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ITEST-IC芯片测试仪

ITEST-IC 芯片测试仪
1 产品概述：
目前电子企业所用的元器件质量状态令人担忧，市场的饱和、从业人员的增加都加剧了市场竞争激烈程度，薄弱的利润，驱使着从业人员不断“创新”—— 回收国外的电子垃圾、采购芯片代工厂的废品、打磨、翻新、金属封装壳体置换、商业级改工业级或军用级，速度等级修改……；而且打磨后为了清除掉表面的一些赃物，竟然利用自来水冲洗，这些都是行业内公开的秘密了。造假手段不仅五花八门而且呈高科技状，传统的手段（例如：利用从业人员的经验、使用千分尺、放大镜、万用表以及利用酒精擦除表面丝印）在这些“高科技”面前，真得是无能为力，就算有稍微负责任的经销商用高级一点的编程器、仿真器或下载线去筛选一下，但这对于“娇气”的芯片来讲，真的是起不了多大的用处。对于芯片来讲，好的就是好的，用过的就是用过的，不能用就是不能用，道理大家都知道，但是没有合适的测试工具你知道了又能怎么样？不成文的行规：上机不退，过月不换，管脚上锡不退不换，让你只要用芯片，只要从市场采购，就注定你会“中招”的。为了节省企业成本、缩短产品上市时间、提升企业信誉以及提高产品质量，测一测你所采购的芯片吧！！！
北京博基兴业科技有限公司研发的 Chip Tester 芯片测试仪就是根据目前市场上假冒伪劣愈演愈烈，广大用户及商家深受其害而开发的应用于流通环节质量控制的、企业能够购买的、便宜的芯片测试设备。测试仪由测试主机、测试工业温度扩展机、测试功能扩展板、芯片封装适配器以及相关的配件组成
2 产品特点：
便携式设计，但需要电源供电，携带方便；支持外接显示器，鼠标及键盘；主机和工业级扩展分机可以单独工作，也可主机控制扩展分机进行操作，扩展分机，具有良好的温度测试范围（-55℃～+125℃），可以对芯

片进行高低温以及老化测试；模块化设计，良好的扩展性，可以满足不同的测试需求；数量众多的 Load board 以及各种不同封装的 Socket；内置芯片测试程序，一键式操作，使用简单；测试结果直接显示 PASS or FAIL,操作人员不需要专业知识；测试参数丰富可调，可输出完整的测试报告；测试元器件库快速扩充，有众多的技术人员进行专业的测试开发；
3 功能简介：
测试器件的输入电阻、工作电流、工作电压、器件功能、性能测试；器件等级筛选，可有效的区分商业级、工业级以及军工级；验证器件的生产信息以及对器件编程校验等；输出完整的测试报告，显示器件的 VI 特性；支持各种中小规模、大规模、超大规模数字集成电路
? ? ? ? ? ? ? 包括各种 4000、74/54 系列数字集成电路；各种处理器（ARM 、 MIPS 、 POWERPC 、 DSP）；存储器电路(DDR 、 DDR2 、 SDRAM 、 SRAM 、 ROM、PROM、EPROM、 EEPROM、FLASH, FIFO 等)；可编程逻辑电路（FPGA 、 CPLD 、 PAL 、 GAL 、 PLD 等）；各种总线接口电路(RS-232、RS-422、 IEEE488、RS-485 等)；定时器电路、数字电位器等；同时可测试多种模拟及混合集成电路，包括：模拟开关、ADC/DAC 转换器、运算放大器、音频功率放大器、电压调整器、电压基准、光耦电路、电源管理芯片等。
4 适用范围：
产品流通环节的商家进货质量控制，帮助分销商、贸易商以及 IC 从业

人员辨别芯片真伪，有无翻新，可以对芯片进行功能性研证。避免由于芯片质量问题引起不必要的纷争。整机企业质量检测部门入厂检测，有效地帮助企业检验人员快速准确的完成物料的来料检测，完善企业的质量管理体系，提高产品的生产质量。维修企业芯片检测：很多电路由于过流、过压以及其他原因造成某个器件故障影响到整板工作，维修人员在维修电路板时，可以利用 Chip Tester 芯片测试仪对从板上拆下的器件进行测试，对于测试合格的芯片可以在利用，可以提高效率。质量评估和可靠性分析测试,很多如 74 系列的逻辑器件，生产厂家众多，对于耦合度较低的电路，必须在批量生产时对所用的器件进行质量评估和可靠性分析，确保电路的稳定工作。
5 服务项目：
承接芯片测试服务，可测试各种逻辑器件、处理器芯片、可编程逻辑器件、存储器芯片、各种总线接口电路、定时器、数字电位器、模拟开关、 ADC、DAC、运算放大器、音频功率放大器、电压调整器件、电压基准、光耦电路、电源管理芯片等专用芯片测试设备研发，可根据客户的要求订制各种型号的芯片测试设备。由于多功能的测试设备价格高昂，很多客户尽管有需求，但是为了节约成本，无法购买。针对此种情况，我们可以为您提供订制服务。芯片质量分析与可靠性测试，以及老化、筛选试验，很多科研院所以及企业的产品应用领域都有着特殊的要求，为了确保这种要求，往往对于产品所用到的器件进行各种严格的筛选，如高低温测试、老化测试以及超参数性能验证，利用 Chip Tester 芯片测试仪可有效而且快速的完成。制作测试夹具, 开发芯片测试程序，可以帮助客户制作各种不同封装，管脚数量较多的测试夹具，利用工程师多年的研发经验，快速的帮客户开发针对芯片各项参数的测试程序。批量测试方案制定完善，对于使用大批量芯片的客户，为了确保测试效率，我们可以为您提供各种自动的测试方案，如增加机械手，自动抓取芯片。

6 成功案例：
某贸易商从渠道吃货 Ti DSP 5402，数量众多，在市场销售时，由于芯片质量问题，与客户发生多次争执，为了避免继续产生质量问题，求助于我们，我们利用 Chip Tester 芯片测试仪，配置 5402 管脚测试座，一周内做好测试适配板，三天作好测试程序，接到定单十一日后我们测试了客户的第一片 5402，测试结果显示：FAIL，随着继续测试，问题不断显示：IDCODE 状态错误，管脚 IO 功能失效，功耗偏大…….,全部测试完毕后，发现故障率竟然有：63%，客户有点不相信测试结果，随机抽取有故障的芯片 10 片，让一个关系很好的终端用户帮测试，测试发现，10 片有故障的芯片都无法工作。此贸易商把那些好的芯片继续销售，市场反映良好。现在对于质量不确定的芯片，常找我们来做检测，是我们的一个忠实客户。

电阻分拣仪课程设计

一级电阻分选电路的设计摘要本设计充分利用了现代集成芯片技术，采用了阻抗变换和比较的方法，其结果简单、控制可靠、使用方便、具有很高的灵敏性，又不易产生错误。具有很高的使用价值。主要运用桥式整流电路，窗口比较电路和显示电路等基本电路，并利用三端稳压器稳定输出电压，并通过窗口比较电路输出高低电平，再通过LED显示电路显示出合适的电阻，从而方便快捷的挑选出一级电阻。本设计主要运用的芯片有W7805,W7905,CD4001,LM324D等。整体设计遵循硬件工程的方法，经过需求分析，总体设计，安装调试，模块测试和系统实现几个阶段。关键词：稳压电路，窗口比较器，CD4001，电阻测量

目录 1 课题描述 (1) 2 设计方案 (1) 2.1电源电路设计 (2) 2.2检测电路 (2) 2.3显示电路 (5) 3元件选择 (5) 3.1 三端稳压器 (5) 3.2 LM324四运放 (6) 3.3 四输入或非门 (6) 4整体电路 (7) 总结 (8) 致谢 (9) 参考文献 (10)

1 课题描述随着工业的快速发展，很多东西得到了批量的生产。但是，这就给质量检验增加了难度。过去的微电子技术已经不能满足现状所需，因此微电子技术的发展应运而生，新的测试方法，新的测试理论，新的测试领域以及新的测试领域不断出现，在许多方面已经冲破了传统仪器的观念，电子仪器的功能和作用发生了质的变化。因此，如何快速而又高效的检测便成了人们关注的问题。比如，生产出来的电阻由于各种原因而造成在一定范围内浮动，如何筛选变化在0.95~1.05范围内的合格电阻而抛弃那些不合格的电阻。本设计是对电阻进行检测，有电源部分，检测部分和显示部分构成。并且，此设计可以直接加载在220V 交流电上。其中，电源部分由整流桥整流和三态稳压管进行稳压，以输出+/- 5V 的直流电压，用以检测电路模块的工作。检测部分通过选定门限电压、标准电阻，通过窗口比较器进行比较，就可以快速而又准确的检测出被测电阻是否合格。 2 设计方案整个电路系统如图1所示，由电源部分、检测部分和显示部分三部分构成[1]。图1 整体电路框图电源模块由桥式整流、电容滤波和三端集成稳压块W7805和W7809等部分组成，可使输出电压为+/-5V 。检测电路由LM324四运放集成芯片构成，其中一个运放作为电压跟随器事项阻抗变换，另外两个运放组成窗口比较器。由门限电

集成电路测试

第一章集成电路的测试 1.集成电路测试的定义集成电路测试是对集成电路或模块进行检测，通过测量对于集成电路的输出回应和预期输出比较，以确定或评估集成电路元器件功能和性能的过程，是验证设计、监控生产、保证质量、分析失效以及指导应用的重要手段。 .2.集成电路测试的基本原理输入Y 被测电路DUT（Device Under Test）可作为一个已知功能的实体，测试依据原始输入x 和网络功能集F（x），确定原始输出回应y，并分析y是否表达了电路网络的实际输出。因此，测试的基本任务是生成测试输入，而测试系统的基本任务则是将测试输人应用于被测器件，并分析其输出的正确性。测试过程中，测试系统首先生成输入定时波形信号施加到被测器件的原始输入管脚，第二步是从被测器件的原始输出管脚采样输出回应，最后经过分析处理得到测试结果。 3.集成电路故障与测试集成电路的不正常状态有缺陷（defect）、故障（fault）和失效（failure）等。由于设计考虑不周全或制造过程中的一些物理、化学因素，使集成电路不符合技术条件而不能正常工作，称为集成电路存在缺陷。集成电路的缺陷导致它的功能发生变化，称为故障。故障可能使集成电路失效，也可能不失效，集成电路丧失了实施其特定规范要求的功能，称为集成电路失效。故障和缺陷等效，但两者有一定区别，缺陷会引发故障，故障是表象，相对稳定，并且易于测试；缺陷相对隐蔽和微观，缺陷的查找与定位较难。 4.集成电路测试的过程 1.测试设备测试仪：通常被叫做自动测试设备，是用来向被测试器件施加输入，并观察输出。测试是要考虑DUT的技术指标和规范，包括：器件最高时钟频率、定时精度要求、输入\输出引脚的数目等。要考虑的因素：费用、可靠性、服务能力、软件编程难易程度等。 1.测试界面测试界面主要根据DUT的封装形式、最高时钟频率、ATE的资源配置和界面板卡形等合理地选择测试插座和设计制作测试负载板。

高校实验室IC集成电路芯片测试解决方案

高校实验室IC集成电路芯片测试解决方案在高校的教学实验环节，需要大量地使用一些基本功能的集成芯片。譬如74/54系列的门电路，AD/DA芯片，放大器，比较器，二极管，三极管，光耦，接口芯片等。由于学生初学电路，使用过程中，存在很多偶然的低级错误，造成芯片的损伤，给后面的实验造成很多麻烦，所以在实验过程中，为了排除这类因素，节省教学时间，需要用专用的amdtech芯片测试仪器对芯片的功能进行校验。除此之外，此测试仪支持芯片自动查找功能，查找成功后会自动显示芯片的型号。测试仪软硬件独立设计，芯片库可在线实时更新，简单易用。可根据用户提供的芯片，进行测试（需定制）。 1.1方案特色 1.基于标准USB接口，即插即用； 2.标准40脚锁扣插座，最大可测40脚的IC； 3.系统带自检功能，芯片型号可自动判别； 4.可测试74/54系列TTL芯片，4000/4500系列CMOS芯片； 5.可测试放大器，比较器，二极管，三极管，光耦，接口芯片等集成电路芯片；

6.可测试常用的AD、DA芯片； 7.驱动程序支持win2000/winxp/win2003/win7/win8/ win10； 8.测试仪软硬件独立设计，芯片库可在线实时更新，简单易用； 9.可根据用户提供的芯片，进行测试（需定制）。 1.2方案使用 1.首先安装软件，安装完成后，插入芯片测试仪，系统会自动提示安装驱动设备，按照提示，使用自动安装。测试芯片时，不管什么类型的芯片，都是底部对齐，缺口朝上，如下图所示：

2.运行芯片测试仪软件。测试步骤如下：（1）在【选择类型】下拉框里面，选择芯片的类型（2）选择好类别后，在【选择器件】列表框里选择具体的待测试芯片型号。（3）选中芯片后，点击【测试】按钮，这时测试仪的“ready”指示灯会点亮。软件会自动测试指定芯片的好坏。（4）如果芯片字迹模糊，而无法知道具体芯片型号时，可以选择【自动扫描测试】按钮，软件会自动从芯片库里面进行比对，如果对应上了具体型号，会自动提示芯片的型号。注：【自动扫描测试】是扫描当前类别里面的器件，

集成运算放大器简易测试仪

一、设计任务及要求设计并制作一中集成运算放大器简易测试仪。 1.测试仪能用于判断集成运放放大功能的好坏； 2.适应于单电源和双电源型运算放大器的测试； 3.设计信号产生电路，用于判断运算放大器好坏的输入； 4.设计毫伏表电路，用于测量运算放大器输出； 5.设计本仪器所需的直流稳压电源，要求有±15V 两路电压输出，每路输出电流大于50mA,并具有过电流保护功能。二、设计方案 1.设计思路设计测试集成运放的好坏，本实验的思路是将该被测的集成运放接成电压跟随器，在输入端接入标准的正弦信号，输出端使用示波器观测，若放大倍数为1，则表示运放正常，否则，损坏。利用这一直观的方法，可方便地判断运放的好坏。为实现这一目的，设计电路中还应含有正弦信号产生电路，而且还需要设计毫伏表电路用以对被测运放输出信号的电压值进行测量。故该实验包括四部分：正弦波振荡电路，集成运放检测电路（即电压跟随器），毫伏表电路，直流稳压电源。电路的整体原理图如下图1： 2.单元电路设计（1）正弦波发生电路 RC 串并联选频网络如图2所示，电路中还有一负反馈电路，它由R1和R2组成，这样就由RC 串联支路，RC 并联支路，R1和R2支路分别构成了电桥的四个桥臂，因此该电路也被称为文氏电桥震荡电路。该电路具有选频特性，若在网络的两端加上正弦交流信号U ，则在网络中而可输出电压为U1,则该网络的传输系数U U1F =,根据RC 串并联阻抗的特点可得 jwC 1R// jwC 1R jwC 1R// F ++= = )wRC 1 -wRC j 31 （+ 当RC 1w =时F=31为最大值。 RC 选频网络的特点是适用于低频信号，一般用于频率从固定而且稳定性要求不高的电路里。集成运放检测电路直流稳压电源

数字逻辑信号测试器的设计

2012~ 2013 学年第二学期《模拟电子技术基础》课程设计报告题目：数字逻辑信号测试器的设计专业：电子信息工程班级：组成员：指导教师：电气工程学院 2013年6月5 日

任务书课题名称数字逻辑信号测试器的设计指导教师（职称）倪琳执行时间2012 — 2013 学年第二学期第 15 周学生姓名学号承担任务音响信号产生电路音响信号产生电路音响信号产生电路输入信号识别电路输入信号识别电路输入信号识别电路及仿真音响驱动电路及仿真音响驱动电路及仿真音响驱动电路及仿真设计目的1、学习数字逻辑电平测试仪电路的设计方法； 2、研究数字逻辑电平测试仪电路的设计方案。设计要求 1、技术指标：测试高电平、低电平，发出不同的声响。测量范围：低电平＜0.8V, 高电平＞3.5V ，高低电平分别用1KHZ和800HZ的声响表示；被测信号在0.8～3.5v之间不发声；工作电源为5V ,输入阻抗大于20KΩ。 2、设计基本要求（1）设计一个数字逻辑电平测试仪电路；（2）拟定设计步骤；（3）根据设计要求和技术指标设计好电路，选好元件及参数；（4）运用仿真软件绘制设计电路图；（5）撰写设计报告。

数字逻辑电平测试仪设计摘要在检修数字集成电路组成的设备时，经常需要使用万用表和示波器对电路中的故障部位的高低电平进行测量，以便分析故障的原因。使用这些仪器能较准确的测出被测点信号的电平的高低和被测电平的周期，但是使用者必须一方面用眼睛看着万用表的表盘或示波器的屏幕，另一方面还要寻找测试点，因此使用起来很不方便。本文介绍了一个逻辑信号电平测试器，它可以方便快捷的测量某一点的电位的高低，通过声音的有无和声音的频率来判定被测电位的电平范围，从而能解决平常对电路中某点的逻辑电平进行测试其高低电平时，采用很不方便的万用表或示波器等仪器仪表的麻烦。该测试器采用运算放大器作电压比较器进行电平判断，根据电平高低使音响电路产生不同频率方波驱动扬声器，使扬声器有相应不同的声调输出提示。从而达到了测试效果。关键词放大器；逻辑信号；电平测试；高电平；低电平

一种集成电路产品测试系统的设计与实现

一种集成电路产品测试系统的设计与实现曹维国1，邓中亮1，王峥2 1北京邮电大学电子工程学院，北京 (100876) 2凤凰微电子（中国）有限公司，北京 (100084) E-mail：Weiguo.cao@https://www.wendangku.net/doc/9b18570163.html, 摘要：本文回顾了数字集成电路的测试技术；分析了该项技术在对SIM形式封装的数字集成电路测试中的缺陷和不足；针对目前的测试系统的单一和性能价格比例偏低的情况提出了一种新型的综合测试系统，详细介绍了该系统的工作原理及组成，讨论了该系统的软硬件设计方案，总结了其优点。关键词：用户识别模块，集成电路，测试系统，精密测量单元 1.引言数字集成电路测试的目的在于检测集成电路的故障并对检测到的故障进行定位、生成测试报告并对故障进行分类汇总以用于缺陷分析。从测试技术上分可分为测试生成技术、响应鉴别技术、测试仪技术和易测设计技术等。从测试方法上分可分为人工测试和穷举测试法、ATPG (自动测试图形生成)、DFT (Design For Test，可测性设计)、 BST (边界扫描测试)和BIST (Build In Self Test，内建自测试)[1]等。从阶段可分为设计阶段测试、生产阶段测试和产品测试[2]。测试技术和测试方法具有通用性和共用性，而阶段性测试则跟被测对象的不同会衍生不同的测试系统尤其是在产品测试阶段[3]。设计阶段测试可借助强大的EDA（Electronic Design Automation，电子设计自动化）工具，生产阶段的测试由集成电路制造商完整的制造体系来保证，但是封装后的数字集成电路的外形各种各样，管脚有多有少，尤其是对SIM （Subscriber Identity Module，用户识别模块）形式封装的数字集成电路的产品外部只有8个管脚可以利用，从而造成了该类产品测试阶段通用性和专用性的矛盾。目前针对SIM封装形式的数字集成电路进行产品测试的系统十分稀缺且都具有共同的不足： 1)没有补偿电路，无法进行回零测试； 2)只能进行电气性能的开短路和漏电流测试，无法进行加压测流和加流测压； 3)只能进行电气性能的测试，无法完成逻辑功能的测试； 4)价格比较高。结合SIM封装形式的数字集成电路产品测试系统的要求和企业产品的具体应用进行设计开发了一套专用测试系统，实现对SIM封装形式的数字集成电路的逻辑功能测试和电气性能测试，并对测试的结果进行汇总分析形成报告以用于缺陷分析。 2.系统介绍本测试系统由控制计算机﹑测试电路和测试适配器三部分组成.适用于SIM封装形式下的集成电路的开短路测试﹑工作电流测试﹑输入管脚漏电流测试﹑输出电平测试和基本逻辑功能测试。并且具备16个芯片的并行测试能力。系统框架图如图1所示：

数字集成电路测试仪YBD868

数字集成电路测试仪(YBD-868)} YBD868型数字集成电路测试仪是一种性能较高的通用仪器,测试脚数最大为双列直插式40脚，可测范围复盖了大多数的数字集成电路，测试准确可靠，操作简便，基本功能如下: ———* 器件好坏测试—————* 器件型号判别 ———* 器件动态老化————- * 器件代换查询三．技术指标 1．操作系统：十六位轻触式立体键盘双音提示系统,被测器件安装采用锁紧插座。 2．显示系统：六位数码管显示器显示被测器件型号或各种功能提示，四只led显示仪器工作状态。 8. 外形尺寸：292*235*75立方厘米 9. 整机重量：2.0kg 四. 测试范围 ybd868型数字集成电路测试仪库存容量两千多片，包含以下各大系列: 1. ttl54系列 2. ttl55系列 3. ttl74系列 4. ttl75系列 5. cmos14系列 6. cmos40系列 7. cmos45系列

8. 光耦合器系列 9. led显示器系列 10. 常用ram系列 11. 常用单片机系列 12. 微机外围电路系列五. 功能综述 1. 器件好坏判别: 当未知被测器件的好坏时，只要输入该器件的型号,并将器件放于对应的工作插座上，可判别出该仪器件的好坏。 2. 器件型号判别: 当未知被测器件的型号时，只需输入该器件的引脚数目，并将被测器件放于对应的工作插座上仪器即可立即判别出该器件的型号。 3. 器件代换查询: 输入欲查询的器件型号，按下“代换查询“键就可知道是否有逻辑功能与之完全相同的其它器件。 4. 器件动态老化: 当怀疑被测器件的动态稳定性时，只要输入该器件的型号，并将被测器件放于对应的插座上，按下“动态老化“键,仪器就可对该器件进行动态老化和连续测试。

ZD9610型在线电路维修测试仪发展历程

第三代ZD9610型在线电路维修测试仪的发展历程 ——中国改革开放40年精密电路板维修检测设备领域发展缩影摘要：第三代ZD9610型在线电路维修测试仪是精密电路板维修（芯片级）检测设备，在关键技术上取得重大突破，许多被长期困扰的维修测试难题得到解决。第三代ZD9610电路测试仪的发展历程，是中国改革开放40年精密电路板维修检测设备领域发展的一个缩影。关键词：第三代ZD9610电路测试仪 >40管脚数字器件动态性能测试 5cVI曲线 0.前言北京正达时代电子技术有限公司成立于1997年，核心人员是1990年代初期国内最早研制在线电路维修测试仪的专家骨干，长期致力于精密电路板维修仪器/电子元器件检测设备研发和服务。特别是第三代ZD9610型在线电路维修测试仪，在国内外业界具有重要影响力。回顾中国改革开放40年，在经济腾飞浪潮中，国内在线电路维修测试仪经历了1998~2018高速发展的黄金20年。第三代ZD9610电路测试仪的发展历程，正是中国改革开放40年精密电路板维修检测设备领域发展的一个缩影。 1.国内在线电路维修测试仪黄金20年在线电路维修测试仪设计精密，测试高效，结合计算机技术并且综合运用器件功能测试和器件管脚阻抗特性测试等测试手段，是重要的精密电路板维修（芯片级）检测设备。 1.1国内电路测试仪研制背景： 1980年代初，伴随改革开放步伐，国内陆续引进了大量现代化电气设备。由于这些设备上普遍采用数字集成电路器件，因而常被冠以“数控设备”这一时髦的名称。当时国内电路维修人员对数字器件概念模糊，器件故障无从判别，迫切需要检测手段。 1980年代末，新加坡“创能”品牌BW4040型在线电路维修测试仪（下文简称：电路测试仪）进入国内。名称中“在线”是指：测试电路板时无须焊下器件。型号中“4040”是指：具有40路数字通道，40路VI曲线通道。电路测试仪将测试技术与计算机技术相结合，具有+5V 数字器件库。既可以测试+5V数字器件功能，也可以采用VI曲线测试数字器件/模拟器件管脚阻抗特性。面对电路测试仪在电路板维修中的巨大优势，国内企业也积极开始研究与试制，不断推出一代又一代电路测试仪产品。 1.2第一代电路测试仪：国内第一代电路测试仪是从对BW4040电路测试仪的学习和仿制开始的，代表机型是正达ZD4040电路测试仪。主要特点：40路数字通道，40路VI曲线通道，器件库包含40管脚以下+5V数字器件。具有40路数字通道，提供+5V测试电源是第一代电路测试仪的基本特征。由于增加VI曲线通道难度不大，所以ZD4080电路测试仪（80路VI曲线通道）也属于第一代电路测试仪。第一代电路测试仪始于1990年代初，那时的计算机还是DOS操作系统。随着计算机技术的飞速发展，第一代ZD4040电路测试仪也同步改进和升级。今天的ZD4040-N电路测试仪可以支持windows10_64位操作系统，在维修中依然发挥着重要作用。 1.3第二代电路测试仪：国内第二代电路测试仪开始摆脱全面仿制阶段，推出一些自主创新的特色功能。代表机型是正达ZD9001电路测试仪。主要特点是：40路数字通道，80路VI曲线通道，20路模拟功能

集成电路测试原理及方法资料

H a r b i n I n s t i t u t e o f T e c h n o l o g y 集成电路测试原理及方法简介院系：电气工程及自动化学院姓名： XXXXXX 学号： XXXXXXXXX 指导教师： XXXXXX 设计时间： XXXXXXXXXX

摘要随着经济发展和技术的进步，集成电路产业取得了突飞猛进的发展。集成电路测试是集成电路产业链中的一个重要环节，是保证集成电路性能、质量的关键环节之一。集成电路基础设计是集成电路产业的一门支撑技术，而集成电路是实现集成电路测试必不可少的工具。本文首先介绍了集成电路自动测试系统的国内外研究现状，接着介绍了数字集成电路的测试技术，包括逻辑功能测试技术和直流参数测试技术。逻辑功能测试技术介绍了测试向量的格式化作为输入激励和对输出结果的采样，最后讨论了集成电路测试面临的技术难题。关键词：集成电路；研究现状；测试原理；测试方法

目录一、引言 (4) 二、集成电路测试重要性 (4) 三、集成电路测试分类 (5) 四、集成电路测试原理和方法 (6) 4.1.数字器件的逻辑功能测试 (6) 4.1.1测试周期及输入数据 (8) 4.1.2输出数据 (10) 4.2 集成电路生产测试的流程 (12) 五、集成电路自动测试面临的挑战 (13) 参考文献 (14)

一、引言随着经济的发展，人们生活质量的提高，生活中遍布着各类电子消费产品。电脑﹑手机和mp3播放器等电子产品和人们的生活息息相关，这些都为集成电路产业的发展带来了巨大的市场空间。2007年世界半导体营业额高达2.740亿美元，2008世界半导体产业营业额增至2.850亿美元，专家预测今后的几年随着消费的增长，对集成电路的需求必然强劲。因此，世界集成电路产业正在处于高速发展的阶段。集成电路产业是衡量一个国家综合实力的重要重要指标。而这个庞大的产业主要由集成电路的设计、芯片、封装和测试构成。在这个集成电路生产的整个过程中，集成电路测试是惟一一个贯穿集成电路生产和应用全过程的产业。如：集成电路设计原型的验证测试、晶圆片测试、封装成品测试，只有通过了全部测试合格的集成电路才可能作为合格产品出厂，测试是保证产品质量的重要环节。集成电路测试是伴随着集成电路的发展而发展的，它为集成电路的进步做出了巨大贡献。我国的集成电路自动测试系统起步较晚，虽有一定的发展，但与国外的同类产品相比技术水平上还有很大的差距，特别是在一些关键技术上难以实现突破。国内使用的高端大型自动测试系统，几乎是被国外产品垄断。市场上各种型号国产集成电路测试，中小规模占到80%。大规模集成电路测试系统由于稳定性、实用性、价格等因素导致没有实用化。大规模/超大规模集成电路测试系统主要依靠进口满足国内的科研、生产与应用测试，我国急需自主创新的大规模集成电路测试技术，因此，本文对集成电路测试技术进行了总结和分析。二、集成电路测试重要性随着集成电路应用领域扩大，大量用于各种整机系统中。在系统中集成电路往往作为关键器件使用，其质量和性能的好坏直接影响到了系统稳定性和可靠性。如何检测故障剔除次品是芯片生产厂商不得不面对的一个问题，良好的测试流程，可以使不良品在投放市场之前就已经被淘汰，这对于提高产品质量，建立生产销售的良性循环，树立企业的良好形象都是至关重要的。次品的损失成本可以在合格产品的售价里得到相应的补偿，所以应寻求的是质量和经济的相互制衡，以最小的成本满足用户的需要。作为一种电子产品，所有的芯片不可避免的出现各类故障，可能包括：1.固定型故障；2.跳变故障；3.时延故障；4.开路短路故障；5桥接故障，等等。测试的作用是检验芯片是否存在问题，测试工程师进行失效分析，提出修改建议，从工程角度来讲，测试包括了验证测试和生产测试两个主要的阶段。

集成运放参数测试仪[2005年电子大赛一等奖

集成运放参数测试仪[2005年电子大赛一等奖] 摘要：本系统参照片上系统的设计架构、采用FPGA与SPCE061A相结合的方法，以SPCE061A单片机为进程控制和任务调度核心；FPGA做为外围扩展，内部自建系统总线，地址译码采用全译码方式。FPGA内部建有DDS控制器，单片机通过系统总线向规定的存储单元中送入正弦表；然后DDS控制器以设定的频率，自动循环扫描，生成高精度，高稳定的5Hz基准测量信号。扫频信号通过对30MHz的FPGA系统时钟进行分频和外部锁相环（FPGA采用FLEX10K10无内部锁相环）倍频，产生高频率稳定度、幅值稳定度的扫频信号。放大器参数测量参照GB3442-82标准，低频信号幅度的测量采取AD高速采样，然后进行数字处理的方法；高频信号的幅度直接采用集成有效值转换芯片测得。A/D 转换采用SPCE061A内部自带的10位AD。SPCE061A主要实现用户接口界面（键盘扫描、液晶显示、数据打印以及其他服务进程的调度）、AD转换以及测量参数（Vio Iio Kcmr Avd BWG Tr）计算、与上位机通信等方面的功能。上位机主要实现向下位机发送测量指令、与下位机交换测量数据、以及数据的存储、回放、统计。关键词：参数测量运算放大器 DDS FPGA SPCE061A 数字信号处理一、方案比较设计与论证（一）测量电路模块 1、测试信号源部分方案一：利用传统的模拟分立元件或单片压控函数发生器MAX038，可产生三角波、方波、正弦波，通过调整外围元件可以改变输出频率、幅度，但采用模拟器件由于元件分散性太大，即使用单片函数发生器，参数也与外部元件有关，外接电阻电容对参数影响很大，因而产生的频率稳定度较差、精度低、抗干扰能力差、成本也较高。方案二：采用锁相式频率合成方案。锁相式频率合成是将一个高稳定度和高精度的标准频率经过运算，产生同样稳定度和精确度的大量离散频率的技术，他在一定程度上满足了既要频率稳定精确，又要在大范围内变化的矛盾。但其波形幅度稳定度较差，在低频内波形不理想。方案三：采用DDS技术。DDS以Nyquist时域采样定理为基础，在时域内进行频率合成，其相位、幅度都可以实现程控，而且用FPGA来实现非常简单。在这里我们只需要一个5Hz的单一稳定频率，要求其频率，幅度稳定。综合考虑，我们采用方案三，实现了高精度，高稳定度的5Hz测试信号源。 2、主测试电路方案一：将测试放大器参数的实现分成4个电路检测。该方案实现各个参数的测量比较好，且有利于各个参数调试。但是对于要实现智能测试该方案较复杂，在电路中所用的继电器太多，很容易引起电磁干扰，不利于系统的整体性能提高，且不能实现电路的智能测试。方案二：采用一级运放。该电路经过仔细的分析会发现它设计的非常的巧妙调试也很方便，不会产生自激、饱和等情况。缺点就是对与精度较高的运算放大器该方案实现不了。方案三：采用试题中所给的电路。这是一个二级的电路，测试精度非常的高。但在调试中我们发现它很容易出现自激，为了使整个电路保持稳定，我们采取了一系列的稳定措施，如采用雕刻机雕刻线路，并实现大面积的接地，辅助运放加入补偿矫正网络等。综合上述，为了实现自动测量，保证测试有更高的精度，采用方案三。 3、信号放大电路方案一：采用普通的运算放大器放大电路。运算放大器放大电路成熟可靠，选用不同的运算放大器，能够对各种信号进行很好放大。但其放大值固定，不能动态调整，不便于处理大范围变化信号。方案二：采用程控可增益放大器。程控可增益放大器可用单片机方便的进行增益设定，十分有利于处理大动态范围信号。由于测量信号动态范围大，要有效的采样处理，就要求放大器增益可动态调整，由此我们选用方案二，采用可编程增益放大器AD625和数字电位器AD737组成程控增益放大器，实现对测量信号的有效放大。 4、滤波电路方案一：采用二阶切比雪夫低通滤波器或二阶巴特沃斯低通滤波器。切比雪夫滤波器的幅度响应在通带内是在两值之间波动，在通带内波动的次数取决于滤波器的阶数。理想的在靠近截止频率的范围内比巴特沃斯有更接近矩形的频率响应。但这一点是一在频带内允许波动为代价的。巴特沃斯低通滤波器幅频响应是单调下降的，其N阶低通滤波器的前（2N-1）阶导数在频率为零处始终为零，故又称为最大平坦幅度滤波器。方案二：采用数字滤波。数字滤波有极大的灵活性，可以在不增加任何硬件成本的基础上对信号进行有效的滤波，而且可以实现模拟器件难以实现的高阶滤波。但要进行高效率的滤波，对AD采样要求有较高的采样速率和时实性，对单片机要求有较高的数据运算速度。方案三：采用模拟滤波器加数字滤波。先用模拟滤波器对信号进行简单的滤波处理，然后AD采样，进行数字滤波。这样既可以更加有效的对信号进行滤波，使有效信号更为纯净，便于后级数据处理，又降低了对ADC及单片机的要求，使得利用SPCE061A可以较轻松的实现在本题中，测量输出有效信号同样为5Hz，但伴有大量的高频及较严重的50Hz工频干扰，为了保持通带内有效信号的平坦性及纯净，我们选用方案三，模拟用二阶巴特沃斯低通滤波器，数字滤波采用有限冲击响应法设置了低通滤波器及50Hz陷波器。（二）信号采集模块方案一：用AD736 RMS真有效值转换芯片，AD736的响应频率在0~10KHZ，采用该器件只需将被测的信号加到它的输入端上，就可以得到它的有效值，无需软件处理，测试非常的方便。但是我们在调试中现在AD736 在响应低频的时候不是很稳定，这样对整个系统会带来不稳定。因此我们没有选用这个方案。方案二：采用A/D转换，将模拟信号数字化，然后进行数据处理。凌阳16位单片机内置有8路10位的A/D，运用起来非常的方便。无需外围的电路，转换精度也比较高，因此我们采用了方案二。（三）用户接口模块

(完整版)电子测量仪器的分类及应用

电子测量仪器的分类及应用电子测量仪器按其工作原理与用途,大致划为以下几类。 1.多用电表模拟式电压表、模拟多用表(即指针式万用表VOM)、数字电压表、数字多用表(即数字万用表DMM)都属此类。这是经常使用仪表。它可以用来测量交流/直流电压、交流/直流电流、电阻阻值、电容器容量、电感量、音频电平、频率、晶体管NPN或PNP电流放大倍数β值等。 2.示波器示波器是一种测量电压波形的电子仪器,它可以把被测电压信号随时间变化的规律,用图形显示出来。使用示波器不仅可以直观而形象地观察被测物理量的变化全貌,而且可以通过它显示的波形,测量电压和电流,进行频率和相位的比较,以及描绘特性曲线等。 3.信号发生器信号发生器(包括函数发生器)为检修、调试电子设备和仪器时提供信号源。它是一种能够产生一定波形、频率和幅度的振荡器。例如:产生正弦波、方波、三角波、斜波和矩形脉冲波等。 4.晶体管特性图示仪晶体管特性图示仪是一种专用示波器,它能直接观察各种晶体管特性曲线及曲性簇。例如:晶体管共射、共基和共集三种接法的输入、输出特性及反馈特性;二极管的正向、反向特性;稳压管的稳压或齐纳特性;它可以测量晶体管的击穿电压、饱和电流、自或a参数等。 5.兆欧表兆欧表(俗称摇表)是一种检查电气设备、测量高电阻的简便直读式仪表,通常用来测量电路、电机绕组、电缆等绝缘电阻。兆欧表大多采用手摇发电机供电,故称摇表。由于它的刻度是以兆欧(MΩ)为单位,故称兆欧表。 6.红外测试仪红外测试仪是一种非接触式测温仪器,它包括光学系统、电子线路,在将信息进行调制、线性化处理后达到指示、显示及控制的目的。目前已应用的红外测温仪有光子测温和热测温仪两种,主要用于电热炉、农作物、铁路钢轨、深埋地下超高压电缆接头、消防、气体分析、激光接收等温度测量及控制场合。 7.集成电路测试仪该类仪器可对TI1、PM0S、CM0S数字集成电路功能和参数测试,还可判断抹去字的芯片型号及对集成电路在线功能测试、在线状态测试。

集成电路芯片测试仪(A题)——【全国大学生电子设计大赛】

集成电路芯片测试仪（A题）一、任务设计制作一个集成电路芯片测试仪，能对常用的74系列逻辑芯片进行逻辑功能测试，以确定芯片的好坏和型号。二、要求 1.基本要求（1）通过键盘输入型号，可以对74系列的 00/02/04/08/10/11/20/21/27/30十种组合逻辑芯片进行逻辑功能测试，确定其功能正确性；（2）通过键盘输入管腿特性，可以确定上述74系列的组合逻辑芯片的型号；（3）显示上述芯片的逻辑符号和逻辑表达式。 2.发挥部分将上述三项基本要求扩展到74系列时序电路：74/109/160/245等。（1）通过键盘输入型号，可以对74系列的74/109/160/245等芯片进行逻辑功能测试，确定其功能正确性；（2）通过键盘输入管腿特性，可以确定上述74系列时序逻辑芯片的型号；（3）显示上述芯片的逻辑符号和状态转换图；（4）其它特色与创新。 1

三、评分标准四、说明要求用单片机或DSP模块做成一个相对独立的整体，不能用PC机实现。 2

LED显示棒（B题）一、任务设计制作一个依靠摇动能显示字符、图形的LED显示棒。二、要求 1.基本要求（1）设计一个基于LED的显示棒，LED灯必须线状排列，至少使用16只。（2）摇动时形成的亮灯扇形区域能够让人分辨出“A”字符。（3）摇动时形成的亮灯扇形区域能够让人分辨出“电”字。（4）摇动时形成的亮灯扇形区域能够让人分辨出国际奥委会五环图形。（5）用按键实现显示切换，用电池供电。 2.发挥部分（1）摇动时形成的亮灯扇形区域能够让人分辨出英文单词“Welcome”。（2）摇动时形成的亮灯扇形区域能够让人分辨出汉字词组“美亚”。（3）摇动时形成的亮灯扇形区域能够让人分辨出北京奥运会会徽图形。（4）其它特色与创新。三、评分标准 3

电子测量仪器校准的原理分类

电子测量仪器校准的原理分类 1.多用电表模拟式电压表、模拟多用表（即指针式万用表VOM）、数字电压表、数字多用表（即数字万用表DMM）都属此类。这是经常使用仪表。它可以用来测量交流/直流电压、交流/直流电流、电阻阻值、电容器容量、电感量、音频电平、频率、晶体管NPN或PNP电流放大倍数β值等。 2.示波器示波器是一种测量电压波形的电子仪器，它可以把被测电压信号随时间变化的规律，用图形显示出来。使用示波器不仅可以直观而形象地观察被测物理量的变化全貌，而且可以通过它显示的波形，测量电压和电流，进行频率和相位的比较，以及描绘特性曲线等。 3.信号发生器信号发生器（包括函数发生器）为检修、调试电子设备和仪器时提供信号源。它是一种能够产生一定波形、频率和幅度的振荡器。例如：产生正弦波、方波、三角波、斜波和矩形脉冲波等。 4.晶体管特性图示仪晶体管特性图示仪是一种专用示波器，它能直接观察各种晶体管特性曲线及曲性簇。例如：晶体管共射、共基和共集三种接法的输入、输出特性及反馈特性；二极管的正向、反向特性；稳压管的稳压或齐纳特性；它可以测量晶体管的击穿电压、饱和电流、β或α参数等。 5.兆欧表兆欧表（俗称摇表）是一种检查电气设备、测量高电阻的简便直读式仪表，通常用来测量电路、电机绕组、电缆等绝缘电阻。兆欧表大多采用手摇发电机供电，故称摇表。由于它的刻度是以兆欧（MΩ）为单位，故称兆欧表。 6.红外测试仪红外测试仪是一种非接触式测温仪器，它包括光学系统、电子线路，在将信息进行调制、线性化处理后达到指示、显示及控制的目的。目前已应用的红外测温仪有光子测温和热测温仪两种，主要用于电热炉、农作物、铁路钢轨、深埋地下超高压电缆接头、消防、气体分析、激光接收等温度测量及控制场合。 7.集成电路测试仪该类仪器可对TTL、PMOS、CMOS数字集成电路功能和参数测试，还可判断抹去字的芯片型号及对集成电路在线功能测试、在线状态测试。 8.LCR参数测试仪电感、电容、电阻参数测量仪，不仅能自动判断元件性质，而且能将符号图形显示出来，并显示出其值。其还能测量Q、D、Z、Lp、Ls、Cp、Cs、Kp、Ks等参数，且显示出等效电路图形。 9.频谱分析仪频谱分析仪在频域信号分析、测试、研究、维修中有着广泛的应用。它能同时测量信号的幅度及频率，测试比较多路信号及分析信号的组成。还可测试手机逻辑和射频电路的信号。例如：逻辑电路的控制信号、基带信号，射频电路的本振信号、中频信号、发射信号等。

集成运算放大器简易测试仪

集成运算放大器简易测试仪集团公司文件内部编码：（TTT-UUTT-MMYB-URTTY-ITTLTY-

（1）正弦波发生电路 RC 串并联选频网络如图2所示，电路中还有一负反馈电路，它由R1和R2组成，这样就由RC 串联支路，RC 并联支路，R1和R2支路分别构成了电桥的四个桥臂，因此该电路也被称为文氏电桥震荡电路。该电路具有选频特性，若在网络的两端加上正弦交流信号U ，则在网络中而可输出电压为U1,则该网络的传输系数U U1F =,根据RC 串并联阻抗的特点可得 jwC 1R//jwC 1R jwC 1R// F ++==)wRC 1-wRC j 31（+ 当RC 1w =时F=31为最大值。RC 选频网络的特点是适用于低频信号，一般用于频率从固定而且稳定性要求不高的电路里。图2 （2）集成运放检测电路本实验采用电压跟随电路，将集成运放接成电压跟随器，如下图3.根据示波器的信号比较，判断集成运放的好坏。图3 （3）直流稳压电源 1）整流电路完成整流任务。将交流电变成直流电，主要靠二极管的单向导电性，因此二极管是构成整流电路的基本元件。 2）滤波电路滤波电路主要用于滤去整流输出电压中的波形，中心原件为电容，电容愈大，负载电阻愈大，时间常数τ=RC 越大，滤波后输出电压越平滑，其平均值就越大。 3）稳压电路

数字电容测量仪-课程设计

电气与自动化工程学院课程设计评分表课程设计题目：班级：学号：姓名：指导老师：年月日

课程设计答辩记录学院专业班级答辩人课程设计题目说明：主要记录答辩时所提的问题及答辩人对所提问题的回答

常熟理工学院电气与自动化工程学院课程设计说明书课程名称：电子技术课程设计设计题目：电容测量仪_____________ 班级：ZB62161 姓名：吴彬学号：ZB6216123 指导老师：施健设计时间：2017-1-11

目录一．设计目的 (1) 二．设计思路 (1) 三．设计框图 (1) （1）设计过程 (1) （2）多谐振荡器的设计 (2) （3）单稳态触发器电路的设计 (2) （4）计数电路的设计 (3) 四．整体电路设计 (4) 五．系统调试 (5) 六．仿真结果 (5) 七．设计心得 (6) 八．参考文献 (7)

数字电容测量仪的设计一．设计目的（1）了解常用数字集成电路的使用。（2）了解电容测量仪的工作原理。（3）掌握利用数字式集成电路设计电容测量仪的原理和Multisim调试的方法。二．设计思路本设计中用555振荡器产生一定周期的矩形脉冲作为计数器的CP脉冲也就是标准频率。同时把待测电容C转换成宽度为tw的矩形脉冲，转换的原理是单稳态触发器的输出脉宽tw与电容C成正比。把此脉冲作为闸门时间和标准频率脉冲相“与”，得到计数脉冲，该计数脉冲送计数—译码显示系统就可以得到电容量的数据。外部旋钮控制量程的选择。用计数器控制电路控制总量程。三．设计框图图1 数字电容测量仪原理图四．设计过程（1）多谐振荡器电路的设计振荡器是数字电容测量仪的核心，振荡器的稳定性以及其所产生的基准频率的稳定性决定了数字电容测量仪的精确度。在要求不高的情况下可以选用555构成的多谐振荡器如果图2所示。 555组成多谐振荡器的工作原理如下：

集成电路芯片测试仪的设计

摘要集成电路（IC）测试是伴随着电子技术的发展而来的，数字集成芯片在使用过程中容易被损坏，用肉眼不易观察。早期的人工测试方法对一些集成度高，逻辑复杂的数字集成电路显得难于入手，因而逐渐被自动测试所取代，因此很需要设计一种能够方便测试常用芯片好坏的仪器。本系统以单片机AT89C52为核心,由芯片测试插座、独立按键、74HC573驱动8位数码管显示、5V直流电源控制模块等组成。根据数字集成芯片的引脚特性以及集成芯片的真值表编写测试程序。该系统能完成14脚以内常用TTL74、54系列数字集成芯片的功能测试。关键字：测试仪；数字集成电路；单片机

ABSTRACT Integrated circuit (IC) test is accompanied with the development of electronic technology, Digital integrated chip is easily damaged during use, and difficult to observe with the naked eye. Early manual test methods for some high integration, the logic of complex digital integrated circuits become difficult，thus gradually replaced by automated testing, so it is necessary to design a testing instrument to distinguish the Common chips is good or bad conveniently. The system is with AT89C52 microcontroller at the core, including the chip test socket，the independent button, 74HC573drives an 8-bit digital display, 5V DC power supply control module and other components, etc. According to the characteristics of digital IC pins and the truth table write integrated chip test program. The system can be completed within 14 feet common TTL74, 54 series digital integrated chip functional test. Keywords: tester; digital integrated circuit; microprocessor control unit