文档库 最新最全的文档下载
当前位置:文档库 › 晶体管特性测试实验报告

晶体管特性测试实验报告

晶体管特性测试实验报告
晶体管特性测试实验报告

试验一晶体管特性测试

李泽电子信息科学与技术2008118038

(一)二极管伏安曲线测试方法

试验目的测试二极管的伏安特性曲线,加深对二极管特性的理解。试验内容

1.按图a安装好电路,调节阻值,逐点测量二极管上的电压和电流,测量电流时,可通过测量电阻上的电压而计算出。

2.按图b安装电路,测反向特性,按表逐点测量并记录数据。

(二)三极管伏安曲线测试方法

试验目的测试晶体三极管的输出曲线,加深对三极管伏安特性的理解。

试验内容

1.按图安装电路

2.按表测试,测试数据填入表中

XJ4810晶体管特性图示仪 说明书

XJ4810晶体管特性图示仪说明书 晶体管测量仪器是以通用电子测量仪器为技术基础,以半导体器件为测量对象的电子仪器。用它可以测试晶体三极管(NPN型和PNP型)的共发射极、共基极电路的输入特性、输出特性;测试各种反向饱和电流和击穿电压,还可以测量场效管、稳压管、二极管、单结晶体管、可控硅等器件的各种参数。下面以XJ4810型晶体特性图示仪为例介绍晶体管图示仪的使用方法。 图A-23 XJ4810型半导体管特性图示仪 7.1 XJ4810型晶体管特性图示仪面板功能介绍 XJ4810型晶体管特性图示仪面板如图A-23所示: 1. 集电极电源极性按钮,极性可按面板指示选择。 2. 集电极峰值电压保险丝:1.5A。 3. 峰值电压%:峰值电压可在0~10V、0~50V、0~100V、0~500V之连续可调,面板上的标称值是近似值,参考用。 4. 功耗限制电阻:它是串联在被测管的集电极电路中,限制超过功耗,亦可作为被测半导体管集电极的负载电阻。 5. 峰值电压范围:分0~10V/5A、0~50V/1A、0~100V/0.5A、0~500V/0.1A四挡。当由低挡改换高挡观察半导体管的特性时,须先将峰值电压调到零值,换挡后再按需要的电压逐渐增加,否则容易击穿被测晶体管。 AC挡的设置专为二极管或其他元件的测试提供双向扫描,以便能同时显示器件正反向的特性曲线。 6. 电容平衡:由于集电极电流输出端对地存在各种杂散电容,都将形成电容性电流,因而在电流取样电阻上产生电压降,造成测量误差。为了尽量减小电容性电流,测试前应调节电容平衡,使容性电流减至最小。 7. 辅助电容平衡:是针对集电极变压器次级绕组对地电容的不对称,而再次进行电容平衡调节。 8. 电源开关及辉度调节:旋钮拉出,接通仪器电源,旋转旋钮可以改变示波管光点亮度。 9. 电源指示:接通电源时灯亮。 10. 聚焦旋钮:调节旋钮可使光迹最清晰。 11. 荧光屏幕:示波管屏幕,外有座标刻度片。 12. 辅助聚焦:与聚焦旋钮配合使用。 13. Y轴选择(电流/度)开关:具有22挡四种偏转作用的开关。可以进行集电极电流、基极电压、基极电流和外接的不同转换。 14. 电流/度×0.1倍率指示灯:灯亮时,仪器进入电流/度×0.1倍工作状态。 15. 垂直移位及电流/度倍率开关:调节迹线在垂直方向的移位。旋钮拉出,放大器增益扩大10倍,电流/度各挡I C标值×0.1,同时指示灯14亮. 16. Y轴增益:校正Y轴增益。 17. X轴增益:校正X轴增益。 18.显示开关:分转换、接地、校准三挡,其作用是: ⑴转换:使图像在Ⅰ、Ⅲ象限内相互转换,便于由NPN管转测PNP管时简化测试操作。 ⑵接地:放大器输入接地,表示输入为零的基准点。 ⑶校准:按下校准键,光点在X、Y轴方向移动的距离刚好为10度,以达到10度校正目的。 19. X轴移位:调节光迹在水平方向的移位。 20. X轴选择(电压/度)开关:可以进行集电极电压、基极电流、基极电压和外接四种功能的转换,共17挡。 21. “级/簇”调节:在0~10的范围内可连续调节阶梯信号的级数。 22. 调零旋钮:测试前,应首先调整阶梯信号的起始级零电平的位置。当荧光屏上已观察到基极阶梯信号后,按下测试台上选择按键“零电压”,观察光点停留在荧光屏上的位置,复位后调节零旋钮,使阶梯信号的起始级光点仍在该处,这样阶梯信号的零电位即被准确校正。 23. 阶梯信号选择开关:可以调节每级电流大小注入被测管的基极,作为测试各种特性曲线的基极信号源,共22挡。一般选用基极电流/级,当测试场效应管时选用基极源电压/级。 24. 串联电阻开关:当阶梯信号选择开关置于电压/级的位置时,串联电阻将串联在被测管的输入电路中。 25. 重复--关按键:弹出为重复,阶梯信号重复出现;按下为关,阶梯信号处于待触发状态。 26. 阶梯信号待触发指示灯:重复按键按下时灯亮,阶梯信号进入待触发状态。 27. 单簇按键开关:单簇的按动其作用是使预先调整好的电压(电流)/级,出现一次阶梯信号后回到等待触发位置,因此可利用它瞬间作用的特性来观察被

数据通路实验报告

非常简单CPU数据通路设计实验报告非常简单CPU数据通路设计【实验目的】 1. 掌握CPU的设计步骤 2. 学会芯片的运用及其功能 【实验环境】 Maxplus2环境下实现非常简单CPU数据通路的设计 【实验内容】 非常简单CPU的寄存器:一个8位累加器AC,一个6位的地址寄存器绘制 AR,一个6位的程序计数器PC,一个8位的数据寄存器DR,一个2位的指令寄存器IR。其数据通路详见教材P。 1、零件制作 6位寄存器 (自行设计) 6位计数器 (自行设计) 8位寄存器 (可选择74系列宏函数74273) 8位计数器 (由两个74161构成) 2位寄存器 (由D触发器构成,自行设计) 6三态缓冲器 (自行设计,可由74244内部逻辑修改而成) 8三态缓冲器 (选择74系列宏函数74244,或作修改) alu模块 (自行设计,限于时间,其内部逻辑不作要求) 2、选择器件,加入数据通路顶层图 8位累加器AC:选择8位计数器 6位地址寄存器AR:reg6 6位的程序计数器PC:cou6

8位的数据寄存器DR:选择8位寄存器 2位的指令寄存器IR:选择2位寄存器 3、为PC、DR加入三态缓冲器。 4、调整版面大小,器件位置。 5、设计地址引脚、数据引脚、8位内部总线,加入数据引脚到内部总线的 缓冲器。 6、连接各器件之间以及到内部总线的线路,设计并标注各控制信号。 7、(选做)编译之后,给出微操作 AR<-PC 的测试方法及仿真结果。 8、实验报告中应给出各元部件的实现方法、内部逻辑贴图、打包符号说 明及顶层的“非常简单CPU”数据通路图。 实验报告 一、实验步骤 基于前面非常简单CPU的讲解,我掌握了非常简单CPU的指令集结构及非常简单CPU的指令读取过程和执行过程,本次实验是在上次实验的基础之上完成非常简单CPU数据通路的设计,其步骤如下: (1)、AC累加器原理图如下:

一阶单容上水箱对象特性的测试实验报告

《控制工程实验》实验报告 实验题目:一阶单容上水箱对象特性的测试 课程名称:《控制工程实验》 姓名: 学号: 专业: 年级: 院、所: 日期: 2019.04.05

实验一一阶单容上水箱对象特性的测试 一、实验目的 1. 掌握单容水箱的阶跃响应测试方法,并记录相应液位的响应曲线; 2. 根据实验得到的液位阶跃响应曲线,用相应的方法确定被测对象的特征参数K、T和传递函数; 3. 掌握同一控制系统采用不同控制方案的实现过程。 二、实验设备 1. 实验装置对象及控制柜 1套 2. 装有Step7、WinCC等软件的计算机 1台 3. CP5621专用网卡及MPI通讯线各1个 三、实验原理 所谓单容指只有一个贮蓄容器。自衡是指对象在扰动作用下,其平衡位置被破坏后,不需要操作人员或仪表等干预,依靠其自身重新恢复平衡的过程。图1 所示为单容自衡水箱特性测试结构图及方框图。阀门F 1-1和F 1-6 全开,设上水箱 流入量为Q 1,改变电动调节阀V1的开度可以改变Q 1 的大小,上水箱的流出量为 Q 2,改变出水阀F 1-11 的开度可以改变Q 2 。液位h的变化反映了Q 1 与Q 2 不等而引起 水箱中蓄水或泄水的过程。若将Q 1 作为被控过程的输入变量,h为其输出变量, 则该被控过程的数学模型就是h与Q 1 之间的数学表达式。 根据动态物料平衡关系有: (1) 变换为增量形式有: (2) 其中:,,分别为偏离某一平衡状态的增量; A为水箱截面积

图1 单容自衡水箱特性测试结构图(a)及方框图(b) 在平衡时,Q 1=Q 2 ,=0;当Q 1 发生变化时,液位h随之变化,水箱出口处的 静压也随之变化,Q 2 也发生变化。由流体力学可知,流体在紊流情况下,液位h 与流量之间为非线性关系。但为了简化起见,经线性化处理后,可近似认为Q 2 与h成正比关系,与阀F 1-11 的阻力R成反比,即 或 (3) 式中: R为阀F 1-11 的阻力,称为液阻。 将式(2)、式(3)经拉氏变换并消去中间变量 Q2,即可得到单容水箱的数学模型为 (4) 式中 T 为水箱的时间常数,T=RC;K 为放大系数,K=R;C 为水箱的容量系数。若令 Q1(s)作阶跃扰动,即,=常数,则式(4)可改写为: (5) 对上式取拉氏反变换得 (6) 当 t—>∞时,,因而有

氢氧燃料电池性能测试实验报告

氢氧燃料电池性能测试 实验报告 Company Document number:WTUT-WT88Y-W8BBGB-BWYTT-19998

氢氧燃料电池性能测 试实验报告 学号: 姓名:冯铖炼 指导老师:索艳格 一、实验目的 1.了解燃料电池工作原理 2.通过记录电池的放电特性,熟悉燃料电池极化特性 3.研究燃料电池功率和放电电流、燃料浓度的关系 4.熟悉电子负载、直流电源的操作 二、工作原理 氢氧燃料电池以氢气作燃料为还原剂,氧气作氧化剂氢氧燃料电池,通过燃料的燃烧反应,将化学能转变为电能的电池,与原电池的工作原理相同。 氢氧燃料电池工作时,向氢电极供应氢气,同时向氧电极供应氧气。氢、氧气在电极上的催化剂作用下,通过电解质生成水。这时在氢电极上有多余的电子而带负电,在氧电极上由于缺少电子而带正电。接通电路后,这一类似于燃烧的反应过程就能连续进行。

工作时向负极供给燃料(氢),向正极供给氧化剂(氧气)。氢在负极上的催化剂的作用下分解成正离子H+和电子e-。氢离子进入电解液中,而电子则沿外部电路移向正极。用电的负载就接在外部电路中。在正极上,氧气同电解液中的氢离子吸收抵达正极上的电子形成水。这正是水的电解反应的逆过程。 氢氧燃料电池不需要将还原剂和氧化剂全部储藏在电池内的装置氢氧燃料电池的反应物都在电池外部它只是提供一个反应的容器 氢气和氧气都可以由电池外提供燃料电池是一种化学电池,它利用物质发生化学反应时释出的能量,直接将其变换为电能。从这一点看,它和其他化学电池如锌锰干电池、铅蓄电池等是类似的。但是,它工作时需要连续地向其供给反应物质——燃料和氧化剂,这又和其他普通化学电池不大一样。由于它是把燃料通过化学反应释出的能量变为电能输出,所以被称为燃料电池。 具体地说,燃料电池是利用水的电解的逆反应的"发电机"。它由正极、负极和夹在正负极中间的电解质板所组成。最初,电解质板是利用电解质渗入多孔的板而形成,2013年正发展为直接使用固体的电解质。 工作时向负极供给燃料(氢),向正极供给氧化剂(空气,起作用的成分为氧气)。氢在负极分解成正离子H+和电子e-。当氢离子进入电解液中,而电子就沿外部电路移向正极。用电的负载就接在外部电路中。在正极上,空气中的氧同电解液中的氢离子吸收抵达正极上的电子形成水。这正是水的电解反应的逆过程。此过程水可以得到重复利用,发电原理与可夜间使用的太阳能电池有异曲同工之妙。 燃料电池的电极材料一般为惰性电极,具有很强的催化活性,如铂电极、活性碳电极等。 利用这个原理,燃料电池便可在工作时源源不断地向外部输电,所以也可称它为一种"发电机"。 一般来讲,书写燃料电池的化学反应方程式,需要高度注意电解质的酸碱性。在正、负极上发生的电极反应不是孤立的,它往往与电解质溶液紧密联系。如氢—氧燃料电池有酸式和碱式两种: 若电解质溶液是碱、盐溶液则

最新第一组:一阶单容上水箱对象特性测试实验

实验一、一阶单容上水箱对象特性测试实验 一.实验目的 (1)建立单容水箱阶跃响应曲线。 (2)根据由实际测得的单容水箱液位的阶跃响应曲线,用作图的方法分别确定它们的参数(时间常数T 、放大系数K )。 二.实验设备 CS2000型过程控制实验装置, PC 机,DCS 控制系统与监控软件。 三、系统结构框图 单容水箱如图1-1所示: 丹麦泵 电动调节阀 V1 DCS控制系统手动输出 h V2 Q1 Q2 图1-1、 单容水箱系统结构图 四、实验原理 阶跃响应测试法是系统在开环运行条件下,待系统稳定后,通过DCS 控制系统监控画面——调整画面,(调节器或其他操作器),手动改变(调节阀的开度)对象的输入信号(阶跃信号),同时记录对象的输出数据或阶跃响应曲线。然后根据已给定对象模型的结构形式,对实验数据进行处理,确定模型中各参数。 五.实验内容步骤 1)对象的连接和检查:

(1)将CS2000 实验对象的储水箱灌满水(至最高高度)。 (2)打开以水泵、电动调节阀、孔板流量计组成的动力支路(1#)至上水箱的出水阀门.关闭动力支路上通往其他对象的切换阀门。 (3)打开上水箱的出水阀至适当开度。 2)实验步骤 (1)打开控制柜中水泵、电动调节阀、24V电源的电源开关。 (2)打开DCS控制柜的电源,打开电脑,启动DCS上位机监控软件,进入主画面,然后进入实验一画面“实验一、一阶单容上水箱对象特性测试实验”。 注满水箱打开出水阀打开阀门,连通电动调节阀 关闭支路阀打开上水箱打开上水箱打开电源 进水阀出水阀 打开泵的开关打开调节阀开关打开24V电源打开DCS控制柜电源

性能测试工具LoadRunner实验报告

性能测试工具LoadRunner实验报告 一、概要介绍 1.1 软件性能介绍 1.1.1 软件性能的理解 性能是一种指标,表明软件系统或构件对于其及时性要求的符合程度;同时也是产品的特性,可以用时间来进行度量。 表现为:对用户操作的响应时间;系统可扩展性;并发能力;持续稳定运行等。1.1.2 软件性能的主要技术指标 响应时间:响应时间=呈现时间+系统响应时间 吞吐量:单位时间内系统处理的客户请求数量。(请求数/秒,页面数/秒,访问人数/秒) 并发用户数:业务并发用户数; [注意]系统用户数:系统的用户总数;同时在线用户人数:使用系统过程中同时在线人数达到的最高峰值。 1.2 LoadRunner介绍 LoadRunner是Mercury Interactive的一款性能测试工具,也是目前应用最为广泛的性能测试工具之一。该工具通过模拟上千万用户实施并发负载,实时性能监控的系统行为和性能方式来确认和查找问题。 1.2.1 LoadRunner工具组成 虚拟用户脚本生成器:捕获最终用户业务流程和创建自动性能测试脚本,即我们在以后说的产生测试脚本; 压力产生器:通过运行虚拟用户产生实际的负载; 用户代理:协调不同负载机上虚拟用户,产生步调一致的虚拟用户; 压力调度:根据用户对场景的设置,设置不同脚本的虚拟用户数量;

监视系统:监控主要的性能计数器; 压力结果分析工具:本身不能代替分析人员,但是可以辅助测试结果的分析。 1.2.2 LoadRunner工具原理 代理(Proxy)是客户端和服务器端之间的中介人,LoadRunner就是通过代理方式截获客户端和服务器之间交互的数据流。 1)虚拟用户脚本生成器通过代理方式接收客户端发送的数据包,记录并将其转发给服务器端;接收到从服务器端返回的数据流,记录并返回给客户端。 这样服务器端和客户端都以为在一个真实运行环境中,虚拟脚本生成器能通过这种方式截获数据流;虚拟用户脚本生成器在截获数据流后对其进行了协议层上的处理,最终用脚本函数将数据流交互过程体现为我们容易看懂的脚本语句。 2)压力生成器则是根据脚本内容,产生实际的负载,扮演产生负载的角色。 3)用户代理是运行在负载机上的进程,该进程与产生负载压力的进程或是线程协作,接受调度系统的命令,调度产生负载压力的进程或线程。 4)压力调度是根据用户的场景要求,设置各种不同脚本的虚拟用户数量,设置同步点等。 5)监控系统则可以对数据库、应用服务器、服务器的主要性能计数器进行监控。 6)压力结果分析工具是辅助测试结果分析。 二、LoadRunner测试过程 2.1 计划测试 定义性能测试要求,例如并发用户的数量、典型业务流程和所需响应时间等。 2.2 创建Vuser脚本 将最终用户活动捕获(录制、编写)到脚本中,并对脚本进行修改,调试等。协议类型:取决于服务器端和客户端之间的通信协议;

微电子器件试验-晶体管开关特性的测试分析

电子科技大学微固学院 标准实验报告 (实验)课程名称微电子器件 电子科技大学教务处制表 电子科技大学 实验报告 学生姓名:学号:指导教师:张有润 实验地点:211楼605 实验时间: 一、实验室名称:微电子器件实验室 二、实验项目名称:晶体管开关特性的测试分析 三、实验学时:3 四、实验原理: 图1 如图1所示,如果在晶体管基极输入一脉冲信号Vi,则基极和集电极电流波型如 图所示。故由图可读出其延迟时间T d 、上升时间T r 、存储时间T s 和下降时间T f 。 晶体管开关时间参数一般是按照集电极电流i C 的变化来定义:?延迟时间t d:从脉冲信号加入到i C上升到0.1I CS。 ?上升时间t r:从0.1I CS上升到0.9 I CS。 ?存储时间t s:从脉冲信号去除到i C下降到0.9 I CS。

?下降时间t f:从0.9 I CS下降到0.1 I CS。 ?其中t d + t r即开启时间、 t s + t f即关闭时间。 五、实验目的: 掌握晶体管开关特性测量原理。并能熟练地运用仪器其对双极晶体管的开关时间进行测试。 六、实验内容: 掌握晶体管开关特性测量原理,用如下实验装置图2观察晶体管输入输出波型,读出各参数。 改变外电路偏置,研究电路偏置对开关时间的影响。 图2 七、实验器材(设备、元器件): 双踪示波器、脉冲发生器、直流稳压电源、测试盒、9031NPN 八、实验步骤: 1、按上图2连接仪器,校准仪器。 2、上脉冲,记录输入输出波型及NPN的开关参数。

九、实验数据及结果分析: 测量9103NPN的开关参数即:延迟时间T d、上升时间T r、存储时间T s和下降时间T f。 十、实验结论: 通过测试,可以知道:晶体管的开关时间中存储时间比例最高。 十一、总结及心得体会: 晶体管开关时间是衡量晶体管开关速度特性的重要参数。据了解,晶体管开关作用优点如下:控制大功率、直接工作在整流380V市电上的晶体管功率开关,以及简单和优化的基极驱动造就的高性能。从而可以知道它对数字电路的工作频率和整机性能有直接影响。本实验的使我掌握了晶体管开关时间的物理性质和测量原理方法,理解了双极晶体管开关特性的基本参数。促进了我能够结合课本更加直观地认识晶体管开关作用的相关概念,继而提高了自己对于晶体管的学习兴趣,为将来的学术和工作都打下了良好的的实践基础。 十二、对本实验过程及方法、手段的改进建议: 实验仪器老旧,建议更新。 报告评分: 指导教师签字:

cpu实验报告

简易计算机系统综合设计设计报告 班级姓名学号 一、设计目的 连贯运用《数字逻辑》所学到的知识,熟练掌握EDA工具的使用方法,为学习好后续《计算机原理》课程做铺垫。 二、设计内容 ①按给定的数据格式和指令系统,使用EDA工具设计一台用硬连线逻辑控制的简易计算机系统; ②要求灵活运用各方面知识,使得所设计的计算机系统具有较佳的性能; ③对所做设计的性能指标进行分析,整理出设计报告。 三、详细设计 3.1设计的整体架构 控制信号

3.2各模块的具体实现 1.指令计数器(zhiling_PC) 元件: 输入端口:CLK,RESET,EN; 输出端口:PC[3..0]; CLK:时钟信号; RESET:复位信号; EN:计数器控制信号,为1的时候加一; PC[3..0]:地址输出信号; 代码:

波形图: 总共有九条指令,指令计数器从0000到1000;功能: 实现指令地址的输出; 2.存储器(RAM) 元件: 输入端口:PC[3..0],CLK; 输出端口:zhiling[7..0]; CLK:时钟信号; PC[3..0]:指令地址信号; zhiling[7..0]:指令输出信号; 代码:

波形图: 功能: 根据输入的地址输出相应的指令; 3.指令译码器(zlymq) 元件: 输入端口:zhiling[7..0]; 输出端口:R1[1..0],R2[1..0],M[3..0];zhiling[7..0]:指令信号; R1:目标寄存器地址; R2:源寄存器地址; M[3..0]:指令所代表的操作编号; 代码:

波形图:

功能: 实现指令的操作译码,同时提取出目标寄存器和源寄存器的地址; 4.算术逻辑运算器(ALU) 元件: 输入端口:EN_ALU,a[7..0],b[7..0],M[3..0]; 输出端口:c[7..0],z; EN_ALU:运算器的使能端; a[7..0]:目标寄存器R1的值; b[7..0]:源寄存器R2的值; M[3..0]:指令所代表的操作编号; c[7..0]:运算结果; z:运算完成的信号; 代码:

实验1 二阶双容中水箱对象特性测试实验

实验1 二阶双容中水箱对象特性测试实验 一、实验目的 1、熟悉双容水箱的数学模型及其阶跃响应曲线; 2、根据由实际测得的双容液位阶跃响应曲线,分析双容系统的飞升特性。 二、实验设备 AE2000B 型过程控制实验装置、实验连接线 图1 双容水箱系统结构图 三、原理说明 如图1所示:这是由两个一阶非周期惯性环节串联起来,被调量是第二水槽的水位h 2。当输入量有一个阶跃增加?Q 1时,被调量变化的反应曲线如图2所示的?h 2曲线。它不再是简单的指数曲线,而是呈S 形的一条曲线。由于多了一个容器,就使调节对象的飞升特性在时间上更加落后一步。在图中S 形曲线的拐点P 上作切线,它在时间轴上截出一段时间OA 。 这段时间可以近似地衡量由于多了一个容量而使飞升过程向后推迟的程度,因此称容量滞后,通常以τ C 代表之。 设流量Q 1为双容水箱的输入量,下水箱的液位高度h 2为输出量,根据物料动态平衡关系,并考虑到液体传输过程中的时延,其传递函数为: 2112()()* ()(*1)(*1) s H S K G S Q S T S T S e τ-==++

图2 变化曲线 式中K=R3,T1=R2C1,T2=R3C2,R2、R3分别为阀V2和V3的液阻,C1和C2分别为上水箱和下水箱的容量系数。由式中的K、T1和T2须从由实验求得的阶跃响应曲线上求出。具体的做法是在图3所示的阶跃响应曲线上取: 1)h2(t)稳态值的渐近线h2(∞); 2)h2(t)|t=t1=0.4 h2(∞)时曲线上的点A和对应 的时间t1; 3)h2(t)|t=t2=0.8 h2(∞)时曲线上的点B和对应 的时间t2。 然后,利用下面的近似公式计算式2-1中的参数 K、T1和T2。其中:2 () K O h R ∞ == 输入稳态值 阶跃输入量 图3 阶跃响应曲线 4)12 12 t t T T 2.16 + +≈ 对于式(2-1)所示的二阶过程,0.32〈t1/t2〈0.46。当t1/t2=0.32时,为一阶环节;当t1/t2=0.46 h 0.4 0.8 2 h h 1 h 2 2 2

PC性能评测实验报告

计算机体系结构课程实验报告 PC性能测试实验报告 学号: 姓名:张俊阳 班级:计科1302 题目1:PC性能测试软件 请在网上搜索并下载一个PC机性能评测软件(比如:可在百度上输入“PC 性能benchmark”,进行搜索并下载,安装),并对你自己的电脑和机房电脑的性能进行测试。并加以比较。 实验过程及结果: 我的电脑:

机房电脑:

综上分析:分析pcbenchmark所得数据为电脑的current performance与其potential performance的比值,值大表明计算机目前运行良好,性能好,由测试结果数据可得比较出机房的电脑当前运行的性能更好。分析鲁大师性能测试结果:我的电脑得分148588机房电脑得分71298,通过分析我们可以得出CPU占总得分的比重最大,表明了其对计算机性能的影响是最大的,其次显卡性能和内存性能也很关键,另外机房的电脑显卡性能较弱,所以拉低了整体得分,我的电脑各项得分均超过机房电脑,可以得出我的电脑性能更好的结论。 题目2:toy benchmark的编写并测试 可用C语言编写一个程序(10-100行语句),该程序包括两个部分,一个部分主要执行整数操作,另一个部分主要执行浮点操作,两个部分执行的频率(频率整数,频率浮点)可调整。请在你的计算机或者在机房计算机上,以(,),(,),(,)的频率运行你编写的程序,并算出三种情况下的加权平均运行时间。 实验过程及结果: #include<> #include<> int main() {

int x, y, a; double b; clock_t start, end; printf("请输入整数运算与浮点数运算次数(单位亿次)\n"); scanf("%d%d", &x, &y); /*控制运行频率*/ start = clock(); for (int i = 0; i

半导体管特性图示仪的使用和晶体管参数测量

半导体管特性图示仪的使用和晶体管参数测量 一、实验目的 1、了解半导体特性图示仪的基本原理 2、学习使用半导体特性图示仪测量晶体管的特性曲线和参数。 二、预习要求 1、阅读本实验的实验原理,了解半导体图示仪的工作原理以及XJ4810 型半导体管图示仪的各旋钮作用。 2、复习晶体二极管、三极管主要参数的定义。 三、实验原理 (一)半导体特性图示仪的基本工作原理 任何一个半导体器件,使用前均应了解其性能,对于晶体三极管,只要知道其输入、输出特性曲线,就不难由曲线求出它的一系列参数,如输入、输出电阻、电流放大倍、漏电流、饱和电压、反向击穿电压等。但如何得到这两组曲线呢?最早是利用图4-1 的伏安法对晶体管进行逐点测试,而后描出曲线,逐点测试法不仅既费时又费力,而而且所得数据不能全面反映被测管的特性,在实际中,广泛采用半导体特性图示仪测量的晶体管输入、输出特性曲线。 图4-1 逐点法测试共射特性曲线的原理线路用半导体特性图示仪测量晶体管的特性曲线和各种直流参量的基本原理是用图4-2(a)中幅度随时间周期性连续变化的扫描电压UCS代替逐点法中的可调电压EC,用图4-2(b)所示的和扫描电压UCS的周期想对应的阶梯电流iB来代替逐点法中可以逐点改变基极电流的可变电压EB,将晶体管的特性曲线直接显示在示波管的荧光屏上,这样一来,荧光屏上光点位置的坐标便代替了逐点法中电压表和电流表的读数。

1、共射输出特性曲线的显示原理 当显示如图4-3 所示的NPN 型晶体管共发射极输出特性曲线时,图示仪内部和被测晶体管之间的连接方式如图4-4 所示. T是被测晶体管,基极接的是阶梯波信号源,由它产生基极阶梯电流ib 集电极扫描电压UCS直接加到示波器(图示仪中相当于示波器的部分,以下同)的X轴输入端,,经X轴放大器放大到示波管水平偏转板上集电极电流ic经取样电阻R得到与ic成正比的电压,UR=ic,R加到示波器的Y轴输入端,经Y轴放大器放大加到垂直偏转板上.子束的偏转角与偏转板上所加电压的大小成正比,所以荧光屏光点水平方向移动距离代表ic的大小,也就是说,荧光屏平面被模拟成了uce-ic 平面. 图4-4 输出特性曲线显示电路输出特性曲线的显示过程如图4-5 所示 当t=0 时, iB =0 ic=0 UCE =0 两对偏转板上的电压均为零,设此时荧光屏上光点的位置为坐标原点。在0-t1,这段时间内,集电极扫描电压UCS 处于第一个正弦半波周期。

CPU设计实验报告

实验中央处理器的设计与实现 一、实验目的 1、理解中央处理器的原理图设计方法。 2、能够设计实现典型MIPS的11条指令。 二、实验要求 1、使用Logisim完成数据通路、控制器的设计与实现。 2、完成整个处理器的集成与验证。 3、撰写实验报告,并提交电路源文件。 三、实验环境 VMware Workstations Pro + Windows XP + Logisim-win-2.7.1 四、操作方法与实验步骤 1、数据通路的设计与实现 数据通路主要由NPC、指令存储器、32位寄存器文件、立即数扩展部件、ALU、数据存储器构成。其中指令存储器和数据存储器可直接调用软件库中的ROM和RAM元件直接完成,其余部件的设计如图所示: 图1.1 NPC

图1.2 32位寄存器

图1.3 立即数扩展部件 图1.4 ALU 2、控制器的设计与实现 控制器的主要设计思想如图所示 图2.1 控制器设计思想 输入 1 1 0

输出R-type ORI LW SW BEQ JUMP RegDst 1 0 0 x x x ALUSrc 0 1 1 1 0 x MemtoReg0 0 1 x x x RegWrite 1 1 1 0 0 0 MemWrite0 0 0 1 0 0 Branch 0 0 0 0 1 0 Jump 0 0 0 0 0 1 Extop x 0 1 1 1 x ALUop2 1 0 0 0 0 x ALUop1 x 1 0 0 x x ALUop0 x 0 0 0 1 x ALUop[2:0] Funct[3:0] 指令ALUctr[2:0] 111 0000 add 010 111 0010 sub 110 111 0100 and 000 111 0101 or 001 111 1010 slt 111 010 xxxx ori 001 000 xxxx Lw/sw 010 011 xxxx beq 110 表2.1 控制器设计真值表

第一节 单容自衡水箱液位特性测试实验

第一节 单容自衡水箱液位特性测试实验 一、实验目的 1.掌握单容水箱的阶跃响应测试方法,并记录相应液位的响应曲线; 2.根据实验得到的液位阶跃响应曲线,用相应的方法确定被测对象的特征参数K 、T 和传递函数; 3.掌握同一控制系统采用不同控制方案的实现过程。 二、实验设备 1.实验对象及控制屏、SA-11挂件一个、SA-13挂件一个、SA-14挂件一个、计算机一台(DCS 需两台计算机)、万用表一个; 2.SA-12挂件一个、RS485/232转换器一个、通讯线一根; 3.SA-21挂件一个、SA-22挂件一个、SA-23挂件一个; 4.SA-31挂件一个、SA-32挂件一个、SA-33挂件一个、主控单元一个、数据交换器两个,网线四根; 5.SA-41挂件一个、CP5611专用网卡及网线; 6.SA-42挂件一个、PC/PPI 通讯电缆一根。 三、实验原理 所谓单容指只有一个贮蓄容器。自衡是指对象在扰动作用下,其平衡位置被破坏后,不需要操作人员或仪表等干预,依靠其自身重新恢复平衡的过程。图2-1所示为单容自衡水箱特性测试结构图及方框图。阀门F1-1、F1-2和F1-8全开,设下水箱流入量为Q 1,改变电动调节阀V 1的开度可以改变Q 1的大小,下水箱的流出量为Q 2,改变出水阀F1-11的开度可以改变Q 2。液位h 的变化反映了Q 1与Q 2不等而引起水箱中蓄水或泄水的过程。若将Q 1作为被控过程的输入变量,h 为其输出变量,则该被控过程的数学模型就是h 与Q 1之间的数学表达式。 根据动态物料平衡关系有 Q 1-Q 2=A dt dh (2-1) 将式(2-1)表示为增量形式 ΔQ 1-ΔQ 2=A dt h d ? (2-2) 式中:ΔQ 1,ΔQ 2,Δh ——分别为偏 离某一平衡状态的增量; A ——水箱截面积。 在平衡时,Q 1=Q 2,dt dh =0;当Q 1 发生变化时,液位h 随之变化,水箱出 图2-1 单容自衡水箱特性测试系统 口处的静压也随之变化,Q 2也发生变化 (a )结构图 (b )方框图 。由流体力学可知,流体在紊流情况下,液位h 与流量之间为非线性关系。但为了简化起见,经线性化处理后,可近似认为Q 2与h 成正比关系,而与阀F1-11的阻力R 成反比,即 ΔQ 2=R h ? 或 R=2 Q ??h (2-3)

流量计性能测定实验报告doc

流量计性能测定实验报告 篇一:孔板流量计性能测定实验数据记录及处理篇二:实验3 流量计性能测定实验 实验3 流量计性能测定实验 一、实验目的 ⒈了解几种常用流量计的构造、工作原理和主要特点。 ⒉掌握流量计的标定方法(例如标准流量计法)。 ⒊了解节流式流量计流量系数C随雷诺数Re的变化规律,流量系数C的确定方法。 ⒋学习合理选择坐标系的方法。 二、实验内容 ⒈通过实验室实物和图像,了解孔板、1/4园喷嘴、文丘里及涡轮流量计的构造及工作原理。 ⒉测定节流式流量计(孔板或1/4园喷嘴或文丘里)的流量标定曲线。 ⒊测定节流式流量计的雷诺数Re和流量系数C的关系。 三、实验原理 流体通过节流式流量计时在流量计上、下游两取压口之间产生压强差,它与流量的关系为: 式中: 被测流体(水)的体积流量,m3/s; 流量系数,无因次;

流量计节流孔截面积,m2; 流量计上、下游两取压口之间的压强差,Pa ; 被测流体(水)的密度,kg/m3 。 用涡轮流量计和转子流量计作为标准流量计来测量流量VS。每一 个流量在压差计上都有一对应的读数,将压差计读数△P和流量Vs绘制成一条曲线,即流量标定曲线。同时用上式整理数据可进一步得到C—Re关系曲线。 四、实验装置 该实验与流体阻力测定实验、离心泵性能测定实验共用图1所示的实验装置流程图。 ⒈本实验共有六套装置,流程为:A→B(C→D)→E→F→G→I 。 ⒉以精度0.5级的涡轮流量计作为标准流量计,测取被测流量计流量(小于2m3/h流量时,用转子流量计测取)。 ⒊压差测量:用第一路差压变送器直接读取。 图1 流动过程综合实验流程图 ⑴—离心泵;⑵—大流量调节阀;⑶—小流量调节阀; ⑷—被标定流量计;⑸—转子流量计;⑹—倒U管;⑺⑻⑽—数显仪表;⑼—涡轮流量计;⑾—真空表;⑿—流量计平衡阀;⒁—光滑管平衡阀;⒃—粗糙管平衡阀;⒀—回流阀;⒂—压力表;⒄—水箱;⒅—排水阀;⒆—闸阀;⒇—

晶体管特征频率的测量

晶体 管特征频率的测量 晶体管特征频率t f 的测量定义为共射极输出交短路电流放大系数||β随频率增加而下降到1 小时的工作频率,它反映了晶体管共发射运用具有电流放大作用的频率极限,是晶体管的一个重要频率特性参数。t f 主要取决于晶体管的合理的结构设计,但也与晶体管工作时的偏置条件密切相关。 因而,晶体管的特征频率t f 是指在一定集团偏置条件下的测量值 。其测试原理通常采用“增益- 带宽”积的方法。 本实验的目的是掌握晶体管特征频率t f 的测试原理及测量方法,熟悉t f 分别随CE V 和E I 变化的规律,加深其与晶体管结构参数各工作偏置条件的理解,为晶体管的频率特性设计,制造和应用奠定基础。 一、实验原理 共发射交流工作下,晶体管发射结电压周期性变化引起发射结,收集结空间电荷区的电荷和其区,发射区,收集区的少子,多子也随之不断重新分布,这种现象可视为势垒电容各扩散电容的充放电作用。势垒电容各扩散电容的充放电使由发射区通过基区传输的载流子减少,传输的电流幅度值下降,同时产生载流子传输的延时,加之载流子渡越收集结空间电荷区时间的影响,使输入,输出信号产生相移,电流放大系数β变为复数,并且其幅值随频率的升高 而下降,相位移也随频率的升高而增大,因此,晶体管共发射极交流短路放大系数β的幅值和相位移是工作频率的函数。 理论上晶体管共发射交流短路放大系数可表示为 β=b b j jm ωωωωβ/1)/ex p(0+- (1) 其幅值和相位角随频率变化的有关系分别为 ||β=2/120 ])/(1[ββf f + (2) ?=]/)/([ββωωωωm arctg +- (3) 可见,当工作频率f <<βf 时,0ββ≈,几乎与频率无关; 当f =βf 时,||β=0β/2, ||β下降3dB ;

实验四 控制系统频率特性的测试 实验报告

实验四控制系统频率特性的测试 一.实验目的 认识线性定常系统的频率特性,掌握用频率特性法测试被控过程模型的原理和方法,根据开环系统的对数频率特性,确定系统组成环节的参数。二.实验装置 (1)微型计算机。 (2)自动控制实验教学系统软件。 三.实验原理及方法 (1)基本概念 一个稳定的线性定常系统,在正弦信号的作用下,输出稳态与输入信号关系如下: 幅频特性相频特性 (2)实验方法 设有两个正弦信号: 若以) (y tω为纵轴,而以tω作为参变量,则随tω的变xω为横轴,以) (t 化,) (y tω?所确定的点的轨迹,将在 x--y平面上描绘出一条封闭的xω和) (t 曲线(通常是一个椭圆)。这就是所谓“李沙育图形”。 由李沙育图形可求出Xm ,Ym,φ, 四.实验步骤 (1)根据前面的实验步骤点击实验七、控制系统频率特性测试菜单。(2)首先确定被测对象模型的传递函数, 预先设置好参数

T1、T2、ξ、K (3)设置好各项参数后,开始仿真分析,首先做幅频测试,按所得的频率范围由低到高,及ω由小到大慢慢改变,特别是在转折频率处更应该多取几个点 五.数据处理 (一)第一种处理方法: (1)得表格如下: (2)作图如下: (二)第二种方法: 由实验模型即,由实验设置模型根据理论计算结果绘制bode图,绘制Bode图。 (三)误差分析 两图形的大体趋势一直,从而验证了理论的正确性。在拐点处有一定的差距,在某些点处也存在较大的误差。 分析: (1)在读取数据上存在较大的误差,而使得理论结果和实验结果之间存在。 (2)在数值应选取上太合适,而使得所画出的bode图形之间存在较大的差距。 (3)在实验计算相角和幅值方面本来就存在着近似,从而使得误差存在,而使得两个图形之间有差异 六.思考讨论 (1)是否可以用“李沙育”图形同时测量幅频特性和想频特性

晶体管测试仪

XJ4810型半导体管特性图示仪的使用方法晶体管测试仪的使用方法 晶体管特性图示仪的使用 晶体管测量仪器是以通用电子测量仪器为技术基础,以半导体器件为测量对象的电子仪器。用它可以测试晶体三极管(NPN型和PNP型)的共发射极、共基极电路的输入特性、输出特性;测试各种反向饱和电流和击穿电压,还可以测量场效管、稳压管、二极管、单结晶体管、可控硅等器件的各种参数。下面以XJ4810型晶体特性图示仪为例介绍晶体管图示仪的使用方法。 XJ4810型晶体管特性图示仪面板如图A-23所示: 1. 集电极电源极性按钮,极性可按面板指示选择。 2. 集电极峰值电压保险丝:1.5A。 3. 峰值电压%:峰值电压可在0~10V、0~50V、0~100V、0~500V之连续可调,面板上的标称值是近似值,参考用。 4. 功耗限制电阻:它是串联在被测管的集电极电路中,限制超过功耗,亦可作为被测半导体管集电极的负载电阻。 5. 峰值电压范围:分0~10V/5A、0~50V/1A、0~100V/0.5A、0~500V/0.1A 四挡。当由低挡改换高挡观察半导体管的特性时,须先将峰值电压调到零值,换挡后再按需要的电压逐渐增加,否则容易击穿被测晶体管。

AC挡的设置专为二极管或其他元件的测试提供双向扫描,以便能同时显示器件正反向的特性曲线。 6. 电容平衡:由于集电极电流输出端对地存在各种杂散电容,都将形成电容性电流,因而在电流取样电阻上产生电压降,造成测量误差。为了尽量减小电容性电流,测试前应调节电容平衡,使容性电流减至最小。 7. 辅助电容平衡:是针对集电极变压器次级绕组对地电容的不对称,而再次进行电容平衡调节。 8. 电源开关及辉度调节:旋钮拉出,接通仪器电源,旋转旋钮可以改变示波管光点亮度。 9. 电源指示:接通电源时灯亮。 10. 聚焦旋钮:调节旋钮可使光迹最清晰。 11. 荧光屏幕:示波管屏幕,外有座标刻度片。 12. 辅助聚焦:与聚焦旋钮配合使用。 13. Y轴选择(电流/度)开关:具有22挡四种偏转作用的开关。可以进行集电极电流、基极电压、基极电流和外接的不同转换。 14. 电流/度×0.1倍率指示灯:灯亮时,仪器进入电流/度×0.1倍工作状态。 15. 垂直移位及电流/度倍率开关:调节迹线在垂直方向的移位。旋钮拉出,放大器增益扩大10倍,电流/度各挡IC标值×0.1,同时指示灯14亮. 16. Y轴增益:校正Y轴增益。 17. X轴增益:校正X轴增益。 18.显示开关:分转换、接地、校准三挡,其作用是: ⑴转换:使图像在Ⅰ、Ⅲ象限内相互转换,便于由NPN管转测PNP管时简化测试操作。 ⑵接地:放大器输入接地,表示输入为零的基准点。 ⑶校准:按下校准键,光点在X、Y轴方向移动的距离刚好为10度,以达到10度校正目的。 19. X轴移位:调节光迹在水平方向的移位。 20. X轴选择(电压/度)开关:可以进行集电极电压、基极电流、基极电压和外接四种功能的转换,共17挡。 21. “级/簇”调节:在0~10的范围内可连续调节阶梯信号的级数。

软件测试实验报告LoadRunner的使用

南昌大学软件学院 实验报告 实验名称 LoadRunner的使用 实验地点 实验日期 指导教师 学生班级 学生姓名 学生学号 提交日期 LoadRunner简介: LoadRunner 是一种适用于各种体系架构的自动负载测试工具,它能预测系统行为并优化系统性能。LoadRunner 的测试对象是整个企业的系统,它通过模拟实际用户的操作行为和实行实时性能监测,来帮助您更快的查找和发现问题。此外,LoadRunner 能支持广范的协议和技术,为您的特殊环境提供特殊的解决方案。LoadRunner是目前应用最为广泛的性能测试工具之一。 一、实验目的

1. 熟练LoadRunner的工具组成和工具原理。 2. 熟练使用LoadRunner进行Web系统测试和压力负载测试。 3. 掌握LoadRunner测试流程。 二、实验设备 PC机:清华同方电脑 操作系统:windows 7 实用工具:WPS Office,LoadRunner8.0工具,IE9 三、实验内容 (1)、熟悉LoadRunner的工具组成和工具原理 1.LoadRunner工具组成 虚拟用户脚本生成器:捕获最终用户业务流程和创建自动性能测试脚本,即我们在以后说的产生测试脚本; 压力产生器:通过运行虚拟用户产生实际的负载; 用户代理:协调不同负载机上虚拟用户,产生步调一致的虚拟用户;压力调度:根据用户对场景的设置,设置不同脚本的虚拟用户数量;监视系统:监控主要的性能计数器; 压力结果分析工具:本身不能代替分析人员,但是可以辅助测试结果的分析。 2.LoadRunner工具原理 代理(Proxy)是客户端和服务器端之间的中介人,LoadRunner 就是通过代理方式截获客户端和服务器之间交互的数据流。 ①虚拟用户脚本生成器通过代理方式接收客户端发送的数据包,

相关文档