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AGND vs DGND在PCB上的设计——从阻抗最低的角度理解

AGND vs DGND在PCB上的设计——从阻抗最低的角度理解
AGND vs DGND在PCB上的设计——从阻抗最低的角度理解

混合信号器件的PCB地布局——从阻抗最低的角度理解Successful PCB Grounding with Mixed-Signal Chips - Follow the Path of Least Impedance

要点摘要

芯片本身不会提供电流。只用板卡上的电源才是电流真正的提供者

DC电流来自电源,AC电流来自去耦电容

电流环路的主要距离是芯片之间的互连线以及返回路径

信号总是会在最小阻抗的路径上流动

数字信号和模拟信号不要共享返回路径

合理的器件布局,可以消除平面分割

DC和低频信号走最短的直线距离(最低电阻路径)回流;高频信号选择最低阻抗路径回流,即信号线的正下方。频率介于之间的信号,回流路径均存在

关注回流路径,是解决干扰问题的根本

简介

板级设计者通常非常关心混合信号IC芯片(具有AGND和DGND管脚)接地的正确处理方式。这两种地是不是应该完全分隔?还是应该在某点将分割的地连接在一起以增强参考点的功能?当有多个这样的IC设备时,这个连接点又应该如何处理?这篇文章将讨论混合信号芯片在PCB上的接地方法。对于大多数应用,没有分割的单一平面就可以实现正确的功能。接下来,我们介绍如何布局芯片和走线以减小串扰问题。最后,我们考虑电源供电电流,并扩展到多个混合芯片的系统。

从电流开始

我们之所以将多个电子元件组成的东西称为“电路”,是因为电流从源端流到负载,然后通过返回路径返回源端——组成一个回路。不论是哪个方向,电流的流动都是基于让模拟电路正常工作。显然,数字电路也是模拟电路,可以看作是模拟电路的一个仅有两个状态的子集。

图1显示了一种最简单的连接:两个芯片之间用一条直线最短连接。把这个看作理想世界的理想电路,IC1的输出阻抗为0而IC2的输入阻抗无穷大,因此这个连接之

间将没有任何电流。然而实际上,电流将从IC1流向IC2,或者相反。这个电流会是什么情况呢?

实际上,两个芯片之间还必须存在另外一种连接信号,用于流向IC2(或者相反)的电流流回IC1,这个连接通常就是地信号。

当然,芯片本身不会提供电流。只用板卡上的电源才是电流真正的提供者。简单起见,我们考虑使用单一电源,同时每个芯片有去耦电容。

所有的DC电流,最终的起始点和结束点,都在供电电源处。

对于高频信号(所谓的“高”,取决于去耦电容和供电电源的阻抗),电流的起始点和结束点,都在去耦电容。

同时我们也应该注意,输出管脚并不总是电流的流出的地方。比如IC1为输出低电平,此时内部的FET打开接地,电流从IC2的上拉电阻流出,流入IC1的管脚,最后通过IC1的接地管脚流回IC2的接地管脚。因此,虽然IC1为驱动端,但是管脚却吸收电流,电流从IC2的流出。

如果上图的IC1的输出管脚长时间处于低电平,则静态电流将直接由电源提供。

截至目前为止,我们讨论的模型都很简单,习惯于将信号划分为低频信号和高频信号,就好比确实有一个分界线一样。然而实际上,低频和高频总是同时存在的。比如figure6,在IC1输出低的一开始,电流来自IC2的去耦电容,这是因为IC1需要一个近乎瞬态变化的电流。我们一般放置去耦电容,非常靠近IC2的电源和地管脚,就是为了能看快速响应这种电流需求。电源不能提供这种瞬态需求是因为电源一般距离较远,因此供电电源和芯片管脚之间会存在电阻和电感(更重要)。这就是芯片附近放置去耦电容的重要原因:提供快速瞬态电流需求。瞬态过程结束后,越来越多的电流来自电源,而来自去耦电容的电流会越来越少。

更简单的说法:DC电流来自电源,AC电流来自去耦电容。当然,实际过程是更复杂的。

当我们考虑更复杂的情形,我们会发现实际上电流是上述4种路径的组合。不论哪个方向,电流总是从源芯片的电源管脚,通过互连线到达另外一个芯片,然后从第二个芯片的地管脚流出。这个路径总是会发生的,不同的是,电流从地如何返回电源,这取决于信号的速率。DC信号来自电源,高频信号来自去耦电容。但实际上这两种情况总是同时发生的。即使是低频的信号,状态的转换的瞬时性与高频信号都差不多。

当然,好的设计一般电源,去耦电容和芯片都距离很近。正确的去耦也会使设计更加简单。通常在考虑信号电流在PCB上的流动时,我们将去耦和芯片看做一个整体。最后,对于高速AC信号,去耦电容提供电流的路径很短,信号电流在芯片内部流过的路径也很短。电流环路的主要距离是芯片之间的互连线以及返回路径。对于高速信号电流,这将是可能出问题的地方。

数字和模拟的供电和地

前面提到的电路,我们并没有区分模拟和数字。IC1可能是一种运算放大器,输出管脚连接IC2(看作ADC);或者IC1可能是一个控制器的IO输出,连接IC2(看作DAC)。

我们提到ADC和DAC,是因为这是一种常用的具有AGND和DGND的器件。

模拟电路需要工作在光滑平顺的模式,电压和电流的微小变化都会影响结果。数字电路是两个状态,具有大的电压范围。如果这两个电压没有隔离,数字信号将影响模拟信号。

低阻抗路径

众所周知,信号总是会在最小电阻的路径上流动。不幸的是,这仅对直流信号有效。更精确的描述应该是:信号总是会在最小阻抗的路径上流动。

对于直流信号,阻抗只与电阻有关。众所周知,对于只有一个地平面的系统,两点之间的直线连接是电阻最小的路径。通过特定距离的电流量与距离成反比,因为单位长度的电阻值是一个固定的数值。因此,大部分电流将流过最小电阻的直线路径,偏离直线路径越远,流过的电流越少。简单来说,DC电流被表示为直线路径,理解为最大和最广的电流将沿直线传播。

大部分信号还是AC信号,有一定的变化速度,我们考虑它的相关阻抗。

对于PCB上临近地平面的走线,其阻抗与线的类型,线宽,层间距,层间介质,信号速率等参数确定。这些内容本文不详细讨论。

仍然考虑前面的简单例子,不同的是这次两个芯片间不再直线连接。假设每个芯片的地连接管脚都有一个完整的地平面。返回路径将从一个芯片的一个地管脚到另外一个芯片的地管脚。由于地平面是统一的,对于DC电流最小阻抗的路径是两点间直线连接。高频信号,信号和地之间最小互感的路径是信号线下方的部分。

但是,什么算高频?一般而言超过几百kHz的信号就算了。但实际的频率是很多条件决定的。

这个现象的数学处理很复杂,但有一个仿真结果对于我们更直观。总体而言,前向信号的路径约束在走线内,返回信号的路径会出现在整个地平面。

Figure10 为1kHz信号,大部分返回电流基本上直接从源端到负载端,窄黄色。很小部分返回电流跟随信号路径(浅蓝色),更小部分返回电流在两个路径之间(深蓝色)。

Figure11为50kHz信号。大部分返回电流跟随信号路径(绿色),更少的一部分直接从源端到负载端(暗绿色)。两条回路中间是浅蓝而不是深蓝,说明最小的电流分布。

Figure12 为1MHz信号。几乎所有的返回电流都在信号路径下方。

正如人们所料,返回电流会散步在更广的空间。公式给出返回电流的分布密度。分

布密度与频率无关,并且呈高斯分布:在x=-h~h的范围内,分布了50%以上的电流。在-3h~3h范围内,分布了80%的电流。板卡层间距越小,电流分布的越密集。

去耦电容很重要

正如之前所示,任何电路的电流流动都包含电源和去耦电容两部分。在前面那个简单例子基础上增加去耦电容,IC1为sourcing,地平面在器件背面,正面有电源分布和信号走线。

信号电流由虚线表示。DC电流返回路径为最短的;AC电流路径在紧挨着信号。更深入的讨论介于DC和高频信号之间的信号。一部分电流来自电源,因此返回路径大部分仍然沿着信号路径,但是范围更宽。返回信号到达IC,一部分电流到去耦电容,一部分要回到电源。最后随着频率越来越低,互感会越来越小,更多电流通过DC路径返回。

根据上述原理,需要处理电源和去耦电容的问题。电源的阻抗变高(距离变远,布线变窄),就需要更多的去耦电容来提供电流。

因此IC附近的去耦电容是必须要做到位的。

地平面并不是等电位的

理解地平面不是等电位的这点非常重要。首先,地平面肯定有电阻存在。因此当模拟信号和数字信号返回电流共享一段路径时,由于电阻存在造成电压跌落进而产生串扰【注:也就是要求数字信号和模拟信号的回流,不要相互干扰】。比如A和B

两个器件,他们的地管脚挨的很近,并且电流返回路径来自板卡的另外一侧。假设地平面电阻0.01Ω,A器件驱动1A电流,B器件驱动1uA电流。在器件这一侧的地电压将比返回电流一侧的电压高10mV。因为返回路径基本上是共用的,所以即使B 驱动电流很小,他也要接受这10mV的地平面电平提升。A器件的驱动电流在1A和0A之间变化,那么B器件将要接受参考电压10mV的变化。

当数字信号和模拟信号共用返回路径时,就会出现问题。干扰将影响模拟电路的精确程度。

另外一个影响地平面不等电位的因素是信号长度。一个更高频率的信号,信号路径的长度和信号在板卡上传播的波长强相关。本文不重点讨论,但结论是连线越短越好。

综合上面所有

理解了上面电流的基本原理,我们开始讨论混合IC器件。最终要保证的是:数字信号和模拟信号不要共享返回路径。

现在,应该理解了尽量减少数字和模拟返回路径耦合的重要性。实际上,这也是我们的目标。如果能够实现这个目标,数字信号对模拟信号的干扰,也就解决了。一个通常的概念是,划分数字区域地和模拟区域地。这是个好的开始。你同时将看到,如果处理的好,在性能保持不变的情况下,我们可以填充这个分隔线。

现在,开始切割地平面

使用ADC器件(既有模拟信号又有数字信号)作为分析的开始,然后讨论从哪个地方开始切割地平面。

Figure16 示意了一个ADC器件,只有电源和地管脚被明显标注,其他管脚仅为标注为模拟信号或者数字信号,没指名具体功能。

注意数字信号和模拟信号邻近,模拟地管脚和数字地管脚邻近。这是很正常的,因

为芯片设计工程师必须考虑在板卡上的同样实现。同时注意有2个数字地管脚,这是为了保证该器件的返回电流当从该器件流向其他器件时,不会出现问题。

由于数字管脚和模拟管脚被分隔了明显的2组,很容易进行地平面分隔。

Figure 17 示意了地的分割,最终在数字地和模拟地之间留了一段连接在一起。划分后,其他数字器件放在分隔线一侧,模拟器件放在另外一侧。注意该分割基于板卡上仅有这一个混合信号器件。

下面考虑布线。

信号走线

开始考虑一种情况,数字信号走线,跨越两次分隔线。很明显这样不好,会污染模拟信号。从信号返回路径考虑一下。

大部分设计者都知道这样走线是非常不好的。我们现在从AC信号的回流路径来进一步分析。

返回路径应该在信号路径下方,当遇到分隔线时将绕到单点接地的地方。因此,我们不仅会有数字返回电流流经模拟区,同时我们还创造了环路天线辐射信号。

因此为保证切割的地能正常工作,我们要保证数字和模拟器件分别在两个区域,对应的布线也要在相同区域。

正确的布置如figure 20

仔细观察一下figure20,没有电流想跨过分割线。因此,这个分割将没有意义,因此可以取消。

电源考虑

因为没有电流流过分隔线,我们已经决定取消地平面的分隔线。但我们仍然需要考虑电源连接。如果模拟部分和数字部分供电源来自一个,电源返回路径必须位于分割线的一侧。因此DC返回电流将从单点接地处进行回流。这将导致回流路径增大,电阻增大,电压下降明显。

这样的布局对于ADC吸收电流来说没有问题,因为返回电流从地管脚流出,而地管脚又都在这个分隔点上。但如果对于其他模拟器件的返回电流将是问题,因为所有返回路径都要绕道这个分割点。

去掉分隔线

如果去掉分隔线,所有模拟器件的回流都是直接的,具有最小电阻和最低电压变化。同样的考虑可扩展到多个电源。将多个电源的返回路径都考虑到就可以了。【注,这仅限于电源位于分隔线的位置,如果电源必须位于板卡的上边沿或者下边沿,那么势必有DC电流跨区域回流,造成不利影响。因此这种情形需要增加分隔线】

多个混合器件的地平面挑战

当有多个混合器件时,地平面的划分问题变得更明显。如果有2个混合器件,还和上面一样分割,将不能获得单点接地。

为了获得单点接地,可以将其中一个器件旋转180。但这个结果将导致数字和模拟区域正好相反。这将导致一个混乱的结果,数字和模拟信号交错在一起。即使这样

可以工作,更多的混合器件呢?将无法解决。

幸运的是,我们仍可以按照一片混合器件的思路思考问题。仍然数字区和模拟区分别布置,同时防止两个器件的模拟信号也共用返回路径(与ADC连接的器件距离比距离另外一片ADC近)。与单片情形一样,没有电流流过分隔线。

对于更复杂的情况也可以同样考虑。

考虑信号路径如何走,并且该信号是如何并同区域内的其他信号干扰或者损坏。

有时候信号分割是有用的

有时受到机械尺寸的影响,比如连接器的位置,很难做到将某些信号的电路远离被保护的电路,特别是低频或者DC电流。这种情况下,我们将不得不采取分割平面的方法。

最好在一个项目的初期,根据器件的布局和走线考虑接插件的布局位置,可以更好的避免上述复杂情况的发生。这将提高布局效率和成功率。

但有时无法避免,某些电流影响其他重要电流。

下图是一个例子,根据各种接口的位置,摆放模拟器件,数字器件以及电源。

我们将电源放置在左侧,高频信号的回流不会发生重叠。但是,DC和低频信号的回流将经过地平面回到左侧的电源,并且是按照最低阻抗路径(直线路径)。

这将导致右上角数字区低频或者DC信号的回流,将直接穿越敏感的模拟区。我们可以水平放置一条分隔线用来解决这个问题。但同时带来的问题是,模拟和数字之间的信号将跨越这条分割线。这将导致这些信号的回流会走更长的路径,这是不好的操作,尤其对于频率较高,数量较多的信号。

另外一种方法是在模拟区的电路和电源之间竖直放置一条分隔线,强迫数字电路的回流远离模拟电路部分。

最小阻抗的DC回路将不再是直线通道,必须绕过分隔线,也就绕过了模拟电路部分。但这种设计对于有多个模拟电源种类时,也比较麻烦。

有些时候,模拟电源本身对噪声也比较敏感,这时就需要另外一种方案,将分隔线移到模拟电源右侧即可。

有时候模拟电路的供电是由噪声较大的开关电源提供。可以参考上面的设计思路,考虑开关电源的位置以及电流的流动,对模拟信号电路影响最小。

板级设计者的另外一个挑战是高频信号的信号完整性。当信号到达GHz的程度,走线之间的串扰更加严重。前面的信号回流路径仿真结果可以看到,信号下方的回流是有一定宽度的,如果信号走线接近,回流路径将叠加,干扰产生。信号的频率增加会更容易产生干扰。

结论——关注信号回流

混合器件PCB的很多问题都可以通过这个简单的建议解决:关注信号回流。两个基本原则:DC和低频信号走最短的直线距离(最低电阻路径)回流;高频信号选择最低阻抗路径回流,即信号线的正下方。频率介于之间的信号,回流路径均存在。平面切割很多时候是没有意义的,通过器件布局可以完全避免信号回流间的干扰。有时由于我们无法选择器件的布局位置,必要的分隔线也是不可缺少的。

PCB的阻抗设计

PCB的阻抗设计 1、阻抗的定义: 在某一频率下,电子器件传输信号线中,相对某一参考层,其高频信号或电磁波在传播过程中所受的阻力称之为特性阻抗,它是电阻抗,电感抗,电容抗……的一个矢量总和。 当信号在PCB导线中传输时,若导线的长度接近信号波长的1/7,此时的导线便成为信号传输线,一般信号传输线均需做阻抗控制。PCB制作时,依客户要求决定是否需管控阻抗,若客户要求某一线宽需做阻抗控制,生产时则需管控该线宽的阻抗。 当信号在PCB上传输时,PCB板的特性阻抗必须与头尾元件的电子阻抗相匹配,一但阻抗值超出公差,所传出的信号能量将出现反射、散射、衰减或延误等现象,从而导致信号不完整、信号失真。 2、计算阻抗的工具: 目前大部分人都用Polar软件:Polar Si8000、Si9000等。 常用的软件阻抗模型主要有三种: (1)特性阻抗,也叫单端阻抗;(2)差分阻抗,也叫差动阻抗;(3)共面阻抗,也叫共面波导阻抗,主要应用于双面板阻抗设计当中。

选择共面阻抗设计的原因是:双面板板厚决定了阻抗线距离,下面的参考面比较远,信号非常弱,必须选择距离较近的参考面,于是就产生了共面阻抗的设计。 3、安装软件Polar Si9000,然后打开Polar Si9000软件。熟悉一下常用的几个阻抗模型: (1)下图是外层特性阻抗模型(也叫单端阻抗模型):

(2)下图是外层差分阻抗模型: (3)内层差分阻抗模型常用以下三种:

下面是共面的常用模型: (4)下图是外层共面单端阻抗模型: (5)下图是外层共面差分阻抗模型:

4、怎样来计算阻抗? 各种PP及其组合的厚度,介电常数详见PP规格表,铜厚规则按下图的要求。

PCB的阻抗控制

浅谈PCB的阻抗控制 随着电路设计日趋复杂和高速,如何保证各种信号(特别是高速信号)完整性,也就是保证信号质量,成为难题。此时,需要借助传输线理论进行分析,控制信号线的特征阻抗匹配成为关键,不严格的阻抗控制,将引发相当大的信号反射和信号失真,导致设计失败。常见的信号,如PCI总线、PCI-E总线、USB、以太网、DDR内存、LVDS信号等,均需要进行阻抗控制。阻抗控制最终需要通过PCB设计实现,对PCB板工艺也提出更高要求,经过与PCB厂的沟通,并结合EDA软件的使用,我对这个问题有了一些粗浅的认识,愿和大家分享。 多层板的结构: 为了很好地对PCB进行阻抗控制,首先要了解PCB的结构: 通常我们所说的多层板是由芯板和半固化片互相层叠压合而成的,芯板是一种硬质的、有特定厚度的、两面包铜的板材,是构成印制板的基础材料。而半固化片构成所谓的浸润层,起到粘合芯板的作用,虽然也有一定的初始厚度,但是在压制过程中其厚度会发生一些变化。 通常多层板最外面的两个介质层都是浸润层,在这两层的外面使用单独的铜箔层作为外层铜箔。外层铜箔和内层铜箔的原始厚度规格,一般有0.5OZ、1OZ、2OZ(1OZ约为35um 或1.4mil)三种,但经过一系列表面处理后,外层铜箔的最终厚度一般会增加将近1OZ左右。内层铜箔即为芯板两面的包铜,其最终厚度与原始厚度相差很小,但由于蚀刻的原因,一般会减少几个um。 多层板的最外层是阻焊层,就是我们常说的“绿油”,当然它也可以是黄色或者其它颜色。阻焊层的厚度一般不太容易准确确定,在表面无铜箔的区域比有铜箔的区域要稍厚一些,但因为缺少了铜箔的厚度,所以铜箔还是显得更突出,当我们用手指触摸印制板表面时就能感觉到。 当制作某一特定厚度的印制板时,一方面要求合理地选择各种材料的参数,另一方面,半固化片最终成型厚度也会比初始厚度小一些。下面是一个典型的6层板叠层结构: PCB的参数: 不同的印制板厂,PCB的参数会有细微的差异,通过与上海嘉捷通电路板厂技术支持的沟通,得到该厂的一些参数数据: 表层铜箔:

PCB阻抗值因素与计算方法

PCB阻抗设计及计算简介

特性阻抗的定义 ?何谓特性阻抗(Characteristic Impedance ,Z0) ?电子设备传输信号线中,其高频信号在传输线中传播时所遇到的阻力称之为特性阻抗;包括阻抗、容抗、感抗等,已不再只是简单直流电的“欧姆电阻”。 ?阻抗在显示电子电路,元件和元件材料的特色上是最重要的参数.阻抗(Z)一般定义为:一装置或电路在提供某特定频率的交流电(AC)时所遭遇的总阻力. ?简单的说,在具有电阻、电感和电容的电路里,对交流电所起的阻碍作用叫做阻抗。

设计阻抗的目的 ?随着信号传送速度迅猛的提高和高频电路的广泛应用,对印刷电路板也提出了更高的要求。印刷电路板提供的电路性能必须能够使信号在传输过程中不发生反射现象,信号保持完整,降低传输损耗,起到匹配阻抗的作用,这样才能得到完整、可靠、精确、无干扰、噪音的传输信号。?阻抗匹配在高频设计中是很重要的,阻抗匹配与否关系到信号的质量优劣。而阻抗匹配的目的主要在于传输线上所有高频的微波信号皆能到达负载点,不会有信号反射回源点。

?因此,在有高频信号传输的PCB板中,特性阻抗的控制是尤为重要的。 ?当选定板材类型和完成高频线路或高速数字线路的PCB 设计之后,则特性阻抗值已确定,但是真正要做到预计的特性阻抗或实际控制在预计的特性阻抗值的围,只有通过PCB生产加工过程的管理与控制才能达到。

?从PCB制造的角度来讲,影响阻抗和关键因素主要有: –线宽(w) –线距(s)、 –线厚(t)、 –介质厚度(h) –介质常数(Dk) εr相对电容率(原俗称Dk介质常数),白容生对此有研究和专门诠释。 注:其实阻焊也对阻抗有影响,只是由于阻焊层贴在介质上,导致介电常数增大,将此归于介电常数的影响,阻抗值会相 应减少4%

PCB阻抗计算方法

阻抗计算说明 Rev0.0 heroedit@https://www.wendangku.net/doc/344656120.html, z给初学者的 一直有很多人问我阻抗怎么计算的. 人家问多了,我想给大家整理个材料,于己于人都是个方便.如果大家还有什么问题或者文档有什么错误,欢迎讨论与指教! 在计算阻抗之前,我想很有必要理解这儿阻抗的意义 z传输线阻抗的由来以及意义 传输线阻抗是从电报方程推导出来(具体可以查询微波理论) 如下图,其为平行双导线的分布参数等效电路: 从此图可以推导出电报方程 取传输线上的电压电流的正弦形式 得 推出通解

定义出特性阻抗 无耗线下r=0, g=0得 注意,此特性阻抗和波阻抗的概念上的差异(具体查看平面波的波阻抗定义) ε μ=EH Z 特性阻抗与波阻抗之间关系可从 此关系式推出. Ok,理解特性阻抗理论上是怎么回事情,看看实际上的意义,当电压电流在传输线传播的时候,如果特性阻抗不一致所求出的电报方程的解不一致,就造成所谓的反射现象等等.在信号完整性领域里,比如反射,串扰,电源平面切割等问题都可以归类为阻抗不连续问题,因此匹配的重要性在此展现出来. z 叠层(stackup)的定义 我们来看如下一种stackup,主板常用的8层板(4层power/ground 以及4层走线层,sggssggs,分别定义为L1, L2…L8)因此要计算的阻抗为 L1,L4,L5,L8 下面熟悉下在叠层里面的一些基本概念,和厂家打交道经常会使用的 Oz 的概念 Oz 本来是重量的单位Oz(盎司 )=28.3 g(克) 在叠层里面是这么定义的,在一平方英尺的面积上铺一盎司的铜的厚度为1Oz, 对

PCB阻抗计算

阻抗线计算 一.传输线类型 1 最通用的传输线类型为微带线(microstrip)和带状线(stripline) 微带线(microstrip):指在PCB外层的线和只有一个参考平面的线,有非嵌入/嵌入两种如图所示:(图1) 非嵌入(我们目前常用) (图2) 嵌入(我们目前几乎没有用过) 带状线:在绝缘层的中间,有两个参考平面。如下图: (图3) 2 阻抗线 2.1差动阻抗(图4)

差动阻抗,如上所示,阻抗值一般为90,100,110,120 2.2特性阻抗(图5) 特性阻抗: 如上如所示,.阻抗值一般为50 ohm,60ohm 二.PCB叠层结构 1板层、PCB材质选择 PCB是一种层叠结构。主要是由铜箔与绝缘材料叠压而成。附图为我们常用的1+6+1结构的,8层PCB叠层结构。(图6) 首先第一层为阻焊层(俗称绿油)。它的主要作用是在PCB表面形成一层保护膜,防止导体上不该上锡的区域沾锡。同时还能起到防止导体之间因潮气、化学品等引起的短路、生产

和装配中不良操作造成的断路、防止线路与其他金属部件短路、绝缘及抵抗各种恶劣环境,保证PCB工作稳定可靠。 防焊的种类有传统环氧树脂IR烘烤型,UV硬化型, 液态感光型(LPISM-Liquid Photo Imagable Solder Mask)等型油墨, 以及干膜防焊型(Dry Film, Solder Mask),其中液态感光型为目前制程大宗,常用的有Normal LPI, Lead-free LPI,Prob 77. 防焊对阻抗的影响是使得阻抗变小2~3ohm左右 阻焊层下面为第一层铜箔。它主要起到电路连通及焊接器件的作用。硬板中使用的铜箔一般以电解铜为主(FPC中主要使用压延铜)。常用厚度为0.5OZ及1OZ.(OZ为重量单位在PCB行业中做为一种铜箔厚度的计量方式。1OZ表示将重量为1OZ的铜碾压成1平方英尺后铜箔的厚度。1OZ=0.035mm). 铜箔下面为绝缘层..我们常用的为FR4半固化片.半固化片是以无碱玻璃布为增强材料,浸以环氧树脂.通过120-170℃的温度下,将半固化片树脂中的溶剂及低分子挥发物烘除.同时,树脂也进行一定程度的反应,呈半固化状态(B阶段).在PCB制作过程中通过层压机的高温压合.半固化中的树脂完全反应,冷却后完全固化形成我们所需的绝缘层. 半固化片中所用树脂主要为热塑性树脂, 树脂有三种阶段: A阶段:在室温下能够完全流动的液态树脂,这是玻钎布浸胶时状态 B阶段:环氧树脂部分交联处于半固化状态,在加热条件下,又能恢复到液体状态 C阶段:树脂全部交联为C阶段,在加热加压下会软化,但不能再成为液态,这是多层板压制后半固化片转成的最终状态. 由于半固化片在板层压合过程中,厚度会变小,因而半固化片的原始材料厚度和压合后的厚度不一样,因而必须分清厚度是原始材料厚度还是完成厚度。另外,半固化片的厚度不是固定不变的,根据板厚、板层和板厂不同,而有所不同。上述只是一例。 同时该叠层中用了两块芯板,即core(FR-4).芯板是厂家已压合好的带有双面铜的基材,在压合过程中厚度是不变的。常见芯板见下:(表二)

并串联电阻计算公式

串、并联电路中的等效电阻 串、并联电路中的等效电阻 学习目标要求: 1.知道串、并联电路中电流、电压特点。 2.理解串、并联电路的等效电阻。 3.会计算简单串、并联电路中的电流、电压和电阻。 4.理解欧姆定律在串、并联电路中的应用。 5.会运用串、并联电路知识分析解决简单的串、并联电路问题。 中考常考内容: 1.串、并联电路的特点。 2.串联电路的分压作用,并联电路的分流作用。 3.串、并联电路的计算。 知识要点: 1.串联电路的特点 (1)串联电路电流的特点:由于在串联电路中,电流只有 一条路径,因此,各处的电流均相等,即;因此,在对串联电路的分析和计算中,抓住通过各段导体的电流相等这个条件,在不同导体间架起一座桥梁,是解题的一条捷径。

(2)由于各处的电流都相等,根据公式,可以得到 ,在串联电路中,电阻大的导体,它两端的电压也大,电压的分配与导体的电阻成正比,因此,导体串联具有分压作用。串联电路的总电压等于各串联导体两端电压之和,即 。 (3)导体串联,相当于增加了导体的长度,因此,串联导体的总电阻大于任何一个串联导体的电阻,总电阻等于各串联导 体电阻之和,即。如果用个阻值均为的 导体串联,则总电阻。 2.并联电路的特点 (1)并联电路电压的特点:由于在并联电路中,各支路两端分别相接且又分别接入电路中相同的两点之间,所以各支路两 端的电压都相等,即。因此,在电路的分析和计算中,抓住各并联导体两端的电压相同这个条件,在不同导体间架起一座桥梁,是解题的一条捷径。 (2)由于各支路两端的电压都相等,根据公式,可得 到,在并联电路中,电阻大的导体,通过它的电流小,电流的分配与导体的电阻成反比,因此,导体并联具有分流作用。并联电路的总电流等于各支路的电流之和,即 。

PCB线路板阻抗计算公式

PCB线路板阻抗计算公式 现在关于PCB线路板的阻抗计算方式有很多种,相关的软件也能够直接帮您计算阻抗值,今天通过polar si9000来和大家说明下阻抗是怎么计算的。 在阻抗计算说明之前让我们先了解一下阻抗的由来和意义: 传输线阻抗是从电报方程推导出来(具体可以查询微波理论) 如下图,其为平行双导线的分布参数等效电路: 从此图可以推导出电报方程 取传输线上的电压电流的正弦形式 得

推出通解 定义出特性阻抗 无耗线下r=0, g=0 得 注意,此特性阻抗和波阻抗的概念上的差异(具体查看平面波的波阻抗定义) 特性阻抗与波阻抗之间关系可从此关系式推出. Ok,理解特性阻抗理论上是怎么回事情,看看实际上的意义,当电压电流在传输线传播的时候,如果特性阻抗不一致所求出的电报方程的解不一致,就造成所谓的反射现象等等.在信号完整性领域里,比如反射,串扰,电源平面切割等问题都可以归类为阻抗不连续问题,因此匹配的重要性在此展现出来. 叠层(stackup)的定义

我们来看如下一种stackup,主板常用的8 层板(4 层power/ground 以及4 层走线层,sggssggs,分别定义为L1, L2…L8)因此要计算的阻抗为L1,L4,L5,L8 下面熟悉下在叠层里面的一些基本概念,和厂家打交道经常会使用的 Oz 的概念 Oz 本来是重量的单位Oz(盎司)=28.3 g(克) 在叠层里面是这么定义的,在一平方英尺的面积上铺一盎司的铜的厚度为1Oz,对应的单位如下 介电常数(DK)的概念 电容器极板间有电介质存在时的电容量Cx 与同样形状和尺寸的真空电容量Co之比为介电常数:ε = Cx/Co = ε'-ε" Prepreg/Core 的概念 pp 是种介质材料,由玻璃纤维和环氧树脂组成,core 其实也是pp 类型介质,只不过他两面都覆有铜箔,而pp 没有.

阻抗计算公式、polarsi9000(教程)

一直有很多人问我阻抗怎么计算的. 人家问多了,我想给大家整理个材料,于己于人都是个方便.如果大家还有什么问题或者文档有什么错误,欢迎讨论与指教! 在计算阻抗之前,我想很有必要理解这儿阻抗的意义。 传输线阻抗的由来以及意义 传输线阻抗是从电报方程推导出来(具体可以查询微波理论) 如下图,其为平行双导线的分布参数等效电路: 从此图可以推导出电报方程 取传输线上的电压电流的正弦形式 得 推出通解

定义出特性阻抗 无耗线下r=0, g=0 得 注意,此特性阻抗和波阻抗的概念上的差异(具体查看平面波的波阻抗定义) 特性阻抗与波阻抗之间关系可从此关系式推出. Ok,理解特性阻抗理论上是怎么回事情,看看实际上的意义,当电压电流在传输线传播的时候,如果特性阻抗不一致所求出的电报方程的解不一致,就造成所谓的反射现象等等.在信号完整性领域里,比如反射,串扰,电源平面切割等问题都可以归类为阻抗不连续问题,因此匹配的重要性在此展现出来. 叠层(stackup)的定义 我们来看如下一种stackup,主板常用的8 层板(4 层power/ground 以及4 层走线 层,sggssggs,分别定义为L1, L2…L8)因此要计算的阻抗为L1,L4,L5,L8

下面熟悉下在叠层里面的一些基本概念,和厂家打交道经常会使用的 Oz 的概念 Oz 本来是重量的单位Oz(盎司 )=28.3 g(克) 在叠层里面是这么定义的,在一平方英尺的面积上铺一盎司的铜的厚度为1Oz,对应的单位如下 介电常数(DK)的概念 电容器极板间有电介质存在时的电容量Cx 与同样形状和尺寸的真空电容量Co之比为介电常数: ε = Cx/Co = ε'-ε" Prepreg/Core 的概念 pp 是种介质材料,由玻璃纤维和环氧树脂组成,core 其实也是pp 类型介质,只不过他两面都覆有铜箔,而pp 没有. 传输线特性阻抗的计算 首先,我们来看下传输线的基本类型,在计算阻抗的时候通常有如下类型: 微带线和带状线,

PCB阻抗计算参数说明

阻抗计算: 1.介电常数E r E r(介电常数)就目前而言通常情况下选用的材料为 F R-4,该种材料的E r 特性为随着加载频率的不同而变化,一般情况下E r的分水岭默认为1 G H Z(高频)。目前材料厂商能够承诺的指标<5.4(1M H z),根据我们实际加工的经验,在使用频率为1G H Z以下的其E r认为4.2左右。1.5—2.0G H Z的使用频率其仍有下降的空间。故设计时如有阻抗的要求则须考虑该产品的当时的使用频率。 我们在长期的加工和研发的过程中针对不同的厂商已经摸索出一定的规律和计算公式。 ●7628----4.5(全部为1G H z状态下) ●2116----4.2 ●1080----3.6 2. 介质层厚度H H(介质层厚度)该因素对阻抗控制的影响最大故设计中如对阻抗的宽容度很小的话,则该部分的设计应力求准确,FR-4的H的组成是由各种半固化片组合而成的(包括内层芯板),一般情况下常用的半固化片为: ●1080 厚度0.075MM、 ●7628 厚度0.175MM、 ●2116厚度 0.105MM。 3.线宽W 对于W1、W2的说明:

5.铜箔厚度 外层铜箔和内层铜箔的原始厚度规格,一般有0.5OZ、1OZ、2OZ(1OZ约为35um或1.4mil)三种,但经过一系列表面处理后,外层铜箔的最终厚度一般会增加将近1 OZ左右。内层铜箔即为芯板两面的包铜,其最终厚度与原始厚度相差很小,但由于蚀刻的原因,一般会减少几个um。

表层铜箔: 可以使用的表层铜箔材料厚度有三种:12um、18um和35um。加工完成后的最终厚度大约是44um、50um和67um,大致相当于铜厚1 OZ、1.5 OZ、2 OZ。注意:在用阻抗计算软件进行阻抗控制时,外层的铜厚没有0.5 OZ的值。 走线厚度T与该层的铜厚有对应关系,具体如下: 铜箔厚度单位转换: Oz 本来是重量的单位Oz(盎司ang si )=28.3 g(克) 在叠层里面是这么定义的,在一平方英尺的面积上铺一盎司的铜的厚度为1Oz,对应的单位如下

变压器短路阻抗测试和计算公式

概述 变压器短路阻抗试验的目的是判定变压器绕组有无变形。 变压器是电力系统中主要电气设备之一,对电力系统的安全运行起着重大的作用。在变压器的运行过程中,其绕组难免要承受各种各样的短路电动力的作用,从而引起变压器不同程度的绕组变形。绕组变形以后的变压器,其抗短路能力急剧下降,可能在再次承受短路冲击甚至在正常运行电流的作用下引起变压器彻底损坏。为避免变压器缺陷的扩大,对已承受过短路冲击的变压器,必须进行变压器绕组变形测试,即短路阻抗测试。 变压器的短路阻抗是指该变压器的负荷阻抗为零时变压器输入端的等效阻抗。短路阻抗可分为电阻分量和电抗分量,对于110kV及以上的大型变压器,电阻分量在短路阻抗中所占的比例非常小,短路阻抗值主要是电抗分量的数值。变压器的短路电抗分量,就是变压器绕组的漏电抗。变压器的漏电抗可分为纵向漏电抗和横向漏电抗两部分,通常情况下,横向漏电抗所占的比例较小。变压器的漏电抗值由绕组的几何尺寸所决定的,变压器绕组结构状态的改变势必引起变压器漏电抗的变化,从而引起变压器短路阻抗数值的改变。 二、额定条件下短路阻抗基本算法

三、非额定频率下的短路阻抗试验 当作试验的电源频率不是额定频率(一般为50Hz)时,应对测试结果进行校正。由于短路阻抗由直流电阻和绕组电流产生的漏磁场在变压器中引起的电抗组成。可以认为直流电阻与频率无关,而由绕组电流产生的漏磁场在变压器中引起的电抗与试验频率有关。当试验频率与额定频率偏差小于5%时,短路阻抗可以认为近似相等,阻抗电压则按下式折算: 式中u k75 --75℃下的阻抗电压,%; u kt—试验温度下的阻抗电压,%; f N --额定频率(Hz); f′--试验频率(Hz); P kt --试验温度下负载损耗(W); S N --变压器的额定容量(kVA); K—绕组的电阻温度因数。 四、三相变压器的分相短路阻抗试验 当没有三相试验电源、试验电源容量较小或查找负载故障时,通常要对三相变压器进行单相负载试验。 1、供电侧为Y接法 当高压绕组为Y联结时,另一侧为y或d联结时,分相试验是将试品低压三相线端短路,由高压侧AB、BC、CA分别施加试验电压。此时折算到三相阻抗电压和三相负载损耗可

PCB线路板阻抗计算公式

PCB线路板阻抗计算公式 现在关于PCB线路板得阻抗计算方式有很多种,相关得软件也能够直接帮您计算阻抗值,今天通过polar si9000来与大家说明下阻抗就是怎么计算得。 在阻抗计算说明之前让我们先了解一下阻抗得由来与意义: 传输线阻抗就是从电报方程推导出来(具体可以查询微波理论) 如下图,其为平行双导线得分布参数等效电路: 从此图可以推导出电报方程 取传输线上得电压电流得正弦形式 得 推出通解 ? 定义出特性阻抗? 无耗线下r=0,g=0 得??注意,此特性阻抗与波阻抗得概念上得差异(具体查瞧平面波得波阻抗定义) 特性阻抗与波阻抗之间关系可从此关系式推出、

Ok,理解特性阻抗理论上就是怎么回事情,瞧瞧实际上得意义,当电压电流在传输线传播得时候,如果特性阻抗不一致所求出得电报方程得解不一致,就造成所谓得反射现象等等、在信号完整性领域里,比如反射,串扰,电源平面切割等问题都可以归类为阻抗不连续问题,因此匹配得重要性在此展现出来、 叠层(stackup)得定义 我们来瞧如下一种stackup,主板常用得8 层板(4 层power/ground以及4 层走线层,sggssggs,分别定义为L1,L2…L8)因此要计算得阻抗为L1,L4,L5,L8 下面熟悉下在叠层里面得一些基本概念,与厂家打交道经常会使用得 Oz 得概念 Oz本来就是重量得单位Oz(盎司)=28、3 g(克) 在叠层里面就是这么定义得,在一平方英尺得面积上铺一盎司得铜得厚度为1Oz,对应得单位如下

介电常数(DK)得概念 电容器极板间有电介质存在时得电容量Cx与同样形状与尺寸得真空电容量Co之比为介电常数:?ε =Cx/Co=ε'-ε”? Prepreg/Core 得概念 pp就是种介质材料,由玻璃纤维与环氧树脂组成,core其实也就是pp类型介质,只不过她两面都覆有铜箔,而pp没有、 传输线特性阻抗得计算 首先,我们来瞧下传输线得基本类型,在计算阻抗得时候通常有如下类型:微带线与带状线,对于她们得区分,最简单得理解就是,微带线只有1个参考地,而带状线有2个参考地,如下图所示 对照上面常用得8 层主板,只有top 与bottom走线层才就是微带线类型,其她得走线层都就是带状线类型 在计算传输线特性阻抗得时候, 主板阻抗要求基本上就是:单线阻抗要求55 或者60O hm,差分线阻抗要求就是70~110Ohm,厚度要求一般就是1~2mm,根据板厚要求来分层得到各厚度高度、 在此假设板厚为1、6mm,也就就是63mil 左右, 单端阻抗要求60Ohm,差分阻抗要求100Ohm,我们假设以如下得叠层来走线。

PCB叠层及阻抗计算(精典)

关于PCB叠层及阻抗计算 为了很好地对PCB进行阻抗控制,首先要了解PCB的结构: 通常我们所说的多层板是由芯板和半固化片互相层叠压合而成的,芯板是一种硬质的、有特定厚度的、两面包铜的板材,是构成印制板的基础材料。而半固化片构成所谓的浸润层,起到粘合芯板的作用,虽然也有一定的初始厚度,但是在压制过程中其厚度会发生一些变化。 通常多层板最外面的两个介质层都是浸润层,在这两层的外面使用单独的铜箔层作为外层铜箔。外层铜箔和内层铜箔的原始厚度规格,一般有0.5OZ、1OZ、2OZ(1OZ约为35um或1.4mil)三种,但经过一系列表面处理后,外层铜箔的最终厚度一般会增加将近1OZ左右。内层铜箔即为芯板两面的包铜,其最终厚度与原始厚度相差很小,但由于蚀刻的原因,一般会减少几个um。 多层板的最外层是阻焊层,就是我们常说的“绿油”,当然它也可以是黄色或者其它颜色。阻焊层的厚度一般不太容易准确确定,在表面无铜箔的区域比有铜箔的区域要稍厚一些,但因为缺少了铜箔的厚度,所以铜箔还是显得更突出,当我们用手指触摸印制板表面时就能感觉到。 当制作某一特定厚度的印制板时,一方面要求合理地选择各种材料的参数,另一方面,半固化片最终成型厚度也会比初始厚度小一些。下面是一个典型的6层板叠层结构: PCB的参数: 不同的印制板厂,PCB的参数会有细微的差异。 表层铜箔: 可以使用的表层铜箔材料厚度有三种:12um、18um和35um。加工完成后的最终厚度大约是44um、50um和67um。 芯板:我们常用的板材是S1141A,标准的FR-4,两面包铜 半固化片: 规格(原始厚度)有7628(0.185mm),2116(0.105mm),1080(0.075mm),3313(0.095mm ),实际压制完成后的厚度通常会比原始值小10-15um左右。同一个浸润层最多可以使用3个半固化片,而且3个半固化片的厚度不能都相同,最少可以只用一个半固化片,但有的厂家要求必须至少使用两个。如果半固化片的厚度不够,可以把芯板两面的铜箔蚀刻掉,再在两面用半固化片粘连,这样可以实现较厚的浸润层。 阻焊层: 铜箔上面的阻焊层厚度C2≈8-10um,表面无铜箔区域的阻焊层厚度C1根据表面铜厚的不同而不同,当表面铜厚为45um时C1≈13-15um,当表面铜厚为70um时C1≈17-18um。 导线横截面: 以前我一直以为导线的横截面是一个矩形,但实际上却是一个梯形。以TOP层为例,当铜箔厚度为1OZ时,梯形的上底边比下底边短1MIL。比如线宽5MIL,那么其上底边约4MIL,下底边5MIL。上下底边的差异和铜厚有关,下表是不同情况下梯形上下底的关系。 介电常数:半固化片的介电常数与厚度有关,下表为不同型号的半固化片厚度和介电常数参数: 板材的介电常数与其所用的树脂材料有关,FR4板材其介电常数为4.2—4.7,并且随着频率的增加会减小。 介质损耗因数:电介质材料在交变电场作用下,由于发热而消耗的能量称之谓介质损耗,通常以介质损耗因数tanδ表示。S1141A的典型值为0.015。 能确保加工的最小线宽和线距:4mil/4mil。 阻抗计算的工具简介: 当我们了解了多层板的结构并掌握了所需要的参数后,就可以通过EDA软件来计算阻抗。可以使用Allegro来计算,推荐另一个工具Polar SI9000,这是一个很好的计算特征阻抗的工具,现在很多印制板厂都在用这个软件。 无论是差分线还是单端线,当计算内层信号的特征阻抗时,你会发现Polar SI9000的计算结果与Allegro仅存在着微小的差距,这跟一些细节上的处理有关,比如说导线横截面的形状。但如果是计算表层信号的特征阻抗,我建议你选择Coated模型,而不是Surface模型,因为这类模型考虑了阻焊层的存在,所以结果会更准确。下图是用Polar SI9000计算在考虑阻焊层的情况下表层差分线阻抗的部分截图: 由于阻焊层的厚度不易控制,所以也可以根据板厂的建议,使用一个近似的办法:在Surface模型计算的结果上减去一个特定的值,我建议差分阻抗减去8欧姆,单端阻抗减去2欧姆

线圈电阻计算方法

计算电阻公式为: S L R *ρ= 其中,ρ为铜的电阻率,值为:mm *24.17Ωμ(m *01724.0Ωμ),L 为导线长度,S 为导线的横截面积。 1. 导线长度的求法:方法有两种。 第一种,估算: K D D n L ++≈2*21π 式中 n 为圈数,D 1、D 2分别为内外径,K 为不足一圈的长度 其中,误差有:2 21D D E +≤π 由我们的线圈n=32,D 1=4.8mm ,D 2=24.4mm ,K=0。 算得L=1467mm ,E=45.8,则L 应该大于1421.1mm ,而小于1512.8mm 第二种,精确计算: 设螺线的方程为θπ *2d r =,式中,d 代表相邻螺线间的距离,在本文中,指代间距(d )和一半线宽(b ,8mil )之和(4mil+4mil=8mil=0.203mm ) 则[] d D d D K In d L M M N N N M π?π?θθθθπ??==+++++=,)1(1422 式中,D N 是外径,D M 是开始时的内径。d 也可表示为(D N -D M )/2n 带入算得:[]0)1(1122.0250 4922+++++=θθθθIn L ,

L=1466.6mm 有结果看出,两者相差不大。对计算阻抗影响不大。 2.计算铜线截面积 在PCB工艺中,铜线为长方体,其厚度由敷铜时的参数决定,一般是1oz(盎司)敷铜,此时铜线厚度为35微米,相应的,若在制板时采用2oz或者更厚的敷铜,则厚度倍增。计算时假设是1oz敷铜,设计时导线宽度为8mil(0.2032mm)所以横截面积为 S=0.2032*0.035=0.007112mm2 μ,大概3.55欧姆 由此算得:R=17.24*1466.6/0.007112=Ω 那么两个线圈串联电阻约为2*3.55=7.1欧姆

阻抗计算

关于电缆的正序阻抗和负序阻抗的计算 对于电缆当提到正序阻抗和负序阻抗时,一般是指电力电缆产品,像控制电缆和计算机电缆不提此参数。 当电力系统在对称状态下短路时,正序阻抗和负序阻抗是相等的,其计算公式是: Z1(正序阻抗)=Z2(负序阻抗)=R+jX 上述公式中:R为导体在工作温度下的交流电阻值; X为电抗值。 不同的产品和不同的产品结构(或敷设方式),其正序和负序阻抗是不同的。根据不同的产品计算如下: 导体在工作温度下的交流电阻值R的计算: R=R'(1+ Ys + Yp ) R'=R20(1+α20(t-20)) R20为导体在20度时直流电阻(Ω/m) α20电阻的温度系数:对铜α20=0.00393 对铝α20=0.00403 Yp为邻近效应系数取决与线芯与线芯之间的距离,对于0.6/1 kV及以下的电缆,Yp近似为0。 X为电抗值计算 (工频情况下) X=ωL=2πfL=314L(Ω/m)(L单位为H) L为回路的电感 三芯电缆时:电感计算公式如下: L=2×10×ln(a÷0.39D)(mH/km) a是电缆线芯与线芯的中心距离(mm),D为电缆导体的直径(mm)。 举例:YJV22 0.6/1 kV 3*50 在对称状态下短路时,正序阻抗和负序阻抗为: R'=R20(1+α20(t-20)) =0.000387(1+0.00393(90-20) (90是电缆的工作温度) =0.000493(Ω/m) R=R'(1+ Ys + Yp )

=0.000493(1+0.0136+0) (导体Ys 在截面70到300范围中取0.02) =0.0005(Ω/m) L=2×ln(a÷0.39D) =2×ln(10÷0.39×8) (a取导体直径加二倍的绝缘厚度,D为导体直径) =2×1.16 =2.32(mH/km)) X=314L =314×2.32×10 =0.00007(Ω/m) 那么: Z1(正序阻抗)=Z2(负序阻抗)=R+jX=0.0005+0.00007j(Ω/m) 其他型号和规格可以参照上述计算。 如有问题请电话联系 吴长顺 2005/04/02

PCB阻抗计算参数说明

阻抗计算: 1.介电常数& Er (介电常数)就目前而言通常情况下选用的材料为FR-4,该种材料的& 特性为随着加载频率的不同而变化,一般情况下Er的分水岭默认为1 GHZ(高频)。 目前材料厂商能够承诺的指标<(1MHz),根据我们实际加工的经验,在使用频率为1GHZ以下的其Er认为4. 2左右。一的使用频率其仍有下降的空间。故设 计时如有阻抗的要求则须考虑该产品的当时的使用频率。 我们在长期的加工和研发的过程中针对不同的厂商已经摸索出一定的规律和计算公式。 (全部为1GHz状态下) 2.介质层厚度H H (介质层厚度)该因素对阻抗控制的影响最大故设计中如对阻抗的宽容度 很小的话,则该部分的设计应力求准确,FR-4的H的组成是由各种半固化片组合而成的(包括内层芯板),一般情况下常用的半固化片为: 1080 厚度0.075MM、 7628 厚度0.175MM、 2116 厚度0.105MM。 3.线宽W 对于W1、W2的说明:

I Base copper thk A For inner layer For outer layer H OZ 0.5MIL 0.8MIL 1 OZ 1.0MIL 1.2MIL 2OZ 1.5MIL 1.6MIL 此处的W=W1, W1=W2. 规则:W1=W-A W—-设计线宽 A—— tch loss见上表) 走线上下宽度不一致的原因是:PCB板制造过程中是从上到下而腐蚀,因此腐蚀出来的线呈梯形。 4.绿油厚度:因绿油厚度对阻抗影响较小,故假定为定值。 5.铜箔厚度 外层铜箔和内层铜箔的原始厚度规格,一般有0.5OZ、10Z 2OZ(1OZ约为35um或三种,但经过一系列表面处理后,外层铜箔的最终厚度一般会增加将近 10Z左右。内层铜箔即为芯板两面的包铜,其最终厚度与原始厚度相差很小, 但由于蚀刻的原因,一般会减少几个um。

PCB叠层及阻抗计算

PCB叠层及阻抗计算 多层板的结构: 为了很好地对PCB进行阻抗控制,首先要了解PCB的结构: 通常我们所说的多层板是由芯板和半固化片互相层叠压合而成的,芯板是一种硬质的、有特定厚度的、两面包铜的板材,是构成印制板的基础材料。而半固化片构成所谓的浸润层,起到粘合芯板的作用,虽然也有一定的初始厚度,但是在压制过程中其厚度会发生一些变化。 通常多层板最外面的两个介质层都是浸润层,在这两层的外面使用单独的铜箔层作为外层铜箔。外层铜箔和内层铜箔的原始厚度规格,一般有0.5OZ、1OZ、2OZ(1OZ约为35um 或1.4mil)三种,但经过一系列表面处理后,外层铜箔的最终厚度一般会增加将近1OZ左右。内层铜箔即为芯板两面的包铜,其最终厚度与原始厚度相差很小,但由于蚀刻的原因,一般会减少几个um。 多层板的最外层是阻焊层,就是我们常说的“绿油”,当然它也可以是黄色或者其它颜色。阻焊层的厚度一般不太容易准确确定,在表面无铜箔的区域比有铜箔的区域要稍厚一些,但因为缺少了铜箔的厚度,所以铜箔还是显得更突出,当我们用手指触摸印制板表面时就能感觉到。 当制作某一特定厚度的印制板时,一方面要求合理地选择各种材料的参数,另一方面,半固化片最终成型厚度也会比初始厚度小一些。下面是一个典型的6层板叠层结构: PCB的参数: 不同的印制板厂,PCB的参数会有细微的差异。 表层铜箔:

可以使用的表层铜箔材料厚度有三种:12um、18um和35um。加工完成后的最终厚度大约是44um、50um和67um。 芯板:我们常用的板材是S1141A,标准的FR-4,两面包铜 半固化片: 规格(原始厚度)有7628(0.185mm),2116(0.105mm),1080(0.075mm),3313(0. 095mm ),实际压制完成后的厚度通常会比原始值小10-15um左右。同一个浸润层最多可以使用3个半固化片,而且3个半固化片的厚度不能都相同,最少可以只用一个半固化片,但有的厂家要求必须至少使用两个。如果半固化片的厚度不够,可以把芯板两面的铜箔蚀刻掉,再在两面用半固化片粘连,这样可以实现较厚的浸润层。 阻焊层: 铜箔上面的阻焊层厚度C2≈8-10um,表面无铜箔区域的阻焊层厚度C1根据表面铜厚的不同而不同,当表面铜厚为45um时C1≈13-15um,当表面铜厚为70um时C1≈17-18um。 导线横截面: 以前我一直以为导线的横截面是一个矩形,但实际上却是一个梯形。以TOP层为例,当铜箔厚度为1OZ时,梯形的上底边比下底边短1MIL。比如线宽5MIL,那么其上底边约4MIL,下底边5MIL。上下底边的差异和铜厚有关,下表是不同情况下梯形上下底的关系。 介电常数:半固化片的介电常数与厚度有关,下表为不同型号的半固化片厚度和介电常数参数:

PCB线路板阻抗计算公式

P C B线路板阻抗计算公 式 -CAL-FENGHAI.-(YICAI)-Company One1

PCB线路板阻抗计算公式 现在关于PCB线路板的阻抗计算方式有很多种,相关的软件也能够直接帮您计算阻抗值,今天通过polar si9000来和大家说明下阻抗是怎么计算的。 在阻抗计算说明之前让我们先了解一下阻抗的由来和意义: 传输线阻抗是从电报方程推导出来(具体可以查询微波理论) 如下图,其为平行双导线的分布参数等效电路: 从此图可以推导出电报方程 取传输线上的电压电流的正弦形式 得

推出通解 定义出特性阻抗 无耗线下r=0, g=0 得 注意,此特性阻抗和波阻抗的概念上的差异(具体查看平面波的波阻抗定义) 特性阻抗与波阻抗之间关系可从此关系式推出. Ok,理解特性阻抗理论上是怎么回事情,看看实际上的意义,当电压电流在传输线传播的时候,如果特性阻抗不一致所求出的电报方程的解不一致,就造成所谓的反射现象等等.在信号完整性领域里,比如反射,串扰,电源平面切割等问题都可以归类为阻抗不连续问题,因此匹配的重要性在此展现出来. 叠层(stackup)的定义 我们来看如下一种stackup,主板常用的8 层板(4 层power/ground 以及4 层走线层,sggssggs,分别定义为L1, L2…L8)因此要计算的阻抗为L1,L4,L5,L8

下面熟悉下在叠层里面的一些基本概念,和厂家打交道经常会使用的 Oz 的概念 Oz 本来是重量的单位Oz(盎司 )= g(克) 在叠层里面是这么定义的,在一平方英尺的面积上铺一盎司的铜的厚度为1Oz,对应的单位如下 介电常数(DK)的概念电容器极板间有电介质存在时的电容量Cx 与同样形状和尺寸的真空电容量Co之比为介电常数:ε = Cx/Co = ε'-ε"?Prepreg/Core 的概念pp 是种介质材料,由玻璃纤维和环氧树脂组成,core 其实也是pp 类型介质,只不过他两面都覆有铜箔,而pp 没有. 传输线特性阻抗的计算 首先,我们来看下传输线的基本类型,在计算阻抗的时候通常有如下类型: 微带线和带状线,对于他们的区分,最简单的理解是,微带线只有1 个参考地,而带状线有2个参考地,如下图所示

如何计算阻抗

如何计算阻抗(上) 关于阻抗的话题已经说了这么多,想必大家对于阻抗控制在pcb layout中的重要性已经有了一定的了解。俗话说的好,工欲善其事,必先利其器。要想板子利索的跑起来,传输线的阻抗计算肯定不能等闲而视之。 在高速设计流程里,叠层设计和阻抗计算就是万里长征的第一步。阻抗计算方法很成熟,所以不同的软件计算的差别很小,本文采用Si9000来举例。 图1 阻抗的计算是相对比较繁琐的,但我们可以总结一些经验值帮助提高计算效率。对于常用的FR4,50ohm的微带线,线宽一般等于介质厚度的2倍;50ohm的带状线,线宽等于两平面间介质总厚度的二分之一,这可以帮我们快速锁定线宽范围,注意一般计算出来的线宽比该值小些。

除了提升计算效率,我们还要提高计算精度。大家是不是经常遇到自己算的阻抗和板厂算的不一致呢?有人会说这有什么关系,直接让板厂调啊。但会不会有板厂调不了,让你放松阻抗管控的情况呢?要做好产品还是一切尽在自己的掌握比较好。 以下提出几点设计叠层算阻抗时的注意事项供大家参考: 1,线宽宁愿宽,不要细。这是什么意思呢?因为我们知道制程里存在细的极限,宽是没有极限的。如果到时候为了调阻抗把线宽调细而碰到极限时那就麻烦了,要么增加成本,要么放松阻抗管控。所以在计算时相对宽就意味着目标阻抗稍微偏低,比如单线阻抗50ohm,我们算到49ohm就可以了,尽量不要算到51ohm。 2,整体呈现一个趋势。我们的设计中可能有多个阻抗管控目标,那么就整体偏大或偏小,不要100ohm的偏大,90ohm的偏小。 3,考虑残铜率和流胶量。当半固化片一边或两边是蚀刻线路时,压合过程中胶会去填补蚀刻的空隙处,这样两层间的胶厚度时间会减小,残铜率越小,填的越多,剩下的越少。所以如果你需要的两层间半固化片厚度是5mil,要根据残铜率选择稍厚的半固化片。 4,指定玻布和含胶量。看过板材datasheet的工程师都知道不同的玻布,不同的含胶量的半固化片或芯板的介电系数是不同的,即使是差不多高度的也可能是3.5和4的差别,这个差别可以引起单线阻抗3ohm左右的变化。另外玻纤效应和玻布开窗大小密切相关,如果你是10Gbps或更高速的设计,而你的叠层又没有指定材料,板厂用了单张1080的材料,那就可能出现信号完整性问题。 当然残铜率流胶量计算不准,新材料的介电系数有时和标称不一致,有的玻布板厂没有备料等等都会造成设计的叠层实现不了或交期延后。咋办?最好的办法就是在设计之初让板厂按我们的要求,他们的经验设计个叠层,这样最多几个来回就能得到理想又可实现的叠层了。

PCB阻抗计算参数说明

1.介电常数E r E r(介电常数)就目前而言通常情况下选用的材料为 F R-4,该种材料的E r 特性为随着加载频率的不同而变化,一般情况下E r的分水岭默认为1 G H Z(高频)。目前材料厂商能够承诺的指标<(1M H z),根据我们实际加工的经验,在使用频率为1G H Z以下的其E r认为4.2左右。—的使用频率其仍有下降的空间。故设计时如有阻抗的要求则须考虑该产品的当时的使用频率。 我们在长期的加工和研发的过程中针对不同的厂商已经摸索出一定的规律和计算公式。 (全部为1G H z状态下) 2. 介质层厚度H H(介质层厚度)该因素对阻抗控制的影响最大故设计中如对阻抗的宽容度很小的话,则该部分的设计应力求准确,FR-4的H的组成是由各种半固化片组合而成的(包括内层芯板),一般情况下常用的半固化片为: 1080 厚度0.075MM、 7628 厚度0.175MM、 2116厚度 0.105MM。 3.线宽W 对于W1、W2的说明:

5.铜箔厚度 外层铜箔和内层铜箔的原始厚度规格,一般有0.5OZ、1OZ、2OZ(1OZ约为35um或三种,但经过一系列表面处理后,外层铜箔的最终厚度一般会增加将近1 OZ左右。内层铜箔即为芯板两面的包铜,其最终厚度与原始厚度相差很小,但由于蚀刻的原因,一般会减少几个um。

表层铜箔: 可以使用的表层铜箔材料厚度有三种:12um、18um和35um。加工完成后的最终厚度大约是44um、50um和67um,大致相当于铜厚1 OZ、1.5 OZ、2 OZ。注意:在用阻抗计算软件进行阻抗控制时,外层的铜厚没有0.5 OZ的值。 走线厚度T与该层的铜厚有对应关系,具体如下: 铜箔厚度单位转换: Oz 本来是重量的单位Oz(盎司ang si )=28.3 g(克) 在叠层里面是这么定义的,在一平方英尺的面积上铺一盎司的铜的厚度为1Oz,对应的单位如下

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