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AlGaInP LED出光效率的模拟

AlGaInP LED出光效率的模拟
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板式精馏塔的操作和塔效率的测定实验(doc 11页)

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板式精馏塔的操作与塔效率的测定 一、实验目的 (1)熟悉板式塔的结构及精馏流程; (2)理论联系实际,掌握精馏塔的操作; (3)学会精馏塔塔效率的测定方法。 二、基本原理 1.二元精馏过程的质量指标和操作变量 精馏塔的进料通常是前一工序或另一精馏塔的出料,为简化讨论,认为它稳定不变。 二元精馏过程的质量指标是塔顶塔釜的轻组分含量和。主要操作变量是塔顶采出率D和塔釜加热量Qh。 2.维持连续精馏过程稳定操作的条件 (1)根据进料量及组成、产品的分离要求,严格维持物 料平衡。 1)总物料平衡:塔的总进料量应恒等于总出料量。即 F = D + W 当进料量大于出料量时,会引起淹塔;相反,出料量大于进料量时,会引起塔釜干料,最终都将破坏精馏塔的

正常操作。 2)各组分的物料平衡:在满足总物料平衡的情况下,应同时满足轻组分物料平衡。即 由上述二式可知:为获得合格产品,必须保证一定的塔顶、塔釜采出率: 和 实际操作中,塔釜采出率W一般是根据塔釜液位的高低来操作,而塔顶采出率D的大小则直接影响着质量指标。(2)精馏塔应有足够的分离能力。 在塔板数一定的情况下,正常的精馏操作要有足够的回流比,才能保证一定的分离效果,得到合格的产品。而回流比的大小是由塔内热量衡算所决定,其中,塔釜加热量Qh是个十分重要的操作变量。 (3)精馏塔操作时,塔内应有正常的气液负荷量,避免发生以下不正常的操作状况: 1)严重的液沫夹带现象 上升气流将塔板上的液体的一部分带至上层塔板,这种现象称为液沫夹带。液沫夹带是一种与液体主流方向相反的流动,属返混现象,将使板效率降低。液流量

筛板精馏塔实验报告

筛板精馏塔实验报告 学院:化学化工学院 姓名: 学号: 指导老师: 实验时间:2016年6月3日

摘要本文对筛板精馏塔的性能进行测试,主要对乙醇正丙醇的精馏过程中的不同实验条件进行探讨;得出了进料流量、回流比与全塔效率的关系,确定了该筛板精馏塔的最佳操作条件。 关键词精馏;回流比;全回流;部分回流;全塔效率 Abstract the performance of the test sieve distillation column, mainly ethanol, n-propanol in the distillation process in different experimental conditions were discussed; obtained feed rate, reflux ratio with the whole tower efficiency is determined that the screen optimum operating conditions plate rectification column. Key words Distillation;Reflux ratio;Total reflux;partial reflux;The tower efficiency 前言精馏过程的节能措施一直是人们普遍关注的问题。精馏操作是化工生产中应用非常广泛的一种单元操作,也是化工原理课程的重要章节。分析运行中的精馏塔,当某一操作条件改变时的分离效果变化,属于精馏的操作型问题。这类问题取材于工程实践,是培养工程观念、提高学生解决实际问题能力的好方法,但同时也成为学习的难点。在工业生产中,充分掌握操作条件各类因素的影响,对提高产品的质量稳定生产,提高效益有重要的意义。本研究从进料流量、回流比、全回流和部分回流等操作因素对数字型筛板精馏塔进行全面考察得出一系列可靠直观的结果,加深对精馏操作中一些工程概念的理解,对工业生产有一定的指导意义。通过本实验,我们得出了大量的实验数据,由计算机绘图找出最优一组实验参数,在这组参数下进行提纯将会节约大量能源,同时为今后开出的设计型、综合型、研究型的实验项目,为学生的创新性科研项目具有重要的教改意义。 1.实验部分 1.1实验目的 1.1.1了解板式精馏塔的结构及精馏流程。

芯片设计和生产流程

芯片设计和生产流程 大家都是电子行业的人,对芯片,对各种封装都了解不少,但是你 知道一个芯片是怎样设计出来的么?你又知道设计出来的芯片是 怎么生产出来的么?看完这篇文章你就有大概的了解。 复杂繁琐的芯片设计流程 芯片制造的过程就如同用乐高盖房子一样,先有晶圆作为地基,再层层往上叠的芯片制造流程后,就可产出必要的IC芯片(这些会在后面介绍)。然而,没有设计图,拥有再强制造能力都没有用,因此,建筑师的角色相当重要。但是IC设计中的建筑师究竟是谁呢?本文接下来要针对IC设计做介绍。 在IC生产流程中,IC多由专业IC设计公司进行规划、设计,像是联发科、高通、Intel等知名大厂,都自行设计各自的IC芯片,提供不同规格、效能的芯片给下游厂商选择。因为IC是由各厂自行设计,所以IC设计十分仰赖工程师的技术,工程师的素质影响着一间企业的价值。然而,工程师们在设计一颗IC芯片时,究竟有那些步骤?设计流程可以简单分成如下。

设计第一步,订定目标 在IC设计中,最重要的步骤就是规格制定。这个步骤就像是在设计建筑前,先决定要几间房间、浴室,有什么建筑法规需要遵守,在确定好所有的功能之后在进行设计,这样才不用再花额外的时间进行后续修改。IC设计也需要经过类似的步骤,才能确保设计出来的芯片不会有任何差错。 规格制定的第一步便是确定IC的目的、效能为何,对大方向做设定。接着是察看有哪些协定要符合,像无线网卡的芯片就需要符合IEEE802.11等规範, 不然,这芯片将无法和市面上的产品相容,使它无法和其他设备连线。最后则是

确立这颗IC的实作方法,将不同功能分配成不同的单元,并确立不同单元间连结的方法,如此便完成规格的制定。 设计完规格后,接着就是设计芯片的细节了。这个步骤就像初步记下建筑的规画,将整体轮廓描绘出来,方便后续制图。在IC芯片中,便是使用硬体描述语言(HDL)将电路描写出来。常使用的HDL有Verilog、VHDL等,藉由程式码便可轻易地将一颗IC地功能表达出来。接着就是检查程式功能的正确性并持续修改,直到它满足期望的功能为止。 ▲32bits加法器的Verilog范例。 有了电脑,事情都变得容易 有了完整规画后,接下来便是画出平面的设计蓝图。在IC设计中,逻辑合成这个步骤便是将确定无误的HDL code,放入电子设计自动化工具(EDA tool),让电脑将HDL code转换成逻辑电路,产生如下的电路图。之后,反

芯片的制造工艺流程

芯片的制造 半导体产业最上游是IC设计公司与硅晶圆制造公司,IC 设公司计依客户的需求设计出电路图,硅晶圆制造公司则以多晶硅为原料制造出硅晶圆。中游的IC制造公司主要的任务就是把IC设计公司设计好的电路图移植到硅晶圆制造公司制造好的晶圆上。完成后的晶圆再送往下游的IC封测厂实施封装与测试,即大功告成! (1)硅晶圆制造 半导体产业的最上游是硅晶圆制造。事实上,上游的硅晶圆产业又是由三个子产业形成的,依序为硅的初步纯化→多晶硅的制造→硅晶圆制造。 a硅的初步纯化 将石英砂(SiO2)转化成冶金级硅(硅纯度98%以上)。 b多晶硅的制造 将冶金级硅制成多晶硅。这里的多晶硅可分成两种:高纯度(99.999999999%,11N)与低纯度(99.99999%,7N)两种。高纯度是用来制做IC等精密电路IC,俗称半导体等级多晶硅;低纯度则是用来制做太阳能电池的,俗称太阳能等级多晶硅。 c硅晶圆制造 将多晶硅制成硅晶圆。硅晶圆又可分成单晶硅晶圆与多晶硅晶圆两种。一般来说,IC制造用的硅晶圆都是单晶硅晶

圆,而太阳能电池制造用的硅晶圆则是单晶硅晶圆与多晶硅晶圆皆有。一般来说,单晶硅的效率会较多晶硅高,当然成本也较高。 (2)IC设计 前面提到硅晶圆制造,投入的是石英砂,产出的是硅晶圆。IC设计完成后,产出则是电路图,最后制成光罩送往IC 制造公司,设计就告一段落了! 不过,要让理工科以外的人了解IC设计并不是件容易的事(就像要让念理工的人了解复杂的衍生性金融商品一样),作者必需要经过多次外出取材才有办法办到。这里先大概是一下观念,请大家发挥一下你们强大的想像力! 简单来讲,IC设计可分成几个步骤,依序为:规格制定→逻辑设计→电路布局→布局后模拟→光罩制作。 a规格制定 品牌厂或白牌厂(没有品牌的品牌厂)的工程师和IC设计工程师接触,并开出他们需要的IC的规格给IC设计工程师。讨论好规格后,工程师们就开始工作了! b逻辑设计 所谓的“逻辑”设计图,就是指它是由简单的逻辑元件构成,而不是由半导体种类电路元件(如二极体、电晶体等)所构成。什么是逻辑元件呢?像是AND Gate(故名思意,两个输入都是1的话,输出才是1,否则输出就是0),OR Gate(两

Aspen plus模拟精馏塔说明书

Aspen plus模拟精馏塔说明书 一、设计题目 根据以下条件设计一座分离甲醇、水、正丙醇混合物的连续操作常压精馏塔: 生产能力:100000吨精甲醇/年;原料组成:甲醇70%w,水28.5%w,丙醇1.5%w;产品组成:甲醇≥99.9%w;废水组成:水≥99.5%w;进料温度:323.15K;全塔压降:0.011MPa;所有塔板Murphree 效率0.35。 二、设计要求 对精馏塔进行详细设计,给出下列设计结果并利用AutoCAD绘制塔设备图,并写出设计说明。 (1).进料、塔顶产物、塔底产物、侧线出料流量; (2).全塔总塔板数N;最佳加料板位置N F;最佳侧线出料位置N P; (3).回流比R; (4).冷凝器和再沸器温度、热负荷; (5).塔内构件塔板或填料的设计。 三、分析及模拟流程 1.物料衡算(手算) 目的:求解 Aspen 简捷设计模拟的输入条件。 内容: (1)生产能力:一年按8000 hr计算,进料流量为 100000/(8000*0.7)=17.86 t/hr。 (2)原料、塔顶与塔底的组成(题中已给出): 原料组成:甲醇70%w,水28.5%w,丙醇1.5%w; 产品:甲醇≥99.9%w;废水组成:水≥99.5%w。 (3).温度及压降: 进料温度:323.15K;全塔压降:0.011MPa; 所有塔板Murphree 效率0.35。 2.用简捷模块(DSTWU)进行设计计算 目的:对精馏塔进行简捷计算,根据给定的加料条件和分离要求计算最小回流比、最小理论板数、理论板数和加料板位置。 3.灵敏度分析 目的:研究回流比与塔径的关系(N T-R),确定合适的回流比与塔板数;

芯片是沙子做的电脑芯片制作过程全揭秘

芯片是沙子做的?电脑芯片制作过程全揭秘 现在市场上产品丰富,琳琅满目,当你使用着配置了最新款芯片的电脑在互联网上纵横驰骋,在各种程序应用之间操作自如的时候,有没有兴趣去想一想这个头不大、功能不小的芯片是怎么制作出来的呢。 在今天的半导体制造业中,计算机中央处理器无疑是受关注程度最高的领域,而这个领域中众所周知的两大巨头,其所遵循的处理器架构均为x86,而另外一家号称信息产业的蓝色巨人的IBM,也拥有强大的处理器设计与制造能力,它们最先发明了应变硅技术,并在90纳米的处理器制造工艺上走在最前列。 在今天的文章中,我们将一步一步的为您讲述中央处理器从一堆沙子到一个功能强大的集成电路芯片的全过程。 制造芯片的基本原料 如果问及芯片的原料是什么,大家都会轻而易举的给出答案—是硅。这是不假,但硅又来自哪里呢?其实就是那些最不起眼的沙子。难以想象吧,价格昂贵,结构复杂,功能强大,充满着神秘感的芯片竟然来自那根本一文不值的沙子。当然这中间必然要经历一个复杂的制造过程才行。不过不是随便抓一把沙子就可以做原料的,一定要精挑细选,从中提取出最最纯净的硅原料才行。试想一下,如果用那最最廉价而又储量充足的原料做成芯片,那么成品的质量会怎样,你还能用上像现在这样高性能的处理器吗? 除去硅之外,制造芯片还需要一种重要的材料就是金属。目前为止,铝已经成为制作处理器内部配件的主要金属材料,而铜则逐渐被淘汰,这是有一些原因的,在目前的芯片工作电压下,铝的电迁移特性要明显好于铜。所谓电迁移问题,就是指当大量电子流过一段导体时,导体物质原子受电子撞击而离开原有位置,留下空位,空位过多则会导致导体连线断开,而离开原位的原子停留在其它位置,会造成其它地方的短路从而影响芯片的逻辑功能,进而导致芯片无法使用。 这就是许多Northwood Pentium 4换上SNDS(北木暴毕综合症)的原因,当发烧友们第一次给Northwood Pentium 4超频就急于求成,大幅提高芯片电压时,严重的电迁移问题导致了芯片的瘫痪。这就是intel首次尝试铜互连技术的经历,它显然需要一些改进。不过另一方面讲,应用铜互连技术可以减小芯片面积,同时由于铜导体的电阻更低,其上电流通过的速度也更快。 除了这两样主要的材料之外,在芯片的设计过程中还需要一些种类的化学原料,它们起着不同的作用,这里不再赘述。 芯片制造的准备阶段

不同回流位置板式精馏塔效率的测定比较

1 / 1 不同回流位置板式精馏塔效率的测定比较 一﹑实验目的 1.了解精馏装置的基本流程及筛板精馏塔的结构,熟悉精馏操作方法; 2. 熟悉板式精馏塔结构和精馏流程,掌握精馏操作方法。 3. 掌握精馏塔全塔效率的测定方法。 4. 研究不同回流位置下的塔顶组成、全塔效率的变化。 二、基本原理 1.精馏塔操作要领 (1)维持好物料平衡,即 F =D +W Fx F =Dx D +Wx W (1) 或 W D F D W D W F x x x x F W x x x x F D --=--= (2) 式中:F 、D 、W — 分别为进料、馏出液、釜残液的流率,kmol.s -1 ; x F 、x D 、x W ― 分别为进料、馏出液、釜残液中轻组分的组成摩尔分率; D/F 、W/F ―分别为塔顶、塔底的采出率。 若物料不平衡,当F >D+W 时,将导致塔釜、降液管和塔板液面升高,压降增大,雾沫夹带增加,严重时甚至会淹塔;当F <D+W 时,将导致塔釜、降液管和塔板液面降低,漏液量增加,塔板上气液分布不均匀,严重时甚至会干塔。 在规定的精馏条件下,若塔顶采出率D/F 超出正常值,即使精馏塔具有足够的分离能力,从塔顶也不能得到规定的合格产品;若塔底采出率W/F 超出正常值,则釜残液的组成将增加,既不能达到分离要求,也增加了轻组分的损失、 (2)控制好回流比。精馏塔应采用适宜的回流比操作,在塔板数固定的情况下,当满足Dx D ≤Fx F 且塔处于正常流体力学状态时,加大回流比能提高塔顶馏出液组成x D ,但能耗也随之增加。加大回流比的措施,一是减少馏出液量,二是加大塔釜的加热速率和塔顶的冷凝速率,但塔釜的加热速率和塔顶的冷凝速率在装置中是有限度的。因此在操作过程中,调节回流比时要将两者协调好,尤其是后者涉及维持热量平衡。 (3)精馏塔是分离均相混合物的重要设备。衡量板式精馏塔分离性能,一般用总板效率表示: p T N N E = (3) 式中:E —总板效率; N T —理论板层数; N P —实际板层数。 理论板层数N T 的求法可用M-T 图解法。本实验是使用乙醇-水二元物系在全回流条件下操作,只需测定塔顶流出液组成x D 和釜液组成x w ,即可用图解法求得N T ,实际板层数N p 为已知,所以利用上式可求得塔效率E . 三、实验设备

精馏塔效率的测定

精馏塔效率的测定 1. 实验目的 ①熟悉板式精馏塔和填料精馏塔的结构、性能与操作。 ②掌握板式塔全塔效率及填料塔等板高度的测定方法。 ③了解精馏操作中各项操作因素之间的关系与相互影响。 2. 实验原理 板式精馏塔连续稳态操作时涉及的基本参数有:F 、D 、W 、F x 、D x 、W x 、α、R 、q 、E 、p N 共计11个,操作中必然满足的基本关系有以下几方面: ①物料平衡:包括总物料与各组分的平衡,基本衡算式为: W D F += (3-25) W D F Wx Dx Fx += (3-26) 式中:F 、D 、W — 进料,塔顶、塔底产品的摩尔流率,s m ol F x 、D x 、W x — 进料,塔顶、塔底产品中轻组分的摩尔分率,无因次 上述参量中,只有4个独立变量,通常F 、F x 、D 、W 确定,则D x 、W x 唯一确定。 ②相平衡:采用相对挥发度,则平衡方程为: ()x x y 11-+=αα (3-27) 式中:α— 平均相对挥发度,无因次 ③在分离效率E ,分离程度D x 、W x 确定的前提下,操作回流比R 与实际塔板数p N 的对应;若人为改变操作参数从而引起回流比的改变,在分离效率与塔板数固定的前提下,必然引起塔两端产品浓度的改变。 ④进料参数的固定,进料参数包括进料量F 与进料浓度F x ,进料的热状态参数q 以及引入进料的位置进N ,人为改变上述参数,必然破坏精馏塔已有的平衡,引起相应操作参数的改变,最终使塔建立新的平衡,从而改变分离效果。 除上述平衡外,精馏操作中还要满足热量的平衡,即塔底加热量与塔顶冷凝量的对应以及冷、热物料热量交换的平衡,在恒摩尔流假定的前提下,热量平衡与物料平衡是相互关联、相互制约的,在数学描述中可以不再单独考虑。 常用的精馏塔效率分为单板效率和全塔效率。 单板效率亦称作默弗里效率,反映塔板实际增浓度与理论板增浓度的差距,可分别以气相浓度和液相浓度表示,气相默弗里效率的定义为: 11 +* +--=n n n n mv y y y y E (3-28) 式中:n y 、1+n y — 分别为离开和进入第n 块板的气流浓度 n * n y — 与离开第n 板的液流浓度n x 成平衡的气相浓度 全塔效率E 可看作精馏塔中各单板效率的平均值,是理论塔板数t N 与实际塔板数的比值:

集成电路制造工艺流程之详细解答

集成电路制造工艺流程之详细解答 1.晶圆制造( 晶体生长-切片-边缘研磨-抛光-包裹-运输 ) 晶体生长(Crystal Growth) 晶体生长需要高精度的自动化拉晶系统。 将石英矿石经由电弧炉提炼,盐酸氯化,并经蒸馏后,制成了高纯度的多晶硅,其纯度高达0.99999999999。 采用精炼石英矿而获得的多晶硅,加入少量的电活性“掺杂剂”,如砷、硼、磷或锑,一同放入位于高温炉中融解。 多晶硅块及掺杂剂融化以后,用一根长晶线缆作为籽晶,插入到融化的多晶硅中直至底部。然后,旋转线缆并慢慢拉出,最后,再将其冷却结晶,就形成圆柱状的单晶硅晶棒,即硅棒。 此过程称为“长晶”。 硅棒一般长3英尺,直径有6英寸、8英寸、12英寸等不同尺寸。 硅晶棒再经过研磨、抛光和切片后,即成为制造集成电路的基本原料——晶圆。 切片(Slicing) /边缘研磨(Edge Grinding)/抛光(Surface Polishing) 切片是利用特殊的内圆刀片,将硅棒切成具有精确几何尺寸的薄晶圆。 然后,对晶圆表面和边缘进行抛光、研磨并清洗,将刚切割的晶圆的锐利边缘整成圆弧形,去除粗糙的划痕和杂质,就获得近乎完美的硅晶圆。 包裹(Wrapping)/运输(Shipping) 晶圆制造完成以后,还需要专业的设备对这些近乎完美的硅晶圆进行包裹和运输。 晶圆输送载体可为半导体制造商提供快速一致和可靠的晶圆取放,并提高生产力。 2.沉积 外延沉积 Epitaxial Deposition 在晶圆使用过程中,外延层是在半导体晶圆上沉积的第一层。 现代大多数外延生长沉积是在硅底层上利用低压化学气相沉积(LPCVD)方法生长硅薄膜。外延层由超纯硅形成,是作为缓冲层阻止有害杂质进入硅衬底的。 过去一般是双极工艺需要使用外延层,CMOS技术不使用。 由于外延层可能会使有少量缺陷的晶圆能够被使用,所以今后可能会在300mm晶圆上更多

aspenplus模拟精馏塔说明书

Aspen plus 模拟精馏塔说明书 一、设计题目根据以下条件设计一座分离甲醇、水、正丙醇混合物的连续操作常压精馏塔: 生产能力:100000吨精甲醇/年;原料组成:甲醇70%w, 水%w,丙醇%w;产品组成:甲醇≥%w;废水组成:水≥%w;进料温度:;全塔压降:;所有塔板Murphree 效率。 二、设计要求对精馏塔进行详细设计,给出下列设计结果并利用AutoCAD绘制塔设备图,并写出设计说明。 (1) . 进料、塔顶产物、塔底产物、侧线出料流量; (2) . 全塔总塔板数N;最佳加料板位置N F;最佳侧线出料位置N P; (3) . 回流比R; (4) . 冷凝器和再沸器温度、热负荷; (5) . 塔内构件塔板或填料的设计。 三、分析及模拟流程 1. 物料衡算(手算) 目的: 求解Aspen 简捷设计模拟的输入条件。 内容: (1) 生产能力: 一年按8000 hr 计算,进料流量为100000/(8000*= t/hr 。 (2) 原料、塔顶与塔底的组成(题中已给出) :原料组成:甲醇70%w,水%w,丙醇%w;产品: 甲醇≥%w;废水组成:水≥%w。(3) . 温度及压降:进料温度:;全塔压降:;所有塔板Murphree 效率。 2. 用简捷模块( DSTW)U进行设计计算 目的: 对精馏塔进行简捷计算,根据给定的加料条件和分离要求计 算最小回流比、最小理论板数、理论板数和加料板位置。 3. 灵敏度分析 目的: 研究回流比与塔径的关系 (N T-R),确定合适的回流比与塔板数;研究加料板位置对产品的影响,确定合适的加料板位置。 方法: 作回流比与塔径的关系曲线( N T-R),从曲线上找到期望的回流比及塔板数。 4. 用详细计算模块( RadFrac)进行计算目的: 精确计算精馏塔的分离能力和设备参数。

流程模拟系统初馏塔-常压蒸馏塔联合校正法应用

!!!!!!!!!!!!!!!!" " "" 简报 流程模拟系统初馏塔!常压蒸馏塔联合校正法应用 毛福忠! 黄河清" 兰鸿森! 胡红页! (!#福建炼油化工有限公司,福建泉州$%"!!&;"#华东理工大学信息科学与技术学院,上海"’’"$&) 摘要 针对流程模拟系统无法适应常压蒸馏塔的多路进料结构的问题,提出了初馏塔(常压蒸 馏塔联合校正法。该方法的关键是虚拟物料的处理、虚拟进料点的选择以及双塔联合校正。实际应用结果表明,该方法在保证常压蒸馏塔外特性有足够的模拟精度的前提下,有效地解决了基于)*+,-./0*软件的流程模拟系统中常压蒸馏塔进料数目受限制的问题。关键词:流程模拟 数据校正 常压蒸馏塔 预分馏塔 " 前 言 随着计算机仿真技术的发展,流程模拟技术不仅成为石油化工工艺过程分析、设计与优化的有效手段,而且广泛应用于大型生产企业的计划排产、生产调度以及生产装置的操作分析及优化。自!112年以来, 福建炼化公司(福炼)在工艺流程模拟软件)*+,-./0*的开发平台上,经过二次开发形成了具有特色的“桌面炼油厂”,为公司优化原料资源配置、消除装置瓶颈、提高经济效益作出了贡献。随着福炼生产装置的技术改造和扩大加工能力“桌面炼油厂”也经历了相应的校验与标定,提高了模拟数据的有效性准确性。特别是!11&年常减压蒸馏装置扩能改造为3#’4+56后,常压蒸馏塔的装置结构发生了较大变化,进料数目超出了)*+,-./0*流程模拟软件的限制,因此,必须采用特殊的处理方法,才能拓宽)*+,-./0*流程模拟软件的适用范围。 #双塔联合校正法 装置改造前后初馏塔(常压蒸馏塔进料状况见图!、"。 当初馏塔(常压蒸馏塔改造后,原有的流程模拟系统已不再适用,其根本原因是常压蒸馏塔的进料数目($路进料)超出了)*+,-./0*流程模拟软件的限制(只能处理二路进料)。双塔联合校正法的基本思路为:(!)将常压蒸馏塔的$路进料处理成两路虚拟进料,并确定一个虚拟进料点,使常压蒸馏塔的虚拟进料数目符合)*+,-./0*流程模拟软件 的要求;(")不刻意追求常压蒸馏塔内部温度分布的准确性,但要保证常压蒸馏塔外特性(如产品分布质量参数和主要操作条件)的预测精度;($)对初馏塔和常压蒸馏塔进行双塔联合校正,以回避初馏塔初一线、 初二线油的性质无法获知的难点。 图!初馏塔(常压蒸馏塔装置改造前的进料状况 $联合校正前需处理的问题$%" 常压蒸馏塔$路进料的处理 在进行常压蒸馏塔模型校正前,将$路进料处 理成"路进料,即将初馏塔两侧线的物流用混合器模型混合成一种物流。 收稿日期:"’’’(’1("&;修改稿收到日期:"’’!(’"(!3。 作者简介:毛福忠(!1%78),工程师,!11’年毕业于抚顺石油学院,"’’’年获石油大学工学硕士学位,现主要从事炼油厂流程模拟及先进控制技术的研究开发工作。 石油炼制与化工 "’’!年%月 )9:;<=9>4);

板式精馏塔实验报告

板式精馏塔实验报告 学院:广州大学生命科学学院 班级:生物工程121班 分组:第一组 姓名: 其他组员: 学号:

指导老师:尚小琴吴俊荣 实验时间2014.11.15 摘要:此次实验是对筛板精馏塔的性能进行全面的测试,实验主要对乙醇正丙醇精馏过 程中的研究不同条件下改变参量时的实验结果,根据实验数据计算得出塔釜浓度、回流比、进料位置等与全塔效率的关系,确定该筛板精塔的最优实验操作条件。 关键词:精馏;回流比;全塔效率;塔釜浓度 Abstract:The sieve plate distillation column performance comprehensive testing, mainly on ethanol isopropyl alcohol distillation process in the different experimental conditions were discussed, the reactor concentration, reflux ratio, feed location and the entire towerThe relationship between the efficiency of sieve plate tower, determine the optimal experimental conditions of fine. Key words: Distillation;reflux ratio;the tower efficiency 引言:精馏是利用混合液中两种液体的沸点差异来分离两种液体的过程。精馏装置有精馏塔、原料预热器、再沸器、冷凝器、釜液冷却器和产品冷却器等设备。热量自塔釜输入,物料在塔内经多次部分气化与部分冷凝进行精馏分离,由冷凝器和冷却器中的冷却介质将余热带走。精馏过程的节能措施一直是人们普遍关注的问题。精馏操作是化工生产中应用非常广泛的一种单元操作,也是化工原理课程的重要章节[2]。分析运行中的精馏塔,当某一操作条件改变时的分离效果变化,属于精馏的操作型问题[4]。本研究从塔釜浓度、回流比、进料位置、全回流和部分回流等操作因素对数字型筛板精馏塔进行全面考察[1],得出一系列可靠直观的结果,加深对精馏操作中一些工程概念的理解,对工业生产有一定的指导意义通过本实验我们得出了大量的实验数据,由计算机绘图找出最优一组实验参数,在这组参数下进行提纯将会节约大量能源,同时为今后开出的设计型、综合型、研究型的实验项目,为学生的创新性科研项目具有重要的教改意义[3]。 1.实验部分

芯片制作流程样本

芯片制作全过程 芯片的制造过程可概分为晶圆处理工序( Wafer Fabrication) 、晶圆针测工序( Wafer Probe) 、构装工序( Packaging) 、测试工序( Initial Test and Final Test) 等几个步骤。其中晶圆处理工序和晶圆针测工序为前段( Front End) 工序, 而构装工序、测试工序为后段( Back End) 工序。 1、晶圆处理工序: 本工序的主要工作是在晶圆上制作电路及电子元件( 如晶体管、电容、逻辑开关等) , 其处理程序一般与产品种类和所使用的技术有关, 但一般基本步骤是先将晶圆适当清洗, 再在其表面进行氧化及化学气相沉积, 然后进行涂膜、曝光、显影、蚀刻、离子植入、金属溅镀等重复步骤, 最终在晶圆上完成数层电路及元件加工与制作。 2、晶圆针测工序: 经过上道工序后, 晶圆上就形成了一个个的

小格, 即晶粒, 一般情况下, 为便于测试, 提高效率, 同一片晶圆上制作同一品种、规格的产品; 但也可根据需要制作几种不同品种、规格的产品。在用针测( Probe) 仪对每个晶粒检测其电气特性, 并将不合格的晶粒标上记号后, 将晶圆切开, 分割成一颗颗单独的晶粒, 再按其电气特性分类, 装入不同的托盘中, 不合格的晶粒则舍弃。 3、构装工序: 就是将单个的晶粒固定在塑胶或陶瓷制的芯片基座上, 并把晶粒上蚀刻出的一些引接线端与基座底部伸出的插脚连接, 以作为与外界电路板连接之用, 最后盖上塑胶盖板, 用胶水封死。其目的是用以保护晶粒避免受到机械刮伤或高温破坏。到此才算制成了一块集成电路芯片( 即我们在电脑里能够看到的那些黑色或褐色, 两边或四边带有许多插脚或引线的矩形小块) 。 4、测试工序: 芯片制造的最后一道工序为测试, 其又可分为一般测试和特殊测试, 前者是将封装后的芯片置于各种环境下测试其电气特性, 如消耗功率、运行速度、耐压度等。经测试后的芯片, 依其电气特性划分为不同等级。而特殊测试则是根据客户特殊需求的技术参数, 从相近参数规格、品种中拿出部分芯片, 做有针对性的专门测试, 看是否能满足客户的特殊需求, 以决定是否须为客户设计专用芯片。经一般测试合格的产品贴上规格、型号及出厂日期等标识的标签并加以包装后即可出厂。而未经过测试的芯片则视其达到的参数情况定作降级品或废品。 制造芯片的基本原料

板式精馏塔设计系实验报告

板式精馏塔设计系实验报 告 Prepared on 24 November 2020

板式精馏塔实验报告 学院:广州大学化学化工学院 班级:10精工 分组:第七组 姓名: 其他组员: 指导老师: 摘要:本文对筛板精馏塔的性能进行全面的测试,主要对乙醇正丙醇精馏过程中的不同实验操作条件进行探讨,得出了塔釜浓度、回流比、进料位置等与全塔效率的关系,确定了该筛板精塔的最优实验操作条件。 关键词:精馏;回流比;全塔效率 Abstract:The sieve plate distillation column performance comprehensive testing, mainly on ethanol isopropyl alcohol distillation process in the different experimental conditions were discussed, the reactor concentration, reflux ratio, feed location and the entire towerThe relationship between the efficiency of sieve plate tower, determine the optimal experimental conditions of fine. Key words: Distillation;reflux ratio;the tower efficiency 引言:精馏过程的节能措施一直是人们普遍关注的问题。精馏操作是化工生产中应用非常广泛的一种单元操作,也是化工原理课程的重要章节[2]。分析运行中的精馏塔,当某一操作条件改变时的分离效果变化,属于精馏的操作型问题[4]。这类问题取材于工程实践,是培养工程观念、提高学生解决实际问题能力的好方法,但同时也成为学习的难点。在工业生产中,充分掌握操作条件各类因素的影响,对提高产品的质量稳定生产,提高效益有重要的意义。本研究从塔釜浓度、回流比、进料位置、全回流和部分回流等操作因素对数字型筛板精馏塔进行全面考察[1],得出一系列可靠直观的结果,加深对精馏操作中一些工程概念的理解,对工业生产有一定的指导意义通过本实验我们得出了大量的实验数据,由计算机绘图找出最优一组实验参数,在这组参数下进行提纯将会节约大量能源,同时为今后开出的设计型、综合型、研究型的实验项目,为学生的创新性科研项目具有重要的教改意义[3]。 1.实验部分 实验目的

芯片制作工艺流程

芯片制作工艺流程 工艺流程 1) 表面清洗 晶圆表面附着一层大约2um的Al2O3和甘油混合液保护之,在制作前必须进行化学刻蚀和表面清洗。 2) 初次氧化 有热氧化法生成SiO2 缓冲层,用来减小后续中Si3N4对晶圆的应力 氧化技术 干法氧化 Si(固) + O2 à SiO2(固) 湿法氧化 Si(固) +2H2O à SiO2(固) + 2H2 干法氧化通常用来形成,栅极二氧化硅膜,要求薄,界面能级和固定电荷密度低的薄膜。干法氧化成膜速度慢于湿法。湿法氧化通常用来形成作为器件隔离用的比较厚的二氧化硅膜。当SiO2膜较薄时,膜厚与时间成正比。SiO2膜变厚时,膜厚与时间的平方根成正比。因而,要形成较厚的SiO2膜,需要较长的氧化时间。SiO2膜形成的速度取决于经扩散穿过SiO2膜到达硅表面的O2及OH基等氧化剂的数量的多少。湿法氧化时,因在于OH基在SiO2膜中的扩散系数比O2的大。氧化反应,Si 表面向深层移动,距离为SiO2膜厚的0.44倍。因此,不同厚度的SiO2膜,去除后的Si表面的深度也不同。SiO2膜为透明,通过光干涉来估计膜的厚度。这种干涉色的周期约为200nm,如果预告知道是几次干涉,就能正确估计。对其他的透明薄膜,如知道其折射率,也可用公式计算出 (d SiO2) / (d ox) = (n ox) / (n SiO2)。SiO2膜很薄时,看不到干涉色,但可利用Si的疏水性和SiO2的亲水性来判断SiO2膜是否存在。也可用干涉膜计或椭圆仪等测出。 SiO2和Si界面能级密度和固定电荷密度可由MOS二极管的电容特性求得。(100)面的Si的界面能级密度最低,约为10E+10 -- 10E+11/cm –2 .e V -1 数量级。(100)面时,氧化膜中固定电荷较多,固定电荷密度的大小成为左右阈值的主要因素。 3) CVD(Chemical Vapor deposition)法沉积一层Si3N4(Hot CVD或LPCVD)。 1 常压CVD (Normal Pressure CVD) NPCVD为最简单的CVD法,使用于各种领域中。其一般装置是由(1)输送反

筛板塔全塔效率的测定

课程名称:化工基础实验任课教师:万鑫 实验室名称:化工基础实验室房间号:理工2#115实验时间:2013年5 月15 日

实验装置: 精馏实验流程示意图 1-原料罐进料口;2-原料罐;3-进料泵回流阀;4-进料泵;5-电加热器;6-釜料放空阀;7-塔釜产品罐放空阀;8-釜产品储罐;9-塔釜;10-流量计;11-顶产品罐放空阀;12-顶产品;13-塔板;14-塔身;15-降液管;16-塔顶取样口;17-观察段;18-线圈;19-冷凝器20-塔釜取样口。 精馏塔为筛板塔,全塔共有九块塔板由紫铜板制成,塔高 1.5米,塔身用内径为50mm 的不锈钢管制成,每段为10厘米,焊上法兰后,用螺栓连在一起,并垫上聚四氟乙烯垫防漏,塔身的第二段和第九段是用耐热玻璃制成的,以便于观察塔内的操作情况。除了这两段玻璃塔段外,其余的塔段都用玻璃棉保温。降液管是由外径为8毫米的铜管制成。筛板的直径是54mm,筛孔的直径是2mm。 塔中装有铂电阻温度计来测量塔内气象温度。 塔顶的全凝器为风式换热器,塔釜用电炉丝加热,塔的外部也用保温棉保温。 混合液体由高位槽经蠕动泵计量后进入塔内。塔釜的液面由液位计和放大器计量再由液位仪表显示。塔底产品经过由液位控制平衡管流出。回流比调节阀用来控制回流比,馏出液储罐接受馏出液。 操作步骤: (一)实验前准备工作,检查工作: 1. 将与阿贝折光仪配套的超级恒温水浴(用户自备)调整运行到所需的温度,并记下这个温度(例如30℃)。(本实验运行温度25℃) 2. 检查实验装置上的各个旋塞、阀门均应处于关闭状态;电流、电压表及电位器位置均应为零。 3. 配制一定浓度(质量浓度 20%左右)的乙醇─正丙醇混合液(总容量6000毫升左

芯片的制作过程

芯片的制作过程 芯片制作过程首次分享者:芯片的制造过程可概分为晶圆处理工序(Wafer Fabrication)、晶圆针测工序(Wafer Probe)、构装工序(Packaging)、测试工序(Initial Test and Final Test)等几个步骤。其中晶圆处理工序和晶圆针测工序为前段(Front End)工序,而构装工序、测试工序为后段(Back End)工序。 1、晶圆处理工序:本工序的主要工作是在晶圆上制作电路及电子元件(如晶体管、电容、逻辑开关等),其处理程序通常与产品种类和所使用的技术有关,但一般基本步骤是先将晶圆适当清洗,再在其表面进行氧化及化学气相沉积,然后进行涂膜、曝光、显影、蚀刻、离子植入、金属溅镀等反复步骤,最终在晶圆上完成数层电路及元件加工与制作。 2、晶圆针测工序:经过上道工序后,晶圆上就形成了一个个的小格,即晶粒,一般情况下,为便于测试,提高效率,同一片晶圆上制作同一品种、规格的产品;但也可根据需要制作几种不同品种、规格的产品。在用针测(Probe)仪对每个晶粒检测其电气特性,并将不合格的晶粒标上记号后,将晶圆切开,分割成一颗颗单独的晶粒,再按其电气特性分类,装入不同的托盘中,不合格的晶粒则舍弃。 3、构装工序:就是将单个的晶粒固定在塑胶或陶瓷制的芯片基座上,并把晶粒上蚀刻出的一些引接线端与基座底部伸出的插脚连接,以作为与外界电路板连接之用,最后盖上塑胶盖板,用胶水封死。其目的是用以保护晶粒避免受到机械刮伤或高温破坏。到此才算制成了一块集成电路芯片(即我们在电脑里可以看到的那些黑色或褐色,两边或四边带有许多插脚或引线的矩形小块)。

板式蒸馏塔实验报告

板式精馏塔实验报告 学院:广州大学化学化工学院 班级:12化工2 姓名:朱志豪 其他组员:陈啸翔、毛勇、冯丹艳、利巧怡学号:1205200018 指导老师:陈胜洲、郑文芝 实验时间:2014.11.19

摘要:本文对筛板精馏塔的性能进行全面的测试,主要对乙醇正丙醇精馏过程中的不同 实验操作条件进行探讨,得出了回流比、进料流量等与全塔效率的关系,确定了该筛板精塔的最优实验操作条件。 关键词:精馏;回流比;全塔效率 Abstract:The sieve plate distillation column performance comprehensive testing, mainly on ethanol isopropyl alcohol distillation process in the different experimental conditions were discussed, the reactor concentration, reflux ratio, feed location and the entire towerThe relationship between the efficiency of sieve plate tower, determine the optimal experimental conditions of fine. Key words: Distillation;reflux ratio; the tower efficiency 引言:精馏操作是化工生产中应用非常广泛的一种单元操作,也是化工原理课程的重要 章节[2]。分析运行中的精馏塔,当某一操作条件改变时的分离效果变化,属于精馏的操作型问题[4]。这类问题取材于工程实践,是培养工程观念、提高学生解决实际问题能力的好方法,但同时也成为学习的难点。在工业生产中,充分掌握操作条件各类因素的影响,对提高产品的质量稳定生产,提高效益有重要的意义。本研究从塔釜浓度、回流比、进料位置、全回流和部分回流等操作因素对数字型筛板精馏塔进行全面考察[1],得出一系列可靠直观的结果,加深对精馏操作中一些工程概念的理解,对工业生产有一定的指导意义通过本实验我们得出了大量的实验数据,由计算机绘图找出最优一组实验参数,在这组参数下进行提纯将会节约大量能源,同时为今后开出的设计型、综合型、研究型的实验项目,为学生的创新性科研项目具有重要的教改意义[3]。 1.实验部分 1.1 实验目的 1. 充分利用化工原理知识,对精馏过程多实验方案进行设计,并进行实验验证,得出实 验结论,以掌握实验研究的方法; 2. 学会识别精馏塔内出现的几种操作状态,并分析这些操作状态对塔性能的影响; 3.学习精馏塔性能参数的测量方法,并掌握其影响因素; 4.测定精馏过程的动态特性,提高学生对精馏过程的认识;

实验六 板式精馏塔板效率的测定

4.6板式精馏塔板效率的测定 (Ⅰ)全回流精馏塔 一﹑实验目的 1.了解精馏装置的基本流程及筛板精馏塔的结构,熟悉精馏操作方法; 2. 测定全回流条件下总板效率(或单板效率)。 二﹑基本原理 精馏塔是分离均相混合物的重要设备。衡量板式精馏塔分离性能,一般用总板效率表示: p T N N E = (4-31) 式中:E —总板效率; N T —理论板层数; N P —实际板层数。 理论板层数N T 的求法可用M-T 图解法。本实验是使用乙醇-水二元物系在全回流条件下操作,只需测定塔顶流出液组成x D 和釜液组成x w ,即可用图解法求得N T ,实际板层数N p 为已知,所以利用式(4-30)可求得塔效率E . 若相邻两块塔板设有液体取样口,则可通过测定液相组成x n-1和x n 求得第n 块板在全回流下的单板效率E mL 。 *11n n n n mL x x x x E --=-- (4-32) 而全回流时,y n =x n-1 式中:x n-1—离开上块板的液相中易挥发组分摩尔分率; x n ―离开下块板的液相中易挥发组分摩尔分率; y n ―离开下块板的气相中易挥发组分摩尔分率; x n *―与y n 成平衡的液相组成摩尔分率,以x n-1作为 气相组成在平衡线上查得。 三、装置与流程 实验装置为一小型筛板塔见图4-13。 原料液在蒸馏釜2中被加热汽化进入塔体4,与回流液在塔板上进行热、质交换后进入塔顶冷凝器5,冷凝为饱和液体后,又全部回流到塔内,由取样口7取样分析馏出液组成,从塔釜取样分析釜液组成。 四、操作步骤 1. 熟悉精馏装置的流程和结构,以及所需的控制仪器表盘的布置情况,检查蒸馏釜中料液量是否适当,釜内液面高度控制在液面计的2/3左右。 2. 检查电源并接通电源,加热釜液。用调压器调节加热功率(电流以3~4A 为宜),注意观察塔顶和塔釜的温度变化,塔顶第一块板上开始有回流时,打开冷却水,冷却水用量以能将蒸汽全凝为宜。 3. 打开塔顶放空阀8排出不凝性气体,塔板上鼓泡正常、温度稳定即表明操作稳定,可开始取样。 4. 取样前先用少量试样冲洗锥形瓶,取样后将锥形瓶口用插有温度计的塞子塞严,用流水将样品间接冷却至20℃,再用天平测量样品的相对密度,一般取样二次(塔顶、塔釜各一次)。

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