电子迁移率

电子迁移率:固体物理学中用于描述金属或半导体内部电子，在电场作用下移动快慢程度的物理量。在半导体中，另一个类似的物理量称为空穴迁移率。人们常用载流子迁移率来指代半导体内部电子和空穴整体的运动快慢

迁移率是指载流子（电子和空穴）在单位电场作用下的平均漂移速度，即载流子在电场作用下运动速度的快慢的量度，运动得越快，迁移率越大；运动得慢，迁移率小。同一种半导体材料中，载流子类型不同，迁移率不同，一般是电子的迁移率高于空穴。如室温下，低掺杂硅材料中，电子的迁移率为1350cm^2/（VS），而空穴的迁移率仅为480cm^2/(VS)

一是载流子浓度一起决定半导体材料的电导率（电阻率的倒数）的大小。迁移率越大，电阻率越小，通过相同电流时，功耗越小，电流承载能力越大。由于电子的迁移率一般高于空穴的迁移率，因此，功率型MOSFET通常总是采用电子作为载流子的n沟道结构，而不采用空穴作为载流子的p沟道结构。

导通特性 :

NMOS的特性，Vgs大于一定的值就会导通，适合用于源极接地时的情况（低端驱动），只要栅极电压达到4V或10V就可以了。

PMOS的特性，Vgs小于一定的值就会导通，适合用于源极接VCC时的情况（高端驱动）

若一个CMOS反相器中的pFET和nFET尺寸相同，

若Wn/Ln=Wp/Lp, 则pFET和nFET电流大小取决于载流子迁移率Un/Up，一般情况下，Un〉Up，所以Tfall

在集成度不够高的情况下，由于电子与空穴迁移率的差别，具有相同驱动能力的PMOS的器件的面积可能是NMOS的2~3倍，器件的面积会影响到“导通”电阻、输入输出的电容。“导通”电阻、输入输出电容会影响电路的延迟时间。假设电路要求满足最小的驱动能力，PMOS器件面积是NMOS器件面积的2倍,

与非门:

延迟时间n输入的“与非门”的延迟时间为：4*N^2+N+1

当NMOS的输入电容是“1”时，PMOS的输入电容是“2”，那么输出电容就是输入电容的2倍。

Cin=N+2；Cout=4N^2+2N; T=4N^2+3N+2

或非门：

Cin=2N+1；Cout=8N^2-2N; T=8N^2+1

经过分析得出“与非”、“或非”电路的延迟时间不相同，

f=T(or)-T(and)=4*n^2-3*n-1，n>=2,对f求导，得到：8*n-3，所以f 函数“单调递增”，就是T(or)>T(and)。

在经过上面的分析，修正了延迟时间的计算公式，了解到“与非”、“或非”电路的延迟时间不再相同，“或非”电路的延迟时间大于“与非”的延迟时间。“与非”、“或非”都是基础的逻辑门，所以在数字设计时，应该用对偶关系将电路进行转换，电路中能够采用“与非”门表示时，尽量采用“与非门”为基本逻辑门，这样可以减少延迟时间，提高电路的性能。

商业银行监管指标共13页

附件一

《商业银行风险监管核心指标》口径说明 一、风险水平 （一）流动性风险 1、流动性比例 本指标分别计算本币及外币口径数据。 ●计算公式： 流动性比例＝流动性资产／流动性负债×100% ●指标释义：

流动性资产包括：现金、黄金、超额准备金存款、一个月内到期的同业往来款项轧差后资产方净额、一个月内到期的应收利息及其他应收款、一个月内到期的合格贷款、一个月内到期的债券投资、在国内外二级市场上可随时变现的债券投资、其他一个月内到期可变现的资产（剔除其中的不良资产）。 流动性负债包括：活期存款（不含财政性存款）、一个月内到期的定期存款（不含财政性存款）、一个月内到期的同业往来款项轧差后负债方净额、一个月内到期的已发行的债券、一个月内到期的应付利息及各项应付款、一个月内到期的中央银行借款、其他一个月内到期的负债。 2、核心负债依存度 本指标分别计算本币和外币口径数据。 ●计算公式： 核心负债依存度＝核心负债／总负债×100% ●指标释义： 核心负债包括距到期日三个月以上（含）定期存款和发行债券以及活期存款的50%。 总负债是指按照金融企业会计制度编制的资产负债表中负债总计的余额。 3、流动性缺口率 本指标计算本外币口径数据。 ●计算公式： 流动性缺口率=流动性缺口/90天内到期表内外资产×100% ●指标释义： 流动性缺口为90天内到期的表内外资产减去90天内到期的表内外负债的差额。

（二）信用风险 4、不良资产率 本指标计算本外币口径数据。 ●计算公式： 不良资产率＝不良信用风险资产／信用风险资产×100% ●指标释义： 信用风险资产是指银行资产负债表表内及表外承担信用风险的资产。主要包括：各项贷款、存放同业、拆放同业及买入返售资产、银行账户的债券投资、应收利息、其他应收款、承诺及或有负债等。 不良信用风险资产是指信用风险资产中分类为不良资产类别的部分。不良贷款为不良信用风险资产的一部分，定义与“不良贷款率”指标定义一致；贷款以外的信用风险资产的分类标准将由中国银行业监督管理委员会(简称银监会，下同)另行制定。 4.1 不良贷款率 本指标计算本外币口径数据。 ●计算公式： 不良贷款率＝（次级类贷款＋可疑类贷款＋损失类贷款）／各项贷款×100% ●指标释义： 贷款五级分类标准按照《贷款风险分类指导原则》(银发[2001]416号)及《关于推进和完善贷款风险分类工作的通知》(银监发[2003]22号)文件)及相关法规要求执行。 正常类贷款定义为借款人能够履行合同，没有足够理由怀疑贷款本息不能按时足额偿还。关注类贷款定义为尽管借款人目前有能力偿还贷款本息，但存在一些可能对偿还产生不利影响的因素。次级类贷款定义为借款人的还款能力出现明显问题，完全依靠其正常营业收入无法足额偿还贷款本息，即使执行担保，也可能会造成一定损失。可疑类贷款的定义为借款

HEMT高电子迁移率晶体管

第五章高电子迁移率晶体管 5.1 HEMT的基本结构和工作原理 5.2 HEMT基本特性 5.3 赝高电子迁移率晶体管 5.1 HEMT的基本结构和工作原理 高电子迁移率晶体管（High Electron Mobility Transistor ，HEMT），也称为2－DEG场效应晶体管；因用的是调制掺杂的材料，所以又称为调制掺杂场效应管。1978年R.Dingle 首次在MBE（分子束外延）生长的调制掺杂GaAs/AlGaAs超晶格中观察到了相当高的电子迁移率。1980年日本富士通公司的三村研制出了HEMT，上世纪80年代HEMT成功的应用于微波低噪声放大，并在高速数字IC方面取得了明显得进展。 传讯速度的关键在于电子移动速率快慢，HEMT中的电子迁移率很高，因此器件的跨导大、截止频率高、噪声低、开关速度快。 2 作为低噪声应用的HEMT已经历了三代变化，低噪声性能一代比一代优异： 第一代：AlGaAs/GaAs HEMT，12GHz下，NF为0.3dB，增益为16.7dB。 第二代：AlGaAs/InGaAs/GaAs HEMT (PHEMT赝高电子迁移率晶体管)，40GHz下，NF为 1.1dB；60GHz下，NF为1.6dB；94GHz下，NF为 2.1dB。 第三代：InP基HEMT，40GHz下，NF为0.55dB；60GHz下，NF为0.8dB；95GHz下，NF为1.3dB。 AlGaAs/GaAs HEMT的基本结构 制作工序：在半绝缘GaAs衬底上生长GaAs缓冲层（约 0.5μm）→高纯GaAs层（约60nm）→n型AlGaAs 层（约60nm）→n型GaAs层（厚约50nm）→台面腐 蚀隔离有源区→制作Au/Ge合金的源、漏欧姆接触电极→ 干法选择腐蚀去除栅极位置n型GaAs层→淀积Ti/Pt/Au 栅电极。图5-1 GaAs HEMT基本结构HEMT是通过栅极下面的肖特基势垒来控制 GaAs/AlGaAs异质结中的2－DEG的浓度实现控制电 流的。栅电压可以改变三角形势阱的深度和宽度，从 而可以改变2－DEG的浓度，所以能控制HEMT的漏 极电流。 由于2－DEG与处在AlGaAs层中的杂质中心在空 间上是分离的，则不受电离杂质散射的影响，所以迁 移率很高。 图5-2 GaAs HEMT中2-DEG

商业银行风险监管核心指标(试行)

商业银行风险监管核心指标（试行）第一章总则第一条为加强对商业银行风险的识别、评价和预警，有效防范金融风险，根据《中华人民共和国银行业监督管理法》、《中华人民共和国商业银行法》和《中华人民共和国外资金融机构管理条例》等法律法规，制定商业银行风险监管核心指标。第二条商业银行风险监管核心指标适用于在中华人民共和国境内设立的中资商业银行。第三条商业银行风险监管核心指标是对商业银行实施风险监管的基准，是评价、监测和预警商业银行风险的参照体系。第四条商业银行应按照规定口径同时计算并表的和未并表的风险监管核心指标。第五条银监会对商业银行的各项风险监管核心指标进行水平分析、同组比较分析及检查监督，并根据具体情况有选择地采取监管措施。第二章核心指标第六条商业银行风险监管核心指标分为三个层次，即风险水平、风险迁徙和风险抵补。第七条风险水平类指标包括流动性风险指标、信用风险指标、市场风险指标和操作风险指标，以时点数据为基础，属于静态指标。第八条流动性风险指标衡量商业银行流动性状况及其波动性，包括流动性比例、核心负债比例和流动性缺口率，按照本币和外币分别计算。（一）流动性比例为流动性资产余额与流动性负债余额之比，衡量商业银行流动性的总体水平，不应低于25%。（二）核心负债比例为核心负债与负债总额之比，不应低于60%。（三）流动性缺口率为90天内表内外流动性缺口与90天内到期表内外流动性资产之比，不应低于-10%。第九条信用风险指标包括不良资产率、单一集团客户授信集中度、全部关联度三类指标。（一）不良资产率为不良资产与资产总额之比，不应高于4%。该项指标为一级指标，包括不良贷款率一个二级指标；不良贷款率为不良贷款与贷款总额之比，不应高于5%。（二）单一集团客户授信集中度为最大一家集团客户授信总额与资本净额之比，不应高于15%。该项指标为一级指标，包括单一客户贷款集中度一个二级指标；单一客户贷款集中度为最大一家客户贷款总额与资本净额之比，不应高于10%。（三）全部关联度为全部关联授信与资本净额之比，不应高于50%。第十条市场风险指标衡量商业银行因汇率和利率变化而面临的风险，包括累计外汇敞口头寸比例

贷款迁徙率计算公式

贷款迁徙率的计算公式： 正常贷款迁徙率 计算公式： 正常贷款迁徙率＝(期初正常类贷款中转为不良贷款的金额＋期初关注类贷款中转为不良贷款的金额)／(期初正常类贷款余额-期初正常类贷款期间减少金额＋期初关注类贷款余额-期初关注类贷款期间减少金额)×100% 指标释义： 期初正常类贷款中转为不良贷款的金额，是指期初正常类贷款中，在报告期末分类为次级类/可疑类/损失类的贷款余额之和。 期初关注类贷款中转为不良贷款的金额，是指期初关注类贷款中，在报告期末分类为次级类/可疑类/损失类的贷款余额之和。 期初正常类贷款期间减少金额，是指期初正常类贷款中，在报告期内，由于贷款正常收回、不良贷款处置或贷款核销等原因而减少的贷款。 期初关注类贷款期间减少金额，是指期初关注类贷款中，在报告期内，由于贷款正常收回、不良贷款处置或贷款核销等原因而减少的贷款。 正常类贷款迁徙率：本指标计算本外币口径数据。 计算公式： 正常类贷款迁徙率＝期初正常类贷款向下迁徙金额／(期初正常类贷款余额－期初正常类贷款期间减少金额)×100% 指标释义： 期初正常类贷款向下迁徙金额，是指期初正常类贷款中，在报告期末分类为关注类/次级类/可疑类/损失类的贷款余额之和。 期初正常类贷款期间减少金额定义与正常贷款迁徙率指标中定义一致。 关注类贷款迁徙率 计算公式： 关注类贷款迁徙率＝期初关注类贷款向下迁徙金额／(期初关注类贷款余额－期初关注类贷款期间减少金额)×100% 指标释义： 期初关注类贷款向下迁徙金额，是指期初关注类贷款中，在报告期末分类为次级类/可疑类/损失类的贷款余额之和。 期初关注类贷款期间减少金额定义与正常贷款迁徙率指标中定义一致。 次级类贷款迁徙率本指标计算本外币口径数据。 计算公式： 次级类贷款迁徙率＝期初次级类贷款向下迁徙金额／(期初次级类贷款余额－期初次级类贷款期间减少金额)×100% 指标释义： 期初次级类贷款向下迁徙金额，是指期初次级类贷款中，在报告期末分类为可疑类/损失类的贷款余额之和。 期初次级类贷款期间减少金额，是指期初次级类贷款中，在报告期内，由于贷款正常收回、不良贷款处置或贷款核销等原因而减少的贷款。 可疑类贷款迁徙率 计算公式： 可疑类贷款迁徙率＝期初可疑类贷款向下迁徙金额／(期初可疑类贷款余额－期初可疑类贷款期间减少金额)×100%

测迁移率的方法

测量方法 (1)渡越时间(TOP)法 适用于具有较好的光生载流子功能的材料的载流子迁移率的测量，可以测量有机材料的低迁移率。 在样品上加适当直流电压，选侧适当脉冲宽度的脉冲光，通过透明电极激励样品产生薄层的电子一空穴对。空穴被拉到负电极方向，作薄层运动。设薄层状况不变，则运动速度为μE。如假定样品中只有有限的陷阱，且陷阱密度均匀，则电量损失与载流子寿命τ有关，此时下电极上将因载流子运动形成感应电流，且随时间增加。在t 时刻有：若式中L 为样品厚度电场足够强，t≤τ，且渡越时间t0<τ。则在t0 时刻，电压将产生明显变化，由实验可测得，又有式中L、V 和t0 皆为实验可测量的物理量，因此μ值可求。 (2)霍尔效应法 主要适用于较大的无机半导体载流子迁移率的测量。将一块通有电流I 的半导体薄片置于磁感应强度为B 的磁场中，则在垂直于电流和磁场的薄片两端产生一个正比于电流和磁感应强度的电势U，这称为霍尔效应。由于空穴、电子电荷符号相反，霍尔效应可直接区分载流子的导电类型，测量到的电场可以表示为式中R 为霍尔系数，由霍尔效应可以计算得出电流密度、电场垂直漂移速度分量等，以求的R，进而确定μ。 3)电压衰减法 通过监控电晕充电试样的表面电压衰减来测量载流子的迁移率。 充电试样存积的电荷从顶面向接地的底电极泄漏，最初向下流动的电荷具有良好的前沿，可以确定通过厚度为L 的样品的时间，进而可确定材料的μ值。 (4)辐射诱发导电率(SIC)法 导电机理为空间电荷限制导电性材料。 在此方法中，研究样品上面一半经受连续的电子束激发辐照，产生稳态SIC，下面一半材料起着注入接触作用。然后再把此空间电荷限制电流(SCLC)流向下方电极。根据理论分析SCLC 电导电流与迁移率的关系为J=pμε1ε0V2/εDd3 (7) 测量电子束电流、辐照能量和施加电压函数的信号电流，即可推算出μ值。 (5)表面波传输法 被测量的半导体薄膜放在有压电晶体产生的场表面波场范围内，则与场表面波相联系的电场耦合到半导体薄膜中并且驱动载流子沿着声表面波传输方向移动，设置在样品上两个分开的电极检测到声一电流或电压，表达式为Iae=μP／Lv．(8) 式中P 为声功率，L 为待测样品两极间距离，v 为表面声波速。有此式便可推出μ值。(6)外加电场极性反转法(6)外加电场极性反转法 在极性完全封闭时加外电场，离子将在电极附近聚集呈薄板状，引起空间电荷效应。当将外电场极性反转时，载流子将以板状向另一电极迁移。由于加在载流子薄层前、后沿的电场影响，因而在极性反转后t 时间时，电流达到最大值。t 相当于载流子薄层在样品中行走的时间，结合样品的厚度、电场等情况，即可确定μ值。 (7)电流一电压特性法本方法主要适用于工作于常温下的MOSFET 反型层载流子迁移率的测量。对于一般的MOSFET 工作于高温时，漏源电流Ids 等于沟道电流Ich 与泄漏电流Ir 两者之和，但当其工作于常温时，泄漏电流Ir 急剧减小，近似为零，使得漏源电流Ids 即为沟道电流Ich。因此，对于一般的MOSFET 反型层载流子迁移率，可以根据测量线性区I—V 特性求的。总结综上所述，本文共指出了七中载流子迁移率的测量方法，除此之外，还可采用漂移实验、分析离子扩散、分析热释电流极化电荷瞬态响应等方法进行载流子迁移率的测量

贷款迁徙率

我国商业银行贷款分类制度较世界发达国家银行相比起步较晚，中国人民银行于1998年下发了《贷款风险分类指导原则（试行）》（银发〔1998〕151号），要求国有商业对贷款实施分类。2001年12月，中国人民银行银行发布了《贷款风险分类指导原则》，要求国内金融机构于2002年1月1日起全面正式实施贷款分类。2007年8月，中国银行业监督管理委员会印发了《贷款风险分类指引》，对贷款分类进一步进行了规范。 由于贷款分类结果是对某一时点银行信贷资产质量情况的反映，为加强对商业银行贷款分类结果个类别之间动态变化情况的监督，中国银行业监督管理委员会出台了“风险迁徙”指标，衡量风险变化（详见《商业银行风险监管核心指标(试行)》，2005年12月印发）。根据 正常贷款迁徙率 ●计算公式： 正常贷款迁徙率=(期初正常类贷款中转为不良贷款的金额+期初关注类贷款中转为不良贷款的金额)/(期初正常类贷款余额-期初正常类贷款期间减少金额+期初关注类贷款余额-期初关注类贷款期间减少金额)×100% ●指标释义： 期初正常类贷款中转为不良贷款的金额，是指期初正常类贷款中，在报告期末分类为次级类/可疑类/损失类的贷款余额之和。 期初关注类贷款中转为不良贷款的金额，是指期初关注类贷款中，在报告期末分类为次级类/可疑类/损失类的贷款余额之和。 期初正常类贷款期间减少金额，是指期初正常类贷款中，在报告期内，由于贷款正常收回、不良贷款处置或贷款核销等原因而减少的贷款。 期初关注类贷款期间减少金额，是指期初关注类贷款中，在报告期内，由于贷款正常收回、不良贷款处置或贷款核销等原因而减少的贷款。 正常类贷款迁徙率 本指标计算本外币口径数据。 ●计算公式：

银行财务分析比例(超全面汇总)

5、资本充足率 本指标计算本外币口径数据。 ●计算公式： 资本充足率＝资本净额／（风险加权资产＋12.5倍的市场风险资本）×100% ●指标释义： 资本净额等于商业银行的核心资本加附属资本之后再减去扣减项的值。 核心资本、附属资本、扣减项、风险加权资产和市场风险资本的定义和计算方法按照《商业银行资本充足率管理办法》(中国银行业监督管理委员会2004年第2号令)及相关法规要求执行。 6.一级资本充足率 =一级资本/加权风险资产总额 一级资本包括是核心一级资本和其他一级资本，核心一级资本包括：（一）实收资本或普通股。 （二）资本公积。 （三）盈余公积。 （四）一般风险准备。 （五）未分配利润。 （六）少数股东资本可计入部分。 其他一级资本包括（一）其它一级资本工具及其溢价。（二）少数股东资本可计入部分。二级资本（Tier 2 Capital）也称附属资本，是衡量银行资本充足状况的指标，由非公开储备、资产重估储备、普通准备金、(债权/股权)混合资本工具和次级长期债券构成 7、核心资本充足率 本指标计算本外币口径数据。 ●计算公式： 核心资本充足率＝核心资本净额／（风险加权资产＋12.5倍的市场风险资本）×100% ●指标释义： 核心资本净额等于商业银行的核心资本减去核心资本扣减项的值。 核心资本、核心资本扣减项、风险加权资产和市场风险资本的定义和计算方法按照《商业银行资本充足率管理办法》(中国银行业监督管理委员会2004年第2号令)及相关法规要求执行。 8. 杠杆率=权益资产/总资产

巴塞尔银行管理委员会在汲取2008年金融危机的经验教训，完善新资本协议时，提出杠杆率作为监管指标，设置下限为3%。 杠杆率=核心资本/表内表外总资产风险暴露 9、不良资产率 本指标计算本外币口径数据。 ●计算公式： 不良资产率＝不良信用风险资产／信用风险资产×100% ●指标释义： 信用风险资产是指银行资产负债表表内及表外承担信用风险的资产。主要包括：各项贷款、存放同业、拆放同业及买入返售资产、银行账户的债券投资、应收利息、其他应收款、承诺及或有负债等。 不良信用风险资产是指信用风险资产中分类为不良资产类别的部分。不良贷款为不良信用风险资产的一部分，定义与“不良贷款率”指标定义一致；贷款以外的信用风险资产的分类标准将由中国银行业监督管理委员会(简称银监会，下同)另行制定。 10. 不良贷款率 本指标计算本外币口径数据。 ●计算公式： 不良贷款率＝（次级类贷款＋可疑类贷款＋损失类贷款）／各项贷款×100% ●指标释义： 贷款五级分类标准按照《贷款风险分类指导原则》(银发[2001]416号)及《关于推进和完善贷款风险分类工作的通知》(银监发[2003]22号)文件)及相关法规要求执行。 正常类贷款定义为借款人能够履行合同，没有足够理由怀疑贷款本息不能按时足额偿还。关注类贷款定义为尽管借款人目前有能力偿还贷款本息，但存在一些可能对偿还产生不利影响的因素。次级类贷款定义为借款人的还款能力出现明显问题，完全依靠其正常营业收入无法足额偿还贷款本息，即使执行担保，也可能会造成一定损失。可疑类贷款的定义为借款人无法足额偿还贷款本息，即使执行担保，也肯定要造成较大损失。损失类贷款定义为在采取所有可能的措施或一切必要的法律程序之后，本息仍然无法收回，或只能收回极少部分。对各项贷款

电子迁移率(汇编)

电子迁移率:固体物理学中用于描述金属或半导体内部电子，在电场作用下移动快慢程度的物理量。在半导体中，另一个类似的物理量称为空穴迁移率。人们常用载流子迁移率来指代半导体内部电子和空穴整体的运动快慢 迁移率是指载流子（电子和空穴）在单位电场作用下的平均漂移速度，即载流子在电场作用下运动速度的快慢的量度，运动得越快，迁移率越大；运动得慢，迁移率小。同一种半导体材料中，载流子类型不同，迁移率不同，一般是电子的迁移率高于空穴。如室温下，低掺杂硅材料中，电子的迁移率为1350cm^2/（VS），而空穴的迁移率仅为480cm^2/(VS) 一是载流子浓度一起决定半导体材料的电导率（电阻率的倒数）的大小。迁移率越大，电阻率越小，通过相同电流时，功耗越小，电流承载能力越大。由于电子的迁移率一般高于空穴的迁移率，因此，功率型MOSFET通常总是采用电子作为载流子的n沟道结构，而不采用空穴作为载流子的p沟道结构。 导通特性 : NMOS的特性，Vgs大于一定的值就会导通，适合用于源极接地时的情况（低端驱动），只要栅极电压达到4V或10V就可以了。 PMOS的特性，Vgs小于一定的值就会导通，适合用于源极接VCC时的情况（高端驱动） 若一个CMOS反相器中的pFET和nFET尺寸相同， 若Wn/Ln=Wp/Lp, 则pFET和nFET电流大小取决于载流子迁移率Un/Up，一般情况下，Un〉Up，所以Tfall

贷款迁徙率doc资料

贷款迁徙率

我国商业银行贷款分类制度较世界发达国家银行相比起步较晚，中国人民银行于1998年下发了《贷款风险分类指导原则（试行）》（银发〔1998〕151号），要求国有商业对贷款实施分类。2001年12月，中国人民银行银行发布了《贷款风险分类指导原则》，要求国内金融机构于2002年1月1日起全面正式实施贷款分类。2007年8月，中国银行业监督管理委员会印发了《贷款风险分类指引》，对贷款分类进一步进行了规范。 由于贷款分类结果是对某一时点银行信贷资产质量情况的反映，为加强对商业银行贷款分类结果个类别之间动态变化情况的监督，中国银行业监督管理委员会出台了“风险迁徙”指标，衡量风险变化（详见《商业银行风险监管核心指标(试行)》，2005年12月印发）。根据该文件规定附件规定：“风险迁徙”指 徙率）。 正常贷款迁徙率 ●计算公式： 正常贷款迁徙率=(期初正常类贷款中转为不良贷款的金额+期初关注类贷款中转为不良贷款的金额)/(期初正常类贷款余额-期初正常类贷款期间减少金额+期初关注类贷款余额-期初关注类贷款期间减少金额)×100% ●指标释义： 期初正常类贷款中转为不良贷款的金额，是指期初正常类贷款中，在报告期末分类为次级类/可疑类/损失类的贷款余额之和。 期初关注类贷款中转为不良贷款的金额，是指期初关注类贷款中，在报告期末分类为次级类/可疑类/损失类的贷款余额之和。 期初正常类贷款期间减少金额，是指期初正常类贷款中，在报告期内，由于贷款正常收回、不良贷款处置或贷款核销等原因而减少的贷款。 期初关注类贷款期间减少金额，是指期初关注类贷款中，在报告期内，由于贷款正常收回、不良贷款处置或贷款核销等原因而减少的贷款。 正常类贷款迁徙率

载流子迁移率测量方法总结

载流子迁移率测量方法总结 引言 迁移率是衡量半导体导电性能的重要参数，它决定半导体材料的电导率，影响器件的工作速度。已有很多文章对载流子迁移率的重要性进行研究，但对其测量方法却少有提到。本文对载流子测量方法进行了小结。 迁移率μ的相关概念 在半导体材料中，由某种原因产生的载流子处于无规则的热运动，当外加电压时，导体内部的载流子受到电场力作用，做定向运动形成电流，即漂移电流，定向运动的速度成为漂移速度，方向由载流子类型决定。在电场下，载流子的平均漂移速度v与电场强度E成正比为： 式中μ为载流子的漂移迁移率，简称迁移率，表示单位电场下载流子的平均漂移速度，单位是m2／V·s 或cm2／V·s。 迁移率是反映半导体中载流子导电能力的重要参数，同样的掺杂浓度，载流子的迁移率越大，半导体材料的导电率越高。迁移率的大小不仅关系着导电能力的强弱，而且还直接决定着载流子运动的快慢。它对半导体器件的工作速度有直接的影响。 在恒定电场的作用下，载流子的平均漂移速度只能取一定的数值，这意味着半导体中的载流子并不是不受任何阻力，不断被加速的。事实上，载流子在其热运动的过程中，不断地与晶格、杂质、缺陷等发生碰撞，无规则的改变其运动方向，即发生了散射。无机晶体不是理想晶体，而有机半导体本质上既是非晶态，所以存在着晶格散射、电离杂质散射等，因此载流子迁移率只能有一定的数值。 测量方法 (1)渡越时间(TOP)法 渡越时间(TOP)法适用于具有较好的光生载流子功能的材料的载流子迁移率的测量，可以测量有机材料的低迁移率。 在样品上加适当直流电压，选侧适当脉冲宽度的脉冲光，通过透明电极激励样品产生薄层的电子一空穴对。空穴被拉到负电极方向，作薄层运动。设薄层状况不变，则运动速度为μE。如假定样品中只有有限的陷阱，且陷阱密度均匀，则电量损失与载流子寿命τ有关，此时下电极上将因载流子运动形成感应电流，且随时间增加。在t时刻有：

商业银行监管指标

商业银行风险监管指标表

注：口径释义 1、流动性比例 计算公式： 流动性比例＝流动性资产／流动性负债×100% 指标释义： 流动性资产包括：现金、超额准备金存款、一个月内到期得存放同业款项、一个月内到期得应收利息及其她应收款、一个月内到期得合格贷款、一个月内到期得债券投资、在国内外二级市场上可随时变现得债券投资、其她一个月内到期可变现得资产（剔除其中得不良资产）。

流动性负债包括：活期存款（不含财政性存款）、一个月内到期得定期存款（不含财政性存款）、一个月内到期得同业存放款项、一个月内到期得已发行得债券、一个月内到期得应付利息及各项应付款、一个月内到期得中央银行借款、其她一个月内到期得负债。 2、核心负债依存度（该指标目前未在上报银监报表中反映） 计算公式： 核心负债依存度＝核心负债／总负债×100% 指标释义： 核心负债包括距到期日三个月以上（含）定期存款与发行债券以及活期存款得50%。 总负债就是指按照金融企业会计制度编制得资产负债表中负债总计得余额。 3、流动性缺口率（该指标目前未在上报银监报表中反映） 计算公式： 流动性缺口率=流动性缺口/90天内到期表内外资产×100% 指标释义：

流动性缺口为90天内到期得表内外资产减去90天内到期得表内外负债得差额。 4、不良资产率 计算公式： 不良资产率＝不良信用风险资产／信用风险资产×100% 指标释义： 信用风险资产就是指银行资产负债表表内及表外承担信用风险得资产。主要包括：各项贷款、存放同业、拆放同业及买入返售资产、银行账户得债券投资、应收利息、其她应收款、承诺及或有负债（表外）等。 不良信用风险资产就是指信用风险资产中分类为不良资产类别得部分。不良贷款为不良信用风险资产得一部分，定义与“不良贷款率”指标定义一致。 4、1 不良贷款率 计算公式： 不良贷款率＝（次级类贷款＋可疑类贷款＋损失类贷款）／各项贷款×100% 5、单一集团客户授信集中度

石墨烯电子迁移率的测定

ICS03.080.99 A 20 广东省特种设备行业协会团体标准 GDASEXXX－2019 石墨烯电子迁移率的测定 Determination of electronic mobility of graphene （工作组讨论稿） 2019-XX-XX发布2019-XX-XX实施

目录 前言..............................................................................II 1 范围 (1) 2 规范性引用文件 (1) 3 术语和定义 (1) 4 原理 (2) 5 试验设备与仪器 (3) 6 实验步骤 (3) 7 试验结果 (4) 8 精密度 (4) 9 试验报告 (4)

前言 本标准按照GB/T 1.1—2009《标准化工作导则第1部分：标准的结构和编写》的规定编制。请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。 本标准由广东省特种设备行业协会归口。 本标准起草单位：广州特种承压设备检测研究院。 本标准主要起草人：尹宗杰、刘斌、黎佩珊、何立粮、熊磊、刘娟、杨麟、赵军明。 本标准为首次发布实施。

石墨烯电子迁移率的测定 1 范围 本标准规定了石墨烯薄膜霍尔系数、电子浓度、电子迁移率、电阻率的测定方法。 本标准适用于石墨烯薄膜，其它二维导电薄膜的霍尔系数、电子浓度、电子迁移率、电阻率测定可参照执行。 2 规范性引用文件 下列文件对于本标准的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本标准。凡是不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改单)适用于本标准。 GB/T 8170-2008 数值修约规则与极限数值的表示和判定 3 术语和定义 下列术语和定义适用于本文件。 3.1 电阻率 resistivity 材料内平行于电流方向的电势梯度与电流密度之比，又称体电阻率，单位为(Ω·m)，常用单位为(Ω·cm)。 3.2 霍尔电场 hall electric field 在石墨烯薄膜上同时加上互相垂直的电场和磁场时，试样中的电子在与外加电场和磁场都垂直的方向上偏转而建立的电场。 3.3 霍尔系数 hall coefficient 霍尔电场对电流密度和磁通密度之积的比，单位为（cm3/C）。 3.4 电子浓度 electron concentration 单位体积电子的数量，单位为（cm-3）。 3.5 电子迁移率 electron mobility 霍尔系数的绝对值与电阻率之比，单位为（cm2/V·s）。 3.6

银行监管指标

商业银行风险监管核心指标

附件二 《商业银行风险监管核心指标》口径说明 一、风险水平 （一）流动性风险 1、流动性比例 本指标分别计算本币及外币口径数据。 计算公式： 流动性比例＝流动性资产／流动性负债×100%

●指标释义： 流动性资产包括：现金、黄金、超额准备金存款、一个月内到期的同业往来款项轧差后资产方净额、一个月内到期的应收利息及其他应收款、一个月内到期的合格贷款、一个月内到期的债券投资、在国内外二级市场上可随时变现的债券投资、其他一个月内到期可变现的资产（剔除其中的不良资产）。 流动性负债包括：活期存款（不含财政性存款）、一个月内到期的定期存款（不含财政性存款）、一个月内到期的同业往来款项轧差后负债方净额、一个月内到期的已发行的债券、一个月内到期的应付利息及各项应付款、一个月内到期的中央银行借款、其他一个月内到期的负债。 2、核心负债依存度 本指标分别计算本币和外币口径数据。 ●计算公式： 核心负债依存度＝核心负债／总负债×100% ●指标释义： 核心负债包括距到期日三个月以上（含）定期存款和发行债

券以及活期存款的50%。 总负债是指按照金融企业会计制度编制的资产负债表中负债总计的余额。 3、流动性缺口率 本指标计算本外币口径数据。 ●计算公式： 流动性缺口率=流动性缺口/90天内到期表内外资产×100% ●指标释义： 流动性缺口为90天内到期的表内外资产减去90天内到期的表内外负债的差额。 （二）信用风险 4、不良资产率 本指标计算本外币口径数据。 ●计算公式： 不良资产率＝不良信用风险资产／信用风险资产×100%

●指标释义： 信用风险资产是指银行资产负债表表内及表外承担信用风险的资产。主要包括：各项贷款、存放同业、拆放同业及买入返 售资产、银行账户的债券投资、应收利息、其他应收款、承诺及 或有负债等。 不良信用风险资产是指信用风险资产中分类为不良资产类别的部分。不良贷款为不良信用风险资产的一部分，定义与“不 良贷款率”指标定义一致；贷款以外的信用风险资产的分类标准将由中国银行业监督管理委员会(简称银监会，下同)另行制定。 4.1不良贷款率 本指标计算本外币口径数据。 ●计算公式： 不良贷款率＝（次级类贷款＋可疑类贷款＋损失类贷款）／各项贷款×100% ●指标释义： 贷款五级分类标准按照《贷款风险分类指导原则》(银发[2001]416号)及《关于推进和完善贷款风险分类工作的通知》银 (

08银行各类计算公式(12月更新)

银行各类计算公式 一、存款准备金 存款准备金，分为法定存款准备金和超额存款准备金（主要构成是存放央行及现金，不包括存放同业资金）。下表为目前最新的各类银行业金融机构存款准备金水平。 法定存款准备金率是指中央银行规定的，存款性金融机构必须保有的存款准备金对其存款负债总额的比率。在其他情况不变的条件下，中央银行可通过提高或降低法定准备金率直接地改变货币乘数，从而达到控制货币供给量的目的。所以，在货币乘数的各个决定因素中，法定存款准备金比率基本是一个可由中央银行直接操作的外生变量。目前央行实施的是平均法考核存款准备金水平。 超额备付金是银行短期流动性管理工具，是日常清算必要头寸，具有一定刚性。目前银行业超额备付金率平均在2%左右，总体来看，大行超额备付金率较低，而城商行相对较高，最高在4% 左右。银监会2016年披露的季报显示，商业银行人民币超额备付金率为2.07%。 二、资本充足率 根据巴塞尔协议的要求，银行资本划分为核心一级资本、其他一级资本以及二级资本三个部分。三类资本的共同特点是，在危机发生时可用来弥补银行损失，即便二级资本也可核销或转化为普通股。 根据以上三类资本，可将资本充足率的要求划分为核心一级资本充足率（核心一级资本-扣减项/风险加权资产）、一级资本充足率（一级资本-扣减项）/风险加权资产）与资本充足率（（总资本-扣减项）/风险加权资产）。银监会对商业银行的资本充足性要求，分别为5%，6%和8%。

三、信用风险指标 信用风险是指商业银行面临的违约风险，资本充足率部分已对信用风险加权资产的计量进行了简单概述，此部分将介绍信用风险的监管指标，包括不良资产率、单一客户授信集中度和全部关联度。 1.不良资产率与不良贷款率 不良资产率顾名思义，即为不良资产占总资产的比例，由不良资产与之资产总额比计算得出，依据 《商业银行风险监管核心指标（试行）》的要求，该指标不应高于4%，不良资产率有一个非常重要的二级指标，即不良贷款率。 不良贷款率由不良贷款与贷款总额之比计算得出，依据《商业银行风险监管核心指标（试行）》的要求，不良贷款率不应高于5% 。 2.单一集团客户授信集中度与单一客户贷款集中度 单一客户风险授信集中度为最大一家集团客户授信总额与资本净额之比，银监会要求该比例不应高于15%，即：（扣除保证金、银行存单和国债后的授信余额）/资本净额×100% <=15%。该项指标为一级指标，其包括一个二级指标：单一客户贷款集中度，单一客户贷款集中度为最大一家客户贷款总额与资本净额之比，银监会要求该比例不应高于10%，即：最大一家客户贷款总额／资本净额×100% <=10%，该两指标为防止商业银行风险集中化，促进银行授信和贷款管理合理化与信贷风险分散化。

载流子迁移率计算方法(VASP,ORIGIN)

载流子迁移率计算方法(V A S P,O R I G I N) -CAL-FENGHAI-(2020YEAR-YICAI)_JINGBIAN

计算公式： 半导体物理书上也有载流子迁移率的公式，但是上面的是带有平均自由时间的公式，经过变换推倒，就成了上面的那个公式，因此要用vasp计算的参数有，S l,m e,m d,E l这四个参数，其他的都是常数，可以查询出来带入公式。 参数：S l ,就是需要我们先用vasp计算出声子谱，我们要对声子谱求导，取导带底处的值，对应的就是电子迁移率的S l 所以需要学会怎么使用phonopy m e :就是电子的有效质量，要用origin对能带图求二次导，取导带底对应的值。 m d: mx就是布里渊区X方向的有效质量，my就是y方向的有效质量，先用笔算出G 到K,M向量，然后分别作这两个向量的垂直向量，在这两个向量方向上取20个权重为0的点，放到KPOINTS中，按照以前的方法，算出来的能带就是x方向上的和y方向上的，然后就可以算出x,y方向上的有效质量。 E l :把公式变形一下，E l，放在一边，其他的放在另一边，δV就是原来晶胞的体积改变量，δE就是对应能量的该变量，V0就是晶胞原来的体积，也就是说，我要把原来的晶胞任意改变一下大小，算出导带底能量的变化量，进而就算出了E l这个量。 以上这四个量算出来之后，带入公式计算就可以得出电子的迁移率公式。 电子迁移率主要受到：声学支波散射，光学支波散射，电离杂质杂质散射的影响，因为后二者没有第一个影响大，所以我们计算的迁移率包含的就是在声学支波散射作用下的迁移率。（半导体物理书上都很仔细的介绍。） 2

有机半导体中载流子迁移率的测定

有机半导体中载流子迁移率的各种方法的测试原理。主要有如下JV) ,飞行2(CW) 直流电流2电压特性法( steady2state DC 几种:稳态时间法(time of flight , TOF) ,瞬态电致发光法(transientelectroluminescence , transient EL) ,瞬态电致发 光法的修正方法即双脉冲方波法和线性增压载流子瞬态法(carrier extraction by linearly increasing voltage ,CELIV) ,暗注入空间电荷限制电流(dark injection space charge limited current , DI SCLC) ,场效应晶体管方法(field2effect transistor , FET) ,时间分辨微波传导技术(time2resolved microwave conductivity technique , TRMC) ,电压调制毫米波谱(voltage2modulated millimeter2wave spectroscopy , VMS) 光诱导瞬态斯塔克谱方法(photoinducedtransient Stark spectroscopy) ,阻抗(导纳) 谱法(impedance (admittance) spectroscopy) 。 实验测定方法 一些传统无机半导体迁移率的测量方法是比较 成熟的,如利用霍耳效应[11 ] (根据定义,电流密度等 于载流电荷密度乘以平均漂移速率。电流密度可以 通过测量电流强度和样品尺寸而求得,载流电荷密 度可以通过在弱磁场下测量经典霍耳系数而求得。 因此,迁移率是一个可以通过直接测量而求得的 近来开发的拉曼散射技术[12 ] (通过微观拉曼

银行各类计算公式月更新

银行各类计算公式(月更新）

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银行各类计算公式 一、存款准备金 存款准备金,分为法定存款准备金和超额存款准备金(主要构成是存放央行及现金，不包括存放同业资金）。下表为目前最新的各类银行业金融机构存款准备金水平。 法定存款准备金率是指中央银行规定的，存款性金融机构必须保有的存款准备金对其存款负债总额的比率。在其他情况不变的条件下，中央银行可通过提高或降低法定准备金率直接地改变货币乘数,从而达到控制货币供给量的目的。所以,在货币乘数的各个决定因素中，法定存款准备金比率基本是一个可由中央银行直接操作的外生变量。目前央行实施的是平均法考核存款准备金水平。 超额备付金是银行短期流动性管理工具，是日常清算必要头寸，具有一定刚性。目前银行业超额备付金率平均在2%左右,总体来看，大行超额备付金率较低,而城商行相对较高，最高在４％左右。银监会２0１6年披露的季报显示,商业银行人民币超额备付金率为2.0７％。 二、资本充足率 根据巴塞尔协议的要求，银行资本划分为核心一级资本、其他一级资本以及二级资本三个部分。三类资本的共同特点是,在危机发生时可用来弥补银行损失，即便二级资本也可核销或转化为普通股。 根据以上三类资本，可将资本充足率的要求划分为核心一级资本充足率(核心一级资本-扣减项／风险加权资产）、一级资本充足率(一级资本-扣减项）/风险加权资产）与资本充足率（（总资本-扣减项)/风险加权资产）。银监会对 商业银行的资本充足性要求,分别为5%,6%和8%。

商业银行风险监管核心指标口径说明

《商业银行风险监管核心指标》口径说明 一、风险水平 （一）流动性风险 1、流动性比例 本指标分别计算本币及外币口径数据。 ●计算公式： 流动性比例＝流动性资产／流动性负债×100% ●指标释义： 流动性资产包括：现金、黄金、超额准备金存款、一个月内到期的同业往来款项轧差后资产方净额、一个月内到期的应收利息及其他应收款、一个月内到期的合格贷款、一个月内到期的债券投资、在国内外二级市场上可随时变现的债券投资、其他一个月内到期可变现的资产（剔除其中的不良资产）。 流动性负债包括：活期存款（不含财政性存款）、一个月内到期的定期存款（不含财政性存款）、一个月内到期的同业往来款项轧差后负债方净额、一个月内到期的已发行的债券、一个月内到期的应付利息及各项应付款、一个月内到期的中央银行借款、其他一个月内到期的负债。 2、核心负债依存度 本指标分别计算本币和外币口径数据。 ●计算公式： 核心负债依存度＝核心负债／总负债×100% ●指标释义： 核心负债包括距到期日三个月以上（含）定期存款和发行债券以及活期存款的50%。 总负债是指按照金融企业会计制度编制的资产负债表中负债总计的余额。 3、流动性缺口率

本指标计算本外币口径数据。 ●计算公式： 流动性缺口率=流动性缺口/90天内到期表内外资产×100% ●指标释义： 流动性缺口为90天内到期的表内外资产减去90天内到期的表内外负债的差额。 （二）信用风险 4、不良资产率 本指标计算本外币口径数据。 ●计算公式： 不良资产率＝不良信用风险资产／信用风险资产×100% ●指标释义： 信用风险资产是指银行资产负债表表内及表外承担信用风险的资产。主要包括：各项贷款、存放同业、拆放同业及买入返售资产、银行账户的债券投资、应收利息、其他应收款、承诺及或有负债等。 不良信用风险资产是指信用风险资产中分类为不良资产类别的部分。不良贷款为不良信用风险资产的一部分，定义与“不良贷款率”指标定义一致；贷款以外的信用风险资产的分类标准将由中国银行业监督管理委员会(简称银监会，下同)另行制定。 4.1 不良贷款率 本指标计算本外币口径数据。 ●计算公式： 不良贷款率＝（次级类贷款＋可疑类贷款＋损失类贷款）／各项贷款×100% ●指标释义： 贷款五级分类标准按照《贷款风险分类指导原则》(银发[2001]416号)及《关于推进和完善贷款风险分类工作的通知》(银监发[2003]22号)文件)及相关法规要求执行。 正常类贷款定义为借款人能够履行合同，没有足够理由怀疑贷款本息不能按时足额偿还。关注类贷款定义为尽管借款人目前有能力偿还贷款本息，但存在一

监管指标计算公式

《商业银行风险监管核心指标》口径说明 （网络版本，仅供参考） 一、风险水平 （一）流动性风险 1、流动性比例 本指标分别计算本币及外币口径数据。 ●计算公式：流动性比例＝流动性资产／流动性负债×100% ●指标释义：流动性资产包括：现金、黄金、超额准备金存款、一个月内到期的同业往来款项轧差后资产方净额、一个月内到期的应收利息及其他应收款、一个月内到期的合格贷款、一个月内到期的债券投资、在国内外二级市场上可随时变现的债券投资、其他一个月内到期可变现的资产（剔除其中的不良资产）。 流动性负债包括：活期存款（不含财政性存款）、一个月内到期的定期存款（不含财政性存款）、一个月内到期的同业往来款项轧差后负债方净额、一个月内到期的已发行的债券、一个月内到期的应付利息及各项应付款、一个月内到期的中央银行借款、其他一个月内到期的负债。 2、核心负债依存度 本指标分别计算本币和外币口径数据。

●计算公式：核心负债依存度＝核心负债／总负债×100% ●指标释义：核心负债包括距到期日三个月以上（含）定期存款和发行债券以及活期存款的50%。 总负债是指按照金融企业会计制度编制的资产负债表中负债总计的余额。 3、流动性缺口率 本指标计算本外币口径数据。 ●计算公式：流动性缺口率=流动性缺口/90天内到期表内外资产×100% ●指标释义：流动性缺口为90天内到期的表内外资产减去90天内到期的表内外负债的差额。 （二）信用风险 4、不良资产率 本指标计算本外币口径数据。 ●计算公式：不良资产率＝不良信用风险资产／信用风险资产×100% ●指标释义：信用风险资产是指银行资产负债表表内及表外承担信用风险的资产。主要包括：各项贷款、存放同业、拆放同业及买入返售资产、银行账户的债券投资、应收利息、其他应收款、承诺及或有负债等。 不良信用风险资产是指信用风险资产中分类为不良资产