis p lace ment is focused on in this paper.The t w o laser s peckle patterns are res pectively shot bef ore and after the object is moved.D igital s peckle correlati on method and s peckle phot ography are used t o measure a s mall dis p lace ment moved al ong x or y axle.The above t w o methods are compared at the end of the paper. Key words:laser s peckle;dis p lace ment measure ment;digital i m age p r ocess 散斑测量与其他测量方法相比具有光路简单、成本低、调试及操作方便等优点,从而在位移测量中得到了广泛的应用。其实,散斑不仅可测量物体的位移和形变,还可测量振动、无损探伤等等。散斑在精细无损计量方面具有很大的发展潜力,是目前研究的一个热点[1]。所以对散斑特性和规律研究具有非常重要的意义[2]。 1激光散斑测量基本原理 1.1散斑照相法 当一束激光射到粗糙物体表面时,光被物体表面反射后在成像空间形成散斑。若将物体发生微小位移前后的散斑分别对记录介质曝光一次,就会得到一副双曝光散斑图,光强度分布为: I(x,y)=I0(x,y)+I0(x-Δx,y-Δy)(1) I0(x,y)表示第一次曝光光强,I0(x-Δx,y-Δy)表示第二次曝光光强,Δx,Δy分别指物体发生的面内微位移。根据全息原理知,记录介质的振幅透过率与光强成线性关系,即: t(x,y)=a-bI(x,y)(2)式中,a与b为常数。 因为当物体发生一个较小的面内位移时,可以认为前后两张散斑图的微观结构相同,仅有一个相对位移。当用一束细平行激光照射该散斑图时,在接收平面上可以接受到散斑图的夫琅和费衍射图样(杨氏条纹),其振幅分布由记录介质振幅透过率的傅里叶变换决定,经分析可得出微位移和条纹间距之间的关系[3,4]: Δx= λL M d x Δy= λL M d y (3) 收稿日期:2008-01-16 作者简介:李晓英(1975-),女,山西原平市人,北京信息科技大学光电信息与通信工程学院讲师,硕士,主要从事光学的教学与研究工作。

电子剪切散斑干涉技术

第3章剪切散斑干涉技术 3.1 剪切散斑干涉技术的概念 剪切散斑干涉技术(Shearography)因其快速准确的检测能力在航空航天领域得到广泛认可,它与红外热成像检测技术(Thermography)一样,都是一种高效率的无接触无损检测技术,可以用于进行大面积的检测,在检测同时可以提供被测构件的完整图像的即时成像功能。与Thermography 不同的是Shearography 是一种光学传感技术,它利用激光照射在构件身上产生的散斑,对构件的表面破损、变形进行全面检测,所以它也是一种散斑干涉测量技术。 Shearography源自1971年诺贝尔物理学奖得主Dennis Gabor发明的全息干涉技术(Holography),可以说Shearography属于Holography系列,是Holography的一个简化版本。 由于Holography需要在宁静、避震的环境下才能发挥出功效,香港大学机械工程学系教授洪友仁于1980年将Holography改良,于是发明了Shearography,之后便将其应用于检测汽车轮胎上,不久洛杉矶发生飞机爆胎意外,FAA开始强制要求所有航空公司必须用Shearography检测飞机轮胎,自此之后,因轮胎问题而引起的飞机意外很少有发生。 近年来美国LTI(Laser Technology Inc.)公司开始将Shearography用于飞机无损检测。他们开发出基于Shearography的标准无损检测系统,可以用来检测部件的分层、脱胶、裂纹、空隙、冲击损伤、损坏的修补部位以及任何对结构完整性造成影响的缺陷。它可以应用于许多不同材料的检测,包括碾压材料,复合材料,蜂窝结构以及泡沫材料等,尤其对蜂窝结构的检测得心应手。 Shearography起初只作为一种生产工具应用于B-2隐形轰炸机计划,经过几年的评估,它的适用性和灵敏度得到证明后,航空宇航部件生产线便全线装备这套系统,目前NASA正使用它为航天飞机、Delta IV以及X-33实验机服务。

全息干涉与散斑干涉综述

全息干涉与散斑干涉技术综述报告 全息干涉无损检测技术是无损检测技术中的一个新分支,它是20世纪60年代末期发展起来的,是全息干 涉计量技术的重要应用。 我们知道结构在外力的作用下,将产生表面变形。若结构存在缺陷,则对应缺陷表面部位的表面变形与 结构无缺陷部位的表面变形是不同的。这是因为缺陷的存在,使得缺陷部位的结构的刚度、强度、热传导系 数等物理量均发生变化的结果。因而缺陷部位的局部变形与结构的整体变形就不一样。应用全息干涉计量技 术就可以把这种不同表面的变形转换为光强表示的干涉条纹由感光介质记录下来。 而激光散斑技术是在激光全息实验中,我们观察被激光所照射的试件表面,就可以看到上面有无数的小 斑点,因而观察不到条纹,因此在前期,散斑是被看作是噪声来对待的,直到随着人们对全息干涉技术的进 一步了解,才发现虽然这些斑点的大小位置都是随机分布的,但所有的斑点综合是符合统计规律的,在同样 的照射和记录条件下,一个漫反射表面对应着一个确定的散斑场,即散斑与形成散斑的物体表面是一一对应的。在一定范围内,散斑场的运动是和物体表面上各点的运动一一对应的,这就启发人们根据散斑运动检测,来获得物体表面运动的信息,从而计算位移、应变和应力等一些力学量。 因此全息和激光散斑方法由于其固有的高灵敏度,在非破坏性测试领域发现了越来越多的应用。可探测 到表面及地下的裂缝、空洞、脱层和分层等缺陷。由于这些方法测量了在外部加载或其他条件的影响下,在 这三个维度下研究对象的变形,它们也可以用于质量控制,也可以用于设计阶段。激光散斑的方法,还利用 了电子检测和处理的发展(称为电视全息术),并可用于实时定量评价。本综述报告主要介绍利用光纤光刻技术,对全息和激光散斑测量方法进行了全面的研究,这两种方法都适用于焊接、复合材料的检验。 Introduction Holography is a two step process of recording a wavefront and then reconstructing the wave. While Holography is often used to obtain the recreations of beautiful 3-dimensional scenes, there are several engineering applications, the most common and important one being Holographic Non-Destructive Testing . This is accomplished with holographic interferometry, wherein interferometry is carried out with holographically generated wavefronts . A speckle pattern is generated when an object with a rough surface is illuminated with a highly coherent source of light such as laser. Initially this speckle noise was considered as the bane of holographers, until it was realized that these speckles carry information about the surface that produce them. Again, as in the case of holography, the combination of interferometric concepts with speckle pattern correlation gave rise to speckle interferometry . The developments in electronic detection and processing further added wings to laser speckle methods giving rise to Electronic Speckle Pattern Interferometry (ESPI), or “TV Holography”. This paper describes a brief outline of holographic and speckle methods for Non-Destructive Testing applications, wherein the deformations of an object under load are measured in a non-contact way. Measurement of surface shapes using contouring and derivatives of displacement using Shearography are also presented. 1.Holography The schematic for recording a hologram is shown in Fig.1. The light from a laser is split into two beams. One beam illuminates the object and the other beam is used as a reference. At the recording plane, an interference of the Fig. 1 : Experimental arrangement for recording a hologram. wavefront scattered by the object with the reference wavefront takes place. A recording is made on a high resolution photographic plate. The developed plate, now called a “Hologram”, when illuminated by the reference wave, reconstructs the object wave. There are several recording geometries such as in-line, off-axis, image plane, Fourier Transform, reflection and rainbow holograms. The theory behind the recording and reconstruction of object wavefront is well documented . 1.1Holographic Interferometry (HI) While holography is used to obtain recreations of beautiful 3-D scenes, most engineering applications of holography make use of its ability to record slightly different scenes and display the minute differences between them. This technique is called Holographic Interferometry (HI). Here

激光散斑检测与三维激光检测

激光散斑检测与三维激光检测 专业:测控技术与仪器 学号:12081403 姓名:黄春萍

引言 激光的发现进一步扩大了光学技术的应用范围,提高了光学技术在国民经济中的地位。激光的引入不仅使经典干涉技术开拓了测试范围,也提高了测量精度,而且激光技术大大带动了全息、散斑技术在工程应用方面的进展。传统的干涉仪只能检测透明介质的性能和检测光学表面的缺陷,而全息、散斑干涉的功能扩展到检测任何粗糙表面的形变、位移等力学特性。从而为无损检测技术开拓了一条宽阔的发展之路,并大大提高了检测精度、检出率和可信度。 当激光甚至白光自物体表面漫反射,或通过透明散射体时,在散射体附近或表面广场中,可以观察到或照相记录下一种无规则分布的明暗颗粒状斑纹,成为散斑。近年来发展起来的散斑摄影术和散斑干涉度量术,正是应用了激光的散斑形成一种崭新的光学测量方法,有广泛的应用前景。 一、激光散斑 1.激光散斑特性 (1)经透镜成像形成的散斑为主观散斑,在自由空间传播形成的散斑是客观散斑 (2)散斑的大小,位移及运动是有规律的,它可以反映激光照明区域内物体及传播介质的物理性质和动态变化。 (3)随机过程,统计方法研究散斑的强度分布,对比度和大小分布等。

2.散斑的概念及研究方法 激光自散射体的表面漫反射或通过一个透明散射体(例如毛玻璃)时,在散射表面或附近的光场中可以观察到一种无规分布的亮暗斑点,称为激光散斑(laser Speckles)或斑纹。 激光散斑是由无规散射体被相干光照射产生的,因此是一种随机过程。要研究它必须使用概率统计的方法。通过统计方法的研究,可以得到对散斑的强度分布、对比度和散斑运动规律等特点的认识。3. 散斑的成因及散斑的类型 在光场通过自由空间传播的条件下,从可见光波长这个尺度看,物体的表面一般都很粗糙,这样的表面可以看作是由无规分布的大量面元构成。当相干光照明这样的表面时,每个面元就相当于一个衍射单元,而整个表面则相当于大量衍射单元构成的“位相光栅”。对比较粗糙的表面来说,不同衍射单元给入射光引入的附加位相之差可达2π的若干倍。经由表面上不同面元透射或反射的光振动在空间相遇时将发生干涉。由于诸面元无规分布而且数量很大,随着观察点的改变,干涉效果将急剧而无规地变化,从而形成具有无规分布的颗粒

北航_仪器光电综合实验报告_变形衍射测量及散斑测量实验

仪器科学与光电工程学院 仪器光电综合实验实验 报告 变形衍射测量及散斑测量实验 2012/5/23

实验一变形的全场衍射测量 一、 实验目的: 用光衍射方法测量全场的变形 二、 实验原理: 当激光衍射不仅发生在一点上,而发生在被激光照明的狭缝全长上,就可测定全长上的变形量,因此,激光衍射是一种有效的全场测量。变形的衍射全场测量是一种设备简单,技术可靠的方法,其原理如图所示。当柱体试样没有承载受力时,衍射条纹是近于平行的直线,当加载后,得到反映柱体变形的二 维衍射条纹。测量条纹的形变就获得精密的一个截面上的变形量,转动试样并作连续记录就可测定试件的三维变形。因此,可以快速精密测量直线性、平行度、表面平整度等各种计量指标。 三、 实验步骤: 按照图示安排光路并调整: Figure 2系统光路 调整步骤: 1、 激光不扩束; 2、 移入移动反射镜4,并在玻璃棒架上装上玻璃棒,将试件夹19换成全场衍射试件。 3、 将分光镜14转90o,然后使得光通过定向孔11后对准玻璃棒, 这时可以看出通 Figure 1变形衍射参考图

过玻璃棒以后的光变成了一条竖直均匀的光(通过调节达到该效果)。 4、调节平面镜12、13和分光镜14,使得上一步骤调出的竖直光均匀的射到全 场衍射试件的狭缝中(稍微偏下侧的橡皮处)。 5、调节透镜20、全场衍射试件及分光镜14使得光射到CCD23上,然后锁定CCD。 6、调节全场衍射试件上的螺旋测微器,观察图象。 四、实验结果及思考题回答: 1、实测未加压前衍射效果图: Figure 3实测衍射效果 2、实测未加压前不同高度处横截面灰度值分布曲线: Figure 4纵轴坐标1