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实验一 立式光学计测量塞规实验报告

实验一   立式光学计测量塞规实验报告

实验一 立式光学计测量塞规实验报告

仪器名称及规格:

仪器名称______________ 分度值______________

仪器刻尺范围______________ 仪器测量范围______________ 块规尺寸______________

被测工件:

塞规的基本尺寸、精度______________

通规最大极限尺寸______________ 通规最小极限尺寸______________ 止规最大极限尺寸______________ 止规最小极限尺寸______________

思考题:

1、用立式光学计测量塞规属于什么测量方法?

2、工作台和测杆不垂直对测量有何影响?

3、仪器的测量范围和刻度尺的示值范围有何不同? 测得偏差(μm )

塞规实际尺寸(㎜) 通规

方向

截面

1-1 2-2 3-3 1-1 2-2 3-3 Ⅰ-Ⅰ

Ⅱ-Ⅱ

止规 Ⅰ-Ⅰ Ⅱ-Ⅱ 测量结果:

各种测量方法

各种测量方法 各种测量方法 一、轴径 在单件小批生产中,中低精度轴径的实际尺寸通常用卡尺、千分尺、专用量表等普通计量器具进行检测;在大批量生产中,多用光滑极限量规判断轴的实际尺寸和形状误差是否合格;;高精度的轴径常用机械式测微仪、电动式测微仪或光学仪器进行比较测量,用立式光学计测量轴径是最常用的测量方法。 、孔径单件小批生产通常用卡尺、内径千分尺、内径规、内径摇表、内测卡规等普通量具、通用量仪;大批量生产多用光滑极限量规;高精度深孔和精密孔等的测量常用内径百分表(千分表)或卧式测长仪(也叫万能测长仪)测量,用小孔内视镜、反射内视镜等检测小孔径,用电子深度卡尺测量细孔(细孔专用)。

三、长度、厚度长度尺寸一般用卡尺、千分尺、专用量表、测长仪、比测仪、高度仪、 气动量仪等;厚度尺寸一般用塞尺、间隙片结合卡尺、千分尺、高度 尺、量规;壁厚尺寸可使用超声波测厚仪或壁厚千分尺来检测管类、薄壁件 等的厚度,用膜厚计、涂层测厚计检测刀片或其他零件涂镀层的厚度;用偏 心检查器检测偏心距值,用半径规检测圆弧角半径值, 用螺距规检测螺距尺寸值,用孔距卡尺测量孔距尺寸。 四、表面粗糙度 借助放大镜、比较显微镜等用表面粗糙度比较样块直接进行比较;用 光切显微镜(又称为双管显微镜测量用车、铣、刨等加工方法完成的金属平 面或外圆表面;用干涉显微镜(如双光束干涉显微镜、多光束干涉显微镜) 测量表面粗糙度要求高的表面;用电动轮廓仪可直接显示Ra0.025?6.3卩m 的值;用某些塑性材料做成块状印模贴在大型笨重零件和难以用仪器直接测 量或样板比较的表面(如深孔、盲孔、凹槽、内螺纹等)零件表面上,将零 件表面轮廓印制印模上,然后对印模进行测量,得出粗糙度参数值(测得印 模的表面粗糙度参数值比零件实际参数值要小,因此糙度测量结果需要凭经 验进行修正);用 激光测微仪激光结合图谱法和激光光能法测量RaO.01?0.32卩m的 表面粗糙度。 五、角度 1.相对测量:用角度量块直接检测精度高的工件;用直角尺检验直角;用多

互换性实验指导书

互换性与测量技术实验指导书 测控技术教研室 机械与汽车工程学院

实验一尺寸误差测量 一、实验目的 1.了解立式光学计的测量原理。 2.熟悉用立式光学计测量外径的方法。 3.加深理解计量器具与测量方法的常用术语。 二、实验容 1.用立式光学计测量赛规。 2.根据测量结果,按国家标准GBl957—81《光滑极限量规》查出被测塞规的尺寸公差和形状公差,作出适用性结沦。 三、测量原理及计量器具说明 投影立式光学计用于长度测量,其测量方法属于接触测量,一般用相对测量法测量轴的尺寸。光学计比较仪是一种精密度较高、结构简单的常用光学仪器,除主要用于轴类零件的精密测量外,还用来检定5等(3、4级)量块。本仪器采用光学投影读数方法,它操作方便、工作效率较高。同时本仪器的投影屏采用腊屏新技术,并在其腊屏前设置一块读数放大镜,对提高刻线的成像质量及整个视场获得较匀称的主观亮度有一定的效果。 (一)仪器结构: 仪器结构如图1-1所示,投影光学计管是由上端壳体12及下端测量管17二部分组成的,上端壳体12装有隔热片、分线板、反射棱镜、投影物镜、直角棱镜、反射镜、投影屏及放大镜等光学零件,在壳体的右侧上装有调节零位的微动螺钉4,转动微动螺钉4可使分划板得到一个微小的移动而使投影屏上的刻线迅速对准零位。 测量管17插入仪器主体横臂7,其外径为φ28d,在测量管17装有准直物镜,平面反射镜及光学杠杆放大系统的测量杆,测帽9装在测量杆上,测量杆上下移动时,测量杆上端的钢珠顶起平面反射镜,致使平面反射镜座以杠杆板上的另二颗钢珠为摆动轴,而倾斜一个φ角,其平面反射镜与测量杆是由二个抗拉弹簧牵制,对测定量块或量规有一定的压力。 测量杆下端露在测量管17外,以备套上各种带有硬质合金头的测帽。测量杆的上下升降是借助于测帽提升器9的杠杆作用,立式提升器9上有一个滚花螺钉,可以调节其上升距离,达到方便地使被测工件推入测帽下端,并靠两个抗拉弹簧的拉力使测头与被测工件良好接触。 (二)仪器规格 Ⅰ投影光学计管的主要规格:

实验一 用立式光学计测量塞规

实验一用立式光学计测量塞规 一.实验目的 1.了解立式光学计的测量原理。 2.熟悉用立式光学计测量外径的方法。 3.加深理解计量器具与测量方法的常用术语。 二.实验内容 1.用立式光学计测量塞规。 2.根据测量结果,按国家标准GB1957——81《光滑极限量规》查出被测塞规的尺寸公差和形状公差,作出适用性结论。 三.测量原理及计量器具说明 立式光学计是一种精度较高而结构简单的常用光学量仪。用量块作为长度基准,按比较测量法来测量各种工件的外尺寸。 图1为立式光学计外形图。 图1 它由底座1、立柱5、支臂3、直角光管6和工作台11等几部分组成。光学计是利用光学杠杆放大原理进行测量的仪器,其光学系统如图2(b)所示。照明光线经反射镜1照射到刻度尺8上,再经直角棱镜2、物镜3,照射到反射镜4上。由于刻度尺8位于物镜3的焦平面上,故从刻度尺8上发出的光线经物镜3后成为平行光束。若反射镜4与物镜3之间相互平行,则反射光线折回到焦平面,刻度尺象7与刻度尺8对称。若被测尺寸变动使测杆推动反射镜4绕支点转动某一角度a(图2(a)),则反射光线相对于入射光线偏转2a角度,从而使刻度尺象7产生位移t(图2(c)),它代表被测尺寸的为动 量。物镜至刻度尺8之间的距离为物镜焦距f,设b为测杆中心至反射镜支点间的距离,s为测杆5移动的距离,则仪器的放大比K为:

α αbtg ftg s t K 2== 当a 很小时,tg2a=2a, tga=a, 因此:K= b f 2 光学计的目镜放大倍数为12,f=200mm,b=5mm, 故仪器 的总放大倍数n 为: n=12K= 5 200 212212 ?? =b f =960 由此说明,当测杆移动0.001mm 时,在目镜中可见到0.96mm 的位移量。 图2 四、测量步骤 1、测头的选择:测头有球形、平面形和刀口形三种,根据被测零件表面的几何形状来选择,使测 头与被测表面尽量满足点接触。所以,测量平面或圆柱表工作时,先用球形测头。测量球面工作时,选用平面形测头。测量小于10mm 的圆柱面工件时,选用刀口形测头。 2、按被测塞规的基本尺寸组合量块。 3、调整仪器零位 (1)参看图1,先好量块组后,将下测量面置于工作台11的中央,并使测头10对准上测量面中央。 (2)粗调节:松开支臂紧固螺钉4,转动调节螺母2,使支臂3缓慢下降,直到测头与量块,并能在视场中看到刻度尺象时,将螺钉4锁紧。 (3)细调节:松开紧固螺钉8,转动调节螺母2,使支臂3缓慢下降,直到测头与量块上测量面轻微接触,并能在视场中看到刻度尺象时,将螺钉4锁紧。 (4)细调节:松开紧固螺钉8,转动调节凸轮7,直至在目镜中观察到刻度尺象与μ指示接近为止(图3a )。然后拧紧螺钉8。

【实验报告】近代物理实验教程的实验报告

近代物理实验教程的实验报告 时间过得真快啊!我以为自己还有很多时间,只是当一个睁眼闭眼的瞬间,一个学期都快结束了,现在我们为一学期的大学物理实验就要画上一个圆满的句号了,本学期从第二周开设了近代物理实验课程,在三个多月的实验中我明白了近代物理实验是一门综合性和技术性很强的课程,回顾这一学期的学习,感觉十分的充实,通过亲自动手,使我进一步了解了物理实验的基本过程和基本方法,为我今后的学习和工作奠定了良好的实验基础。我们所做的实验基本上都是在物理学发展过程中起到决定性作用的著名实验,以及体现科学实验中不可缺少的现代实验技术的实验。它们是我受到了著名物理学家的物理思想和探索精神的熏陶,激发了我的探索和创新精神。同时近代物理实验也是一门包括物理、应用物理、材料科学、光电子科学与技术等系的重要专业技术基础物理实验课程也是我们物理系的专业必修课程。 我们本来每个人要做共八个实验,后来由于时间关系做了七个实验,我做的七个实验分别是:光纤通讯,光学多道与氢氘,法拉第效应,液晶物性,非线性电路与混沌,高温超导,塞满效应,下面我对每个实验及心得体会做些简单介绍: 一、光纤通讯:本实验主要是通过对光纤的一些特性的探究(包括对光纤耦合效率的测量,光纤数值孔径的测量以及对塑料光纤光纤损耗的测量与计算),了解光纤光学的基础知识。探究相位调制型温度传感器的干涉条纹随温度的变化的移动情况,模拟语电话光通信, 了解光纤语音通信的基本原理和系统构成。老师讲的也很清楚,本试验在操作上并不是很困难,很易于实现,易于成功。

二、光学多道与氢氘:本实验利用光学多道分析仪,从巴尔末公式出发研究氢氘光谱,了解其谱线特点,并学习光学多道仪的使用方法及基本的光谱学技术通过此次实验得出了氢原子和氘原子在巴尔末系下的光谱波长,并利用测得的波长值计算出了氢氘的里德伯常量,得到了氢氘光谱的各光谱项及巴耳末系跃迁能级图,计算得出了质子和电子的质量之比。个人觉得这个实验有点太智能化,建议锻炼操作的部分能有所加强。对于一些仪器的原理在实验中没有体现。如果有所体现会比较容易使学生深入理解。数据处理有些麻烦。不过这也正是好好提高自己的分析数据、处理数据能力的好时候、更是理论联系实际的桥梁。 三、法拉第效应:本实验中,我们首先对磁场进行了均匀性测定,进一步测量了磁场和励磁电流之间的关系,利用磁场和励磁电流之间的线性关系,用电流表征磁场的大小;再利用磁光调制器和示波器,采用倍频法找出ZF6、MR3-2样品在不同强度的旋光角θ和磁场强度B的关系,并计算费尔德常数;最后利用MR3样品和石英晶体区分自然旋光和磁致旋光,验证磁致旋光的非互易性。 四p液晶物性:本实验主要是通过对液晶盒的扭曲角,电光响应曲线和响应时间的测量,以及对液晶光栅的观察分析,了解液晶在外电场的作用下的变化,以及引起的液晶盒光学性质的变化,并掌握对液晶电光效应测量的方法。本实验中我们研究了液晶的基本物理性质 和电光效应等。发现液晶的双折射现象会对旋光角的大小产生的影响,在实验中通过测量液晶盒两面锚泊方向的差值,得到液晶盒扭曲角的大小为125度;测量了液晶的响应时间。观察液晶光栅的衍射现象,在“常黑模式”和“常白模式”下分别测量了液晶升压和降压过程的电光响应曲线,求得了阈值电压、饱

实验1 用立式光学计测量轴

仲恺农业工程学院实验报告 用立式光学计测量轴 张旺海机械132 学号201310824237 1.实验目的 1、立式光学计的工作原理及使用方法。 2、熟悉轴的直径及其形状误差的测量方法。 3、学会基本的测量误差处理方法。 2.设备与器材 立式光学计1台、被测轴和相同尺寸量块各1组。 3.实验原理与方案 立式光学计主要用于作长度比较测量。要先用量块将标尺和指针调到零位,被测尺寸对量块的偏差可从仪器标尺上读得。并可对某轴的固定部位进行多次重复测量,计算测量误差。 立式光学计主要组成见外形图1-3。由底座1、立柱2、支臂3、直角光管4和工作台11等几部分组成。 立式光学计的光学系统图1-4所示。光 线由进光反射镜6进入光学计管中,由通光 棱镜7将光线转折90度,照亮了分划板4 上的刻度尺9。刻度尺上有±100格的刻线, 此处刻线作为目标,位于物镜2的焦平面上。 由刻度尺9发出的光线经棱镜3后转折90 度,透过物镜2成为平行光线,射向平面反 射镜,平行光线被反射回来,重新透过物镜 2,再经棱镜3汇聚于分划板4的另一半上, 此处有一指示线8。当测量杆5上下移动时, 图1-3 立式光学计外形图

推动平面反射镜1产生摆动,于是刻度尺9的像相对于指示线产生了移动,移动量可通过目镜10进行读数。 4.实验步骤、方法与注意事项 根据被测零件表面的几何形状来选择测量头,使测量头与被测表面尽量满足点接触。测量头有:球形、平面和刀口形三种。测量平面或圆柱面零件时选用球形测头。测量球面零件时选用平面形测头。测量小圆柱面工件时选用刀口形测头。 4.1 按被测零件的基本尺寸组合量块和选择测量头。 4.2 仪器调零位:如图1-3,将组合好量块组的下测量面置于工作台11中央,并使测量头12对准上测量面中央。粗调:松开支臂紧固螺钉8,转动调节螺母7,使支臂3缓慢下降,直至到测量头与量块上测量面轻微接触,并在视场中看到刻度尺象,将螺钉8锁紧。细调:松开紧固螺钉10,转动调节轮9,直至在目镜中观察到刻度尺象与指示线接近为止,然后拧紧螺钉10。微调:转动刻度尺微调螺钉13见图1-4。使刻度尺的零线影象与指示线重合后,用手指压下测头提升杠杆5不少于三次,使零位稳定,调零结束。 4.3 将测头抬起取下量块,放入被测量件,按实验规定的部位测量,并将测量的结果填入实验报告中。 图1-4立式光学计光学系统图

各种测量方法

各种测量方法 一、轴径 在单件小批生产中,中低精度轴径的实际尺寸通常用卡尺、千分尺、专用量表等普通计量器具进行检测;在大批量生产中,多用光滑极限量规判断轴的实际尺寸和形状误差是否合格;;高精度的轴径常用机械式测微仪、电动式测微仪或光学仪器进行比较测量,用立式光学计测量轴径是最常用的测量方法。 二、孔径 单件小批生产通常用卡尺、内径千分尺、内径规、内径摇表、内测卡规等普通量具、通用量仪;大批量生产多用光滑极限量规;高精度深孔和精密孔等的测量常用内径百分表(千分表)或卧式测长仪(也叫万能测长仪)测量,用小孔内视镜、反射内视镜等检测小孔径,用电子深度卡尺测量细孔(细孔专用)。 三、长度、厚度 长度尺寸一般用卡尺、千分尺、专用量表、测长仪、比测仪、高度仪、气动量仪等;厚度尺寸一般用塞尺、间隙片结合卡尺、千分尺、高度尺、量规;壁厚尺寸可使用超声波测厚仪或壁厚千分尺来检测管类、薄壁件等的厚度,用膜厚计、涂层测厚计检测刀片或其他零件涂镀层的厚度;用偏心检查器检测偏心距值,用半径规检测圆弧角半径值,

用螺距规检测螺距尺寸值,用孔距卡尺测量孔距尺寸。 四、表面粗糙度 借助放大镜、比较显微镜等用表面粗糙度比较样块直接进行比较;用光切显微镜(又称为双管显微镜测量用车、铣、刨等加工方法完成的金属平面或外圆表面;用干涉显微镜(如双光束干涉显微镜、多光束干涉显微镜)测量表面粗糙度要求高的表面;用电动轮廓仪可直接显示Ra0.025~6.3μm 的值;用某些塑性材料做成块状印模贴在大型笨重零件和难以用仪器直接测量或样板比较的表面(如深孔、盲孔、凹槽、内螺纹等)零件表面上,将零件表面轮廓印制印模上,然后对印模进行测量,得出粗糙度参数值(测得印模的表面粗糙度参数值比零件实际参数值要小,因此糙度测量结果需要凭经验进行修正);用激光测微仪激光结合图谱法和激光光能法测量Ra0.01~0.32μm的表面粗糙度。 五、角度 1.相对测量:用角度量块直接检测精度高的工件;用直角尺检验直角;用多面棱体测量分度盘精密齿轮、涡轮等的分度误差。 2.直接测量:用角度仪、电子角度规测量角度量块、多面棱体、棱镜等具有反射面的工作角度;用光学分度头测量工件的圆周分度或;用样板、角尺、万能角度尺直接测量精度要求不高的角度零件。3.间接测量:常用的测量器具有正弦规、滚柱和钢球等,也可使用三坐标测量机。 4.小角度测量:测量器具有水平仪、自准直仪、激光小角度测量仪

实验一 用立式光学计测量塞规

实验一 用立式光学计测量塞规 一、实验目的 1. 了解立式光学计的测量原理。 2. 熟悉用立式光学计测量外径的方法。 3. 加深理解计量器具与测量方法的常用术语。 二、实验内容 1. 用立式光学计测量塞规。 2. 根据测量结果,按国家标准GB1957—81《光滑极限量规》查出被测塞规的尺寸公差和形状公差,作出适用性结论。 三、测量原理及计量器具说明 立式光学计是一种精度较高而结构简单的常用光学量仪。用量块作为长度基准,按比较测量法来测量各种工件的外尺寸。 图1为立时光学计的外形图。它由底座1、立柱5、支臂3、直角光管6和工作台11等几部分组成。光学计是利用光学杠杆放大原理进行测量的仪器,其光学系统如图2b 所示。照明光线经反射镜1照射到刻度尺8上,再经直角棱镜2、物镜3,照射到反射镜4上。由于刻度尺8位于物镜3的焦平面上,故从刻度尺8上发出的光线经物镜3后成为一平行光束,若反射镜4与物镜3之间相互平行,则反射光线折回到 焦平面,刻度尺象7与刻度尺8对称。若被测尺寸变动 使测杆5推动反射镜4饶支点转动某一角度α(图2a ), 则反射光线相对于入射光线偏转2α角度,从而使刻度 尺象7产生位移t (图2c ),它代表被测尺寸的变动量。 物镜至刻度尺8间的距离为物镜焦距f ,设b 为测杆中 心至反射镜支点间的距离,s 为测杆移动的距离,则仪 器的放大比K 为: α αbtg ftg s t K 2== 当α很小时,αα22≈tg ,αα≈tg ,因此: b f K 2= 图 1 光学计的目镜放大倍数为12,mm f 200=,mm b 5=,故仪器的总放大倍数n 为: 9605 20021221212=??===b f K n 由此说明,当测杆移动0.001mm 时,在目镜中可见到0.96mm 的位移量。 四、测量步骤 1. 测头的选择:测头有球形、平面形和刀口形三种,根据被测零件表面的几何形状来选择,使测头与被测表面尽量满足点接触。所以,测量平面或圆柱面工件时,选用球形测头。测量球面工件时,选用平面形测头。测量小于10mm 的圆柱面工件时,选用刀口形测头。

JDG-S1型数字显示式立式光学计

JDG-S1型数字显示式立式光学计 一. 仪器概述. JDG-S1型数字显示式立式光学计是一种精密测微仪。利用光栅传感器将被测工件尺寸变化转换成电信号,经处理后数字显示出测量结果。其技术参数为: 测量范围:≤180mm 示值范围:≤±0.1mm 显示分辨率:0.1um 测量力:(2±0.2)N 示值变动性:±0.1um 图1.JDG-S1型数字显示式立式光学计 二.仪器结构与原理 由光源1发出的光经聚光镜2照亮位于准直物镜焦面上的标尺光栅3,经立方棱镜6反射,并经过准直物镜7以平行光出射,投射至平面反射镜8上。由平面反射镜8反射的光束又重新进入准直物镜7、立方棱镜6,经立方棱镜6分光面透射,将光栅刻线成像在指示光栅5上,并在指示光栅5上形成光闸莫尔条纹。当测杆有微小位移时,光栅刻线的像将沿另一光栅表面移动,莫尔条纹光强产生周期性变化,光电元件4接受该光强变化,经过光电转换、前置放大、细分、辨相、可逆计数和数字显示等单元,最后在显示窗口上显示测量值。 1—光源 2—聚光镜 3—标尺光栅 4—光电传感器 5-指示光栅 6-立方棱镜 7-准直物镜 8-平面反射镜 9—测杆 光线流程图如2所示:

图2.仪器结构及光线流程图 三.主要模块及其原理介绍 (1).光栅 在该仪器中有一对光栅3-标尺光栅,5-指示光栅。他们和细分电路共同决定了仪器的分辨力。栅柵距d=0.025mm,当光电信号实现一个周期变化,柵距移动一个单位,而此时杆位移对应为S=d/k=0.025/31.25mm=0.8um。如果电路实现8倍细分对应的分辨力为0.8um/8=0.1um。 (2).光学杠杆 当测杆有微小位移时,光栅刻线的像将沿另一光栅表面移动,莫尔条纹光强产生周期性变化,光电元件4接受该光强变化。在这个过程中,光学杠杆实际上起着一个转换放大作用。 原理图如图3:

《互换性与技术测量》课程实验指导书1解析

互换性与技术测量 实验指导书 机械设计制造及其自动化教研室编 2011.09 目录

实验1 用立式光学计测量塞规 (2) 实验2用内径百分表测量内径 (4) 实验3 直线度误差的测量 (7) 实验4 平行度与垂直度误差的测量 (11) 实验5 表面粗糙度的测量 (14) 实验6 工具显微镜长度、角度测量 (18) 实验1 用立式光学计测量塞规 一、实验目的 1、了解立式光学计的测量原理;

2、熟悉立式光学计测量外径的方法; 3、加深理解计量器具与测量方法的常用术语。 二、实验内容 1、用立式光学计测量塞规; 2、由国家标准GB/T 1957—1981《光滑极限量规》查出被测塞规的尺寸公差和形状公差,与测量结果进行比较,判断其适用性。 三、计量器具及测量原理 立式光学计是一种精度较高而结构简单的常用光学测量仪。其所用长度基准为量块,按比较测量法测量各种工件的外尺寸。 图1为立式光学计外形图。它由底座1、立柱5、支臂3、直角光管6和工作台11等几部分组成。光学计是利用光学杠杆放大原理进行测量的仪器,其光学系统如图2b 所示。照明光线经反射镜l照射到刻度尺8上,再经直角棱镜2、物镜3,照射到反射镜4上。由于刻度尺8位于物镜3的焦平面上,故从刻度尺8上发出的光线经物镜3后成为平行光束。若反射镜4与物镜3之间相互平行,则反射光线折回到焦平面,刻度尺的像7与刻度尺8对称。若被测尺寸变动使测杆5推动反射镜4绕支点转动某一角度α(图2a),则反射光线相对于入射光线偏转2α角度,从而使刻度尺像7产生位移t(图2c),它代表被测尺寸的变动量。物镜至刻度尺8间的距离为物镜焦距f,设b为测杆中心至反射镜支点间的距离,s为测杆5移动的距离,则仪器的放大比K为 当a很小时,,因此 光学计的目镜放大倍数为12,f=200mm,b=5mm,故仪器的总放大倍数n为 由此说明,当测杆移动0.001mm时,在目镜中可见到0.96mm的位移量。

立式光学计

立式光学计 光学计有立式、卧式之分,两者所用的光学计管完全相同。卧式光学计除能测量外尺寸外,还能测量内尺寸 立式光学计分为刻线读数、数显两种,利用光学杠杆原理提高精度。 测量范围-100μm~+100μm,分度值为1μm,精度为±0.5μm。 立式光学计主要用于微差比较测量,是使工件与量块相比较测量它们之间的微差尺寸 它的原理之所在就在这个光管里,首先由下往上说,测帽、测杆、反光镜、物镜、棱镜、通光棱镜、标准尺。 反光镜有三个支点支撑,其中两个支点为固定点,另一个支点就是测杆。测杆的上下移动带着反光镜上下偏转,当杠杆往下走时,反光镜向下偏,这时目镜中的像越模糊;反之则越清晰。 当光源进入打到标准尺上将标准尺的像偷狗棱镜、物镜打到反光镜上,这时再由反光镜按原来的线路将标准尺的像反射到目镜中,进行观察。 (由光源1 聚光镜2滤光片3隔热玻璃5 仪器投影箱4 刻度尺6(刻度尺6

上的刻划面在准直物镜8的焦平面上、刻划轴线与整个照明系统的光轴偏离2.5mm)被照亮的刻度尺经棱镜7和准直物镜8 后成平行光射向反射镜9,由9反射后再经物镜成像在刻划面上光轴的另一侧(为了利用影屏观察,在棱镜7 的右边,设计成一个的反射面,它使刻度尺的自准直像转向,在投影物镜10的物平面上成像)再经投影物镜放大及棱镜11、反射镜12的反射,把刻度尺像成在影屏13上,影屏上刻着固定的指标线,观察放大镜14把整个影屏再放大,从而提高了观察效果。) 介绍一下用立式光学计检定4等量块的使用方法: 1.首先选取两块标称值之差不大于100μm 的4等量块,并用120#汽油进行清洗,放到立式光学计的工作台上。 2.将其中一块量块放到工作台中心,打开臂架制动螺钉,旋转臂架升降用螺母,将测帽对准量块的中心与其之间留下一点缝隙,然后观看目镜,继续调节臂架升降用螺母,直到有标准尺像出现,尽量调到零位,锁紧臂架制动螺钉,打拨叉。 3.打开微调臂架制动螺钉,旋转微调臂架升降用螺母,观察目镜,继续调零,然后锁紧微调臂架制动螺钉打拨叉,若与零位差的不多,则调节目镜上的分划板旋钮,然后继续打拨叉,反复几次,直到指针不动,指到零位。 4抬起拨叉,将量块取出,换上另一量块,观察目镜,不断打拨叉,知道指针不再移动,读数。与两量块标称值差值作比较。 测帽的选择: 根据工件的形状,应选择与工件接触面尽量小的工作台和测帽。

(影视摄影造型)实验报告

(影视摄影造型)实验报告

江西科技师范学院 实验报告 课程影视摄影造型 院系 班级 学号 姓名 报告规格 一、实验目的 二、实验原理 三、实验仪器四、实验方法及步骤 五、实验记录及数据处理 六、误差分析及问题讨论

目录 1. 数码摄像机的基本操作 2. 不同景别、构图拍摄 3. 摄像机的运动造型 4. 演播室使用 5. 虚拟性电视节目的拍摄——MV拍摄 6. 纪实类电视节目的拍摄——电视新闻拍摄 8. 9. 10. 11. 12. 13. 14. 15. 每次实验课必须带上此本子,以便教师检查预习情况和记录实验原始数据。 实验时必须遵守实验规则。用正确的理论指导实践袁必须人人亲自动手实验,但反对盲

成绩 目乱动,更不能无故损坏仪器设备。 这是一份重要的不可多得的自我学习资料。它将记录着你在大学生涯中的学习和学习成果。请你保留下来,若干年后再翻阅仍将感到十分新鲜,记忆犹新。它将推动你在人生奋斗的道路上永往直前! 实验一:数码摄像机的基本操作 一、实验课程名称 电视摄像 二、实验项目名称 数码摄像机的基本操作 三、实验目的和要求 了解摄像机原理、部件及其功能,掌握摄像机的使用方法、操作 方法和技巧。 能使用摄像机及其辅助设备。 四、实验内容和原理 内容: 一、摄像机的原理 二、机身主要部件和功能参数 三、摄像机镜头调节 四、摄像机的准备 五、摄像机操作要领及技巧 原理:不论是什么样的摄像机,其工作的基本原理都是一样的,即把光学图象信号转变为电信号。当我们拍摄一个物体时,此物体上反射的光被摄像机镜头收集,使其聚焦在摄像 指导老师何玲第4 页

用立式光学计测量轴的直径实验报告

实验用立式光学计测量轴的直径 一、实验目的 1.了解立式光学计的测量原理。 2.熟悉用立式光学计测量外径的方法。 3.加深理解计量器具与测量方法的常用术语。 4. 掌握零件的验收原则和验收方法。 二、实验设备 1.立式光学计 2.量块 三、实验原理及实验设备说明 1.立式光学计 立式光学计是一种精度较高而结构简单的常用光学机械式长度计量器具。用量块作为长度基准,按比较测量法来测量各种工件的外形尺寸。 型号为JD3的立式光学计基本技术参数如下: 测量范围:0-180mm;分度值:0.001mm;示值范围:±0.1mm;仪器最大不确定:0.00025 mm;测量最大不确定度:±(0.5+L/100)μm 图1-1为立式光学计外形结构图。 1.投影灯 2.投影灯固定螺钉 3.支柱 4.零位微动螺钉 5.立柱 6.支臂固定螺钉 7.支臂8微动偏心手轮 9立式测头提升器 10.工作台调整螺钉 11.工作台12.壳体 13.微动托圈 14.微动托圈固定螺钉 15.光管定位螺钉 16.测量管固定螺钉 17.直角光管 18.测帽 19.6V15W变压器 图1-1 立式光学计外形图 它主要是由带有特殊螺纹的立柱5、支臂7、直角光管17和工作台11等几部分组成。立式光学计是利用光学自准原理和机械的正切杠杆原理进行测量的仪器。其光学系统如图1-2a所示,由白炽灯泡1发出的光线经过聚光镜2和滤光片6,通过隔热片7照明分划板8的刻线面,再通过反射棱镜9后射向准直物镜12。由于分划板8的刻线面置于准直物镜12的焦平面上,所以成像光束通过准直物镜12后成为一束平行光入射于平面反射镜13上,根据自准直原理,分划板刻线的像被平面反光镜13反射后,再经准直物镜12被反射棱镜9反射成像在投影物镜4的物平面上,然后通过投影物镜4、直角棱镜3和反射镜5成像在投影屏

“迈克尔逊干涉仪”实验报告

“迈克尔逊干涉仪”实验报告 【引言】 迈克尔逊干涉仪是美国物理学家迈克尔逊(A.A.Michelson)发明的。1887年迈克尔逊和莫雷(Morley)否定了“以太”的存在,为爱因斯坦的狭义相对论提供了实验依据。迈克尔逊用镉红光波长作为干涉仪光源来测量标准米尺的长度,建立了以光波长为基准的绝对长度标准,即1m=1 553 164.13个镉红线的波长。在光谱学方面,迈克尔逊发现了氢光谱的精细结构以及水银和铊光谱的超精细结构,这一发现在现代原子理论中起了重大作用。迈克尔逊还用该干涉仪测量出太阳系以外星球的大小。 因创造精密的光学仪器,和用以进行光谱学和度量学的研究,并精密测出光速,迈克尔逊于1907年获得了诺贝尔物理学奖。 【实验目的】 (1)了解迈克尔逊干涉仪的原理和调整方法。 (2)测量光波的波长和钠双线波长差。 【实验仪器】 迈克尔逊干涉仪、He-Ne激光器、钠光灯、扩束镜 【实验原理】 1.迈克尔逊干涉仪结构原理 图1是迈克尔逊干涉仪光路图,点光源 S发出的光射在分光镜G1,G1右表面镀有半 透半反射膜,使入射光分成强度相等的两束。 反射光和透射光分别垂直入射到全反射镜M1 和M2,它们经反射后再回到G1的半透半反射 膜处,再分别经过透射和反射后,来到观察区 域E。如到达E处的两束光满足相干条件,可 发生干涉现象。 G2为补偿扳,它与G1为相同材料,有 相同的厚度,且平行安装,目的是要使参加干 涉的两光束经过玻璃板的次数相等,波阵面不会发生横向平移。 M1为可动全反射镜,背部有三个粗调螺丝。 M2为固定全反射镜,背部有三个粗调螺丝,侧面和下面有两个微调螺丝。 2.可动全反镜移动及读数 可动全反镜在导轨上可由粗动手轮和微动手轮的转动而前后移动。可动全反镜位置的读数为: ××.□□△△△ (mm) (1)××在mm刻度尺上读出。

虚拟仪器在物理实验中的应用 实验报告

实验二十九虚拟仪器在物理实验中的应用 物理学院130061311 二下六组3号 2015.4.9 一.实验目的 1.了解虚拟仪器的概念 2.了解图形化编程语言LabVIEW,学习简单的LabVIEW编程 3.完成伏安法测电阻的虚拟仪器设计 二.仪器用具 计算机(含操作系统),LabVIEW软件,数据采集卡,电阻箱(用作标准电阻),导线,开关,待测电阻,二极管。 三.实验原理 虚拟仪器的硬件系统由PC机和数据采集卡(DAQ卡)组成.数据采集卡(DAQ卡)包括多路开关、放大器、采样/保持器、习D转换器以及其他有关电路组成.这些部分共同配合完成对信号数据的采集、放大以及模/数转换任务。 本实验中利用接口卡的一个通道为整个测量电路供电,利用两个输人通道分别测量总电压和标准电阻上的电压;利用测量得到的电压数值和标准电阻数值就可以得到电路中的电流以及待测电阻上的电压.在程序控制下,电路电压由OV开始逐渐增加到5V,电压每改变一次测量获得一组电压电流值,最后得到一个数组,经过线性拟合后就可以得到待测电阻值。 测量原理如图: 四.实验内容 1.初步熟悉LabVIEW 整个软件分为前面板和程序框图两部分。 前面板可以加入开关,旋钮各种控件和各种显示元件;在前面板添加的元件相应的子端

和图标会出现在程序框图上,可以在程序框图进实验编辑,另外,在程序框图内还有可控选择的大量函数模块以及各种实现程序的功能,例如循环,数字运算,比较,以及各种公式等。 2.创建一个模拟温度测量程序 前面板:开关(用于控制显示摄氏度/华氏度),温度计,温度值 程序框图:放入Demo V oltage Read 子程序,设计用开关切换摄氏/华氏度的逻辑程序,使温度计和温度值按需显示。 3.用虚拟仪器测量伏安特性 1)编写程序 前面板: 放入一个用于设置设备号的控制数、一个设定标准电阻值的控制数、一个用于设定测量间隔的控制数和一个显示测量电阻值的显示数。放人三个控制字符串,将名字分别改成“供电电压通道”、“测量总电压通道”、“测量电流通道”.分别用于设置输出输人的通道。 放上一个Express XY Graph,将名字改成“电阻的伏安曲线图”,并将纵坐标和横坐标分别改成“电压(V)”和“电流(A); 加人一个二维数组,把名字改成“数据”,用于显示测量的电压和电流。放人一个开关,用于控制程序进程. 程序框图: 设计一个循环程序,让程序不断改变电压,每次改变0.25V测20组电流电压数据,每次改变之后都使程序等待1s后测量,测量20组后循环停止,并画出电阻的伏安特性曲线图,计算出电阻R(斜率)。 2)连接口卡和外部电路 3)运行程序,记录结果,保存并退出 五.思考题 1.虚拟仪器与传统仪器有什么区别 传统仪器:数据显示形式单一,数据处理功能比较简单,不容易按需改装,不能共享数

用立式光学计测量轴径实验报告

实验一用立式光学计测量轴径实验报告 仪器名称分度值 (μm) 示值范围 (mm) 测量范围 (mm) 器具的不确定 度(μm) 被测零件 名称 图样上给定的极限尺寸 (mm) 安全裕度 A (μm) 器具不确定度 的允许值 (μm) 最大最小 验收极限尺寸 (mm)基本尺寸 (mm) 最大最小 形位公差(μm) 素线直线度公差素线平行度公差 测 量 示 意 图 测量数据实际偏差 (μm)实际尺寸 (mm)测量位置Ⅰ—ⅠⅡ—ⅡⅢ—ⅢⅠ—ⅠⅡ—ⅡⅢ—Ⅲ 测量方向 A A' - B B' - A A-' B B-' 形位误差(μm) 素线直线度误差素线平行度误差合格性结论理由审阅

作图求直线度误差: 35 35 30 30 25 25 20 20 15 15 10 10 5 5 0 0 Ⅰ Ⅱ Ⅲ Ⅰ Ⅱ Ⅲ A A '- B B '- 35 35 30 30 25 25 20 20 15 15 10 10 5 5 0 0 Ⅰ Ⅱ Ⅲ Ⅰ Ⅱ Ⅲ A A -' B B -'

实验二用内径千分表测量孔径实验报告 仪器名称 分度值 (μm) 示值范围 (mm) 测量范围 (mm) 器具的不确定度 (μm) 被测零件名称 基本尺寸 (mm) 图样上给定的极限尺寸(mm) 器具不确定度的 允许值(μm) 最大最小 安全裕度 A (μm) 验收极限尺寸(mm) 最大最小 形位公差(μm) 圆度公差(μm) 测 量 示 意 图 测量数据实际偏差(μm) 实际尺寸(mm)测量位置Ⅰ—ⅠⅡ—ⅡⅢ—ⅢⅠ—ⅠⅡ—ⅡⅢ—Ⅲ 测量方向 A A' - B B' - 圆度误差f0=(μm) 合格性结论理由审阅

用立式光学计测量塞规

实验1—1 用立式光学计测量塞规 一. 实验目的 1. 了解立式光学计的测量原理。 2. 熟悉用立式光学计测量外径的方法。 3. 加深理解计量器具与测量方法的常用术语。 二. 实验内容 1. 用立式光学计测量塞规。 2. 根据测量结果,按国家标准GB1957——81《光滑极限量规》查出被测塞规的尺寸公差和形状公差,作出适用性结论。 三. 测量原理及计量器具说明 立式光学计是一种精度较高而结构简单的常用光学量仪。用量块作为长度基准,按比较测量法来测量各种工件的外尺寸。 图1为立式光学计外形图。 图1 它由底座1、立柱5、支臂3、直角光管6和工作台11等几部分组成。光学计是利用光学杠杆放大原理进行测量的仪器,其光学系统如图2(b )所示。照明光线经反射镜1照射到刻度尺8上,再经直角棱镜2、物镜3,照射到反射镜4上。由于刻度尺8位于物镜3的焦平面上,故从刻度尺8上发出的光线经物镜3后成为平行光束。若反射镜4与物镜3之间相互平行,则反射光线折回到焦平面,刻度尺象7与刻度尺8对称。若被测尺寸变动使测杆推动反射镜4绕支点转动某一角度a (图2(a )),则反射光线相对于入射光线偏转2a 角度,从而使刻度尺象7产生位移t (图2(c )),它代表被测尺寸的为动量。物镜至刻度尺8之间的距离为物镜焦距f ,设b 为测杆中心至反射镜支点间的距离,s 为测杆5移动的距离,则仪器的放大比K 为: α αbtg ftg s t K 2== 当a 很小时,tg2a=2a, tga=a,

因此:K= b f 2 光学计的目镜放大倍数为12,f=200mm,b=5mm, 故仪器 的总放大倍数n 为: n=12K= 5 200212212??=b f =960 由此说明,当测杆移动0.001mm 时,在目镜中可见到0.96mm 的位移量。 图2 四、测量步骤 1、测头的选择:测头有球形、平面形和刀口形三种,根据被测零件表面的几何形状来选择,使测头与被测表面尽量满足点接触。所以,测量平面或圆柱表工作时,先用球形测头。测量球面工作时,选用平面形测头。测量小于10mm 的圆柱面工件时,选用刀口形测头。 2、按被测塞规的基本尺寸组合量块。 3、调整仪器零位 (1)参看图1,先好量块组后,将下测量面置于工作台11的中央,并使测头10对准上测量面中央。 (2)粗调节:松开支臂紧固螺钉4,转动调节螺母2,使支臂3缓慢下降,直到测头与量块,并能在视场中看到刻度尺象时,将螺钉4锁紧。 (3)细调节:松开紧固螺钉8,转动调节螺母2,使支臂3缓慢下降,直到测头与量块上测量面轻微接触,并能在视场中看到刻度尺象时,将螺钉4锁紧。 (4)细调节:松开紧固螺钉8,转动调节凸轮7,直至在目镜中观察到刻度尺象与μ指示接近为止(图3a )。然后拧紧螺钉8。 (5)微调节:转动刻度尺微调螺钉6(图2b ),使刻度尺的零线影象与μ指示线重合(图3b ),然后压下测头提升杠杆9数次,使零位稳定。 (6)将测头抬起,取下量块。 4、测量塞规:按实验规定的部位(在三个横截面上的两个相互垂直的径向位置上)进行测量,把

立式光学计的测量不确定度分析

立式光学计的测量不确定度分析 减小字体增大字体作者:谢艳平许海燕来源:https://www.wendangku.net/doc/df3190623.html, 发布时间:2008-05-26 14:53:29 安徽省活塞厂谢艳平合肥工业大学许海燕 一、工作原理 立式光学计应用自准直原理和正切杠杆原理,将光学杠杆和正切杠杆机构结合在一起实现长度尺寸的测量。 二、测量装置的不确定度分析 在立式光学计上用标称值为6mm的四等量块作标准,对本厂专用标称尺寸为的活塞环槽塞规(工件工作部位材料为硬质合金)进行相对测量。测量温度为(20±0.5)℃。在立式光学计上作相对测量时,其标准不确定度主要来源于以下几方面。 1.示值误差的标准不确定度分量 由检定规程查得,立式光学计的示值误差为±0.25μm,在测量范围内误差的分布符合正态分布,覆盖因子k=3,其标准不确定度分量为 u1=0.25/3=0.083μm 2.标准量块极限误差的标准不确定度分量 四等量块的极限误差为 ΔL1=(0.2+2L)μm =(0.2+2×6×10-3)μm =0.0212μm 式中:L——量块的长度(L=6mm);ΔL1——量块的极限误差。 误差分布符合正态分布,覆盖因子k=3。 标准量块的标准不确定度分量为u2=0.212/3=0.071μm 3.定位误差的标准不确定度分量 在立式光学计上相对测量,由工作台工作平面定位,平面对测量轴线不垂直所产生的测量误差与被测件长度无直接关系,而仅决定于被测件和标准件的长度差。 δ位=±1/2a2ΔL2 式中:ΔL2——被测件与标准件的长度差(ΔL2=0.0344mm);a——工作台平面与仪器测量轴线的垂直度误差;δ位——定位误差。 对可调试工作台,影响工作台表面与测量轴线的不垂直的因素有以下三方面: (1)工作台的调整误差,用四等量块接触φ8平面测帽的一半时,在前、后、左、右四个位置允许示值差为0.3μm,相当于测帽平面与工作台平面的平行性误差,其值为

现代光学测试实验报告

现代光学测试技术实验报告 姓名:*** 学号:*** 专业:*** 班级:*** 课程名称:现代光学测试技术 指导教师:*** 完成日期:***

现代光学测试技术实验报告 一、实验目的 1、了解散斑的性质及特点 2、了解散斑干涉、剪切散斑干涉、DIC 、和条纹投影技术的具体应用 3、通过分析优劣更好地学习现代光学测试技术的相关内容 二、实验原理 ● 散斑 1、散斑的定义 当一束激光照射到物体的粗糙表面(例如铝板)时,在铝板前面的空间将布满无规律分布且明暗相间的颗粒状光斑,称为散斑。(如图1所示) 2、要形成散斑且质量较好必须具备的条件: (1)有能发生散射光的粗糙表面 (2)入射光线的相干度要足够高,如:激光 (3)如使用激光粗糙表面深度须大于入射光波长 3、散斑的分类 由粗糙表面的散射光干涉而直接形成的,称为直接散斑。(如图2所示) 经过一个光学系统,在它的像平面上形成的散斑,称为成像散斑,即主观散斑。(如图3所示) 图2 客观散斑原理图 图1 散斑图像

图3 主观散斑原理图 4、散斑的应用 散斑携带了散射面的丰富信息,可以通过散斑的性质来推测物体表面的性质,是实验应力分析方法的一种,用于测取物体的位移、应变。由于这种办法的无损、快速等诸多优点,它被广泛应用于工业控制的缺陷检测、医学的光活检等领域,且受到越来越多的关注。 ●三角法测量原理 图4 激光三角法测量原理图

如图所示,θsin z a a b M ??=???= z K z s i n M b ??=???=??θ 则K b z ?=?,其中θsin M K ?= 物体变形前和变形后的光强分布为: ()()()()x y x P x y x P f ,2,,2cos y x b y x a I f π π=?? ?????+=,, ()()()()()[]()()()[]y x z y x k -x ,2,y x z y x k -x ,2cos y x b y x a I c c ,,,,,,y x P y x P π π=???????+= ()() ()()() ()()y x K -y x z y x z y x K y x z y x P y x k 2-c f c f ,,,,,,,??= ∴=?= ??π ()y x K ,可以通过实验标定得到,由此,则可知物体的变形或位移 ● DIC 技术 图5 物体变形图像追踪 因为散斑分布是随机的,所以每一点和它周围的散斑是不一样的,我们在相关运算过程中,可以将变形前和变形后的散斑图像分割成很多网格,每一个网格就是一个相应的子集:这样,我们就可以以这个子集为载体,分析物体的相应的位移信息,将所有的子集进行计算,就可以得到相应的位移场: 在数字图像相关算法中,我们将变形前后的两幅散斑图分别设为F (x ,y )和G (x ,y ),劝、数字图像相关基本思想是在F (x ,y )中找到一个子区,通

现代光学设计实验报告格式基本要求汇总

现代光学设计实验报告格式基本要求汇总

湖南文理学院物电学院实验报告 班级:姓名:指导教师:汪胜辉成绩: 实验题目:实验一:单透镜的设计实验时间:实验地点:T2C302 设计任务: 设计一个焦距为80mm,相对孔径为1/4的单透镜系统,全视场2ω为8o,物距为无限远,在可见光下工作,自选一种玻璃,光阑设置在入射光线遇到的透镜的第一个光学表面。 设计过程: 第一步:输入系统参数——入瞳直径值 插入图 第二步:输入系统参数——视场 插入图 第三步:输入系统参数——波长范围 插入图 第四步:输入“透镜数据编辑”窗口的数据 插入图 第五步:查看外形轮廓图 插入图 第六步:打开“RAY”图形窗口查看像差情况 插入图 第七步:打开“FFT MTF”图形窗口查看像差情况 插入图 第八步:设定像质评价函数 插入图;绘制表 第九步:设定参与优化的变量 插入图 第十步:输出优化后的系统参数 插入表, 第十一步:输出优化后的二维轮廓图 插入图 第十二步:输出优化后的“FFT MTF”图。 插入图 设计心得: 100字以上。 打印后左侧装订两个钉子。 实验数据文件请保存在E:\现代光学CAD 文件夹下,文件名为学号+shiyan1

湖南文理学院物电学院实验报告 班级:姓名:指导教师:汪胜辉成绩: 实验题目:实验二:双胶合透镜的设计实验时间:实验地点:T2C302 设计任务: 设计一个焦距为100mm,相对孔径为1/5的双胶合透镜系统,全视场2ω为10o,物距为无限远,在可见光下工作,自选一种玻璃,光阑设置在入射光线遇到的透镜的第一个光学表面。 设计过程: 第一步:输入系统参数——入瞳直径值 插入图 第二步:输入系统参数——视场 插入图 第三步:输入系统参数——波长范围 插入图 第四步:输入“透镜数据编辑”窗口的数据 插入图 第五步:查看外形轮廓图 插入图 第六步:打开“RAY”图形窗口查看像差情况 插入图 第七步:打开“FFT MTF”图形窗口查看像差情况 插入图 第八步:设定像质评价函数 插入图;绘制表 第九步:设定参与优化的变量 插入图 第十步:输出优化后的系统参数 插入表, 第十一步:输出优化后的二维轮廓图 插入图 第十二步:输出优化后的“FFT MTF”图。 插入图 设计心得: 100字以上。 打印后左侧装订两个钉子。 实验数据文件请保存在E:\现代光学CAD 文件夹下,文件名为学号+shiyan2

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