定时截尾寿命实验与定数截尾实验下的最大似然估计法

北邮数字电路综合实验报告

数字电路综合实验报告 简易智能密码锁 一、实验课题及任务要求 设计并实现一个数字密码锁，密码锁有四位数字密码和一个确认开锁按键，密码输入正确，密码锁打开，密码输入错误进行警示。 基本要求： 1、密码设置：通过键盘进行4 位数字密码设定输入,在数码管上显示所输入数字。通过密码设置确定键（BTN 键）进行锁定。 2、开锁：在闭锁状态下，可以输入密码开锁，且每输入一位密码，在数码管上显示“-”，提示已输入密码的位数。输入四位核对密码后，按“开锁”键，若密码正确则系统开锁，若密码错误系统仍然处于闭锁状态，并用蜂鸣器或led 闪烁报警。 3、在开锁状态下，可以通过密码复位键（BTN 键）来清除密码，恢复初始密码“0000”。闭锁状态下不能清除密码。 4、用点阵显示开锁和闭锁状态。 提高要求： 1、输入密码数字由右向左依次显示，即：每输入一数字显示在最右边的数码管上,同时将先前输入的所有数字向左移动一位。 2、密码锁的密码位数（4~6 位）可调。

3、自拟其它功能。 二、系统设计 2.1系统总体框图 2.2逻辑流程图

2.3MDS图 2.4分块说明 程序主要分为6个模块：键盘模块，数码管模块，点阵模块，报警模块，防抖模块，控制模块。以下进行详细介绍。 1.键盘模块 本模块主要完成是4×4键盘扫描，然后获取其键值，并对其进行编码，从而进行按键的识别，并将相应的按键值进行显示。 键盘扫描的实现过程如下：对于4×4键盘，通常连接为4行、4列，因此要识别按键，只需要知道是哪一行和哪一列即可，为了完成这一识别过程，我们的思想是，首先固定输出高电平，在读入输出的行值时，通常高电平会被低电平拉低，当当前位置为高电平“1”时，没有按键按下，否则，如果读入的4行有一位为低电平，那么对应的该行肯定有一个按键按下，这样便可以获取到按键的行值。同理，获取列值也是如此，先输出4列为高电平，然后在输出4行为低电平，再读入列值，如果其中有哪一位为低电平，那么肯定对应的那一列有按键按下。由此可确定按键位置。

定数截尾实验

定数截尾实验方案 一、实验目的： 评估现有产品方案的器件及其选型，工艺水平及设计的可靠性。 二、试验方式： 定数截尾实验—实验样品中出现预先设定的失效数时，停止试验。 本次实验定义的截止条件试验样品中出现2pcs的失效时停止。 三：样本选择： 样本选择，从生产的良品中库选取产品25pcs，需经过高温，低温和机械振动筛选试验。 合格后方可进入测试流程。 四：实验条件： 取产品极限工作条件的80%，产品工作最大为75℃，故实验条件温度取60±2℃，湿度85±5%RH。 五、加速因子的计算： ●温度加速-阿氏方程 AF(t)=exp{(Ea/k)}*(1/Tuse-1/Tstress)]} AF 加速因子 Ea 活化能一般取值0.6 K 波兹曼常数8.617x10-5ev Tuse 正常使用的温度 Tstress 应力下的温度 ●湿度加速-Aying方程 AF（%RH）=（RHstress/RHuse）n

RHstress—实验条件的湿度值 RHuse—正常使用的湿度值 系统加速因子AF=AF(t)*AF(%RH) 六、MTBF的计算： ●单侧置信下线 Θ单=2T/ X 2[（1-c）,2r+2] ●双侧置信区间 上限--ΘL=2T/X 2[（1-c）/2，2r+2）] 下限--Θu=2T/X 2[（1-c）/2，2r+2] r 失效数 n 样本量 ɑ显著性水平 c 置信水平 2r+2 自由度 X2分位数表 T 测试总时间=截止时良品数*试验时间+不良品*失效时时间 X2分位数表

七、实验步骤： ●样品选择--随机选取产线测试通过的产品25pcs。 ●样品筛选--对产品进行可靠性筛选试验【高温60℃（16H）--低温-30℃（16H）-随 机振动测试），对产品进行功能测试并记录数据，挑选20pcs（4G CQA/3G CQA/CFT）功能OK的产品进行测试。 ●试验条件--设定温湿度箱条件60℃，85%RH，将样品尽可能均匀分散温湿度箱里面， 并且产品以最大功率的80%工作， ●检验频率--试验的前一个月以10天的频率对产品进行检测，一个月后以每星期的频率 进行检查。待累计失效2pcs后，实验截止。 八、实验结果： 根据六中的计算公式计算出加速状态下的MTBF加值 MTBF实=AF（t）*AF(%RH)*MTBF加

北京邮电大学数电实验一实验报告

北京邮电大学数字电路与逻辑 设计实验 学院： 班级： 作者： 学号：

实验一 Quartus II原理图输入法设计 一、实验目的： (1)熟悉Quartus II原理图输入法进行电路设计和仿真 (2)掌握Quartus II 图形模块单元的生成与调 (3)熟悉实验板的使用 二、实验所用器材： (1)计算机 (2)直流稳压电源 (3)数字系统与逻辑设计实验开发板 三、实验任务要求 (1)用逻辑门设计实现一个半加器，仿真验证其功能，并生成新的半加器图形模 块单元。 (2)用(1)中生成的半加器模块和逻辑门设计实现一个全加器，仿真验证其功能， 并下载到实验板测试，要求用拨码开关设定输入信号，发光二极管显示输出信号。 (3)用3线-8线译码器（74LS138）和逻辑门设计实现函数 ,仿真验证其功能，并下载到实验板测试。要求用拨码开关设定输入信号，发光二极管显示输出信号。 四、设计思路和过程 （1）半加器的设计 半加器电路是指对两个输入数据位进行加法，输出一个结果位和进位，不产生进位输入的加法器电路。是实现两个一位二进制数的加法运算电路。数据输入AI被加数、BI加数,数据输出SO和数(半加和)、进位C0。 在数字电路设计中，最基本的方法是不管半加器是一个什么样的电路，按组合数字电路的分析方法和步骤进行。 1．列出真值表 半加器的真值表见下表。表中两个输入是加数A0和B0，输出有一个是和S0，另一个是进位C0。

2 该电路有两个输出端，属于多输出组合数字电路，电路的逻辑表达式如下函数的逻辑表达式为：SO=AI⊕BI CO=AB 所以，可以用一个两输入异或门和一个两输入与门实现。

可靠性测试产品高加速寿命试验方法指南解析

术语和定义 HALT（High Accelerated Life Test）：高加速寿命试验，即试验中对试验对象施加的环境应力比试验对象整个生命周期内，包括运输、存储及运行环境内，可能受到的环境应力大得多，以此来加速暴露试验样品的缺陷和薄弱环节，而后对暴露的缺陷和故障从设计、工艺和用料等诸方面进行分析和改进，从而达到快速提升可靠性的目的。 运行限或操作限（Operation Limit）：指产品某应力水平上失效（样品不工作或其工作指标超限），但当应力值略有降低或回复初始值时，试样又恢复正常工作，则样品能够恢复正常的最高应力水平值称为运行限。 破坏限（Destruct Limit）：在某应力水平上升到某值时，样品失效，即使当应力回落到低于运行限时，试样仍然不能恢复正常工作，这时的应力水平值称为破坏限。 裕度（Margin）：产品运行环境应力的设计限与运行限或破坏限的差值。产品的裕度越大，则其可靠性越高。 夹具（Fixture）：在HALT试验的振动项目中固定试样的器具。振动试验必须使用夹具，使振台振动能量有效地传递给试样。 加速度传感器（Accelerometer）：在某方向测量试样振动加速度大小的传感器。在HALT试验的振动项目中使用加速度传感器可以监视试验箱振动能量通过夹具有效传递给试样的效率。 振动功率谱密度（Vibrating Power Spectral Density）：也称为加速谱密度，衡量振动在每个频率点的加速度大小，单位为（g2/Hz）。 Grms（Gs in a root mean square）：振动中衡量振动强度大小的物理单位，与加速度单位相同，物理含义为对振动功率谱密度在频率上积分后的平方根。 热电偶（Thermocouple）：利用“不同导体结合在一起产生与温度成比例的电压”这一物理规律制作的温度传感器。在HALT试验的热应力测试项目中，利用热电偶监视产品各点的温度分布。 功能测试（Functional Test）：对试样的测试，用以判断试样能否在测试环境下完成规定的功能，性能是否下降。一般是通过测量试样的关键参数是否达到指标或利用诊断模式测试试样的内部性能。 摘要：本文围绕产品HALT试验，详细介绍HALT试验基本要求、总体过程及试验过程。 关键词：HALT试验、基本要求、试验过程 1、HALT试验基本要求 1.1对试验设备的要求 1.1.1对试验箱的要求 做HALT试验的设备必须能够提供振动应力和热应力，并满足下列指标： 振动应力：必须能够提供6个自由度的随机振动；振动能量带宽为2Hz～10000Hz；振台在无负载情况下至少能产生65Grms的振动输出。 热应力：目标是为产品创造快速温度变化的环境，要求至少45℃/min的温变率；温度许可范围至少为－90℃～＋170℃。

北京邮电大学数字电路实验报告

北京邮电大学 数字电路与逻辑设计实验 实验报告 实验名称：QuartusII原理图输入 法设计与实现 学院：北京邮电大学 班级： 姓名： 学号：

一．实验名称和实验任务要求 实验名称：QuartusII原理图输入法设计与实现 实验目的：⑴熟悉用QuartusII原理图输入法进行电路设计和仿真。 ⑵掌握QuartusII图形模块单元的生成与调用； ⑶熟悉实验板的使用。 实验任务要求：⑴掌握QuartusII的基础上，利用QuartusII用逻辑 门设计实现一个半加器，生成新的半加器图像模 块。 ⑵用实验内容（1）中生成的半加器模块以及逻辑门 实现一个全加器，仿真验证其功能，并能下载到实 验板上进行测试，要求用拨码开关设定输入信号， 发光二级管显示输出信号。 ⑶用3线—8线译码器（74L138）和逻辑门实现要求 的函数：CBA F+ C + =,仿真验证其 + B C B A A A B C 功能，，并能下载到实验板上进行测试，要求用拨 码开关设定输入信号，发光二级管显示输出信号。二．设计思路和过程 半加器的设计实现过程：⑴半加器的应有两个输入值，两个输出值。 a表示加数，b表示被加数，s表示半加和， co表示向高位的进位。

⑵由数字电路与逻辑设计理论知识可知 b a s ⊕=;b a co ?= 选择两个逻辑门：异或门和与门。a,b 为异 或门和与门的输入，S 为异或门的输出，C 为与门的输出。 (3)利用QuartusII 仿真实现其逻辑功能， 并生成新的半加器图形模块单元。 (4)下载到电路板，并检验是否正确。 全加器的设计实现过程：⑴全加器可以由两个半加器和一个或门构 成。全加器有三个输入值a,b,ci ，两个输 出值s,co ：a 为被加数，b 为加数，ci 为低 位向高位的进位。 ⑵全加器的逻辑表达式为： c b a s ⊕⊕= b a ci b a co ?+?⊕=)( ⑶利用全加器的逻辑表达式和半加器的逻 辑功能，实现全加器。 用3线—8线译码器（74L138）和逻辑门设计实现函数 CBA A B C A B C A B C F +++= 设计实现过程：⑴利用QuartusII 选择译码器（74L138）的图形模块

可靠性验收试验

可靠性验证试验 1 概述 1.1 试验目的与分类 可靠性验证试验的目的是验证产品的可靠性是否达到规定的要求。 可靠性验证试验根据产品的性质分为可靠性鉴定试验和可靠性验收试验。 可靠性鉴定试验是为了验证新开发产品的设计是否达到规定的最低可接收的可靠性定量要求。 验收试验是对正式转入批生产产品是否达到可靠性定量要求的试验。 1.2 统计概念 可靠性指标是产品性能的时间表征，是随机变量，无法用仪表检测，只有通过抽样试验或全寿命统计才能检验。 产品的可靠性使用指标，也是可靠性目标值，在合同中又称规定值，试验方案中可为θ0。 产品必须达到的可靠性使用指标称可靠性门限值，在合同中叫最低可接受值，试验方案中为θ1。 可靠性验证试验方案建立在统计数学基础上，与“个体”、“总体”、“批”、“样本”、“样本量”、“随机抽取”、“分布”等等统计学概念有关。 电子产品在寿命的随机失效期的故障率为常数，符合指数分布。 1.3 一般要求 试验大纲必须经过有关方面讨论批准。 统计试验方案由订购方在合同中规定，从有关标准中选定。 试验样品的技术状态应是经过批准的。 试验剖面应代表实际使用环境条件。 试验应在授权的实验室在用户代表监督下进行。 2 可靠性验证试验大纲 2.1 试验大纲内容 试验对象和数量； 试验目的、进度； 试验方案； 试验条件：试验设备提供的应力及其容差、检测设备及其精度要求； 试验场所，经订购方认可按以下顺序选定：独立实验室，合同乙方以外的实验室，合同乙方的实验室； 设置评审点、开展FRACAS要求。 2.2 试验方案 A 根据大纲要求制定试验方案，内容包括： 试验项目； 选定统计试验方案：号码、鉴别比D、风险α和β、试验时间T、样品数量、是否可替换； 试验剖面； 故障判据及分类； 有关试验方职责分工； 计划进度、经费、人员、维修器材等资源保证条件； 其它可靠性活动信息。 B 试验方案选定因素 定时截尾试验，累积试验时间是确定的，便于试验计划安排和管理，但不一定是最经济的； 定数截尾试验，累计相关故障数是确定的，在采取不可替换的试验时，样品数量是也确定的，也不一定是最经济的。 等概率比序贯试验，做出判据所需的故障数和累计试验时间比定时截尾和定数截尾试验的少，事前只能确定它们的最大值，但样品数量和试验时间难以确定，不便于试验计划安排和管理，最大累积试验时间和累计故障数有可能超过定时截尾或定数截尾的试验。 2.3 试验条件 可靠性验证试验剖面应典型代表产品的使用条件： 功能模式，当产品有超过1种使用模式时，应分析各自所占时间的百分比，确定模式转换的方

2016年北邮数电实验报告

数字电路与逻辑设计 实验报告 学院：电子工程学院 班级： 姓名： 学号： 班内序号：

目录 （一）实验名称及实验任务要求 (1) （二）模块端口说明及连接图 (2) 1.1实验三(3)模块端口说明 (2) 1.2实验三(3)连接图 (2) 2.1实验四模块端口说明 (2) 2.2实验四连接图 (2) （三）原理图或VHDL代码 (3) 1.实验一(2)原理图 (3) 2.实验三(3)VHDL代码 (4) 3.实验四VHDL代码 (7) （四）仿真波形 (10) 1.实验一(2)仿真波形 (10) 2.实验三(3)仿真波形 (11) 3.实验四仿真波形 (11) （五）仿真波形分析 (11) 1.实验一(2)仿真波形分析 (11) 2.实验三(3)仿真波形分析 (11) 3.实验四仿真波形分析 (11) （六）故障及问题分析 (12) （七）总结和结论 (13)

（一）实验名称及实验任务要求 实验一 名称：QuartusII原理图输入法设计与实现 实验任务要求：EDA基础实验1（1）、（2）、（3）必做，选做VHDL 实现加法器。 实验二 名称：用VHDL设计与实现组合逻辑电路 实验任务要求：四人表决器、8421码转格雷码、数码管译码器（下载测试）。 实验三 名称：用VHDL设计与实现时序逻辑电路 实验任务要求：分频器、8421十进制计数器、将分频器/8421十进制计数器/数码管译码器3个电路进行连接并下载。 实验四 名称：用VHDL设计与实现相关电路 实验任务要求：数码管动态扫描控制器、点阵扫描控制器。

（二）模块端口说明及连接图 1.1实验三(3)模块端口说明 cp：时钟信号输入； rst：8421十进制计数器异步置位； c[6...0]：七段二极管数码管显示； cat[7...0]：数码管显示。 1.2实验三(3)连接图 2.1实验四模块端口说明 cp：时钟信号输入； rst：8421计数器异步复位； lgt[6...0]：七段二极管数码管显示； cat[7...0]：数码管显示。 2.2实验四连接图

几何分布定数截尾步加试验的最优设计

收稿日期：2015-06-15修回日期：2015-07-07 基金项目： 国家青年基金（11301332）；2014年度河南省教育厅人文社会科学研究基金资助项目（2014-gh-556）作者简介：金 莹（1980-），女，河南新乡人，讲师，硕士。研究方向：数理统计、经济统计研究。 *摘 要：在逐步type-II 结尾场合下，研究产品简单步进应力加速寿命试验的优化设计。假定产品服从几何分布， 讨论了几何分布产品加速方程如何建立，利用次序统计量的大样本性质,得到相应的Fisher 信息矩阵，以对数特征寿命极大似然估计的渐进方差最小为准则结合Fisher 信息矩阵，给出了步进应力加速寿命试验的最优分配比例，通过模拟验证最优设计的有效性。 关键词：几何分布，定数截尾，步加试验，最优设计中图分类号：O212.6 文献标识码：A 几何分布定数截尾步加试验的最优设计* 金 莹 （河南财经政法大学统计学院，河南郑州450046） Optimum Design for Geometric Distribution of Step-stress Accelerated Life Testing Under Type-II Censoring JIN Ying （Henan University of Economics and Law ，Zhengzhou 450046，China ） Abstract ：This paper considers the optimum design of simple step -stress accelerated life tests under progressive type -II hybrid censoring.In the case that discuss establishment of the Accelerate equation,using large sample properties of order statistics,the corresponding Fisher information matrix are derived.Then the optimum allocation ratio is obtained under asymptotic variance criterion.the plan is proved effective through the example. Key words ： geometric distribution ，type-II censoring ，step-stress accelerated-testing （ALT ），optimum design 0引言 在可靠性理论的研究中，几何分布由于其无记忆 性，常用来描述产品（如开关等）的寿命。依靠科技进步，许多产品的寿命大幅增加，若想快速得到产品寿命数据，就需要进行加速寿命试验。本文讨论的是以几何分布产品对数特征寿命MLE 的渐近方差最小为原则，定数截尾步加试验应力的最优设计。 1最优设计 设G （p ）表示参数为p 的几何分布，X 表示几何分布产品的寿命，X~G （p ）即 ：设有n 个产品进行试验，寿命分布为X~G （p ）。首先在应力水平S 1下试验，当有r 1=［n π1］个产品失效时，将应力水平提升至S 2，当又有r 2=［n π2］个产品失效时结束试验。其中π1+π2=πc ，πc 为事先设定好的未失效比例。 设计的原则：给定S 2、S 0（设计应力）、πc 和n ，找到使产品在S 0下的对数特征寿命ln t 的MLE 的渐近方差AsV ar （ln t 赞）达到最小（精度达到最高）的S 1及在S 1、S 2上的样本数目比例π1、π2。 基本假设I 在应力S i 下，产品的寿命X i （i =1，2）均服从何分布，即X i ~G （p i ）。 加速系数：在应力S i 和S j 下，设可靠度为R 的可靠寿命分别t Ri 和t Rj 为，则比值 文章编号：1002-0640（2016） 08-0174-03Vol.41，No.8Aug ，2016 火力与指挥控制 Fire Control &Command Control 第41卷第8期2016年8月 174··

GJB装备研制与生产的可靠性通用大纲新版

GJB450-88装备研制与生产的可靠性通用大纲新版 标准的主要内容 本标准与原标准相比，在内容上首先是将GJB450－88对可靠性试验的分类引入，即根据试验场所，把设备可靠性试验分为实验室试验或现场试验。实验室可靠性试验是在规定的、受控制的工作环境条件下进行的可靠性试验，其工作环境可以模拟或不模拟现场条件。现场可靠性试验是在现场进行的可靠性验证试验或测定试验。对现场的工作环境、维修及测量条件需加以记录。根据通信设备在研制、生产、使用各阶段的要求，从可靠性试验的性质分，主要有可靠性工程试验和可靠性统计试验。可靠性工程试验由环境应力筛选（ESS）和可靠性增长试验组成，在于暴露故障并加以排除，通常在研制阶段进行，故本标准只介绍了相关的概念。可靠性统计试验有可靠性验证试验和可靠性测定试验，在于验证设备是否符合规定要求和测定其所达到的可靠性值，一般在研制阶段和生产阶段进行。本标准适用于可靠性统计试验。不适用于环境应力筛选和可靠性增长试验。 本标准对可靠性统计试验进行了系统的说明。首先说明了试验的程序、试验方案和选择，试验中的性能测试和维护，对故障的处理以及可靠性指标的计算等，并重点说明了故障分级和加权失效数以及总试验时间、置信区间的计算。可靠性试验的程序重点介绍了应进行的综合环境试验，提供了应进行的应力条件和时间要求。对于具体的可靠性鉴定试验、可靠性验收试验和可靠性测定试验，则按试验要求和方案选择、试验过程的管理、试验结果的处理等逐步进行了说明，务求试验的过程明确、精炼、可实施。 最后可靠性保证试验是更加工程化的试验手段，本标准系统介绍了该试验的程序、要求和试验时间。现场试验是通信设备较容易遇到的情况，而现场试验的重点在于数据的收集是否完整，本标准也进行了简要的说明。标准主要内容如下。 1.可靠性试验一般方案和要求 ⑴试验前的准备 进行可靠性试验前须编写可靠性试验计划，试验计划应充分利用研制和生产中的其他试验来提供信息，避免试验工作重复。依据试验计划和方案的要求进行试验准备，并组织进行对试验工作的评审，以确定是否已具备开始试验的条件，并保证受试设备、试验设备和所有

加速寿命试验公示计算汇总

加速寿命试验公示计算汇总 一、前言 新研究的医疗器械在上市前应确保在储存期( 通常 1 到5 年) 内产品的质量不应发生任何影响安全性和有效性变化，新产品一般没有实时和储存周围环境条件下确定有效期的技术资料。如果按实际储存时间和实际环境储存条件进行检测需要很长的时间才能获得结果，为了在实时有效期结果获得以前，有必要进行加速老化实验提供确定有效期的实验数据。 医疗器械设计人员能够准确地预计聚合物性能的变化对于医疗器械产业化是非常重要的。建立聚合物材料退行性变的动态模型是非常困难和复杂的，事实上材料短期产生的变化或变性的单速率表达形式可能不能充分反映研究的产品或材料在较长有效期的真实情况。为了设计试验方案能准确模拟医疗器械时间相关的退行性变，有必要对材料的组成、结构、成品用途、组装和灭菌过程的影响、失效模型机制和储存条件有深入的了解。 一个给定的聚合物具有以各种方式( 晶体、玻璃、不定形等) 组成的许多化学功能基团，并含有添加剂如抗氧化剂、无机充填剂、色素和加工助剂。所有这些变量的总和结合产品使用和储存条件变量决定了材料的化学性能的退行性变。得庆幸的是，生产医疗器械的大部分都是采用常用的几种高分子材料，这些材料已经广泛使用并且都进行了良好的表征。根据以碰撞理论为基础的阿列纽斯(Arrhenius) 模型建立的老化简化实验方案(Simplified Protocol for Accelerated Aging) ，也称“10 度原则”(10-degree rule) ，可在中度温度范围内适用于良好表征的聚合物，试验结果可以在要求的准确度范围内。 医疗器械或材料的老化是指随着时间的延长它们性能的变化，特别是与安全性和有效性有关的性能。加速老化是指将产品放置在比正常储存或使用环境更严格或恶劣的条件下，在较短的时间内测定器械或材料在正常使用条件下的发生变化的方法。 采用加速老化实验合格测试的主要原因是可以将医疗器械产品尽早上市。主要目标是可以给病人和企业带来利益，病人可以尽早使用这些最新的医疗器械，挽救病人的生命；企业可以增加销售获得效益，而又不会带来任何风险。尽管加速老化试验技术在学术领域已经比较成熟，但是这些技术在医疗器械产品的应用还是有限的。美国FDA 发布了一些关于接触眼镜、药物和生物制品等关于加速老化实验的指导性文件，还没有加速老化试验的标准。在我国尚无关于医疗器械有效期确定的加速老化的实验指导原则。国外许多医疗器械企业根据这些指导原则和文献建立自己的加速老化试验方法。（来源于：《中国医疗器械信息》2008年第14卷第5期《医疗器械加速老化实验确定有效期的基本原理和方法》） 二、实验条件和时间对比表

北邮数电实验报告

北京邮电大学实验报告 实验名称：数字电路与逻辑设计实验报告 学院：信息与通信工程学院 班级： 姓名： 学号： 序号： 日期：

实验三:用VHDL语言设计与实现逻辑电路 一、实验内容 1. 用VHDL语言设计实现一个带异步复位的8421码十进制计数器，仿真验证其功能，并下载到实验版测试。要求用按键设定输入信号，发光二极管显示输出信号； 2.用VHDL语言设计实现一个分频系数为12，分频输出信号占空比为50%的分频器，仿真验证其功能； 3.将（1），（2）和数码管译码器3个电路进行连接，并下载到实验板显示计数结果。 二、模块端口说明及连接图 1.分频器 2. 计数器 clk: 时钟输入信号 clk: 时钟信号输入 clear: 复位信号输入 clear: 复位信号输入 clk_out: 时钟分频后的信号输出 q: 计数器的输出 3.数码管显示 b: 数码管的输入信号 seg: 译码显示输出 onoff: 数码管的输出控制

4.连接图 三、实验分析 1.设计思路 本实验将之前的分频器和计数器以及数码管显示模块组合起来，实现了单个数码管现显示0~9，每隔0.5s切换一次显示内容。 COMPONENT div_12实现了时钟分频，将50MHz的单片机晶振时钟进行分频，输出频率2HZ占空比50%的方波时钟，以此时钟作为内部时钟驱动计数器。 COMPONENT jishuqi是一个十进制计数器，NUM从“0000”到“1001”循环变化，模为10。计数器的输出传递给数码管译码显示电路。 COMPONENT seg7_1是数码管译码显示电路，将收到的信号NUM译码并控制数码管的段锁存来控制数码管的显示。 整体来看，div-12提供了分频后2Hz的时钟，驱动计数器计数，计数的结果作为数码管译码显示模块的输入，根据计数器实时的数进行数码管的显示。综合起来就实现了设计的功能。 在进行电路的连接时，可直接在代码中分成三个进程来实现，也可通过为每个模块建立符号，连接电路图来实现。 2. 具体代码如下： LIBRARY IEEE; USE IEEE.STD_LOGIC_1164.ALL; USE IEEE.STD_LOGIC_UNSIGNED.ALL; ENTITY fenpinjishu IS PORT( clear2 :IN STD_LOGIC; clk1:IN STD_LOGIC; b1:OUT STD_LOGIC_VECTOR(6 downto 0); CAT:OUT STD_LOGIC_VECTOR(7 downto 0) );

北邮数电实验报告

北京邮电大学 实验报告实验名称：数电电路与逻辑设计实验 学院：信息与通信工程学院 班级： 姓名： 学号： 班内序号： 日期：

一． 实验一：Quartus II 原理图输入法设计 1. 实验名称和实验任务要求 (1)用逻辑门设计实现一个半加器，仿真验证其功能，并生成新的半加器图形模块 元。 (2)用(1)中生成的半加器模块和逻辑门设计实现一个全加器，仿真验证其功能，并下载到实验板测试，要求用拨码开关设定输入信号，发光二极管显示输出信号入信号。 (3)用3线-8线译码器（74LS138）和逻辑门设计实现函数 F=A B C +A B C +A B C + A B C 。 2. 实验原理图及波形图 （1）半加器 （2）全加器

（3）74LS38 3.仿真波形图分析 (1)半加器： 输入为a，b，输出S，CO（进位）。 当ab都为0时，半加和s=0，进位端co=0。 当ab都为1时，半加和s=0，进位端co=1。 当a=1,b=0 或a=0,b=1时，半加和s=1，进位端co=0。 (2)全加器：

输入a，b，输出S，CO（进位），ci（低进位）。 当a=0，b=0,ci=0,输出s=0，co=0。 当a=0，b=1或a=1，b=0又 ci=0,输出s=1，co=0。 当a=0，b=0,ci=1,输出s=1，co=0。 (3)74LS138 输入A,B,C,输出为3。 四个输出对应F中的四个最小项，Y0、Y2、Y4、Y7，以实现函数功能。 二．实验二：用 VHDL 设计与实现组合逻辑电路 1.实验名称和实验任务要求 (1)用VHDL语言设计实现一个共阴极7段数码管译码器，仿真验证其功能。要求用拨码开关设定输入信号，7段数码管显示输出信号。 (2) 用VHDL语言设计实现一个8421码转换为余3码的代码转换器，仿真验证其功能。要求用拨码开关设定输入信号，发光二极管显示输出信号。 (3) 用VHDL语言设计实现一个4位二进制奇校验器，输入奇数个’1’时，输出为’1’，否则输出’0’，仿真验证其功能。要求用拨码开关设定输入信号，发光二极管显示输出信号。 2．实验代码及波形图 （1）共阴极7段数码管译码器 LIBRARY IEEE; USE IEEE.STD_LOGIC_1164.ALL; USE IEEE.STD_LOGIC_UNSIGNED.ALL; ENTITY GUAN IS PORT(A:IN STD_LOGIC_VECTOR(3 DOWNTO 0); B:OUT STD_LOGIC_VECTOR(6 DOWNTO 0); C:OUT STD_LOGIC_VECTOR(5 DOWNTO 0)); END GUAN; ARCHITECTURE encoder_arch OF GUAN IS BEGIN PROCESS(A) BEGIN C<="011111"; CASE A IS WHEN"0000"=> B<="1111110";--0 WHEN"0001"=> B<="0110000";--1 WHEN"0010"=> B<="1101101";--2 WHEN"0011"=> B<="1111001";--3 WHEN"0100"=> B<="0110011";--4 WHEN"0101"=> B<="1011011";--5 WHEN"0110"=> B<="1011111";--6 WHEN"0111"=> B<="1110000";--7 WHEN"1000"=> B<="1111111";--8 WHEN"1001"=> B<="1111011";--9

机床可靠性定时截尾试验

机床可靠性定时截尾试验 摘要 对于数控机床来说，可靠性水平是其质量问题的关键。进行数控机床可靠性研究的基础是可靠性试验。可靠性试验是进行可靠性调查、可靠性评估、可靠性增长以及可靠性预计和分配的一种重要手段。可靠性试验的结果能够为判断产品是否达到指标要求提供依据，也可以为故障分析、可靠性改进措施的提出提供信息。可见，如何制定合理的试验方案非常重要。文中采用定时截尾试验对受试产品进行测试。 1.定时截尾试验 定时截尾试验是指在试验期间，对受试产品进行连续或短间隔监测，直至试验期结束，当试验中的实际故障数大于允许故障数则认为可靠性水平不合格，小于或等于允许故障数则认为可靠性水平合格。定时截尾试验方案的特点是试验时间固定，便于控制试验的进程，并能够对试验费用、资源等预估，可以有计划地安排和管理。鉴于上述种种优点，因此定时截尾试验在工程上应用比较广泛。当数控机床生产厂对某系列数控机床进行可靠性试验方案设计时，若希望有计划地安排试验进度，则应优先选择定时截尾试验方案。 1.1定时截尾试验方案设计的试验依据 可靠性试验方案设计的依据主要有：被检指标的检验上限和检验下限、决策风险和鉴别比。数控机床可靠性试验的被检验指标是平均故障间隔时间MTBF。试验设计前需给出MTFB检验上限和检验下限，分别用MTBF0和MTBF1表示。决策风险指的是生产防风险和使用方风险。把合格产品误判为不合格产品而加以拒收，从而使得生产方遭受损失，这种错误的概率被称为生产方风险。决策风险的取值大小将直接影响定时截尾试验方案设计中样本的大小、试验时间的长短及判别指标——允许故障数的大小。 1.2定时截尾试验方案设计 基于数控机床的故障数据服从威布尔模型的情况，针对某系列数控机床设计一套即符合数控机床之故障规律又便于实施的定时截尾试验方案。定时截尾试验

北邮-数电实验报告

北邮-数电实验报告

数字电路实验报告 学院：信息与通信工程 专业：信息工程 班级：2013211125 学号：2013210681 姓名：袁普

②：仿真波形图以及分析 波形图： 波形分析：通过分析ab ci三个输入在8中不同组合下的输出，发现与全加器的真值表吻合，说明实现了全加器的逻辑功能。同时看见波形中出现了毛刺（冒险），这也与事实一致。 ③：故障及问题分析 第一次在做全加器的时候发现找不到已经生成的半加器模块，后来发现是因为在建立工程时这两个项目没有建在同一个文件夹里，在调用的时候就找不到。后来我将全加器工程建在同一个文件夹里解决了此问题。

实验二：用VHDL设计和实现组合逻辑电路 一：实验要求 ①：用VHDL设计一个8421码转换为格雷码的代码转换器，仿真验证其功能。 ②：用VHDL设计一个4位二进制奇校验器，要求在为奇数个1时输出为1，偶数个1时输出为0，仿真验证其功能。 ③：用VHDL设计一个数码管译码器，仿真验证其功能，下载到实验板测试，要求用拨码开关设定输入信号，数码管显示输出信号，并且只使一个数码管有显示，其余为熄灭状态。 二：故障及问题分析 在刚开始实现让一个数码管显示的时候，我本来准备再设置6个输入和输出，通过实验板上的拨码来输入信息分别控制不同的数码管的的开闭状态，但是后来发现这样效率很低而且实验板上的拨码开关数量根本不够。在老师的提醒下，我最终在VHDL里直接增加了一个向量输出”011111”来直接控制cat0~5六个管脚，从而达到了实验的要求。

实验三：用VHDL设计和实现时序逻辑电路 一：实验要求 ①：用VHDL语言设计实现一个8421十进制计数器，要求有高电平复位功能，仿真验证其功能。 ②：用VHDL语言设计实现一个分频系数为12，输出为占空比50%方波的分频器，有高电平复位功能，仿真验证其功能。 ③：将（1），（2）和数码管译码器三个电路进行连接，仿真验证其功能，并下载到实验板进行测试，要求第三个数码管显示数字。二：报告内容 ①实验三（3）模块端口说明及模块代码 模块一：div12为一个有高电平复位功能的分频系数为12的分屏器，其输出是一个占空比50%的方波。此模块输入连接一个时钟输入，即可在输出端得到一个周期更大的方波输出。 library ieee; use ieee.std_logic_1164.all; use ieee.std_logic_unsigned.all; entity div12 is port( clear,clk:in std_logic; clk_out:out std_logic ); end div12; architecture struct of div12 is signal temp:integer range 0 to 5; signal clktmp:std_logic; begin process(clk,clear) begin if(clear='1') then

北邮数电实验分析报告-信息

北邮数电实验报告-信息

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数字电路与逻辑设计实验 姓名*** 学院信息与通信工程学院 专业信息工程 班级*** 学号**** 班内序号***

实验一 一、实验名称和实验任务要求 1.实验内容：QuartusII原理图输入法设计与实现。 2.实验目的： （1）熟悉用QuartusII原理图输入法进行电路设计和仿真。 （2）掌握QuartusII图形模块单元的生成与调用。 （3）熟悉实验板的使用。 3.实验任务要求： （1）用逻辑门设计实现一个半加器，仿真验证其功能，并生成新的半加器图像模块。 （2）用实验内容1中生成的半加器模块和逻辑门设计实现一个全加器，仿真验证其功能，并下载到实验板上测试。要求用拨码开关设定输入信 号，发光二极管显示输出信号。 （3）用3线—8线译码器（74LS138）和逻辑门实现函数 F=(/)(/)(/)+(/)(/)+(/)(/)+，仿真验证其功能，并下载到实 验板测试。要求用拨码开关设定输入信号，发光二极管显示输出信号。 二、原理图 半加器模块和逻辑门设计实现的全加器： 三、仿真波形图及分析 电路实现了全加器的功能。全加器是实现两个1位二进制数及低位来的进位相加求得和数及向高位进位的逻辑电路。由其原理可得逻辑表达式：sum=ain⊕bin⊕cin

cout = （ain⊕bin）cin + ain*bin。 列出真值表： 输入输出 ain bin cin cout sum 0 0 0 0 0 0 0 1 0 1 0 1 0 0 1 0 1 1 1 0 1 0 0 0 1 1 0 1 1 0 1 1 0 1 0 1 1 1 1 1 仿真波形对比真值表，可以看出波形图与理论值完全符合。 四、故障及问题分析 1、问题：按照逻辑表达式连接了全加器电路后，仿真波形很乱。 解决方法：思考后知道了应该把输入信号依次设成2的n次方，这样的仿真波形清楚容易分析。 2、问题：把代码下载到板子上的过程中，进行到37%的时候停了，等了2分钟 也没继续下载。 解决方法：再次重连USB尝试下载，手紧握着接线口，下载成功了，分析可能是接线口接触不好。 实验二 一、实验名称和实验任务要求 1.实验内容：用VHDL设计与实现组合逻辑电路。 2.实验目的： （1）熟悉用VHDL语言设计组合逻辑电路的方法。 （2）熟悉用QuartusII文本输入法进行电路设计。 3.实验任务要求： （1）用VHDL语言设计实现一个4位二进制奇校验器，输入奇数个‘1’时，输出为‘1’，否则输出‘0’，仿真验证其功能，并下载到实验板测 试。要求用拨码开关设定输入信号，发光二极管显示输出信号。 （2）用VHDL语言设计实现一个8421码转换为余3码的代码转换器，仿真验证其功能，并下载到实验板测试。要求用拨码开关设定输入信号， 发光二极管显示输出信号。

GJB装备研制与生产的可靠性通用大纲新版

GJB-装备研制与生产的可靠性通用大纲新版 GJB450-88装备研制与生产的可靠性通用大纲新版.txt GJB450-88装备研制与生产的可靠性通用大纲新版 标准的主要内容 本标准与原标准相比，在内容上首先是将GJB450－88对可靠性试验的分类引入，即根据试验场所，把设备可靠性试验分为实验室试验或现场试验。实验室可靠性试验是在规定的、受控制的工作环境条件下进行的可靠性试验，其工作环境可以模拟或不模拟现场条件。现场可靠性试验是在现场进行的可靠性验证试验或测定试验。对现场的工作环境、维修及测量条件需加以记录。根据通信设备在研制、生产、使用各阶段的要求，从可靠性试验的性质分，主要有可靠性工程试验和可靠性统计试验。可靠性工程试验由环境应力筛选（ESS）和可靠性增长试验组成，在于暴露故障并加以排除，通常在研制阶段进行，故本标准只介绍了相关的概念。可靠性统计试验有可靠性验证试验和可靠性测定试验，在于验证设备是否符合规定要求和测定其所达到的可靠性值，一般在研制阶段和生产阶段进行。本标准适用于可靠性统计试验。不适用于环境应力筛选和可靠性增长试验。 本标准对可靠性统计试验进行了系统的说明。首先说明了试验的程序、试验方案和选择，试验中的性能测试和维护，对故障的处理以及可靠性指标的计算等，并重点说明了故障分级和加权失效数以及总试验时间、置信区间的计算。可靠性试验的程序重点介绍了应进行的综合环境试验，提供了应进行的应力条件和时间要求。对于具体的可靠性鉴定试验、可靠性验收试验和可靠性测定试验，则按试验要求和方案选择、试验过程的管理、试验结果的处理等逐步进行了说明，务求试验的过程明确、精炼、可实施。 最后可靠性保证试验是更加工程化的试验手段，本标准系统介绍了该试验的程序、要求和试验时间。现场试验是通信设备较容易遇到的情况，而现场试验的重点在于数据的收集是否完整，本标准也进行了简要的说明。标准主要内容如下。 1.可靠性试验一般方案和要求

电工电子产品加速寿命试验

电工电子产品加速寿命试验

电工电子产品加速寿命试验之一 1概述 寿命试验是基本的可靠性试验方法，在正常工作条件下，常常采用寿命试验方法去评估产品的各种可靠性特征。但是这种方法对寿命特别长的产品来说，不是一种合适的方法。因为它需要花费很长的试验时间，甚至来不及作完寿命试验，新的产品又设计出来，老产品就要被淘汰了。因此，在寿命试验的基础上形成的加大应力、缩短时间的加速寿命试验方法逐渐取代了常规的寿命试验方法。 加速寿命试验是用加大试验应力(诸如热应力、电应力、机械应力等)的方法，激发产品在短时间内产生跟正常应力水平下相同的失效，缩短试验周期。然后运用加速寿命模型，评估产品在正常工作应力下的可靠性特征。加速环境试验是近年来快速发展的一项可靠性试验技术。该技术突破了传统可靠性试验的技术思路，将激发的试验机制引入到可靠性试验，可以大大缩短试验时间，提高试验效率，降低试验耗损。 2 常见的物理模型 元器件的寿命与应力之间的关系，通常是以一定的物理模型为依据的，下面简单介绍一下常用的几个物理模型。 2.1失效率模型 失效率模型是将失效率曲线划分为早期失效、随机失效和磨损失效三个阶段，并将每个阶段的产品失效机理与其失效率相联系起来，形成浴盆曲线。该模型的主要应用表现为通过环境应力筛选试验，剔除早期失效的产品，提高出厂产品的可靠性。

2.1 失效率模型图示： O 1 典型的失效率曲线 规定的失效率 随机失效 早期 失效 磨损失效 t 2.2应力与强度模型 该模型研究实际环境应力与产品所能承受的强度的关系。 应力与强度均为随机变量，因此，产品的失效与否将决定于应力分布和强度分布。随着时间的推移，产品的强度分布将逐渐发生变化，如果应

可靠性-LED加速老化寿命试验方法概论Word文档

一、可靠性理论基础 1.可靠度： 如果有N个LED产品从开始工作到t时刻的失效数为n(t)，当N足够大时，产品在t时刻的可靠度可近似表示为： 随时间的不断增长，将不断下降。它是介于1与0之间的数，即。 2.累积失效概率： 表示发光二极管在规定条件下工作到t这段时间内的失效概率，用F(t)表示，又称为失效分布函数。 如果N个LED产品从开始工作到t时刻的失效数为n(t)，则当N足够大时，产品在该时刻的累积失效概率可近 似表示为： 3.失效分布密度： 表示规定条件下工作的发光二极管在t时刻的失效概率。失效分布函数的导函数称为失效分布密度，其表达式如下： ?早期失效期； ?偶然失效期(或稳定使用期) ； ?耗损失效期。 二、寿命 老化：LED发光亮度随着长时间工作而出现光强或光亮度衰减现象。器件老化程度与外加恒流源的大小有关， 可描述为： B t为t时间后的亮度，B0为初始亮度。通常把亮度降到B t=0.5B0所经历的时间t称为二极管的寿命。 1. 平均寿命 如果已知总体的失效分布密度f（t），则可得到总体平均寿命的表达式如下： 2. 可靠寿命 可靠寿命T R是指一批LED产品的可靠度下降到r时，所经历的工作时间。T R可由R（T R）=r求解，假如该产品的失效分布属指数分布规律，则： 即可求得T R如下:

3. 中位寿命 中位寿命T0.5指产品的可靠度R(t)降为50%时的可靠寿命，即：对于指数分布情 况，可得： 二、LED寿命测试方法 LED寿命加速试验的目的概括起来有： ?在较短时间内用较少的LED估计高可靠LED的可靠性水平 ?运用外推的方法快速预测LED在正常条件下的可靠度； ?在较短时间内提供试验结果，检验工艺； ?在较短时间内暴露LED的失效类型及形式，便于对失效机理进行研究，找出失效原因； ?淘汰早期失效产品，测定元LED的极限使用条件 1. 温度加速寿命测试法 由于通常LED寿命达到10万小时左右，因此要测得其常温下的寿命时间太长，因此采用加速寿命的方法。 根据高温加速寿命得的结果外推其他温度下的寿命。LED温度加速老化寿命测试原理是基于Arrhenius 模型。 利用该模型可以发现由温度应力决定的反应速度的依赖关系，即 式中L为寿命，Ea为激活能，A为常数，k为玻尔兹曼常数，T为热力学温度。 因此测试温度应有两个，即还需测得另一个温度T2下器件寿命为L2。可以求得激活能Ea。样便可以求得温度 T1对某温度T3下的加速系数K3: 。有： 可见实验需要测得同一批器件在两个不同温度下的寿命，然后推得其他温度下的寿命。 这就要求被测器件的数量应足够多，才能避免个性影响，而得到共性，即得到统计寿命值才真实。 LED从正常状态进入劣化状态的过程中，存在能量势垒，跃过这个势垒所需要的能量必须由外部供给，这个能量势垒就称为激活能。