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日立荧光光度计维护手册(中文)

日立荧光光度计维护手册(中文)
日立荧光光度计维护手册(中文)

FLUORESCENCE SPECTROPHOTOMETER

F-2500/4500分光光度计

安装手册

请认真阅读并妥善保管本使用说明书。

●在操作使用仪器之前,请认真阅读本使用说明

书,充分理解与安全有关的注意事项。

● 为了让本使用说明书在需要时进行参照,请保

管在方便取用的就近场所。

HITACHI

目录

绪言 1 关于这本说明书 1

重要事项 2 预防电磁波的干扰 2

1. 电磁波可能干扰这台仪器 2

2. 强磁场可能影响仪器 2

产品的保修 3

安装、迁移和售后服务 5

技术研讨和技术培训 5

其它的预防措施 5 化学品和样品的处理 5

这本说明书的通知 5

商标承认书 6

安全概要安1

安全防护安1

总的安全方针安1

荧光光度计的安全注意事项安8

电安8

热源/火源按8

数据备份安8

计算机病毒的防护安9

电源中断安9

计算机电源的开/关安10

警示标签安11

前言前1

1. 安装( 用户参考信息)

1.1 拆箱 1-1 1.2 电源 1-1 1.

2.1 电压 1-2

1.2.2 频率 1-2

1.2.3 功耗 1-2

1.2.4 接地电阻 1-2

1.3 安装条件 1-3

1.3.1 安装空调 1-3

1.3.2 桌子(台子)的强度 1-3

1.3.3 安装的环境 1-4

1.4 检查递送的内容 1-5

1.5 组装 1-6 1.5.1 安装氙灯 1-6

1.5.2 检查电压和保险 1-9

1.5.3 电源线的连接 1-10

1.5.4 电源线和地线的连接 1-11

1.5.5 打印机的连接 1-12

1.5.6 设置监视器的分辨率 1-12

1.6 安装和组装后的鉴定 1-13

1.7 接通电源 1-14

1.8 安装PCI-GPIB程序(仅适用于F-4500) 1-15

1.9 安装FL软件程序 1-22

1.10 输入光度计的机器编号 1-26

1.11 调节光源位置 1-27

1.12 仪器的关闭 1-29

ii

2. 功能

2.1 仪器的系统配置 2-1

2.2 光度计的附件名称和功能 2-1

2.3 操作原理 2-2

2.3.1 信号处理/控制系统(F-2500) 2-6

2.3.2 光学系统(F-2500) 2-7

2.3.3 信号处理/控制系统(F-4500) 2-8

2.3.4 光学系统(F-4500) 2-9

2.4 测量功能 2-10

2.4.1 测量模式 2-10

2.4.2 自动校准和自我诊断功能 2-10

2.5 规格 2-11

3. 维护与检查 3-1

3.1 前言 3-1 3.2 自我诊断和自动调节 3-1

3.3 氙灯使用时间 3-2

3.4 特性检查 3-2

3.4.1 灵敏度的检查 3-2

3.4.2 飘移检查 3-4

3.4.3 波长精度检查(F-2500) 3-5

3.4.4 波长精度检查(F-4500) 3-7

3.5 故障诊断 3-9

4. 更换备件 3-11 4.1 前言 4-1 4.2 消耗品和备件 4-1

4.3 光源灯的更换 4-2

4.4 备件的更换 4-3

4.4.1 光电倍增管的更换(F-2500) 4-3

4.4.2 光电倍增管的更换(F-4500) 4-5

iii

绪言

非常感谢您购买F-2500/F-4500荧光光度计。

这台仪器可供具有化学分析基础知识的人使用。请记住,不正确的使用分析仪器、化学品或样品,不仅会导致错误的分析数据,而且也不安全。

在企图操作仪器之前,要仔细地阅读这本说明书,以便熟悉仪器,正确操作。

关于这本说明书

这本说明书包含有警示指令,当你操作荧光光度计时,要遵照执行,在试图操作仪器之前,必须阅读这本说明书。

首先,要阅读“重要事项”和“安全概要”,它们在这本手册开始的部分,这样才能保证安全地操作荧光光度计。

<1>

重要事项

预防电磁波的干扰

1.电磁波可能干扰这台仪器

当该仪器用在住宅区或邻近区域,它可能受到无线电波和电

视信号的干扰,为了防止这一点,利用特殊的系统连接线,

它必须与说明书严格一致,这样仪器才能受到最小的电磁波

的干扰。然而,不能担保电磁波不干扰这台仪器。如果该仪

器受到了无线电波或电视信号的干扰,那就关掉仪器,再打

开。如果用户试图纠正电磁波的干扰,请按下列去做:

●增加仪器和无线电或电视接收信号之间的距离。

●仪器不要和无线电收音机或电视机连在一起。

2.电磁场可能影响这台仪器

如果这台仪器用在有强磁源的地方,干扰的噪声就可能产生,

它会导致仪器性能或功能的不良效果。为了防止这一点,要

使用规定的系统连接电缆,它必须严格与说明书一致。然而,

也不能担保电磁波干扰不干扰这台仪器。如果仪器出现了电

磁波的干扰,可关闭附近的电磁波干扰源。如果用户企图纠

正这种干扰,请按下列措施去执行:

●给仪器重定方向。

●增加仪器和电磁干扰源之间的距离。

●仪器的电源插座和电磁干扰源的电源插座要分离开来。

●仪器的连接要不同于电磁干扰源的连接。

●检查与仪器连接的其它设备不被电磁干扰.

<2>

产品的保修

F-2500/F-4500荧光光度计在本手册所规定的性能内和下列给定的条件下,正常使用而产生的材料和性能的失效将给予免费修理。如果不在本手册要求下使用,就不予保修。

(1) 保修的范围

a.由于设计或制造所造成的任何一个部件的缺陷,将免

费给以修理、调整或更换。

b.代用品部件能够用于维修,或者用一个等价的产品取代

c.某一系统成分,如个人电脑和打印机为了改进而频繁

地更换,而不适应原先的版本。

(2) 保修的期限

从安装之日起,保修1年。(不包括易损件,如氙灯)(3) 技术支持服务的有效性

技术支持服务可适用于日立公司预先确定的工作日内。

(4) 保修期的限定和排序

注意,下列情况是排除在保修范围之内的。

a.由于没有特意请求日立人员安装而操作仪器所造成的失效

b.由于电源电压/频率没有按日立公司所要求的,或者由

于电源不正常所造成的失效。

c.由于所使用的试剂、气体、空气或冷却水含有杂质而

使管道腐蚀和恶化所造成的失效。

d.由于腐蚀的大气气体,造成电路的腐蚀,或光学元件

变坏,所造成的失效。

<3>

e.由于使用非日立公司指定的硬件、软件或备件,所造

成的失效。

f.由于用户不适当的处理和维修所造成的失效。

g.由于没有经过日立公司认可和审定的维修代理的维护

和修理所造成的失效。

h.没有经过日立公司批准就挪动位置或者转售他人所造成的失效。

i.由于在初始安装后,移位或运输中所造成的失效。

j.由于没有经过日立公司批准,就拆卸、修正或移动所造成的失效。

k.由于是消耗品和已达到使用寿命的备品备件失效所引起的故障。

l.本手册或其它文件中规定不保修的部件。

m.由于天灾人祸,包括火灾、地震、暴风雨、洪水、闪电、社会动乱、暴乱、犯罪、起义、战争、放射性污

染、有害物质的玷污等所引起的失效。

n.由于计算机病毒的影响而造成硬件失效,系统软件、应用软件、数据库和硬盘的损坏。

o.由于电源电压的中断或电压突然变化而引起与仪器连接的电脑失效或系统软件、应用软件、数据库或硬盘

的损坏。(如闪电或雷击等引起的)

p.由于在断开至电脑电源时,没有采取规定的、正常的关闭程序,而导致与主机连接的电脑失效或者造成系

统软件、应用软件、数据库和硬盘的损坏。

(5) 不承诺保修

<4>

a.日立公司对于特殊目的的使用和违反专利权的使用皆

不予保修。

b.没有日立公司口头的或书面的信息或通知,它的销售

人员、发行人、代理或雇员创建保修单或者以任何方

式增加保修范围都是无效的。

安装、迁移和售后服务

这种仪器的安装应当由日立公司的有资格的技术人员,或由日立公司审定的维修代理人进行。

在安装之前,用户应当做好根据这本手册所示的安装要求的准备。

当需要搬迁时,(在安装完之后),请通知当地的日立销售代表或附近的日立维修部。

技术研讨和技术培训

为了使用户更深层次地理解这种分析仪器,日立公司为你提供技术研讨和用户培训。有关这方面更详细的信息,请找当地的日立销售代表,技术研讨和用户培训是要收费用的。

其它的预防措施

(1) 用户在处理、保存或丢弃所用的化学品或样品时,要遵守有关的法律或规则。

(2) 试剂、标准液和质控样品在处理、储藏和丢弃时,要按照各自的供应商的要求去执行。

关于这本手册的注意事项:

(1) 本手册的信息,由于产品的改进,会有些变化,这将不另行通知。

(2) 本手册的版权归日立公司所有。<5>

(3) 本手册的内容,不经日立公司的书面许可,不得以任何形式或任何方式去复制或转送。

商标承认书

微软公司、Windows、Excel、Word和Windows 98都有美国微软公司的注册商标。

在本手册中所用的其它商标名称和产品名称都是经过商标注册的,或者是它们相应的贸易名称。

<6>

安全防护

在使用F-2500/F-4500荧光分光光度计之前,必须仔细地阅读下

面的安全指令。

总的安全方针

·遵守本说明书提供的所有操作程序。

·本仪器的安装和维修应由有资格的维修人员执行。

·必须遵守产品上和说明书中的警示标签,在说明书中有警报

标题,它由报警符号和信息单词组成,信息单词有:危险、 警告、注意

危险:它指示有紧急的危险状态,如果不避免,将导致人员死亡或严重伤害。

(这个警示没有出现在产品标签上。)

警告:它指示有潜在的危险状态,如果不避免,将导致人员死亡或严重伤害。

注意:它指示有危险状态,如果不避免将会导致较小的或中等的伤害或给仪器造成损害

这是报警符号,它出现在危险报警文字的前面,和本说明

书安全叙述的左前面。

安–1

总的安全方针(连续)

“NOTE”和“NOTICE”是标题词,它不直接涉及到人员的安全。告诫:该指令是为了预防产品的损害

注意:该指令是为了保证正确的使用仪器和正确的分析

·在更换部件时,使用非指定的部件时,不要修改这个指令,也不要除去安全符号,否则是很危险的。

·在交货安装、维修和搬迁时,应提交日立公司有资格的维修人员

·当有疑问时,不要执行任何操作,应当与当地的日立公司销售代表或附近的日立公司维修部联系。

·当分析操作使用化学品时,确保房间的合适的通风,通风不良会危及到你们的健康。

·要保持清醒的头脑,在本手册中和仪器上的危险标记并不覆盖一切可能,因为不可能预知和评价所有的情况,所以必须警惕和使用你的感觉器官。

安-2

这本手册包含有下列警诫指令。

危险:仪器上并没有此标签

警告:氙灯爆炸!

氙灯的爆炸会导致严重的伤害,氙灯内充满着高压气体,

在室温下近似1MPa, 在更换氙灯的时候,不要在玻璃泡

上施加太大的压力,在处理氙灯时,确保戴上合适的防护

装置,如防护镜,安全面具,长袖衣,手套等。

警告:氙灯的处理

·氙灯充满着高压气体,(在室温下近似1MPa压力,在操作条件下,约4MPa)。如果强烈的震动或碰撞施加到

灯上,或者石英玻璃表面部分被划伤,它可能爆炸,碎

玻璃片会造成人员伤亡。

·当处理氙灯时,确保穿戴上合适的防护装置,如防护镜,安全面具,长袖衣,手套等。

·不要用赤裸的手去接触氙灯的石英玻璃部分。如果石英玻璃部分的表面留有灰尘和指印,氙灯在点燃时,它可

能引起污染物燃烧,或者玻璃部分不透明,导致辐射强

度降低或玻璃部分机械强度降低。如果氙灯的石英玻璃

部分被灰尘或指印污染了,可用纱布或脱脂棉蘸上无水

乙醇去擦试,在清洗时,不要对氙灯施加太强的冲击和

震动。 安-3

·在安装氙灯时,要注意指定的方向,如果方向弄错了,灯打开时,阴极会失去功能。安装灯时,使标记“+”(阳极)的部分装在灯固定的金属支撑的位置上,如果阴极功耗太大的灯连续使用,那么灯泡内部的压力会变得太高,这就容易引起爆炸,为了预防这一点,要立刻更换灯泡。 ·如果灯座和配线部分的螺母松动,由于接触不良会使接触电阻增大,这可能产生热量,使灯极热而导致爆炸的可能,为了防止这一点,要拧紧螺母。

·在灯的累计点燃时间超过规定的使用寿命时间之前,就要更换新的氙灯,倘若规定的使用寿命时间有误,灯泡内壁周围会因为电极材料和支架的蒸发而变黑,这样会减少辐射,这样会增加灯泡内的温度和压力,因而导致爆炸。

部件号部件名称使用寿命

251-1000 氙灯 500小时

650-1500 150瓦氙灯 500小时

250-1600 150瓦氙灯 1000小时

·在更换灯之前,请关闭电源,然后至少要等2个小时,直到灯泡彻底冷却之后,方可进行。

请记住,所有用过的灯泡仍然保持着高压气体,如果对用过的灯不小心处理,它可能爆炸,造成人员伤害,所以处理用过的灯泡时,要极度的小心。 安-4

警告:由于电压高达30KV所以电击是很危险的。

由于氙灯的电压高达30KV,所以电击会导致人员死亡或造

成严重的危险。

在卸掉灯泡上光源盖之前,要关闭电源,至少等待两小时,

直到灯足够冷却之后,方可进行。

警告:由于电源电压为100伏,所以电击是很危险的。

由于电源电压为100伏,所以电击会导致人员死亡或严重

伤害。

在把电源线插进仪器之前,确保光度计主机上电源是关闭

的。

警告:由于光电倍增管电压为1000伏,所以电击是很危险的。

由于光电倍增管电压为1000伏,所以电击会导致人员死亡

或严重伤害。

在更换光电倍增管之前,要确保光度计主机上电源是断开

的。

告诫:接触发热的部件会造成烧伤!在关闭电源之后,氙灯仍然保持很热,如果接触它,会造成灼伤!

在调解或更换氙灯时,必须提前关闭电源,然后至少等待

2小时,方可进行。

安-5

告诫:不要因为长时间操作而造成疲劳

如果你在阴极射线管监视器前,以同样的姿势长时间工作,

你的身体和眼睛将会疲劳。

当你需要长时间工作在阴极射线管监视器前,为了你的眼

睛和身体的健康,请每小时休息10至15分钟。

告诫:氙灯可能会伤害你的眼睛

当你观看氙灯发出的光时,确保戴上防护眼镜,以防止眼

睛受到伤害,从氙灯上发出的紫外光,对你的眼睛也会造

成伤害。

告诫:对废灯的处理

更换新的氙灯之后,用一块软布包住所用过的灯泡(例如

把软布叠成三层)。若使用锤击或类似的方法完全地压碎玻

璃部分,丢弃时,要按照危险废料丢弃的条款去执行。

安-6

锂电池的爆炸

这台仪器为了支持存储器而是用锂电池,如果处理不当,它将会引起爆炸。

决不要给它充电、分解、或烧弃离电池。

当丢弃锂电池时,要从其他废料中取出,单独处理。

当必须要更换锂电池时(例如“RAM”频繁出现错误信息)

通知你的日立代理商和附近的维修站。

锂电池的更换需要有资格的维修人员进行,而且他需要相应的技术培训。

(这个警告不包含在本手册的正文中)

安-7

荧光光度计的安全注意事项

·确保光度计施加的电流为100V交流,功率为1KV A或更高些,频率为50±0.5赫兹或60±0.5赫兹。如果电源电压波动,或者噪声施加到电源线上,光度计会受到负面影响,这将会导致错误产生。

·确保电源线上有地线连接,接地电阻应是100欧或更小。

检查地线连接是否正确,如果地线连接不正确,光度计可能受到外部噪声的攻击,或者可能产生偏离电压,这将会导致电击的危险。

·光度计的内部使用了高压电路,为了防止电击,在操作时,不要打开盖子,除非必要时才打开。

热源/火源

不要把光度计放在有烟雾或有火焰的地方。

数据备份

存在硬盘中的数据,会因为系统失效,错误操作,计算机病毒的感染而丢失,为了确保硬盘在意外的损坏的情况下数据的完整性,把硬盘文件拷贝到软盘上去,制作必要的备份。

为了防止硬盘上有错误的操作,总是保存约100兆的自由空间作为应用软件的工作区。

安-8

计算机病毒的防护

如果某个程序或数据突然受到损害或操作/屏幕遭到意外,

计算机可能是遭到病毒的干扰。

计算机病毒是恶意的程序,它在计算机中暗中作祟,使计算

机异常或数据损坏,有一个防病毒的程序被称为疫苗程序。

引起病毒干扰的原因是:

·通过通讯下载了带有病毒的程序。

·使用带有病毒的软盘或其他存储介质。

注意,一旦计算机受到病毒的干扰,利用杀毒软件来杀灭病

毒,注意,某些杀毒软件是不可能根除实际的病毒,因此,

确保预先为硬盘文件制造备份。

电源中断

由于电源中断或光闪,使得瞬间电压下降,这样,计算机可能失效,或者系统软件,应用软件或数据可能损害,为了防

止瞬间电压的下降,可使用不间断电源装置。

安-9

计算机电源的开与关

当计算机硬盘驱动器或软盘驱动器工作时,请不要关闭计算机,如果硬盘关闭,计算机可能失效,所存储的数据和软件可能被损害,在关闭计算机电源之前,确保离开荧光光度计的控制和数据处理程序,(FL软件程序)。然后使用系统软件关闭程序。

安-10

Nikon ECLIPSE Ti倒置荧光显微镜使用说明

Nikon ECLIPSE Ti倒置荧光显微镜使用说明 操作步骤: 本显微镜的荧光光路与明视场(相差、DIC也属明视场)光路相对独立。当使用明视场时,无需打开荧光光源,进打开总电源即可。当使用荧光观察时,可同时打开总电源和荧光电源。 明视场观察: 1.开机:按动总电源开关“1”处接通电源,此时开关和指示灯点亮,打开显微镜底座左侧的透射照明器开关,从小到大调节照明器开关下方的亮度调节旋钮,使照明亮度适当。 2.首先将聚光器模板A放入光路,用10×物镜对样品进行对焦,调节目镜的屈光度调节环,然后换用40×物镜观察样品。 3.关机:将亮度调节旋钮旋至亮度最暗位置,关掉显微镜底座左侧的透射照明器开关,然后按动总电源开关“0”处关闭电源。 DIC微分干涉观察: 开机、关机等与明视场观察相同,区别是要使用聚光器相对应的DIC模板N1及起偏器、检偏器,将其放入光路后,再使用专用的银白色DIC物镜对焦观察。在观察过程中可旋转起偏器,达到最佳的观察效果。 相差观察: 开机、关机等与明视场观察相同,区别是要使用聚光器相对应的相差模板PH1。 荧光观察: 1.开机:先打开荧光灯电源开关,然后按住电源开关上方的荧光灯激发按钮3秒钟后松开,即可见荧光灯点亮。 2.打开荧光转盘上的荧光拨杆至“0”位置,此时荧光光路打开。旋转荧光转盘,转入所对应的滤光片位置即可进行荧光观察;在观察过程中可插入位于荧光灯源前方的减光片,以改变荧光强度,减弱对活细胞样品的损伤。 3.关机:直接关掉荧光灯电源开关即可。 注意事项: 1.短时间内频繁开关荧光灯电源,将极大的缩短荧光灯寿命。 2.荧光光源打开后即可使用,但必须使用20分钟才可以关闭;关闭30分钟以后才可以再次打开,否则会导致荧光灯损坏。 3.不要同时反方向转动显微镜左右两侧的调焦钮,否则会导致显微镜损坏。 4.粗动调焦钮达到限定位置后,如果继续向同一方向旋转会引起显微镜故障。请不要旋转过度。 5.显微镜光源在工作时会产生高温,因此小心不要接触光源以防烫伤,也不要将易燃品如纸张、布、塑料和酒精等放置于光源附近。

LS55操作说明书荧光-磷光-发光分光光度计中文培训手册

LS-45/55荧光/磷光/发光 分光光度计 使用说明书 美国Perkin Elmer公司 2003 年4月

一、理论基础 荧光、磷光、化学发光及生物发光均属于分子发光。现将其原理简介如下: 室温下,大多数分子处于基态的最低振动能层。处于基态的分子吸收能量后被激发为激发态。激发态不稳定,将很快衰变到基态。若返回到基态时伴随着光子的辐射,这种现象被称为“发光”。 每个分子具有一系列严格分立的能级,称为电子能级,而每个电子能级中又包含了一系列的振动能层和转动能层。图中基态用S0表示,第一电子激发单重态和第二电子激发单重态分别用S1、S2表示,0、1、2、3…表示基态和激发态的振动能层(见图1),第一、二电子的激发三重态分别用T1和T2表示(见图2)。 图1荧光的能级图 1、荧光的产生 当分子处于单重激发态的最低振动能级时,去活化过程的一种形式是以10-9~10-6秒左右的短时间内发射一个光子返回基态,这一过程称为荧光发射(见图1)。2、磷光的产生 从单重态回到三重态的分子系间跨越越迁发生后,接着发生快速的振动驰豫而到达三重态的最低振动能层上,当没有其他过程同它竞争时,在10-4~102秒左右的时间内跃迁回基态而发生磷光(见图2)。 由此可见,荧光与磷光的的根本区别是:荧光是由激发单重态最低振动能层至基态各振动能层的跃迁产生的,而磷光是由激发三重态的最低振动能层至基态各振动能层间跃迁产生的。

图2磷光的能级图 3、化学发光及生物发光的产生 某些物质在进行化学反应时,由于吸收了反应时产生的化学能,而使反应产物分子激发至激发态,受激分子由激发态回到基态时,便发出了一定波长的光,这种吸收化学能使分子发光的过程称为化学发光。化学发光也发生于生命体系,这种发光被称为生物发光。 二、仪器简介 1、仪器原理 图3LS45/55荧光/磷光/发光分光光度计的原理图

Zeiss 激光扫描共聚焦显微镜 操作手册

Zeiss 激光扫描共聚焦显微镜操作手册 目录: 1 系统得组成 系统组成及光路示意图 实物照片说明 2 系统得使用 2、1 开机顺序 2、2 软件得快速使用说明 2、3 显微镜得触摸屏控制 2、4 关机顺序 3 系统得维护 1 系统得组成 激光扫描共聚焦显微镜系统主要由:电动荧光显微镜、扫描检测单元、激光器、电脑工作站及各相关附件组成。 系统组成及光路示意图: 电脑工作站 激光器 电动荧光显微镜扫描检测单元 实物照片说明: 电动荧光显微镜 扫描检测单元 CO2 培养系统控制器 激光器 电脑工作站 2 系统得使用 2、1 开机顺序 (1)打开稳压电源(绿色按钮) 等待2 分钟(电压稳定)后,再开其它开关 (2)主开关[ MAIN SWITCH ]“ON” 电脑系统[ SYSTEMS/PC ]“ON” 扫描硬件系统[ PONENTS ]“ON” (3)打开[ 电动显微镜开关] 打开[ 荧光灯开关] (注:具有5 档光强调节旋钮) (4)Ar 离子激光器主开关“ON” 顺时针旋转钥匙至“—” 预热等待约15分钟, 将激光器[ 扳钮] 由“Standby”扳至 “Laser run”状态,即可正常使用 (5)打开[ 电脑开关],进入操作系统

注:键盘上也具有[ 电脑开关] 2、2 软件得快速使用说明 (1)电脑开机进入操作系统界面后,双击桌面共聚焦软件ZEN 图标 (2)进入ZEN 界面,弹出对话框: “Start System”——初始化整个系统,用于激光扫描取图、 分析等。 “Image Processing”——不启动共聚焦扫描硬件,用于已 存图像数据得处理、分析。 (3)软件界面: 1 功能界面切换:扫描取图(Acquisition)、图像处理(Processing)、维护(Maintain) (注:Maintain仅供Zeiss专业工程师使用) 2 动作按钮; 3 工具组(多维扫描控制); 4 工具详细界面; 5 状态栏; 6 视窗切换按钮; 7 图像切换按钮;8 图像浏览/预扫描窗口;9 文档浏览/处理区域;10 视窗中图像处理模块 动作按钮: Single ——扫描单张图片、并在图像预览窗口显示。 Start ——开始扫描单张图片或一个实验流程(1组图片,如XYZ、XYT 等)。 Stop ——暂停/结束扫描。 New ——建立一个新图像扫描窗口/文档。 激光连接状况检查 眼睛观察/相机/共聚焦LSM 光路切换(ZEN软件界面右上角): Ocular ——通过观察筒用眼睛观察。(激光安全保护装置自动阻断激光、保护眼睛。) Camera ——光路切换至相机。 LSM ——共聚焦扫描成像光路。 显微镜设置: “Ocular”——> “Light Path”——> 点击物镜图标,选择物镜——> 样品聚焦。 透射光控制(Transmitted Light Control) 反射光光闸控制(Reflected Light Shutter) 荧光激发块选择(Reflector) 共聚焦LSM 扫描设置 点击“LSM”(ZEN软件界面右上角),系统切换至共聚焦扫描光路: 光路设置: Smart Setup ——自动预设光路 选取“荧光探针”、“颜色”、扫描方法, 应用“Apply”。 (注:Fastest 为最快速扫描,多条激光谱线同时扫 描。Best signal 为最佳信号扫描,多条激光谱线顺 序扫描。Best promise 为兼顾速度与信号得折

日立螺杆冷水机组维保报价

制冷主机(RCU100SC)维保方案报价 一、大修项目内容 1、机组型号:RCU100SC(2台)。 2、对机组排水,并打开机组冷凝器和蒸发器两侧端盖。 3、检查有无泄漏。 4、维修、解决泄漏问题。 5、彻底清洗蒸发器、冷凝器铜管。 6、用涡轮无损探伤仪对蒸发器、冷凝器铜管进行逐根探伤,更换损坏的铜管并对新铜管镀膜(或用塞子塞住损坏铜管)。 7、对1#压缩机报警维修。 8、机组维修、更换配件(过滤器)、除湿、打压。 9、机组开机调试。 二、大修技术方案 1、排出机组蒸发器、冷凝器及油分离器内部水分,放出机组内部润滑油(蒸发器、冷凝器中水分和制冷剂用专用抽氟机抽到专用冷媒罐中并封存) 。 2、拆除机组蒸发器和冷凝器进出水管。 3、使用工业高纯(%)氮气对机组整体加压到12公斤,保压24小时,对整机进行检漏。 4、对已漏冷凝器铜管使用铜塞(长40MM)堵塞。 5、安装上机组蒸发器和冷凝器进出水管。

6、连接专用清洗设备对机组蒸发器和冷凝器铜管进行物理、化学清洗。 7、拆除北侧机组蒸发器和冷凝器进出水管。 10、使用专用涡轮无损铜管探伤仪对机组蒸发器和冷凝器内部未漏损的铜管进行逐根探伤,并记录每根铜管损伤情况。 11、使用专用拔管机对损伤铜管拔出来,使用专用胀管器胀接新的铜管(或用铜塞子塞住所有损坏铜管)。 12、对机组进行打压试验,使用工业高纯(%)氮气对机组整体加压到20公斤,保压24小时,压力不变为合格。 13、对机组进行抽湿处理。 14、全部拆开油路管路和油路配件,清洗内部锈和杂物。 15、拆开机组轴封,检查动环和静环接触面,清洗动环和静环,重新安装轴封。 16、打开压缩机三个检查口,检查压缩机内腔,如有锈蚀则打开压缩机,清理锈蚀和杂物,清洗轴承和阴阳转子,重新装配轴承和阴阳转子。17、对机机组进行真空试验,使用真空泵对北侧机组抽真空到 30mmhg, 保压24小时,压力不变为合格。 18、更换冷冻油。 19、开动冷却水泵和冷冻水泵,对机组充注冷媒到额定机组充注量。 20、开机调试机组,使机组运行达到满符合运行,测量机组噪音(应低于95分贝,测机组运行电流,机组出水温度达到7℃。

荧光分光光度计

荧光分光光度计 1、功能:荧光、磷光和生物/化学发光的测定都是标准功能,波长扫描,时间扫描,三维时间扫描,定量分析,磷光寿命测定,三波长测定,可扩展功能低温荧光测定,绝对量子产率测定。 *2、波长移动速度: 60,000nm/min 3、预扫描功能,优化未知样品的测量条件。 4、具有内置的切光器功能,可使样品在激发光束下的暴露时间缩短,从而保护容易发生光反应的样品 *5、灵敏度:800:1水的拉曼峰(RMS);250:1(P-P);(测试条件:水的拉曼峰,激发波长350nm,光谱带宽5nm,响应时间2s);基线处最低信噪比优于15000:1(RMS)(激发波长350nm,光谱带宽10nm,响应时间4s) 6、狭缝方式:水平狭缝,最小样品量:0.6毫升(使用标准10mm方形样品池) 7、光度模式:单色光监控比率计算 *8、单色器:机刻凹面衍射光栅:900条/mm,;激发侧闪耀波长:300nm;发射侧闪耀波长:400nm 9、测量波长范围(EX和EM):200~750nm,零级光,配置备选检测器R928F扩展至200-900nm. *10、光谱带宽:激发侧和发射侧:1,2.5,5,10,20nm 11、分辨率:1.0nm 12、波长准确性:1nm *13、波长扫描速度:不低于60,000nm/min,2s内扫描可得到一张典型的全范围光谱;2min内扫描得到一张典型的三维光谱图; *14、响应时间:从0到98%;0.002,0.004,0.01,0.05,0.1,0.5,2,4s 15、光度计的显示范围:-9999~9999 *16、全波段的光谱校正,排除仪器的依赖性,确保高精度的数据 *17、动态范围宽:六个数量级 *18可选配77K低温附件,用于液氮温度下荧光、磷光测量,可选配细胞内离子测定附件进行钙镁等离子的测量。(提供彩页图片和货号证明) *19、可选配积分球附件进行绝对量子产率测定。(提供彩页图片和货号证明)20、工作温度/湿度: 15~35℃,45~8O%(不可有冷凝现象,35℃以上时湿度为70%以下 21、电源: 220, 230, 240Ⅴ AC 50/60Hz *22、配备温控支架及冷却循环水一套。 二、配置 1. 主机1台(含原装荧光比色皿1只和软件1套) 配套固体样品支架1套 2.电脑打印机1套 3.温控支架1套 冷却循环水1套

Nikon 80i荧光显微镜使用说明

Nikon 80i荧光显微镜使用说明 △荧光显微镜属贵重仪器,未经保管人员同意请勿擅自使用。 △严格按照操作步骤进行,在使用过程中如发现问题应及时向保管人员反映。 △因违反操作规程,而导致仪器损坏,根据本中心《损坏仪器赔偿制度》进行赔偿。 △使用者在使用完毕后应进行登记. 维护和保养 本仪器应定期进行维护和保养。 ●防止镜头霉变,定期除湿。 ●为防止损坏荧光灯泡,荧光光源关闭后,15分钟内不得再重新开启。 ●荧光灯泡的最佳使用期限是200小时,如发现荧光强度明显降低应更换荧光灯泡。 荧光显微镜操作步骤 △显微镜系精密仪器,务请不要碰击,要仔细耐心使用。 △荧光光源关闭后,15分钟内不得再开启。 △荧光灯泡的最佳使用期限是200小时,因此每次使用时请尽量缩短时间。 1.插上电源插座,打开主机电源开关。 2. 将待检标本置于载物台上。 3. 用10×物镜对焦点,根据使用者的眼间距调节双目镜筒的间距。 4. 调节光圈及灯光强度至合适位置。 5. 调节粗调和微调使标本至最清晰。 6. 拔出活动杆,使光路通过CCD至显示器。 7.保存图象至电脑中。 8. 使用完毕后关掉电源,如镜头上有指纹或污迹用擦镜纸将其擦除。 ●荧光光源操作 1.插上荧光光源电源插座,打开荧光光源电源开关。 2. 打开光栅。 3. 根据使用荧光素的不同选择不同的荧光滤光片。 4. 将待检标本置于载物台上。 5. 用10×物镜对焦点,根据使用者的眼间距调节双目镜筒的间距。 6. 调节粗调和微调使标本至最清晰。 7. 拔出活动杆,使光路通过CCD至显示器。 8. 保存图象至电脑中。 9. 使用完毕后关掉电源,如镜头上有指纹或污迹用擦镜纸将其擦除。 10. 登记使用情况。 Nikon 80i主要技术参数:放大倍数40-1000,CFI60无限远光学系统,内置滤色镜,数字成像头。明场、暗场、简单偏光、荧光/明场、荧光/暗场。波长:330-380,450-490,510-560。主电压90~250V。频率:50~60HZ。功率消耗:最大160W。周围环境温度:10~36℃。相对湿度:0~80%。污染级别:2。 应用范围:正置明场、相差及荧光,主要用于细胞及细菌等的观察及荧光摄影。

F-27000荧光分光光度计使用操作步骤

F-2700荧光分光光度计操作规程 1、开机: (1)开启计算机 (2)开启仪器主机电源按下仪器主机左侧面板下方的黑色按钮(POWER)同时,观察主机正面面板右侧的Xe LAMP 和RUN指示灯依次亮起来,都显示绿色为正常。 (3)双击桌面图标(FL Solutions 4.1 for F-7000),主机自行初始化,扫描界面自动进入 (4)初始化结束后,须预热15-20分钟,出现操作主界面(界面右下角出现Ready) 2、点击扫描界面右侧“Method” 在“General”选项中的“Measurement”选择“wavelength scan”测量模式 在“Instrument”选项中设置仪器参数和扫描参数 选择扫描模式“Scan Mode”:Emission/Excitation(发射光谱/激发光谱) 选择数据模式“Data Mode”:Fluorescence (荧光测量) 设定波长扫描范围 扫描荧光激发光谱(Excitation):需设定激发光的起始/终止波长(EX Start/End WL)和荧光发射波长(EM WL) 扫描荧光发射光谱(Emission):需设定发射光的起始/终止波长(EM Start/End WL)和荧光激发波长(EX WL) 其他选项可选择默认值(也可根据具体实验要求自行设定) 参数设置好后,点击“确定” 3、设置文件存储路径(此步也可不进行参数设置,可以在按5中方法进行保存) (1)点击扫描界面右侧“Sample” (2)样品名可自行命名 (3)选中“Auto File”,可以自动保存原始文件和TXT格式文本文档数据(4)参数设置好后,点击“OK” 4、扫描测试 (1)打开盖子,放入待测样品后,盖上盖子(请勿用力) (2)点击扫描界面右侧“Measure”,窗口在线出现扫描谱图 5、数据处理与保存 (1)选中自动弹出的数据窗口 (2)右键--“Trace”,进行读数并寻峰等操作 (3)“File”--“Save as”对数据进行保存 6、关机顺序: (1)关闭运行软件FL Solution 2.1 for F-7000 (2)选中“Close the lamp,then close the monitor windows?”点击“Yes”窗口自动关闭同时,观察主机正面面板右侧的Xe LAMP指示灯暗下来,而RUN指示灯仍显示绿色 (4)约十分钟后,关闭仪器主机电源,即按下仪器主机左侧面板下方的黑色按钮(POWER)(目的是仅让风扇工作,使Xe灯室散热) (5)从样品池中取出所有比色皿,清洗干净以便下一次使用 (6)关闭计算机

荧光分光光度计- 原理

分子荧光分析法 发光光谱:物质分子或原子吸收辐射被激发后,电子以无辐射跃迁至第一电子激发态的最低振动能级,再以辐射的方式释放这一部分能量而产生的光谱称为荧光、磷光。 根据物质接受的辐射能量的大小及与辐射作用的质点不同,荧光分析法可分为以下几种: 1. X射线荧光分析法 用X射线作光源,待测物质的原子受激发后在很短时间内(10-8 s)发射波长在X 射线范围内的荧光。 2. 原子荧光分析法: 待测元素的原子蒸气吸收辐射激发后,在很短的时间内(10-8 s),部分将发生辐射跃迁至基态,这种二次辐射即为荧光,根据其波长可进行定性,根据谱线强度进行定量。 荧光的波长如与激发光相同,称为共振荧光。 荧光的波长比激发光波长长,称为stokes荧光;若短,称为反stokes荧光。 3. 分子荧光分析法: 有些物质的多原子分子,在用紫外、可见光(或红外光)照射时,也能发射波长在紫外、可见(红外)区荧光,根据其波长及强度可进行定性和定量分析,这就是通常的(分子)荧光分析法。

基本原理 一. 分子荧光的发生过程 (一)分子的激发态——单线激发态和三线激发态 大多数分子含有偶数电子,在基态时,这些电子成对地存在于各个原子或分子轨道中,成对自旋,方向相反,电子净自旋等于零:S=?+(-?)=0,其多重性M=2S+1=1 (M 为磁量子数),因此,分子是抗(反)磁性的,其能级不受外界磁场影响而分裂, 称“单线态”; 图1 单线基态(A)、单线激发态(B)和三线激发态(C) 当基态分子的一个成对电子吸收光辐射后,被激发跃迁到能量较高的轨道上,通常它的自旋方向不改变,即?S=0,则激发态仍是单线态,即“单线(重)激发态”; 如果电子在跃迁过程中,还伴随着自旋方向的改变,这时便具有两个自旋不配对的电子,电子净自旋不等于零,而等于1:S=1/2+1/2=1 其多重性:M=2S+1=3 即分子在磁场中受到影响而产生能级分裂,这种受激态称为“三线(重)激发态”; “三线激发态” 比“单线激发态” 能量稍低。但由于电子自旋方向的改变在光谱学上一般是禁阻的,即跃迁几率非常小,只相当于单线态→单线态过程的10-6~10-7。(二)分子去活化过程及荧光的发生: (一个分子的外层电子能级包括S0(基态)和各激发态S1,S2,…..,T1…..,每个电子能级又包括一系列能量非常接近的振动能级) 处于激发态的分子不稳定,在较短的时间内可通过不同途径释放多余的能量(辐射或非辐射跃迁)回到激态,这个过程称为“去活化过程”,这些途径为: 1. 振动弛豫:在溶液中,处于激发态的溶质分子与溶剂分子间发生碰撞,把一部分能

荧光显微镜操作手册簿

荧光显微镜操作手册 Olympus BX51 物镜: 4 ×0.16 (无DIC) 10×0.40 20×0.75 40×1.00 oil 100×1.40 oil 荧光滤色块转盘: 1. WU 蓝 2. WIB 绿(长通) 3. WIBA 绿(带通) 4. WIG 红 5. CFP 青 6. YFP 黄 操作步骤:(注意:样品须在低倍镜下放置和取下) DIC观察:

1.打开明场电源开关(“︱”为开,“○”为关) 2.将样品置于载物台上,用样品夹夹好 3.将起偏器、检偏器、DIC棱镜推入光路,荧光滤块转盘拨到“1”位置,DIC棱镜应 与相应的物镜倍数相匹配 4.先选用低倍物镜(“10×”) 5.调节透射光的强度,调节焦距,找到视野 6.换到高倍镜头,观察样品 7.DIC观察时,光路选择拉杆拉到中间位置,既可观察,也可拍照 荧光观察: 1.打开明场电源开关 2.打开汞灯电源开关 3.将样品置于载物台上,用样品夹夹好 4.检偏器、DIC棱镜在光路外 5.将荧光光路shutter打开(“○”为开,“●”为关),需保护样品时关闭shutter 6.光路选择拉杆推至最里边 7.根据样品的标记情况将荧光滤块转盘转到相应的位置 8.通过两组减光滤片调节激发光强度 9.从低倍镜开始观察,调焦,找到预观察视野, 10.依次换到高倍镜头,观察样品 11.拍照时光路选择拉杆完全拉出 普通明场观察: 1.打开明场电源开关(“︱”为开,“○”为关) 2.将样品置于载物台上,用样品夹夹好 3.起偏器、检偏器、DIC棱镜在光路外,荧光滤块转盘拨到“1”位置,DIC棱镜拨到 明场(BF)位置 4.先选用低倍物镜(“4×”) 5.调节透射光的强度,调节焦距,找到视野 6.依次换到高倍镜头,观察样品 7.光路选择拉杆拉到中间位置既可观察,也可拍照 关机: 1.关闭汞灯电源(注意:汞灯需使用半小时以上方可关闭,关闭半小时以后方可再次 开启) 2.将透射光调到最小,关闭明场电源开关 3.将镜头转到低倍镜,取出样品,若使用过油镜用干净的擦镜纸擦拭镜头 4.确认数据已经保存,关闭软件 5.使用光盘拷贝数据(禁止使用移动储存设备拷贝数据) 6.关闭电脑,登记使用时间、荧光数字等使用情况

高等仪器分析实验-荧光分光光度计的使用

高等仪器分析实验(荧光分光光度计的使用) 实验目的 1.掌握荧光分光光度计的基本使用方法:扫描激发光谱,发射光谱,荧光强度,同步荧光光谱 2.掌握荧光定量分析方法 实验原理 荧光分光光度计是常用的光学仪器,在定量分析,样品的光谱性质表征时经常用到。 荧光分光光度计的基本功能是完成激发光谱,发射光谱的扫描,进行相对荧光强度的测量。从激发光谱可以获得样品激发态能级的分布情况,用来选择定量分析的最佳激发波长。从发射光谱可以知道样品基态能级的分布情况,用来选择定量分析的最佳发射波长。荧光定量分析法的方法与紫外可见吸收光谱法类似,但需要注意荧光强度值是相对值,同一样品,同一仪器在不同仪器参数时获得的荧光强度是不同的。只有当测量时仪器参数完全相同时,不同样品荧光强度的相互比较才有意义。 与紫外可见吸收光谱类似,分子荧光光谱也是分子光谱,其谱峰较宽,特征性不是很强,谱峰重叠现象比较普遍。为了减小谱峰宽度,避免谱峰重叠,提高分析的选择性,在定量分析时常采用同步荧光的方法进行。同步荧光是同时扫描荧光分光光度计的激发和发射单色仪得到的谱图,通过选择合适的扫描参数,可以使样品谱峰变窄,并避免不同组份的谱峰重叠,得到比较好的分析效果。 同步荧光扫描有固定波长同步荧光法,固定能量同步荧光法,可变角同步荧光法,导数同步荧光法等,其中以固定波长同步荧光法最为常用。 扫描已知样品荧光激发和发射光谱时,可先根据参考波长来进行。扫描未知样品的荧光光谱,可以将发射波长先每隔一定波长(例如50nm)扫描一个激发光谱。对比不同位置的激发光谱,从最强的激发光谱中选择最大激发波长,设定该波长为激发波长,扫描发射光谱。再从新得到的发射光谱中找到最大发射波长,在最大发射波长处重新扫描激发光谱。 扫描样品激发光谱和发射光谱时,需要注意:扫描激发光谱时,激发单色器扫描范围的长波端一般应小于发射波长;扫描发射光谱时,发射单色器扫描范围的短波端应大于激发波长。否则在发射光谱(激发光谱)中与激发波长(发射波长)波长相同的位置会出现很强的散射谱峰,这不是样品的荧光引起的,应注意区分。 如果样品不是真正的溶液,或包含有不溶颗粒物,或是固体样品,如果扫描范围较宽时,通常在发射光谱(激发光谱)中激发波长(发射波长)整数倍波长的位置也会出现弱的散射谱峰,称为倍频峰,在分析光谱情况时也应注意区分。对散射倍频峰或样品荧光峰,可通过适当改变激发波长来进行区分,散射倍频峰的位置会随着激发峰位置的变化而变化,而荧光峰位置通常是不变的。如果倍频峰对样品的测量有干扰,可使用合适的滤光片消除倍频峰。合适的消倍频峰滤光片应可以使发射光透过,而阻挡激发光不能透过。 如果样品荧光较弱,使用高灵敏度档测定时,通常会观察到溶剂的拉曼峰,也应注意与样品荧光进行区分。拉曼峰的位置也与激发波长有关,同时会随着激发波长的变化而变化。其位置估算方法:?laman=1/(1/?ex-?H2O/107),其中波长单位为nm,?H2O为溶剂的红外吸收波长,单位为波数,溶剂为水时,主要的红外吸收是O-H伸缩振动,波长在3300波数。 狭缝的选择:激发和发射狭缝通常并不要求严格一致,为获得较好的灵敏度和准确反应谱峰形状,测定激发光谱时,选用较大的发射狭缝和较小的激发狭缝是比较好的。而测定发射光谱时则恰好相反。 灵敏度档的选择:灵敏度档与仪器中光电倍增管的放大倍数有关,对荧光比较弱的样品,应选择灵敏度较高的档位,反之亦反。但注意不同档位之间的荧光强度值没有确定的换算关系,不能相互比较。进行定量分析时,所有样品必须在同样的狭缝和灵敏度档位测量。 仪器及试剂 970MC荧光分光光度计 缓冲溶液:10-2mol/L Na2HPO4-NaOH缓冲溶液,pH=11-12 1-萘酚储备液:10?g/ml

日立螺杆冷水机组维保报价

日立螺杆冷水机组维保报价 制冷主机(RCU100SC)维保方案报价 一、大修项目容 1、机组型号:RCU100SC(2台)。 2、对机组排水,并打开机组冷凝器和蒸发器两侧端盖。 3、检查有无泄漏。 4、维修、解决泄漏问题。 5、彻底清洗蒸发器、冷凝器铜管。 6、用涡轮无损探伤仪对蒸发器、冷凝器铜管进行逐根探伤,更换损坏的铜管并对新铜管镀膜(或用塞子塞住损坏铜管)。 7、对1#压缩机报警维修。 8、机组维修、更换配件(过滤器)、除湿、打压。 9、机组开机调试。 二、大修技术方案 1、排出机组蒸发器、冷凝器及油分离器部水分,放出机组部润滑油(蒸发器、冷凝器中水分和制冷剂用专用抽氟机抽到专用冷媒罐中并封存) 。 2、拆除机组蒸发器和冷凝器进出水管。 3、使用工业高纯(99.999%)氮气对机组整体加压到12公斤,保压24小时,对整机进行检漏。

4、对已漏冷凝器铜管使用铜塞(长40MM)堵塞。 5、安装上机组蒸发器和冷凝器进出水管。 6、连接专用清洗设备对机组蒸发器和冷凝器铜管进行物理、化学清洗。 7、拆除北侧机组蒸发器和冷凝器进出水管。 10、使用专用涡轮无损铜管探伤仪对机组蒸发器和冷凝器部未漏损的铜管进行逐根探伤,并记录每根铜管损伤情况。 11、使用专用拔管机对损伤铜管拔出来,使用专用胀管器胀接新的铜管(或用铜塞子塞住所有损坏铜管)。 12、对机组进行打压试验,使用工业高纯(99.999%)氮气对机组整体加压到20公斤,保压24小时,压力不变为合格。 13、对机组进行抽湿处理。 14、全部拆开油路管路和油路配件,清洗部锈和杂物。 15、拆开机组轴封,检查动环和静环接触面,清洗动环和静环,重新安装轴封。 16、打开压缩机三个检查口,检查压缩机腔,如有锈蚀则打开压缩机,清理锈蚀和杂物,清洗轴承和阴阳转子,重新装配轴承和阴阳转子。17、对机机组进行真空试验,使用真空泵对北侧机组抽真空到30mmhg, 保压24小时,压力不变为合格。 18、更换冷冻油。 19、开动冷却水泵和冷冻水泵,对机组充注冷媒到额定机组充注量。

荧光分光光度计

基本原理 由高压汞灯或氙灯发出的紫外光和蓝紫光经滤光片照射到样品池中,激发样品中的荧光物质发出荧光,荧光经过滤过和反射后,被光电倍增管所接受,然后以图或数字的形式显示出来。物质荧光的产生是由在通常状况下处于基态的物质分子吸收激发光后变为激发态, 这些处于激发态的分子是不稳定的,在返回基态的过程中将一部分的能量又以光的形式放出,从而产生荧光. 不同物质由于分子结构的不同,其激发态能级的分布具有各自不同的特征,这种特征反映在荧光上表现为各种物质都有其特征荧光激发和发射光谱;,因此可以用荧光激发和发射光谱的不同来定性地进行物质的鉴定。 在溶液中,当荧光物质的浓度较低时,其荧光强度与该物质的浓度通常有良好的正比关系,即IF=KC,利用这种关系可以进行荧光物质的定量分析,与紫 外-可见分光光度法类似,荧光分析通常也采用标准曲线法进行。 基本结构 1. 光源: 为高压汞蒸气灯或氙弧灯,后者能发射出强度较大的连续光谱,且在300nm~400nm 范围内强度几乎相等,故较常用。 2.激发单色器: 置于光源和样品室之间的为激发单色器或第一单色器,筛选出特定的激发光谱。3.发射单色器: 置于样品室和检测器之间的为发射单色器或第二单色器,常采用光栅为单色器。筛选出特定的发射光谱。 4.样品室: 通常由石英池(液体样品用)或固体样品架(粉末或片状样品)组成。测量液体时,光源与检测器成直角安排;测量固体时,光源与检测器成锐角安排。 5.检测器: 一般用光电管或光电倍增管作检测器。可将光信号放大并转为电信号

荧光分光光度计 科技名词定义 中文名称:荧光分光光度计 英文名称:spectrofluorophotometer;fluorescence spectrophotometer;spectrofluorometer;spectroflurimeter 定义1:利用某些物质受激发出的荧光,其光强度与该物质的含量成一定函数关系的性质而制成的分光光度计。 应用学科:机械工程(一级学科);光学仪器(二级学科);物理光学仪器(三级学科) 定义2:分析物质荧光特性的仪器。具有两套单色光器,对物质荧光进行定性分析时,固定入射的激发光波长可获得发射光光谱,而固定所测发射光波长时就可扫描得激发光谱,从中可以得到最大的发射光波长和最大的激发光波长。固定激发光波长和强度测量发射光强度,可作定量分析。 应用学科:生物化学与分子生物学(一级学科);方法与技术(二级学科) 定义3:在荧光波长范围内,对溶液中物质进行浓度测定的仪器。 应用学科:细胞生物学(一级学科);细胞生物学技术(二级学科)

倒置荧光显微镜操作说明

显微镜及数码成像系统操作简要 第一部分观察方法步骤 1、明场观察方法步骤 2、相差观察方法步骤 3、荧光观察方法步骤 第二部分使用IPP拍摄图像流程(相差观察、荧光观察) 第三部分使用BX2-BSW拍摄图像流程(明场观察)

1、明场观察方法步骤 步骤 涉及部件 主开关拨到“I ” 准备工作:柯勒照明光轴中心调节 第一次观察须完成此调试,完成后不需要再调节,直至装卸过部件后,使用过程中请不要扭动聚光镜中心调节旋钮。 ① 聚光镜升高到最高位置 聚光镜高度升降旋钮 ② 用10X 物镜聚焦至清晰 ③ 视场光阑打至最小 视场光阑 ④ 逐步下降聚光镜,使视场中出现清晰正多边形图像 聚光镜升降旋钮 ⑤ 调节聚光镜中心调节旋钮,使正多边形移至视场中心 聚光镜中心调节旋钮 ⑥ 逐步打开视场光阑,使正多边形与视场边缘内切 视场光阑 ⑦ 稍加大视场光阑,使它的图象刚好与视场外切即可 视场光阑

步骤 涉及部件 I ” 载物台、标本夹 3、荧光观察方法步骤 准备工作:高压汞灯对中(第一次观察时调整,以后观察时不需调整,除非更换汞灯) 步骤 涉及部件 主开关拨到“I ” CD+或CD-钮

主开关拨到“I ” ND 片插槽 /孔径光阑 准备工作: 高压汞灯对中(第一次观察时调整,以后观察时不需调整,除非更换汞灯) 调整完成后,请不要触动对中部件,如汞灯对中旋钮,视场光阑对中钮等。 ,待弧 载物台

观察筒 视场光阑中心调节钮 第二部分使用IPP 拍摄图像流程 1. 在桌面点击以下图标打开IPP。 2. 在菜单栏中,(采集)Acquire 菜单下点击(视频/数字图像采集)Video/Digital Capture,或点击工具栏中,即出现控制CCD 拍照的对话框。

荧光显微镜 倒置荧光显微镜

致测维产品用户: 感谢您明智地选择了测维-里万光电的产品。 从您开始使用测维产品的那一刻起,测维便与您结下了不解之缘,无论何时,无论何地,您将享受测维切实和认真的服务。 测维更希望把您的要求作为我们的追求,以使测维产品的质量、性能、服务日臻完善。因此,您的任何建议和意见,我们都将予以充分的重视。 测维的信箱是:cwsh@https://www.wendangku.net/doc/171042782.html, 如果您想更多地了解测维的产品,欢迎登陆测维的网站:https://www.wendangku.net/doc/171042782.html,/或拨打我们的全国客服热线:400-711-6930。 手册导读 请您在使用仪器前务必仔细阅读本手册。 特别提示: 在操作前,务必把仪器左侧粗微动内侧的限位圈松开。 用途: LWD300-38LFT型倒置荧光显微镜是由倒置显微镜和落射荧光显微镜组成。倒置显微镜具有在培养瓶或培养皿内进行显微观察的特点;落射荧光显微适用于荧光显微术。仪器配有长工作距离平场消色差物镜、大视野目镜、双目观察,还配有特长或长工作距离聚光镜、同时配有相衬装置及相衬物镜,可以观察不经染色的透明活体;落射荧光显微镜采用落射光激发,荧光图象清晰。该仪器特别适用于对活体细胞和组织、流质、沉淀物等进行显微研究,是生物学,细胞学,肿瘤学,遗传学,免疫学等研究工作的理想仪器。可供科研、高校、医疗、防疫和农牧等部门使用一、规格1.目镜 2.物镜

3.总放大倍数 4.聚光镜:特长工作距离聚光镜(带相衬装置):工作距离75mm; 5.大台面载物台:移动范围: 75mm×50mm; 6.带限位和调节松紧装置的同轴粗微动调焦系统;微动手轮格值为: 0.002mm; 7.瞳距调节范围:53mm~75mm; 8.照明系统: A.透射照明光源12V30W卤素灯(亮度可调); B.落射荧光光源100W超高压直流汞灯; 9. 电源电压:110V(60Hz)或230V(50Hz) 10.激发滤色片组: 紫外光(UV):激发光谱区域:330-400nm;可见荧光起始光谱:425nm. 紫光(V):激发光谱区域:395-415nm;可见荧光起始光谱:455nm. 蓝光(B):激发光谱区域:420-485nm;可见荧光起始光谱:515nm. 绿光(G):激发光谱区域:460-550nm;可见荧光起始光谱:590nm. 11.防霉。

高等仪器分析实验-荧光分光光度计的使用

高等仪器分析实验(荧光分光光度计的使用) 实验目的 1.掌握荧光分光光度计的基本使用方法:扫描激发光谱,发射光谱,荧光强度,同步 荧光光谱 2.掌握荧光定量分析方法 实验原理 荧光分光光度计是常用的光学仪器,在定量分析,样品的光谱性质表征时经常用到。 荧光分光光度计的基本功能是完成激发光谱,发射光谱的扫描,进行相对荧光强度的 测量。从激发光谱可以获得样品激发态能级的分布情况,用来选择定量分析的最佳激发波长。从发射光谱可以知道样品基态能级的分布情况,用来选择定量分析的最佳发射波长。 荧光定量分析法的方法与紫外可见吸收光谱法类似,但需要注意荧光强度值是相对值,同一样品,同一仪器在不同仪器参数时获得的荧光强度是不同的。只有当测量时仪器参数完全相同时,不同样品荧光强度的相互比较才有意义。 与紫外可见吸收光谱类似,分子荧光光谱也是分子光谱,其谱峰较宽,特征性不是很 强,谱峰重叠现象比较普遍。为了减小谱峰宽度,避免谱峰重叠,提高分析的选择性,在定量分析时常采用同步荧光的方法进行。同步荧光是同时扫描荧光分光光度计的激发和发射单色仪得到的谱图,通过选择合适的扫描参数,可以使样品谱峰变窄,并避免不同组份的谱峰重叠,得到比较好的分析效果。 同步荧光扫描有固定波长同步荧光法,固定能量同步荧光法,可变角同步荧光法,导 数同步荧光法等,其中以固定波长同步荧光法最为常用。 扫描已知样品荧光激发和发射光谱时,可先根据参考波长来进行。扫描未知样品的荧 光光谱,可以将发射波长先每隔一定波长(例如50nm)扫描一个激发光谱。对比不同位

置的激发光谱,从最强的激发光谱中选择最大激发波长,设定该波长为激发波长,扫描发射光谱。再从新得到的发射光谱中找到最大发射波长,在最大发射波长处重新扫描激发光谱。 扫描样品激发光谱和发射光谱时,需要注意:扫描激发光谱时,激发单色器扫描范围的长波端一般应小于发射波长;扫描发射光谱时,发射单色器扫描范围的短波端应大于激发波长。否则在发射光谱(激发光谱)中与激发波长(发射波长)波长相同的位置会出现很强的散射谱峰,这不是样品的荧光引起的,应注意区分。 如果样品不是真正的溶液,或包含有不溶颗粒物,或是固体样品,如果扫描范围较宽时,通常在发射光谱(激发光谱)中激发波长(发射波长)整数倍波长的位置也会出现弱的散射谱峰,称为倍频峰,在分析光谱情况时也应注意区分。对散射倍频峰或样品荧光峰,可通过适当改变激发波长来进行区分,散射倍频峰的位置会随着激发峰位置的变化而变化,而荧光峰位置通常是不变的。如果倍频峰对样品的测量有干扰,可使用合适的滤光片消除倍频峰。合适的消倍频峰滤光片应可以使发射光透过,而阻挡激发光不能透过。 如果样品荧光较弱,使用高灵敏度档测定时,通常会观察到溶剂的拉曼峰,也应注意与样品荧光进行区分。拉曼峰的位置也与激发波长有关,同时会随着激发波长的变化而变化。其位置估算方 法:?laman=1/(1/? ex-?H2O /10 7),其中波长单位为nm,?H2O 为溶剂的红外吸收波长,单位为波数,溶剂为水时,主要的红外吸收是O-H 伸缩振动,波长在3300波数。 狭缝的选择:激发和发射狭缝通常并不要求严格一致,为获得较好的灵敏度和准确反 应谱峰形状,测定激发光谱时,选用较大的发射狭缝和较小的激发狭缝是比较好的。而测 定发射光谱时则恰好相反。 灵敏度档的选择:灵敏度档与仪器中光电倍增管的放大倍数有关,对荧光比较弱的样 品,应选择灵敏度较高的档位,反之亦反。但注意不同档位之间的荧光强度值没有确定的 换算关系,不能相互比较。进行定量分析时,所有样品必须在同样的狭缝和灵敏度档位测 量。 仪器及试剂 970MC荧光分光光度计 缓冲溶液:10-2mol/L Na 2HPO4-NaOH 缓冲溶液,pH=11-12

LeicaTCSSP2激光共聚焦显微镜系统操作手册

Leica TCS SP2 激光共聚焦显微镜系统操作手册一、荧光显微镜Leica DMRE的使用 A:步距调节 B:电动升台按钮 C:电动降台按钮 D:微调 E:上限设置 F:下限设置 1、观察、扫描转换拉杆 2、卤素灯开关 3、透射光探测器开光横档 4、荧光光路开关 5、荧光滤镜转盘1:DAPI;2:TRITC;3:FITC;4:SCAN 6、镜头侧DIC棱镜转盘 7、与镜头相配DIC滤块 8、起偏器 9、检偏器

10、镜头侧DIC棱镜微调旋钮 11、光强调节纽 12、减光滤光片 13、孔径光阑 14、视场光阑 选择合适的镜头 Leica TCS SP2 镜头配置 镜头类型使用介质放大倍率/数值孔径编号 HC PL APO CS DRY 10X /0.4 506511 HC PL APO CS DRY 20X/ 0.7 506513 HC PL APO CS DRY 40 X 0.85/ CORR 506140 HC PL APO Ibd.BC OIL 63X /1.4 506192 Leica TCS SP2 AOBS 镜头配置 镜头类型使用介质放大倍率/数值孔径编号 HC PL FLUOTAR DRY 10X/0.3 506505 HC PL FLUOTAR DRY 20X/0.5 506503 HCX PL APO OIL 40X/1.25-0.75 506176 HC PL APO Ibd.BC OIL 63X/1.4 506192 HCX PL APO CS OIL 100X/1.40-0.70 506038 WATER HCX APO L U-V-I WA TER 63X/0.9 506148 荧光观察 荧光光路开关至“O”位, 转轮至“1.0×”位, 转换拉杆完全推进, 荧光滤块换到相应号位(1:DAPI;2:TRITC;3:FITC;4:SCAN) 图像输出扫描 荧光光路开关至“I”位, 转轮至“UV”位, 转换拉杆完全拉出, 荧光滤块换到4:SCAN) 荧光观察(以油镜观察为例) 1、样品正面朝上正确放在显微镜样品台上,点上镜油。 2、长按电动升台按钮,使镜头和样品上镜油接触,调节微调旋钮,找到样品。 3、将光路转换成荧光观察位置,找到预扫描目标,将光路转换至扫描状态。

LS-50荧光分光光度计操作手册

LS-45/55荧光/磷光/发光 分光光度计 使用说明书 美国Perkin Elmer公司 王国强黄建权编译 2002年4月

一、理论基础 荧光、磷光、化学发光及生物发光均属于分子发光。现将其原理简介如下: 室温下,大多数分子处于基态的最低振动能层。处于基态的分子吸收能量后被激发为激发态。激发态不稳定,将很快衰变到基态。若返回到基态时伴随着光子的辐射,这种现象被称为“发光”。 每个分子具有一系列严格分立的能级,称为电子能级,而每个电子能级中又包含了一系列的振动能层和转动能层。图中基态用S 0 表示,第一电子激发单重态和第二电子激发单重 态分别用S 1、S 2 表示,0、1、2、3…表示基态和激发态的振动能层(见图1),第一、 二电子的激发三重态分别用T 1和T 2 表示(见图2)。 图1荧光的能级图 1、荧光的产生 当分子处于单重激发态的最低振动能级时,去活化过程的一种形式是以10-9~10-6秒左右的短时间内发射一个光子返回基态,这一过程称为荧光发射(见图1)。2、磷光的产生 从单重态回到三重态的分子系间跨越越迁发生后,接着发生快速的振动驰豫而到达三重态的最低振动能层上,当没有其他过程同它竞争时,在10-4~102秒左右的时间内跃迁回基态而发生磷光(见图2)。 由此可见,荧光与磷光的的根本区别是:荧光是由激发单重态最低振动能层至基态各振动能层的跃迁产生的,而磷光是由激发三重态的最低振动能层至基态各振动能层间跃迁产生的。

图2磷光的能级图 3、化学发光及生物发光的产生 某些物质在进行化学反应时,由于吸收了反应时产生的化学能,而使反应产物分子激发至激发态,受激分子由激发态回到基态时,便发出了一定波长的光,这种吸收化学能使分子发光的过程称为化学发光。化学发光也发生于生命体系,这种发光被称为生物发光。 二、仪器简介 1、仪器原理 图3LS45/55荧光/磷光/发光分光光度计的原理图

荧光分光光度计使用

工作原理 荧光产生的原理 荧光的定义:某些物质受紫外光或可见光照射激发后能发射出比激发光波长较长的光。 荧光产生的原理:化学物质能从外界吸收并储存能量(如光能、化学能等)而进入激发态,当其从激发态再回复到基态时,过剩的能量可以电磁辐射的形式放射(即发光)。 荧光化合物的两种特征光谱 1. 荧光激发光谱,就是通过测量荧光体的发光通量随波长变化而获得的光谱,它反映了不同波长激发光引起荧光的相对效率。 2. 荧光发射光谱,如使激发光的波长和强度保持不变,而让荧光物质所产生的荧光通过发射单色器后照射于检测器上,扫描发射单色器并检测各种波长下相应的荧光强度,然后通过记录仪记录荧光强度对发射波长的关系曲线,所得到的谱图称为荧光光谱。 物质的激发光谱和荧光发射光谱,可以用作该物质的定性分析。当激发光强度、波长、所用溶剂及温度等条件固定时,物质在一定浓度范围内,其发射光强度与溶液中该物质的浓度成正比关系,可以用作定量分析。 荧光分析法的灵敏度一般较紫外分光光度法或比色法为高,浓度太大的溶液会有“自熄灭”作用,以及由于在液面附近溶液会吸收激发光,使发射光强度下降,导致发射光强度与浓度不成正比,故荧光分析法应在低浓度溶液中进行。 荧光发射的特点:可产生荧光的分子或原子在接受能量后即刻引起发光;而一旦停止供能,发光(荧光)现象也随之在瞬间内消失。 溶液荧光光谱通常具有的特征: (1) 斯托克斯位移:在溶液荧光光谱中,所观察到的荧光的波长总是大于激发光的波长。 (2) 荧光发射光谱的形状与激发波长无关。 (3) 荧光发射光谱的形成与吸收光谱的形状有镜像关系 荧光的猝灭:荧光分子的辐射能力在受到激发光较长时间的照射后会减弱甚至猝灭,这是由于激发态分子的电子不能回复到基态,所吸收的能量无法以荧光的形式发射。一些化合物有天然的荧光猝灭作用而被用作猝灭剂,以消除不需用的荧光。因此荧光物质的保存应注意避免光(特别是紫外光)的直接照射和与其他化合物的接触。 荧光效率:荧光分子不会将全部吸收的光能都转变成荧光,总或多或少地以其他形式释放。荧光效率是指荧光分子将吸收的光能转变成荧光的百分率,与发射荧光光量子的数值成正比。

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