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CT取电装置

CT取电装置
CT取电装置

CT取电产品说明

1.应用背景

随着经济的发展,人民生活水平的提高,人们对供电质量提出了更高要求,对供电可靠性提出了更高标准,因此,发展城市配网,实现配网自动化是供电网络发展的必然趋势。建设配网通信系统对实现配网自动化具有极端的重要性和迫切性。配网自动化中的故障指示器的主要作用首先在于实时监测配网运行状态,其次在电网发生故障时实现快速故障定位和隔离,缩短故障处理时间,从而缩短停电时间,提高供电可靠性。

2.应用范围

2.1.配电自动化(故障指示器)

配网建设是电网建设的重心,特别是故障指示器得到广泛的应用,由于体积小、安装方便,电流感应电源已成为故障指示器系统中最主要的取电方式。

2.2.户外智能开关柜

户外智能开关柜是一种潮流,传统的户外开关柜由高压开关、电缆、母线、操作附件等组成,由于缺少电源,很少包括二次设备,部分用电压互感器引出电源的方式实现了简单的智能控制,但该方式给高压PT带来很大的安全隐患,远不如电流感应电源可靠,如能用电流感应电源、超能储能电容等技术实现电流感应电源供电,将对智能环网柜等设备的自动化水平带来极大的提高。

2.3.高压输电监控

在2008年电网冰雪灾害后,输电线路和输电铁塔的监控应用广泛,供电方式仍是一大技术难题,如能有效解决可靠性和取电功率,电流感应电源是最理想的取电方式。

2.4.电缆状态监控

随着城市电力电缆建设的大力推进,电缆监控的应用也日益增多。

2.5.有源电子互感器

有源电子式互感器在智能变电站应用很广,其高压部分需要电源,如能解决电流感应电源的可靠性和高性能,将可大幅度提高其寿命与成本节约。

2.6.高压带电作业工具

电力系统正越来越多的开展带电作业,电流感应电源给这些高压带电作业工具提供了很好的高压侧电源,如巡线机器人、除冰机器人等。

2.7.专业应用

有电源后电气工程师们即可以随心所欲的在高压输电线上添加设备,比如输电线上架野外通信基站、高压输电线指示灯等。

3.产品特点

●电路设计成熟,技术经过多年研究积累

●互感器设计优良,体积小,材料好

●纯硬件电路设计,可靠性高

●安装、施工方便

4.产品功能

●采用开启(分裂)式电流互感器结构,装卸方便。

●从小负荷电流开始取电,并保持二级稳压输出。

●CT带开路和大电流冲击保护,同时保持稳压输出。

●CT输入带防雷保护,电源输出端带过流保护。

●绝缘外壳,环氧灌封,防爆阻燃,使用安全。

●取代高压PT,经济实用。

5.产品技术参数

5.1.使用条件

●CT取电装置(包括开口CT)对地绝缘耐压为220kV,适用于户内绝

缘电缆,或者用于等电位应用场合。

●环境最高温度+85℃;最低温度-30℃,日平均气温不超过+42℃。

●海拔不超过2000m。

●大气中无严重影响互感器绝缘的污秽及浸蚀性爆炸性介质。

5.2.技术参数

●CT尺寸可定制

●电压等级:不限

●系统频率:50Hz或60Hz

●最大负荷电流: 1200A.(可以定制)

●最大短路电流:3kA/2S

●CT取电电压:12Vdc(标配),5~24Vdc可调(出厂前设置);纹

波峰峰值≤±1%标称输出电压;输出电压越低,输出功率越小。

●CT取电功率:0.3~20W,由CT变比K、负荷电流I(A)和稳压输出

U(V)决定,最大输出功率P(W)为I/K*U(W)。

●EMC指标:±4kV雷击浪涌;±15kV静电放电

●CT取电盒尺寸100*50*35mm(可定制)

6.产品使用

CT取电装装置包括开口CT和CT取电盒(含电缆线)两部分。

6.1.安装准备工作

根据现场欲安装高压线路的线径选择使用橡胶欧姆圈,三个橡胶欧姆圈是可拆卸的,应根据现场欲安装高压线路的线径确定橡胶欧姆圈的个数。使能压住和压紧高压线路,让装置不能绕导线转动。

6.2.安装步骤

1. 将取能线圈的两输出端子接控制模块的两输入端,不分极性。

2. 把感应取电装置的开口式取能线圈开启,将高压导线夹在中间,再将取能线圈合上,拧紧。

3. 将感应取电装置的控制模块的电源电缆引出接负载电源端,注意正负极(1号端口+ 2号端口-)。

4. 用硅橡胶套把开口式取能线圈罩住。

6.3.安装注意事项

1. 连接电源线时,使电源电缆的中垂点低于感应取电装置和用电装置的入口位置,防止雨水沿电源电缆向装置中倒灌。

2. 必须使感应取电装置的开口互感器上-下铁芯接触紧密、边口对齐。

3. 若安装过程中感应取电装置上下盖吸力太大,影响安装,可在安装前,在安装感应取电装置的位置并接分流电缆。

6.4.安装后检查

1.用钳型电流表测量高压导线电流,看电流是否在相应型号对应的电流范围内;否则电源装置输出功率不足或不能正常工作。

2.感应取电装置正确安装后,应能听到正常的“嘟嘟”声。若声音太大,应检查感应取电装置上-下铁芯接触是否紧密、边口是否对齐。

3.用电压表测量感应取电装置输出电压。

电介质的电学性能及测试方法

电介质材料的电性包括介电性、压电性、铁电性和热释电性等。 1介电性、 介质在外加电场时会产生感应电荷而削弱电场,介质中电场与原外加电场(真空中) 的比值即为相对介电常数,又称诱电率,与频率相关。介电常数是相对介电常数与真空中绝对介电常数乘积。 介电常数又称电容率或相对电容率,表征电介质或绝缘材料电性能的一个重要数据,常用ε表示。它是指在同一电容器中用同一物质为电介质和真空时的电容的比值,表示电介质在电场中贮存静电能的相对能力。对介电常数越小即某介质下的电容率越小,应该更不绝缘。来个极限假设,假设该介质为导体,此时电容就联通了,也就没有电容,电容率最小。介电常数是物质相对于真空来说增加电容器电容能力的度量。介电常数随分子偶极矩和可极化性的增大而增大。在化学中,介电常数是溶剂的一个重要性质,它表征溶剂对溶质分子溶剂化以及隔开离子的能力。介电常数大的溶剂,有较大隔开离子的能力,同时也具有较强的溶剂化能力。 科标检测介电常数检测标准如下: GB11297.11-1989热释电材料介电常数的测试方法 GB11310-1989压电陶瓷材料性能测试方法相对自由介电常数温度特性的测试 GB/T12636-1990微波介质基片复介电常数带状线测试方法 GB/T1693-2007硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法 GB/T2951.51-2008电缆和光缆绝缘和护套材料通用试验方法第51部分:填充膏专用 试验方法滴点油分离低温脆性总酸值腐蚀性23℃时的介电常数23℃和100℃时的直 流电阻率 GB/T5597-1999固体电介质微波复介电常数的测试方法 GB/T7265.1-1987固体电介质微波复介电常数的测试方法微扰法 GB7265.2-1987固体电介质微波复介电常数的测试方法“开式腔”法 SJ/T10142-1991电介质材料微波复介电常数测试方法同轴线终端开路法 SJ/T10143-1991固体电介质微波复介电常数测试方法重入腔法 SJ/T11043-1996电子玻璃高频介质损耗和介电常数的测试方法 SJ/T1147-1993电容器用有机薄膜介质损耗角正切值和介电常数试验方法 SJ20512-1995微波大损耗固体材料复介电常数和复磁导率测试方法 SY/T6528-2002岩样介电常数测量方法 服务范围:老化测试、物理性能、电气性能、可靠性测试、阻燃检测等 介电性能 介电材料(又称电介质)是一类具有电极化能力的功能材料,它是以正负 电荷重心不重合的电极化方式来传递和储存电的作用。极化指在外加电场作用下,构成电介质材料的内部微观粒子,如原子,离子和分子这些微观粒子的正负电荷中心发生分离,并沿着外部电场的方向在一定的范围内做短距离移动,从而形成偶极子的过程。极化现象和频率密切相关,在特定的的频率范围主要有四种极化机制:电子极化(electronic polarization,1015Hz),离子极化(ionic polarization,1012~1013Hz),转向极化(orientation polarization,1011~1012Hz)和 空间电荷极化(space charge polarization,103Hz)。这些极化的基本形式又分为位 移极化和松弛极化,位移极化是弹性的,不需要消耗时间,也无能量消耗,如电子位移极化和离子位移极化。而松弛极化与质点的热运动密切相关,极化的建立

材料的介电常数和磁导率的测量

无机材料的介电常数及磁导率的测定 一、实验目的 1. 掌握无机材料介电常数及磁导率的测试原理及测试方法。 2. 学会使用Agilent4991A 射频阻抗分析仪的各种功能及操作方法。 3. 分析影响介电常数和磁导率的的因素。 二、实验原理 1.介电性能 介电材料(又称电介质)是一类具有电极化能力的功能材料,它是以正负电荷重心不重合的电极化方式来传递和储存电的作用。极化指在外加电场作用下,构成电介质材料的内部微观粒子,如原子,离子和分子这些微观粒子的正负电荷中心发生分离,并沿着外部电场的方向在一定的范围内做短距离移动,从而形成偶极子的过程。极化现象和频率密切相关,在特定的的频率范围主要有四种极化机制:电子极化 (electronic polarization ,1015Hz),离子极化 (ionic polarization ,1012~1013Hz),转向极化 (orientation polarization ,1011~1012Hz)和空间电荷极化 (space charge polarization ,103Hz)。这些极化的基本形式又分为位移极化和松弛极化,位移极化是弹性的,不需要消耗时间,也无能量消耗,如电子位移极化和离子位移极化。而松弛极化与质点的热运动密切相关,极化的建立需要消耗一定的时间,也通常伴随有能量的消耗,如电子松弛极化和离子松弛极化。 相对介电常数(ε),简称为介电常数,是表征电介质材料介电性能的最重要的基本参数,它反映了电介质材料在电场作用下的极化程度。ε的数值等于以该材料为介质所作的电容器的电容量与以真空为介质所作的同样形状的电容器的电容量之比值。表达式如下: A Cd C C ?==001εε (1) 式中C 为含有电介质材料的电容器的电容量;C 0为相同情况下真空电容器的电容量;A 为电极极板面积;d 为电极间距离;ε0为真空介电常数,等于8.85×10-12 F/m 。 另外一个表征材料的介电性能的重要参数是介电损耗,一般用损耗角的正切(tanδ)表示。它是指材料在电场作用下,由于介质电导和介质极化的滞后效应

介电常数的测定 (4)

介电常数的测定 0419 PB04204051 刘畅畅 实验目的 了解多种测量介电常数的方法及其特点和适用范围,掌握替代法,比较法和谐振法测固体电介质介电常数的原理和方法,用自己设计与制作的介电常数测试仪,测量压电陶瓷的介电常数。 数据处理与分析 (一)原理:介质材料的介电常数一般采用相对介电常数r ε来表示,通常采用测量样品的电容量,经过计算求出r ε,它们满足如下关系: 00r Cd S εεεε= = 式中ε为绝对介电常数,0ε为真空介电常数,12 08.8510/F m ε-=?,S 为样品的有效面积,d 为样品的厚度,C 为被测样品的电容量,通常取频率为1kHz 时的电容量C 。 (二)实验过程及数据处理 压电陶瓷尺寸: 直径: 0.9524.7840.063D mm v mm == 厚度: 0.950.2720.043H mm v mm == 一.根据所给仪器、元件和用具,采用替代法设计一台简易的介电常数测试仪,测量压电陶瓷的介电常数r ε。 在实验中采用预习报告中的图()a 连接电路,该电路为待测电容Cx 、限流电阻0R 、安培计与信号源组成的简单串联电路。接入Cx ,调节信号源频率和电压及限流电阻0R ,使安培计读数在毫安范围内恒定(并保持仪器最高的有效位数),记下Ix 。再换接入Cs ,调节Cs 与Rs ,使Is 接近Ix 。若Cx 上的介电损耗电阻Rx 与标准电容箱的介电损耗电阻Rs 相接近,即Rx Rs ≈,则Cx Cs =。 测得的数据如下: 输出频率 1.0002~1.0003kHz 输出电压 20V

Ix=1.5860mA Is=1.5872mA Cs=0.0367F R=1000μΩ Is Ix ≈。此时Rx Rs ≈,有Cx Cs ≈。所以Cx = Cs = 0.0367 F μ。 63 212 2 2 30012 00.0367100.272102339.264024.784108.8510 3.1422r Cd CH C N m S D εεεεεπ------???=== = =?????????? ? ? ?? ?? 二.用比较法设计一台简易的介电常数测试仪,测量压电陶瓷的介电常数r ε。 在Rx Rs ≈的条件下,测量Cx 与Cs 上的电压比Vs Vx 即可求得Cx : Vs Cx Cs Vx =? (Vs 可以不等于Vx ) 测得的数据如下: 输出频率 1.0003~1.0004kHz 输出电压 20V Vx = 3.527V Vs = 3.531V Cs = 0.0367F R = 1000μΩ Rx Rs ≈。Cx 与Cs 上的电压比 3.5270.9988673.531 Vs Vx == 683.527 0.036710 3.6658103.531 Vs Cx Cs F Vx --∴=?=??=? 83 212 2 2 30012 0 3.6658100.272102336.586924.784108.8510 3.1422r Cd CH C N m S D εεεεεπ------???=== = =?????? ???? ? ? ?? ?? 三.用谐振法设计一台简易的介电常数测试仪,测量压电陶瓷的介电常数r ε。 由已知电感L (取1H ),电阻R (取1k Ω)和待测电容Cx 组成振荡电路,改变信号源频率使RLC 回路谐振,伏特计上指示最大,则电容可由下式求出: 22 14Cx f L π= 式中f 为频率,L 为已知电感,Cx 为待测电容。

大学物理实验介电常数的测量的讲义

固体与液体介电常数的测量 一、实验目的: 运用比较法粗测固体电介质的介电常数,运用比较法法测量固体的介电常数,谐振法测量固体与液体的介电常数(以及液体的磁导率),学习其测量方法及其物理意义,练习示波器的使用。 二、实验原理: 介质材料的介电常数一般采用相对介电常数εr 来表示,通常采用测量样品的电容量,经过计算求出εr ,它们满足如下关系: S Cd r 00εεεε== 式中ε为绝对介电常数,ε0为真空介电常数,m F /1085.8120 -?=ε,S 为样品的有 效面积,d 为样品的厚度,C 为被测样品的电容量,通常取频率为1kHz 时的电容量C 。 替代法: 替代法的电路图如下图所示。此时电路测量精度与标准电容箱的精度密切相关。实际测量时,取R=1000欧姆,我们用双踪示波器观察,调节电容箱和电阻箱的值,使两个信号相位相同, 电压相同,此时标准电容箱的容值即为待测电容的容值。

谐振法: 1、交流谐振电路: 在由电容和电感组成的LC 电路中,若给电容器充电,就可在电路中产生简谐形式的自由电振荡。若电路中存在交变信号源,不断地给电路补充能量,使振荡得以持续进行,形成受迫振动,则回路中将出现一种新的现象——交流谐振现象。RLC 串联谐振电路如下图所示: 图一:RLC 串联谐振电路 其中电源和电阻两端接双踪示波器。 电阻R 、电容C 和电感L 串联电路中的电流与电阻两端的电压是同相位的,但超前于电 容C 两端的电压2π ,落后于电感两端的电压2π ,如图二。 图二:电阻R 、电容C 和电感L 的电压矢量图 电路总阻抗:Z = = L V → -R V →

介电常数的测量

实验七 介电常数的测量 ε和损耗角tgδ的温度和频率特性,可以获取物质内部 测量物质在交变电场中介电常数 r 结构的重要信息。DP—5型介电谱仪内置带有锁相环(PLL)的宽范围正弦频率合成信号源和由乘法器、同步积分器、移相器等组成的锁定放大测量电路,具有弱信号检测和网络分析的功能。对填充介质的平行板电容器的激励信号的正交分量(实部和虚部)进行比较、分离、测量,检测介电频率谱和温度谱。作为大学物理实验的内容,具有测量精度高、方法新颖、知识性和实用性强等特点。 [目的要求] ε和损耗角tgδ的温度和频率特性。 1.学习用介电谱仪测量物质在交变电场中介电常数 r 2.了解带有锁相环(PLL)的正弦频率合成信号源和锁定放大测量电路的原理和结构。 3.掌握对信号的正交分量(实部和虚部)进行比较、分离、测量的方法。 [实验原理] 图1测量原理图 原理如图1所示.置于平板电极之间的样品,在正弦型信号的激励下,等效于电阻R和电容C的并联网络。其中电阻R是用来模拟样品在极化过程中由于极化滞后于外场的变化所引起的能量损失。若极板的面积为A,间距为d,则: R=d/Aσ, C=εA/d, tgδ=1/ωRC=σ/ωε 式中ε=εoεr,εo为真空介电常量,σ为与介电极化机制有关的交流电导率。设网络的复阻抗为Z,其实部为Z’,虚部为Z″,样品上激励电压为Vs(基准信号),通过样品的电流由运放ICl转化为电压Vz:(样品信号),用V’s,V″s和V″z分别表示其实部和虚部,则有:Vz=RnVs/Z, σ=K(V’sV’z+V″sV″z), ωε=K(V’sV″z-V″sV’z) tgδ=(V’sV’z+V″sV″z)/ (V’sV″z-V″sV’z) 式中K=d/ARn(V’sV’s+V″sV″s)。 电压的实部和虚部通过开关型乘法器IC2和π/2移相器IC3实现分离后测量。IC2的作用是将被测正弦信号Vz(或Vs)与同频率的相关参考方波Vr相乘。本系统测量时通过移相微调电路使Vr和vs同相位,即Vs的虚部V″s=O,测量公式简化为: σ=K’V’z, ωε=K’V″z, tgδ=V’z/V″z

02电工学(电工技术)第二版魏佩瑜第二章电路的分析方法答案

第二章 电路的分析方法 P39 习题二 2-1 题2-1图 题2-1等效图 解: 334424144I R R I R I R R I ?=?+??? ? ??+? ① 33341445I R E I I R R I R ?-=?? ? ???++ ② 344443363I I I I =+??? ??+,344215I I = 34815I I = ①

33444621I I I I -=?? ? ??++,345623I I -= 3410123I I -=,34506015I I -=,A 29 30 ,302933= =I I 代入 ①A 29 16, 29 3081544= ?=?I I 另外,戴维南等效图 A 29549 296I 5== 回归原图 3355I R I R E ?=?-,所以 A 29 3042954 163=? -=I 2-2答 由并联输出功率400w 所以每个R 获得功率R U P 2 ,W 1004400== )(484,2201002 Ω==R R 改串联后:W 254 22220P P 222=?===总消耗输出R U 2-3

题2-3等效图 Ω=++?=++?= 313212123121112111R R R R R R ,Ω=++?=++?=13213 223121123122R R R R R R Ω=++?=++?= 2 1 3213123121123133R R R R R R )(913910312 953125225 231ab Ω=+=+=+ ? + =R 2-4 题2-4 △-Y 变换(一)图 1Ω a 2 b c

介电常数测量

测量介电常数的方法探究 班级: 姓名: 序号: 学号: 学院:

测量介电常数的方法探究 介电常数应用在科技的方方面面,但是如何测得介电常数以保证需要呢,本文就几种主流测量方法进行了探究。 主流的测量介电常数的方法即空间波法和探针法。 空间波法:空间波法是一种介电常数的实地检测法。用该方法测量介电常数时,可以将测量仪器拿到被测物所在位置进行无损的实地测量,可获得最接近微波遥感真实值的介电常数。 微波遥感的典型目标,如土壤、沙地岩石、水体、冰雪、各类作物、各类草地、森林等,当其表面统计粗糙度远远小于所使用的波长时可用菲涅尔反射系数描述其介电常数与观测角之间的关系: R ∥ =(cosθ- εr?sin2θ)/(cosθ+ εr?sin2θ)(1) R ⊥ =(εr cosθ- εr?sin2θ)/(εr cosθ+ εr?sin2θ)(2) 其中εr为目标物的相对介电常数,R ∥为水平极化反射系数,R ⊥ 为垂直极化反 射系数,θ为入射角。只要测得以上参数,经过绝对定标或者相对定标后,通过数学运算就可以反演得到介电常数。 空间波测量介电常数是利用菲涅尔反射定律进行的,要求所用波长大于被测目标的统计粗糙度,在粗糙度大时会影响精度,这时必须引入粗糙度修正量。可以利用加大观测角以提高粗糙表面物的测量精度,从实际中,对土壤、草丛、冰的测量结果看是比较好的。 探针法:在探针法实地测量介质介电常数时,探针的位置一般有两种:即全部没入待测介质中和探针位于空气和介质构成的接触面上。在两种情况下,样品的介电常数都可以通过在非谐振时测量的反射波、传输波或者谐振时测量的谐振频率和3dB带宽等参数来反演得到。 探针法测量介电常数,可以使用的探针有:单极振子、波导和同轴线等。相对于其他探针,单极振子的结构简单,测量方便,且可以获得相对比较精确地测量结果,是目前探针法实地测量介电常数研究中的一个热点。 单极振子:用单极振子探针法测量介电常数主要是通过测量反射系数ρ、 天线的输入阻抗Z n (或导纳Y)、S参数、天线谐振长度h r 和激励电阻抗R r 或谐 振频率f s 和3dB带宽的变化等来反眼。这些放发根据原理和测量值的不同可以 分为反射法、传输发和谐振法。 波导探针:微波可以穿透介质并且在不连续点产生的反射波与介质的电特性有关,由此发展了许多使用微波非破坏性技术来测量材料在微波频率的电磁性质。现有一种在8-12GHz频率范围内使用一个边缘开端矩形波导探针同时测材料的复介电常数和导磁率的技术。在该技术中,由非连续接触面的边界条件,得到了关于未知孔径电厂的两个积分等式(EFLE`s)。假定探针孔径中的总电场不仅包 括TE 10 模,而且还有无限的高阶模式,由矩量法可以解决EFLE`s。当孔径的电厂精确决定之后,其他相关的系数如主模下探针的输入导纳和反射系数等,都可以计算出来,从而很容易得到介质的介电常数。

02电工学(电工技术)第二版魏佩瑜第二章电路的分析方法答案

02电工学(电工技术)第二版魏佩瑜第二章电路的分析方法答案

第二章 电路的分析方法 P39 习题二 2-1 题2-1图 题2-1等效图 解: 334424144I R R I R I R R I ?=?+??? ? ??+? ① 33341445I R E I I R R I R ?-=?? ? ???++ ② 344443363I I I I =+??? ??+,344215I I = 34815I I = ① 3R 2 R 4 R 5 R 3 I 1 I 5 I 4 I E + - 1 R 2 I

33444621I I I I -=?? ? ??++,345623I I -= 3410123I I -=,34506015I I -=,A 29 30 ,302933= =I I 代入 ①A 29 16, 29 3081544= ?=?I I 另外,戴维南等效图 A 2954 9 296I 5== 回归原图 3355I R I R E ?=?-,所以 A 29 3042954 163=? -=I 2-2答 由并联输出功率400w 所以每个R 获得功率R U P 2 ,W 1004400== )(484,2201002 Ω==R R 改串联后:W 254 22220P P 222=?===总消耗输出R U 2-3 6V + - Ω1 Ω9 20 5 I

题2-4 △-Y 变换(二)图 题2-4 △-Y 变换(三)图 题2-4 等效星型图 2-5 解: b c R 9 2 R 9 2 R 9 2 a R 3 1 R 3 1 R 31 b a c R 9 5 R 9 5 R 9 5+ - 10V Ω2 Ω2 5A 题2-5 (a)图

平行板谐振法测量微波介质介电常数性能(实验报告)

平行板谐振法测量微波介质介电常数性能 一.平行板谐振法测试原理 图 i Post Resonance Technique 实验测试装置如图i ,测试样品为圆柱状,放置在两个平行的金属板中,微波功率通过由样品和两个平行金属板组成的腔体耦合。输入和输出通过两个天线耦合。在某一频率下,该腔体的阻抗达到最小,即产生谐振,此时穿过的功率最大。该腔体的谐振特性可以通过一个矢量网络分析仪来得到直观显示。 实际测量中,常用TE011模来确定样品的介电性质。因为本测试装置可以在矢量网络分析仪上产生许多不同模式的谐振峰,本实验采用011T E 谐振模式(处于第二低的谐振频率处,最低的谐振频率是111H E 模式)。 本实验主要讨论介电常数的测量,至于电解质损耗和辐射损耗不做讨论。采用本测试方法的主要优势是 需要测量的参数有,样品厚度L 、样品直径D (D=2a )和谐振频率0f 电介常数可以通过以下公式计算得到: ()2 22 0012r ci c k k λεπ?? =++ ??? (1) 2 2 200212co k L λπλ?????? =-?? ? ????????? (2) ()() () 0000110()ci c c ci ci c J k a k a K k a J k a k a K k a =- (3) 00 c f λ= (4) 其中, J 和k 分别为第一类Bessel 函数和修正Bessel 函数,通过(3)可以求出ci k (采用数值方法,matlab 程序见附录) 二.实验过程 测量的参数如下: L = 8.01mm, D = 14.06mm f0 = 4.421401GHz 根据(1)--(4)式,可以求出r ε值,计算的值如下: 0λ=68 mm 0c k =381.20 ci k =426.34 r ε=39.14 计算过程见附录。 三.讨论 本实验并未讨论损耗角及品质因数的测量,随之的辐射损耗及电损耗并未讨论。采用此方法,不能精确测量平行板的表面阻抗[1],损耗角的测量也不准确;其次,样品的尺寸要求较大,若对于单晶体,很难制造[1]。可参考文献[2],有具体的改进方法。本方案的主要优势是计算的公式较完善,且很可靠。也因此,此方案仍被采用。 参考文献 [1] Sheen J 2005 Study of microwave dielectric properties measurements by various resonance techniques Measurement 37 123-30 [2] Sheen J 2008 A dielectric resonator method of measuring dielectric properties of low loss materials in the microwave region IOP Science Measurement Science and Technology 附录 %***************************************************** %******************* Post Resonance Technique *********** %*****************“微波测量之特别培养实验课”******** % Author:高永振 Date :2012-5-3 clear all; format long; % 实验的基本参数

最新9微波基础知识及测介电常数汇总

9微波基础知识及测 介电常数

实验五微波实验 微波技术是近代发展起来的一门尖端科学技术,它不仅在通讯、原子能技术、空间技术、量子电子学以及农业生产等方面有着广泛的应用,在科学研究中也是一种重要的观测手段,微波的研究方法和测试设备都与无线电波的不同。从图1可以看出,微波的频率范围是处于光波和广播电视所采用的无线电波之间,因此它兼有两者的性质,却又区别于两者。与无线电波相比,微波有下述几个主要特点 图1 电磁波的分类 1.波长短(1m —1mm):具有直线传播的特性,利用这个特点,就能在微波波段制成方向性极好的天线系统,也可以收到地面和宇宙空间各种物体反射回来的微弱信号,从而 确定物体的方位和距离,为雷达定位、导航等领域提供了广阔的应用。 2.频率高:微波的电磁振荡周期(10-9一10-12s)很短,已经和电子管中电子在电极间的飞越时间(约10-9s)可以比拟,甚至还小,因此普通电子管不能再用作微波器件(振荡器、放大器和检波器)中,而必须采用原理完全不同的微波电子管(速调管、磁控管和行波管等)、微波固体器件和量子器件来代替。另外,微波传输线、微波元件和微波测量设备的线度与波长具有相近的数量级,在导体中传播时趋肤效应和辐射变得十分严重,一般无线电元件如电阻,电容,电感等元件都不再适用,也必须用原理完全不同的微波元件(波导管、波导元件、谐振腔等)来代替。

3.微波在研究方法上不像无线电那样去研究电路中的电压和电流,而是研究微波系统中的电磁场,以波长、功率、驻波系数等作为基本测量参量。 4.量子特性:在微波波段,电磁波每个量子的能量范围大约是10-6~10-3eV ,而许多原子和分子发射和吸收的电磁波的波长也正好处在微波波段内。人们利用这一特点来研究分子和原子的结构,发展了微波波谱学和量子电子学等尖端学科,并研制了低噪音的量子放大器和准确的分子钟,原子钟。(北京大华无线电仪器厂) 5.能穿透电离层:微波可以畅通无阻地穿越地球上空的电离层,为卫星通讯,宇宙通讯和射电天文学的研究和发展提供了广阔的前途。 综上所述微波具有自己的特点,不论在处理问题时运用的概念和方法上,还是在实际应用的微波系统的原理和结构上,都与普通无线电不同。微波实验是近代物理实验的重要组成部分。 实 验 目 的 1. 学习微波的基本知识; 2. 了解微波在波导中传播的特点,掌握微波基本测量技术; 3. 学习用微波作为观测手段来研究物理现象。 微波基本知识 一、电磁波的基本关系 描写电磁场的基本方程是: ρ=??D , 0=??B

介电常数测试仪的设计制作

简易介电常数测试仪的设计与制作 赵龙宇 PB06005068 介电体(又称电介质)最基本的物理性质是它的介电性,对介电性的研究不但在电介质材料的应用上具有重要意义,而且也是了解电介质的分子结构和激化机理的重要分析手段之一,探索高介电常数的电介质材料,对电子工业元器件的小型化有着重要的意义。介电常数(又称电容率)是反映材料特性的重要参量,电介质极化能力越强,其介电常数就越大。测量介电常数的方法很多,常用的有比较法,替代法,电桥法,谐振法,Q 表法,直流测量法和微波测量法等。各种方法各有特点和适用范围,因而要根据材料的性能,样品的形状和尺寸大小及所需测量的频率范围等选择适当的测量方法。 本实验要求学生了解多种测量介电常数的方法及其特点和适用范围,掌握替代法,比较法和谐振法测固体电介质介电常数的原理和方法,用自己设计与制作的介电常数测试仪,测量压电陶瓷的介电常数。 实验原理: 介质材料的介电常数一般采用相对介电常数εr 来表示,通常采用测量样品的电容量,经过计算求出εr ,它们满足如下关系: S Cd r 00εεεε= = (1) 式中ε为绝对介电常数,ε0为真空介电常数,m F /10 85.812 0-?=ε,S 为样品的有效面积, d 为样品的厚度,C 为被测样品的电容量,通常取频率为1kHz 时的电容量C 。 一、替代法 当实验室无专用测量电容的仪器,但有标准可变电容箱或标准可变电容器时,可采用替代法设计一简易的电容测试仪来测量电容。这种方法的优点是对仪器的要求不高,由于引线参数可以抵消,故测量精度只取决于标准可变电容箱或标准可变电容器读数的精度。若待测电容与标准可变电容的损耗相差不大,则该方法具有较高的测量精度。 替代法参考电路如图2.2.6-1(a)所示,将待测电容C x (图中R x 是待测电容的介电损耗电阻),限流电阻R 0(取1k Ω)、安培计与信号源组成一简单串联电路。合上开关K 1,调节信号源的频率和电压及限流电阻R 0,使安培计的读数在毫安范围恒定(并保持仪器最高的有效位数),记录读数I x 。将开关K 2打到B 点,让标准电容箱C s 和交流电阻箱R s 替代C x 调节C s 和R s 值,使I s 接近I x 。多次变换开关K 2的位置(A,B 位),反复调节C s 和R s ,使X S I I =。假定C x 上的介电损耗电阻R x 与标

材料的介电常数测试

材料科学实验讲义 (一级实验指导书) 东华大学材料科学与工程中心实验室汇编 2009年7月

一、实验目的 介电特性是电介质材料极其重要的性质。在实际应用中,电介质材料的介电系数和介质损耗是非常重要的参数。例如,制造电容器的材料要求介电系数尽量大,而介质损耗尽量小。相反地,制造仪表绝缘器件的材料则要求介电系数和介质损耗都尽量小。而在某些特殊情况下,则要求材料的介质损耗较大。所以,通过测定介电常数(ε)及介质损耗角正切(tg δ),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据。 本实验的目的: 1、探讨介质极化与介电常数、介质损耗的关系; 2、了解高频Q 表的工作原理; 3、掌握室温下用高频Q 表测定材料的介电常数和介质损耗角正切值。 二、实验原理 按照物质电结构的观点,任何物质都是由不同的电荷构成,而在电介质中存在原子、分子和离子等。当固体电介质置于电场中后会显示出一定的极性,这个过程称为极化。对不同的材料、温度和频率,各种极化过程的影响不同。 1、介电常数(ε):某一电介质(如硅酸盐、高分子材料)组成的电容器在一定电压作用下所得到的电容量C x 与同样大小的介质为真空的电容器的电容量C o 之比值,被称为该电介质材料的相对介电常数。 o x C C = ε 式中:C x —电容器两极板充满介质时的电容; C ο —电容器两极板为真空时的电容; ε —电容量增加的倍数,即相对介电常数 介电常数的大小表示该介质中空间电荷互相作用减弱的程度。作为高频绝缘材料,ε要小,特别是用于高压绝缘时。在制造高电容器时,则要求ε要大,特别是小型电容器。 在绝缘技术中,特别是选择绝缘材料或介质贮能材料时,都需要考虑电介质的介电常数。此外,由于介电常数取决于极化,而极化又取决于电介质的分子结构和分子运动的形式。所以,通过介电常数随电场强度、频率和温度变化规律的研究,还可以推断绝缘材料的分子结构。 2.介电损耗(tg δ):指电介质材料在外电场作用下发热而损耗的那部分能量。在直流电场作用下,介质没有周期性损耗,基本上是稳态电流造成的损耗;在交流电场作用下,介质损耗除了稳态电流损耗外,还有各种交流损耗。由于电场的频繁转向,电介质中的损耗要比直流电场作用时大许多(有时达到几千倍),因此介质损耗通常是指交流损耗。 在工程中,常将介电损耗用介质损耗角正切tg δ来表示。tg δ是绝缘体的无效消耗

介电常数常用测量方法综述

介电常数常用测量方法综述 来源:互联网 摘要:介电常数测量技术在民用,工业以及军事等各个领域应用广泛。本文主要对介电常数测量的常用方法进行了综合论述。首先对国家标准进行了对比总结;然后分别论述了几种常用测量方法的基本原理、适用范围、优缺点及发展近况;最后对几种测量方法进行了对比总结,得出结论。 关键词:介电常数;国家标准;常用方法 1. 引言 介电常数是物体的重要物理性质,对介电常数的研究有重要的理论和应用意义。电气工程中的电介质问题、电磁兼容问题、生物医学、微波、电子技术、食品加工和地质勘探中,无一不利用到物质的电磁特性,对介电常数的测量提出了要求。目前对介电常数测量方法的应用可以说是遍及民用、工业、国防的各个领域。 在食品加工行业当中,储藏、加工、灭菌、分级及质检等方面都广泛采用了介电常数的测量技术。例如,通过测量介电常数的大小,新鲜果蔬品质、含水率、发酵和干燥过程中的一些指标都得到间接体现,此外,根据食品的介电常数、含水率确定杀菌时间和功率密度等工艺参数也是重要的应用之一[1]。 在路基压实质量检测和评价中,如果利用常规的方法,尽管测量结果比较准确,但工作量大、周期长、速度慢且对路面造成破坏。由于土体的含水量、温度及密度都会对其介电特性产生不同程度的影响,因此可以采用雷达对整个区域进行测试以反算出介电常数的数值,通过分析介电性得到路基的密度及压实度等参数,达到快速测量路基的密度及压实度的目的[2]。此外,复介电常数测量技术还在水土污染的监测中得到了应用[3]。并且还可通过对岩石介电常数的测量对地震进行预报[4]。 上面说的是介电常数测量在民用方面的部分应用,其在工业上也有重要的应用。典型的例子有低介电常数材料在超大规模集成电路工艺中的应用以及高介电常数材料在半导体储存器件中的应用。在集成电路工艺中,随着晶体管密度的不断增加和线宽的不断减小,互联中电容和电阻的寄生效应不断增大,传统的绝缘材料二氧化硅被低介电常数材料所代替是必然的。目前Applied Materials的Black Diamond作为低介电常数材料,已经应用于集成电路

材料的介电常数测试

介质损耗和介电常数测量实验 介电特性是电介质材料极其重要的性质。在实际应用中,电介质材料的介电系数和介质损耗是非常重要的参数。例如,制造电容器的材料要求介电系数尽量大,而介质损耗尽量小。相反地,制造仪表绝缘器件的材料则要求介电系数和介质损耗都尽量小。而在某些特殊情况下,则要求材料的介质损耗较大。所以,通过测定介电常数(ε)及介质损耗角正切(tg δ),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据。 一、实验目的 1、探讨介质极化与介电常数、介质损耗的关系; 2、了解高频Q 表的工作原理; 3、掌握室温下用高频Q 表测定材料的介电常数和介质损耗角正切值。 二、实验原理 按照物质电结构的观点,任何物质都是由不同的电荷构成,而在电介质中存在原子、分子和离子等。当固体电介质置于电场中后会显示出一定的极性,这个过程称为极化。对不同的材料、温度和频率,各种极化过程的影响不同。 1、介电常数(ε):某一电介质(如硅酸盐、高分子材料)组成的电容器在一定电压作用下所得到的电容量C x 与同样大小的介质为真空的电容器的电容量C o 之比值,被称为该电介质材料的相对介电常数。 o x C C = ε 式中:C x —电容器两极板充满介质时的电容;

C ο —电容器两极板为真空时的电容; ε —电容量增加的倍数,即相对介电常数 介电常数的大小表示该介质中空间电荷互相作用减弱的程度。作为高频绝缘材料,ε要小,特别是用于高压绝缘时。在制造高电容器时,则要求ε要大,特别是小型电容器。 在绝缘技术中,特别是选择绝缘材料或介质贮能材料时,都需要考虑电介质的介电常数。此外,由于介电常数取决于极化,而极化又取决于电介质的分子结构和分子运动的形式。所以,通过介电常数随电场强度、频率和温度变化规律的研究,还可以推断绝缘材料的分子结构。 2.介电损耗(tg δ):指电介质材料在外电场作用下发热而损耗的那部分能量。在直流电场作用下,介质没有周期性损耗,基本上是稳态电流造成的损耗;在交流电场作用下,介质损耗除了稳态电流损耗外,还有各种交流损耗。由于电场的频繁转向,电介质中的损耗要比直流电场作用时大许多(有时达到几千倍),因此介质损耗通常是指交流损耗。 在工程中,常将介电损耗用介质损耗角正切tg δ来表示。tg δ是绝缘体的无效消耗的能量对有效输入的比例,它表示材料在一周期内热功率损耗与贮存之比,是衡量材料损耗程度的物理量。 RC tg ωδ1 = tg 式中:ω —电源角频率; R —并联等效交流电阻; C —并联等效交流电容器 凡是体积电阻率小的,其介电损耗就大。介质损耗对于用在高压装置、高频设备,特别是用在高压、高频等地方的材料和器件具有特别重要的意义,介质损耗过大,不仅降低整机的性能,甚至会造成绝缘材料的热击穿。

大学物理实验 介电常数的测量

介电常数的测定实验报告 数学系 周海明 PB05001015 2006-11-16 实验题目:介电常数的测定 实验目的:了解多种测量介电常数的方法及其特点和适用范围,掌握替代法,比 较法和谐振法测固体电介质介电常数的原理和方法,用自己设计与制作的介电常数测试仪,测量压电陶瓷的介电常数。 实验原理:介质材料的介电常数一般采用相对介电常数r ε来表示,通常采用测量 样品的电容量,经过计算求出r ε,它们满足如下关系:S Cd r 00εεεε== (1)。式中ε为绝对介电常数,0ε为真空介电常数, m F /1085.8120-?=ε,S 为样品的有效面积,d 为样品的厚度,C 为被测 样品的电容量,通常取频率为1kHz 时的电容量C 。 一、替代法 替代法参考电路如图1所示,将待测电容C x (图中R x 是待测电容的介电损耗电阻),限流电阻R 0(取1k Ω)、安培计与信号源组成一简单串联电路。合上开关K 1,调节信号源的频率和电压及限流电阻R 0,使安培计的读数在毫安范围恒定(并保持仪器最高的有效位数),记录读数I x 。将开关K 2打到B 点,让标准 电容箱C s 和交流电阻箱R s 替代C x 调节C s 和R s 值,使I s 接近I x 。多次变换开关K 2的位置(A,B 位),反复调节C s 和R s ,使X S I I =。假定C x 上的介电损耗电阻R x 与标准电容箱的介电损耗电阻R s 相接近(s x R R ≈),则有s x C C =。 另一种参考电路如图2所示,将标准电容箱C s 调到极小值,双刀双掷开关K 2扳到AA ’,测量C x 上的电压V x 值;再将K 2扳到BB ’,调节C s 让C s 上

无损介质介电常数实验

成绩: 评阅人: 电磁场与微波技术实验报告 学院信息科学与技术学院 专业通信工程 姓名余宪 学号 23320122204107 组别 19 时间 2014.10.31

实验五 无损介质介电常数实验 一、实验目的 1.理解迈克尔逊干涉法测试的基本原理 2.测试不同材料的介电常数 二、实验原理 (一)实验仪器使用 微波分光仪两喇叭天线口面互成90度,半透射板与两喇叭天线轴线互成45度。固定的全反射板的法线与接收喇叭天线的轴线一致,可移动的全反射板的法线与发射喇叭天线轴线一致。三厘米固态信号源的“等幅”和“方波”档的设置,将数据采集仪的“等幅/方波”设置按钮等同于三厘米固态信号源的设置。在主菜单页面点击“迈克尔干涉实验”,弹出““建议”提示框”,这是软件建议选择的“采集点数”和“脉冲通道”,单击“OK ” 进入“输入采集参数”界面。 本实验默认选取通道2作为光栅通道插座和数据采集仪的数据接口。采集点数可根据提示选取。 (二)介电常数 介电常数决定电信号在介质中传播的速度,它与介电常数的平方根成反比。介电常数越低。传播速度越快。与介质本身特性、测量方法、测试频率、测试前及测试中材料状态、温度有关。当待测材料样品放在固定全反射板或者可移动全反射板处时(注:必须紧贴),介质板的引入使原来的相干波的相位发生变化,接收天线处测得的电压值也发生相应变化,通过移动介质板,比较移动位移和介电常数的关系,计算介电常数。B -A 得出可移动全反射板所移动的距离L ,结合材料厚度,通过介电常数计算公式计算出该介质的介电常数2 )/1(εW L +=。

本实验也可以直接通过对比有无介质板放入情况下峰值的位移来直接计算,峰值位移从屏幕观察,位移的数值从手摇标尺上读数。 三、实验内容 (1)书本厚度选择一种,波长选择2种,完成两组数据及其曲线 书本厚度W=0.2993cm ①频率9GHZ 刻度尺3.258 波长λ=3.33cm 第一极小值: 第二极小值: cm cm L 505.020*******== 22.72)2993 .0505.01(2)1(=+=+=W L r ε

介电常数检测

介电常数测试电气性能检测介电常数的测试方法 10.15介质在外加电场时会产生感应电荷而削弱电场,介质中电场与原外加电场(真空中)的比值即为相对介电常数,又称诱电率,与频率相关。介电常数是相对介电常数与真空中绝对介电常数乘积。 介电常数又称电容率或相对电容率,表征电介质或绝缘材料电性能的一个重要数据,常用ε表示。它是指在同一电容器中用同一物质为电介质和真空时的电容的比值,表示电介质在电场中贮存静电能的相对能力。对介电常数越小即某介质下的电容率越小,应该更不绝缘。来个极限假设,假设该介质为导体,此时电容就联通了,也就没有电容,电容率最小。介电常数是物质相对于真空来说增加电容器电容能力的度量。介电常数随分子偶极矩和可极化性的增大而增大。在化学中,介电常数是溶剂的一个重要性质,它表征溶剂对溶质分子溶剂化以及隔开离子的能力。介电常数大的溶剂,有较大隔开离子的能力,同时也具有较强的溶剂化能力。 科标检测介电常数检测标准如下: GB11297.11-1989热释电材料介电常数的测试方法 GB11310-1989压电陶瓷材料性能测试方法相对自由介电常数温度特性的测试 GB/T12636-1990微波介质基片复介电常数带状线测试方法 GB/T1693-2007硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法 GB/T2951.51-2008电缆和光缆绝缘和护套材料通用试验方法第51部分:填充膏专用试验方法滴点油分离低温脆性总酸值腐蚀性23℃时的介电常数23℃和100℃时的直流电阻率 GB/T5597-1999固体电介质微波复介电常数的测试方法 GB/T7265.1-1987固体电介质微波复介电常数的测试方法微扰法 GB7265.2-1987固体电介质微波复介电常数的测试方法“开式腔”法 SJ/T10142-1991电介质材料微波复介电常数测试方法同轴线终端开路法 SJ/T10143-1991固体电介质微波复介电常数测试方法重入腔法 SJ/T11043-1996电子玻璃高频介质损耗和介电常数的测试方法 SJ/T1147-1993电容器用有机薄膜介质损耗角正切值和介电常数试验方法 SJ20512-1995微波大损耗固体材料复介电常数和复磁导率测试方法 SY/T6528-2002岩样介电常数测量方法 服务范围:老化测试、物理性能、电气性能、可靠性测试、阻燃检测等。10 科标化工以“专心、专业、专注“为宗旨,致力于实现研究和应用的对接,从而推动化工行业的发展。

介电常数实验实验报告

介电常数实验 实验目的 1、了解介电常数的相关知识和其相关应用。 2、掌握测量介电常数的相关原理与测量方法。 3、熟悉掌握课本知识,应用所学知识。 实验原理 介电常数是电介质的一个材料特征参数。用两块平行放置的金属电极构成 一个平行板电容器,其电容量为:D为极板间距,S为极板面积,ε即为介电常数。材料不同ε也不同。在真空中的介电常数为ε0。考察一种电介质的介电常数,通常是看相对介电常数,即与真空介电常数相比的比值εr。如能测出平行板电容器在真空里的电容量C1及充满介质时的电容量C2,则介质的相 对介电常数即为然而C1、C2的值很小,此时电极的边界效应、测 量用的引线等引起的分布电容已不可忽略,这些因素将会引起很大的误差,该误差属系统误差。如果有高介电常数的材料放在电场中,场的强度会在电介质内有可观的下降。 仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐回路的残余电感减至最低,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为准确。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值. 实验步骤 1、本仪器适用于110V/220V,50Hz±0.5Hz交流电,使用后要检查市电电压是否合 适,最好采用稳压电源,以保证测试条件的稳定。 2、开机预热15分钟,使仪器恢复正常后才能开始测试。 3、取出附带支架,将样品夹入两极板之间,在选择适当的辅助线圈插入电感接线柱,用引线将支架连接至仪器电容接线柱。 4、根据需要选择振荡频率,调节测试电路电容器使电路谐振(Q值最大)。 5、记录支架上的刻度X,并将样品从支架的两极板中取出,调节两极板间距离,使其恢复至X。 6、再调节测试电路电容器使电路谐振,这是电容为C,可直接读出Q,并且ΔQ=Q-Q

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