ARM trace32 内存调试命令调试方法教程

ARM trace32 内存调试命令调试方法教程

1 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture

既然是介绍JTAG调试，还是让我们从IEEE的JTAG调试标准开始吧。JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的简称。IEEE 1149.1标准就是由JTAG这个组织最初提出的，最终由IEEE批准并且标准化的。所以，这个IEEE 1149.1这个标准一般也俗称JTAG调试标准。

接下来的这一部分，主要简单的介绍了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本构架。虽然不是很全面，但对了解JTAG的基本原理来说，应该是差不离了。如果希望更全面深入的了解JTAG的工作原理，可以参考IEEE 1149.1标准。

这篇文章主要介绍ARM JTAG调试的基本原理。基本的内容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介绍，在此基础上，结合ARM7TDMI详细介绍了的JTAG调试原理。

这篇文章主要是总结了前段时间的一些心得体会，希望对想了解ARM JTAG调试的网友们有所帮助。我个人对ARM JTAG的理解还不是很透彻，在文章中，难免会有偏失和不准确的地方，希望精通JTAG调试原理的大侠们不要拍砖，有什么问题提出来，我一定尽力纠正。同时也欢迎对ARM JTAG调试感兴趣的朋友们一起交流学习

2-1 边界扫描

在JTAG调试当中，边界扫描（Boundary-Scan）是一个很重要的概念。边界扫描技术的基本思想是在靠近芯片的输入输出管脚上增加一个移位寄存器单元。因为这些移位寄存器单元都分布在芯片的边界上（周围），所以被称为边界扫描寄存器（Boundary-Scan Register Cell）。当芯片处于调试状态的时候，这些边界扫描寄存器可以将芯片和外围的输入输出隔离开来。通过这些边界扫描寄存器单元，可以实现对芯片输入输出信号的观察和控制。对于芯片的输入管脚，可以通过与之相连的边界扫描寄存器单元把信号（数据）加载倒该管脚中去；对于芯片的输出管脚，也可以通过与之相连的边界扫描寄存器“捕获”（CAPTURE）该管脚上的输出信号。在正常的运行状态下，这些边界扫描寄存器对芯片来说是透明的，所以正常的运行不会受到任何影响。这样，边界扫描寄存器提供了一个便捷的方式用以观测和控制所需要调试的芯片。另外，芯片输入输出管脚上的边界扫描（移位）寄存器单元可以相互连接起来，在芯片的周围形成一个边界扫描链（Boundary-Scan Chain）。一般的芯片都会提供几条独立的边界扫描链，用来实现完整的测试功能。边界扫描链可以串行的输入和输出，通过相应的时钟信号和控制信号，就可以方便的观察和控制处在调试状态下的芯片。

利用边界扫描链可以实现对芯片的输入输出进行观察和控制。下一个问题是：如何来管理和使用这些边界扫描链？对边界扫描链的控制主要是通过TAP（Test Access Port）Controller来完成的。在下一个小节，我们一起来看看TAP是如何工作的。

2-2 TAP （TEST ACCESS PORT）

在上一节，我们已经简单介绍了边界扫描链，而且也了解了一般的芯片都会提供几条边界扫描链，用来实现完整的测试功能。下面，我将逐步介绍如何实现扫描链的控制和访问。

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在IEEE 1149.1标准里面，寄存器被分为两大类：数据寄存器(DR－Data Register)和指令寄存器(IR－Instruction Register)。边界扫描链属于数据寄存器中很重要的一种。边界扫描链用来实现对芯片的输入输出的观察和控制。而指令寄存器用来实现对数据寄存器的控制，例如：在芯片提供的所有边界扫描链中，选择一条指定的边界扫描链作为当前的目标扫描链，并作为访问对象。下面，让我们从TAP(Test Access Port)开始。

TAP是一个通用的端口，通过TAP可以访问芯片提供的所有数据寄存器（DR）和指令寄存器（IR）。对整个TAP的控制是通过TAP Controller来完成的。TAP总共包括5个信号接口TCK、TMS、TDI、TDO和TRST ：其中4个是输入信号接口和另外1个是输出信号接口。一般，我们见到的开发板上都有一个JTAG接口，该JTAG接口的主要信号接口就是这5个。下面，我先分别介绍这个5个接口信号及其作用。

Test Clock Input (TCK)

TCK为TAP的操作提供了一个独立的、基本的时钟信号，TAP的所有操作都是通过这个时钟信号来驱动的。TCK在IEEE 1149.1标准里是强制要求的。

Test Mode Selection Input (TMS)

TMS信号用来控制TAP状态机的转换。通过TMS信号，可以控制TAP在不同的状态间相互转换。TMS信号在TCK的上升沿有效。TMS在IEEE 1149.1标准里是强制要求的。

Test Data Input (TDI)

TDI是数据输入的接口。所有要输入到特定寄存器的数据都是通过TDI接口一位一位串行输入的（由TCK驱动）。TDI在IEEE 1149.1标准里是强制要求的。

Test Data Output (TDO)

TDO是数据输出的接口。所有要从特定的寄存器中输出的数据都是通过TDO接口一位一位串行输出的（由TCK驱动）。TDO在IEEE 1149.1标准里是强制要求的。

Test Reset Input (TRST)

TRST可以用来对TAP Controller进行复位（初始化）。不过这个信号接口在IEEE 1149.1标准里是可选的，并不是强制要求的。因为通过TMS也可以对TAP Controller 进行复位（初始化）。

事实上，通过TAP接口，对数据寄存器（DR）进行访问的一般过程是：

通过指令寄存器（IR），选定一个需要访问的数据寄存器；

把选定的数据寄存器连接到TDI和TDO之间；

由TCK驱动，通过TDI，把需要的数据输入到选定的数据寄存器当中去；同时把选定的数据寄存器中的数据通过TDO读出来。

接下来，让我们一起来了解一下TAP的状态机。TAP的状态机如图1所示，总共有16个状态。在图中，每个六边形表示一个状态，六边形中标有该状态的名称和标识代码。图中的箭头表示了TAP Controller内部所有可能的状态转换流程。状态的转换是由TMS控制的，所以在每个箭头上有标有tms = 0 或者tms = 1。在TCK的驱动下，从当前状态到下一个状

态的转换是由TMS信号决定。假设TAP Controller的当前状态为Select-DR-Scan，在TCK的驱动下，如果TMS ＝0，TAP Controller进入Capture-DR状态；如果TMS = 1，TAP Controller进入Select-IR-Scan状态。

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图1. TAP Controller State Transitions

这个状态机看似很复杂，其实理解以后会发现这个状态机其实很直接、很简单。观察图1，我们可以发现，除了Test-Logic Reset和Test-Run/Idle状态外，其他的状态有些类似。例如Select-DR-Scan和Select-IR-Scan对应，Capture-DR和Capture-IR对应，Shift-DR和Shift-IR对应，等等。在这些对应的状态中，DR表示Data Register，IR表示Instruction Register。记得我们前面说过吗，寄存器分为两大类，数据寄存器和指令寄存器。其实标识有DR的这些状态是用来访问数据寄存器的，而标识有IR的这些状态是用来访问指令寄存器的。

在详细描述整个状态机中的每一个状态之前，首先让我们来想一想：要通过边界扫描链来观察和控制芯片的输入和输出，需要做些什么？如果需要捕获芯片某个管脚上的输出，首先需要把该管脚上的输出装载到边界扫描链的寄存器单元里去，然后通过TDO输出，这样我们就可以从TDO上得到相应管脚上的输出信号。如果要在芯片的某个管脚上加载一个特定的信号，则首先需要通过TDI把期望的信号移位到与相应管脚相连的边界扫描链的寄存器单元里去，然后把该寄存器单元的值加载到相应的芯片管脚。下面，让我们一起来看看每个状态具体表示什么意思？完成什么功能？

Test-Logic Reset

系统上电后，TAP Controller自动进入该状态。在该状态下，测试部分的逻辑电路全部被

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禁用，以保证芯片核心逻辑电路的正常工作。通过TRST信号也可以对测试逻辑电路进行复位，使得TAP Controller进入Test-Logic Reset状态。前面我们说过TRST是可选的一个信号接口，这是因为在TMS上连续加5个TCK脉冲宽度的“1”信号也可以对测试逻辑电路进行复位，使得TAP Controller进入Test-Logic Reset状态。所以，在不提供TRST信号的情况下，也不会产生影响。在该状态下，如果TMS一直保持为“1”，TAP Controller将保持在Test-Logic Reset状态下；如果TMS由“1”变为“0”（在TCK的上升沿触发），将使TAP Controller进入Run-Test/Idle状态。

Run-Test/Idle

这个是TAP Controller在不同操作间的一个中间状态。这个状态下的动作取决于当前指令寄存器中的指令。有些指令会在该状态下执行一定的操作，而有些指令在该状态下不需要执行任何操作。在该状态下，如果TMS一直保持为“0”，TAP Controller将一直保持在Run-Test/Idle状态下；如果TMS由“0”变为“1”（在TCK的上升沿触发），将使TAP Controller进入Select-DR-Scan状态。

Select-DR-Scan

这是一个临时的中间状态。如果TMS为“0”（在TCK的上升沿触发），TAP Controller 进入Capture-DR状态，后续的系列动作都将以数据寄存器作为操作对象；如果TMS为“1”（在TCK的上升沿触发），TAP Controller进入Select-IR-Scan状态。

Capture-DR

当TAP Controller在这个状态中，在TCK的上升沿，芯片输出管脚上的信号将被“捕获”

到与之对应的数据寄存器的各个单元中去。如果TMS为“0”（在TCK的上升沿触发），TAP Controller进入Shift-DR状态；如果TMS为“1”（在TCK的上升沿触发），TAP Controller进入Exit1-DR状态。

Shift-DR

在这个状态中，由TCK驱动，每一个时钟周期，被连接在TDI和TDO之间的数据寄存器将从TDI接收一位数据，同时通过TDO输出一位数据。如果TMS为“0”（在TCK的上升沿触发），TAP Controller保持在Shift-DR状态；如果TMS为“1”（在TCK的上升沿触发），TAP Controller进入到Exit1-DR状态。假设当前的数据寄存器的长度为4。

如果TMS保持为0，那在4个TCK时钟周期后，该数据寄存器中原来的4位数据（一般是在Capture-DR状态中捕获的数据）将从TDO输出来；同时该数据寄存器中的每个寄存器单元中将分别获得从TDI输入的4位新数据。

Update-DR

在Update-DR状态下，由TCK上升沿驱动，数据寄存器当中的数据将被加载到相应的芯片管脚上去，用以驱动芯片。在该状态下，如果TMS为“0”，TAP Controller将回到Run-Test/Idle状态；如果TMS为“1”，TAP Controller将进入Select-DR-Scan状态。Select-IR-Scan

这是一个临时的中间状态。如果TMS为“0”（在TCK的上升沿触发），TAP Controller 进入Capture-IR状态，后续的系列动作都将以指令寄存器作为操作对象；如果TMS为“1”

（在TCK的上升沿触发），TAP Controller进入Test-Logic Reset状态。

Capture-IR

当TAP Controller在这个状态中，在TCK的上升沿，一个特定的逻辑序列将被装载到指令寄存器中去。如果TMS为“0”（在TCK的上升沿触发），TAP Controller进入Shift-IR 状态；如果TMS为“1”（在TCK的上升沿触发），TAP Controller进入Exit1-IR状态。Shift-IR

在这个状态中，由TCK驱动，每一个时钟周期，被连接在TDI和TDO之间的指令寄存TWENTYONE TWENTYONECN@https://www.wendangku.net/doc/f718440637.html, https://www.wendangku.net/doc/f718440637.html, 4 OPEN-JTAG

器将从TDI接收一位数据，同时通过TDO输出一位数据。如果TMS为“0”（在TCK的上升沿触发），TAP Controller保持在Shift-IR状态；如果TMS为“1”（在TCK的上升沿触发），TAP Controller进入到Exit1-IR状态。假设指令寄存器的长度为4。如果TMS 保持为0，那在4个TCK时钟周期后，指令寄存器中原来的4bit长的特定逻辑序列（在Capture-IR状态中捕获的特定逻辑序列）将从TDO输出来，该特定的逻辑序列可以用来判断操作是否正确；同时指令寄存器将获得从TDI输入的一个4bit长的新指令。Update-IR

在这个状态中，在Shift-IR状态下输入的新指令将被用来更新指令寄存器。

说了那么多，下面，让我们先看看指令寄存器和数据寄存器访问的一般过程，以便建立一个直观的概念。

1．系统上电，TAP Controller进入Test-Logic Reset状态，然后依次进入：Run-Test/Idle Select-DR-Scan Select-IR-Scan Capture-IR Shift-IR Exit1-IR Update-IR，最后回到Run-Test/Idle状态。在Capture-IR状态中，一个特定的逻

辑序列被加载到指令寄存器当中；然后进入到Shift-IR状态。在Shift-IR状态下，通

过TCK的驱动，可以将一条特定的指令送到指令寄存器当中去。每条指令都将确

定一条相关的数据寄存器。然后从Shift-IR Exit1-IR Update-IR。在Update-IR

状态，刚才输入到指令寄存器中的指令将用来更新指令寄存器。最后，进入到

Run-Test/Idle状态，指令生效，完成对指令寄存器的访问。

2．当前可以访问的数据寄存器由指令寄存器中的当前指令决定。要访问由刚才的指令选定的数据寄存器，需要以Run-Test/Idle为起点，依次进入Select-DR-Scan Capture-DR Shift-DR Exit1-DR Update-DR，最后回到Run-Test/Idle状

态。在这个过程当中，被当前指令选定的数据寄存器会被连接在TDI和TDO之间。

通过TDI和TDO，就可以将新的数据加载到数据寄存器当中去，同时，也可以捕获

数据寄存器中的数据。具体过程如下。在Capture-DR状态中，由TCK的驱动，芯

片管脚上的输出信号会被“捕获”到相应的边界扫描寄存器单元中去。这样，当前

的数据寄存器当中就记录了芯片相应管脚上的输出信号。接下来从Capture-DR进

入到Shift-DR状态中去。在Shift-DR状态中，由TCK驱动，在每一个时钟周期内，

一位新的数据可以通过TDI串行输入到数据寄存器当中去，同时，数据寄存器可以

通过TDO串行输出一位先前捕获的数据。在经过与数据寄存器长度相同的时钟周

期后，就可以完成新信号的输入和捕获数据的输出。接下来通过Exit1-DR状态进

入到Update-DR状态。在Update-DR状态中，数据寄存器中的新数据被加载到与数

据寄存器的每个寄存器单元相连的芯片管脚上去。最后，回到Run-Test/Idle状态，

完成对数据寄存器的访问。

上面描述的就是通过TAP对数据寄存器进行访问的一般流程。会不会还是觉得很抽象？让我们来看一个更直观的例子。现在假设，TAP Controller现在处在Run-Test/Idle状态，指令寄存器当中已经成功的写入了一条新的指令，该指令选定的是一条长度为6的边界扫描链。下面让我们来看看实际如何来访问这条边界扫描链。图2所示的是测试芯片及其被当前指令

选定的长度为6的边界扫描链。由图2可以看出，当前选择的边界扫描链由6个边界扫描移位寄存器单元组成，并且被连接在TDI和TDO之间。TCK时钟信号与每个边界扫描移位寄存器单元相连。每个时钟周期可以驱动边界扫描链的数据由TDI到TDO的方向移动一位，这样，新的数据可以通过TDI输入一位，边界扫描链的数据可以通过TDO输出一位。经过6个时钟周期，就可以完全更新边界扫描链里的数据，而且可以将边界扫描链里捕获的6位数据通过

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TDO全部移出来。

图2. 测试芯片及其当前选定的边界扫描链

图3表示了边界扫描链的访问过程。图3.1 表示了芯片和边界扫描链的初始化状态，在测试状态下，芯片的外部输入和输出被隔离开了，芯片的输入和输出可以通过相应的边界扫描链来观察和控制。在图3.1中，扫描链里的每个移位寄存器单元的数据是不确定的，所以在图中用X表示，整个扫描链里的数据序列是XXXXXX。要从TDI输入到测试芯片上的数据序列是：101010. 同时要从TDO得到芯片相应管脚上的状态。现在TAP Controller从Run-Test/Idle状态经过Select-DR-Scan状态进入到Capture-DR状态，在Capture-DR状态当中，在一个TCK时钟的驱动下，芯片管脚上的信号状态全部被捕获到相应的边界扫描移位寄存器单元当中去，如图3.2所示。从图3.2中我们可以看出，在进入Capture-DR状态后，经过一个TCK时钟周期，现在扫描链中的数据序列变成了：111000. 在数据捕获完成以后，从Capture-DR状态进入到Shift-DR状态。在Shift-DR状态中，我们将通过6个TCK时钟周期来把新的数据序列（101010）通过TDI输入到边界扫描链当中去；同时，将边界扫描链中捕获的数据序列（111000）通过TDO输出来。在进入到Shift-DR状态后，每经过一个TCK时钟驱动，边界扫描链从TDO输出一位数据；同时，从TDI接收一位新的数据。图3.3所示的是在Shift-DR状态下，1个TCK时钟周期后的扫描链的变化。图3.4所示的是在Shift-DR状态下，2个TCK时钟周期后的扫描链的变化。此时，扫描链已经从TDI串行得到了两位新数据，从TDO也串行输出了两位数据。在TCK时钟的驱动下，这个过程一直继续下去。图3.5所示的是在经过6个TCK时钟周期以后扫描链的情况。从图3.5中我们可以看到：边界扫描链当中已经包含了新的数据序列：101010. 在TDO端，经过6个TCK时钟驱动以后，也接收到了在Capture-DR状态下捕获到的数据序列：111000. 到目前为止，虽然扫描链当中包含了新的数据序列：101010，但测试芯片的管脚上的状态还是保持为：111000. 下一步，需要更新测试芯片相应管脚上的信号状态。要实现更新，TAP Controller从Shift-DR状态，经过Exit1-DR状态，进入到Update-DR状态。在Update-DR状态中，经过一个周期的TCK时钟驱动，边界扫描链中的新数据序列将被加载到测试芯片的相应管脚上去，如图3.6所示。从图3.6可以看出，测试芯片的状态已经被更新，相应管脚上的状态序列已经从111000变为101010. 最后从Update-DR状态回到Run-Test/Idle状态，完成对选定的边界扫描链的访问。TWENTYONE TWENTYONECN@https://www.wendangku.net/doc/f718440637.html, https://www.wendangku.net/doc/f718440637.html, 6 OPEN-JTAG

（1）初始化状态

（2）CAPTURE-DR

（3）SHIFT-DR ＋1 TCK

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（4）SHIFT-DR ＋2 TCK

（5）SHIFT-DR ＋6 TCK

（6）UPDATE-DR

图3. 边界扫描链的访问过程

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在看完上面这个例子以后，对TAP Controller的状态机应该大概了解了吧？对如何访问边界扫描链应该也有个直观的概念了吧？虽然上面的这个例子只是说明了如何访问边界扫描链，对其它的数据寄存器、指令寄存器的访问过程也是类似的。要实现对指令寄存器的访问，不同的是TAP Controller必须经过不同的状态序列：Run-Test/Idle Select-DR-Scan Select-IR-Scan Capture-IR Shift-IR Exit1-IR Update-IR Run-Test/Idle.

2-3 指令寄存器、公共指令以及数据寄存器

在IEEE 1149.1标准当中，规定了一些指令寄存器、公共指令和相关的一些数据寄存器。对于特定的芯片而言，芯片厂商都一般都会在IEEE 1149.1标准的基础上，扩充一些私有的指令和数据寄存器，以帮助在开发过程中进行进行方便的测试和调试。在这一部分，我将简单介绍IEEE 1149.1规定的一些常用的指令及其相关的寄存器。与ARM7TDMI相关的私有指令和寄存器将在后面的部分专门介绍。

指令寄存器：

指令寄存器允许特定的指令被装载到指令寄存器当中，用来选择需要执行的测试，或者选择需要访问的测试数据寄存器。每个支持JTAG调试的芯片必须包含一个指令寄存器。

BYPASS指令和Bypass寄存器：

Bypass寄存器是一个一位的移位寄存器，通过BYPASS指令，可以将bypass寄存器连接到TDI和TDO之间。在不需要进行任何测试的时候，将bypass寄存器连接在TDI和TDO 之间，在TDI和TDO之间提供一条长度最短的串行路径。这样允许测试数据可以快速的通过当前的芯片送到开发板上别的芯片上去。

IDCODE指令和Device Identification 寄存器：

Device identification寄存器中可以包括生产厂商的信息，部件号码，和器件的版本信息等。使用IDCODE指令，就可以通过TAP来确定器件的这些相关信息。例如，ARM MULTI-ICE可以自动识别当前调试的是什么片子，其实就是通过IDCODE指令访问Device Identification寄存器来获取的。

INTEST指令和Boundary-Scan 寄存器：

Boundary-Scan寄存器就是我们前面例子中说到的边界扫描链。通过边界扫描链，可以进行部件间的连通性测试。当然，更重要的是可以对测试器件的输入输出进行观测和控制，以达到测试器件的内部逻辑的目的。INTEST指令是在IEEE 1149.1标准里面定义的一条很重要的指令：结合边界扫描链，该指令允许对开发板上器件的系统逻辑进行内部测试。在ARM JTAG调试当中，这是一条频繁使用的测试指令。

我们前面说过，寄存器分为两大类：指令寄存器和数据寄存器。在上面提到的Bypass寄存器、Device Identification寄存器和Boundary-scan寄存器（边界扫描链），都属于数据寄存器。在调试当中，边界扫描寄存器（边界扫描链）最重要，使用的也最为频繁。

3 ARM7TDMI 调试构架

在这个小节里，我将介绍一下ARM7TIMI的调试构架，让大家对ARM7TDMI JTAG调有个大概的认识。细节问题将在下一小节中介绍。

ARM7TDMI典型的调试系统结构如图4所示。一个调试系统一般包括三个部分：调试主机、

协议转换器和调试目标。

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图4. ARM7TDMI典型的系统调试结构

调试主机一般是一台运行调试软件（例如ADS）的计算机。调试主机可以发出一些高层的调试命令，例如设置断点、访问内存等。协议转换器（例如MULTI-ICE），用来将调试主机发出的高层调试命令转换为底层的ARM JTAG调试命令。调试目标一般就是指基于ARM7TDMI内核MCU目标开发板。经过协议转换器进行命令解释，主机上运行的调试软件就可以通过JTAG接口直接和ARM7TDMI内核对话。通过扫描链，可以把ARM/THUMB 指令插入到ARM7TDMI的指令流水线当中去执行。通过插入特定ARM/THUMB指令，我们可以检查、保存或者改变内核和系统的状态。为了支持底层的调试，ARM7TDMI处理器提供了硬件上的扩展，。这些调试扩展包括：

停止程序的运行

检查和修改ARM7TDMI的内核状态

观察和修改内存

恢复程序的运行

ARM7TDMI处理器的结构框图如下图所示：

图5. ARM7TDMI 处理器结构框图

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从图5可以看到，ARM7TDMI处理器主要包括三大部分：

ARM CPU Main Processor Logic

这部分包括了对调试的硬件支持；

Embedded ICE-RT Logic

这部分包括了一组寄存器和比较器，用来产生调试异常、设置断点和观察点；

TAP Controller TAP Controller通过JTAG接口来控制和操作扫描链。

从图5，我们可以发现ARM7TDMI提供了4条扫描链：Scan Chain 0, 1, 2 & 3.

Scan Chain 0

通过扫描链0可以访问ARM7TDMI内核的外围电路，包括数据总线。通过该扫描链

可以进行芯片间的测试（EXTEST）和芯片的内部测试（INTEST）。该扫描链长

度为113位，具体包括：数据总线的0－31位，内核控制信号，地址总线的31－0位，EmbeddedICE-RT的控制信号。

Scan Chain 1

扫描链1是扫描链0的子集，长度为33位，具体包括：数据总线的0－31位、

BREAKPT信号。扫描链1比扫描链0的长度短了很多，通过扫描链1可以更快的插入

指令或者是数据到ARM7TDMI的内部。

Scan Chain 2

扫描链2长度为38位，该扫描链是专门用来访问EmbeddedICE-RT内部的寄存器。通

过访问EmbeddedICE-RT的内部寄存器，可以让ARM7TDMI进入调试状态、设置断

点、设置观察点。

Scan Chain 3

通过扫描链3，ARM7TDMI可以访问外部的边界扫描链。该扫描链用的很少，在此

就不介绍了，想了解的网友可以参考ARM7TDMI手册。

在实际的调试过程中，扫描链1和扫描链2用的最多。基本上所有的调试动作都是通过这两条扫描链来完成的。

ARM7TDMI还提供了3个附加的信号：DBGRQ、DBGACK和BREAKPT. 这3个信号都被EmbeddedICE-RT控制，可以用来使得处理器从正常的运行状态进入调试状态或从调试状态返回到正常的运行状态。

DBGREQ

调试请求，通过把DBGREQ置“1”，可以迫使ARM7TDMI进入调试状态。

DBGACK

调试确认，通过DBGACK，可以判断当前ARM7TDMI是否在调试状态。

BREAKPT

断点信号，这个信号是输入到ARM7TDMI处理器内核的。如果BREAKPT被置“1”，当前的内存访问被设置为断点。如果当前的内存访问是取指令的话，当该指令被执

行的时候，ARM7TDMI处理器自动进入调试状态；如果当前的内存访问是存取数

据的话，在存储完成以后，ARM7TDMI处理器自动进入调试状态。

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4 ARM7TDMI 调试原理

在这个小节里，我将详细介绍ARM7TIMI的调试原理，并对一些比较感兴趣的问题进行讨论。例如，如何设置断点？如何让ARM7TDMI进入调试状态？在调试状态下，如何访问ARM7TDMI的内部寄存器？如何访问内存单元？

在继续之前，看看ARM7TDMI的正常运行状态和调试状态的区别。在正常运行状态下，ARM7TDMI由MCLK（Memory Clock）驱动，正常运行。在调试状态下，ARM7TDMI的正常运行被打断，并且和系统的其它部分隔离开来。在调试状态下，我们可以通过插入特定的ARM/THUMB的指令来读写ARM7TDMI的内部寄存器和修改内存的内容。在调试状态下，ARM7TDMI由内部的调试时钟DCLK（Debug Clock）驱动。DCLK比MCLK慢很多，所以在调试状态下，插入的ARM/THUMB指令的运行速度会比较慢（现对而言）。在完成需要的操作后，可以用RESTART JTAG指令让ARM7TDMI返回到正常运行状态，恢复原来的运行。

4-1 ARM7TDMI的指令寄存器及常用JTAG指令

ARM7TDMI的指令寄存器长度是4位，通过TAP和JTAG接口，可以把指令装载到指令寄存器当中去。在CAPTURE-IR状态下，固定值B0001总是被装载到指令寄存器当中去。在SHIFT-IR状态中，可以把ARM7TDMI支持的新指令从TDI串行输入，同时固定值B0001会从TDO串行输出。通过这个输出的固定值，可以判断当前的操作是否正确。在UPDATE-IR状态，新输入的指令被装载到指令寄存器当中去。最后回到RUN-TEST/IDLE状态后，新指令立即生效。

下面先来看看在ARM7TDMI调试当中经常用到的几条JTAG指令。

IDCODE

该指令的二进制代码是1110。IDCODE指令将Device Identification Code寄存器连接

到TDI和TDO之间。Device Identification Code寄存器的长度是32位，通过TAP就可

以将ARM7TDMI的ID给读出来。ARM7TDMI的ID是0x1F0F0F0F. 在CAPTURE-DR

状态下，器件的ID被捕获到ID寄存器里面。在SHIFT-DR状态下，先前捕获的ID通

过TDO位移出来，总共需要32个TCK时钟周期。在UPDATE-DR状态下，ID寄存器

不受任何影响。

SCAN_N

该指令的二进制代码是0010。ARM7TDMI提供了4条扫描链，通过SCAN_N指令可

以选择需要访问的扫描链。一般来说，需要访问Embedded ICE-RT的寄存器时，选

择扫描链2；需要插入指令到ARM7TDMI内核去执行的时候，选择扫描链1。选择

扫描链的过程如下：先把SCAN_N指令装载到指令寄存器当中去，该指令会将长度

为4位的扫描链选择寄存器连接到TDI和TDO之间；然后进入到CAPTURE-DR状态，在这个状态下，固定值B1000将被捕获到扫描链选择寄存器当中去；在SHIFT-DR

状态下，将需要选择的扫描链的号码通过TDI输入到扫描链选择寄存器当中去；在

UPDATE-DR状态下，被选择的扫描链将被连接到TDI和TDO之间。在TAP被复位

以后，默认状态下选择的是扫描链3。在使用SCAN_N选定了一条扫描链后，当前

选定的扫描链会一直保持不变，直到在下一次调用SCAN_N选择另外的扫描链。

BYPASS

该指令的二进制代码是1111。BYPASS指令将1-BIT 长的BYPASS寄存器连接到TDI 和TDO之间。

INTEST

该指令的二进制代码是1100。INTEST指令将通过SCAN_N选定的扫描链置于内部测

TWENTYONE TWENTYONECN@https://www.wendangku.net/doc/f718440637.html, https://www.wendangku.net/doc/f718440637.html, 12 OPEN-JTAG

试模式。

RESTART

该指令的二进制代码是0100。RESTART指令用来使ARM7TDMI处理器从调试状态

退回到正常的运行状态。

4-2 EmbeddedICE-RT Logic

在这个小节里，主要介绍通过扫描链2来访问EmbeddedICE-RT内部的寄存器。EmbeddedICE-RT内部包括了丰富的寄存器，通过这些寄存器，可以控制ARM7TDMI进入或者退出调试状态；可以设置断点和观察点。

先来看看EmbeddedICE-RT包括那些寄存器，下面这个表里罗列了EmbeddedICE-RT中包含的所有寄存器。不同的寄存器有不同的长度，而且被分配了一个长度为5的地址。其中Debug Control Register用来控制EmbeddedICE-RT；通过Debug Status Register可以查询当前系统的状态；Abort Status Register用来确定异常的产生原因：断点、观察点还是真的异常；Debug Comms Control Register和Debug Comms Data Register是用来控制和操作Debug Communication Channel的；后面的所有寄存器都是关于WATCH POINT的，设置断点和观察点就是通过设置这些寄存器来实现的。后面我将逐一的进行介绍。

TABLE I. Mapping of EmbeddedICE-RT Registers

要访问EmbeddedICE-RT内部的寄存器，必须通过扫描链2来实现。扫描链的长度是38位，其中0－31位为数据位, 32－36位用来标识要访问的寄存器的5位宽的地址；；第37位用来标识对当前寄存器进行读操作还是写操作。如果是对当前寄存器进行写操作，0－31的TWENTYONE TWENTYONECN@https://www.wendangku.net/doc/f718440637.html, https://www.wendangku.net/doc/f718440637.html, 13 OPEN-JTAG

全品牌电子秤调试方法

全品牌电子秤调试方法大全 志瑜电子秤调试方法 开机回零后，输入⑨⑦⑤再按《去皮》键。二、然后再输入①或⑦⑨①⑥⑧再按《去皮》键。 三、等待几秒后，加1/3的砝码，再按《去皮》键。四、输入所加砝码的重量值。再按《去皮》键。五、输入满量程的重量值，再按《去皮》键。六、输入分度值⑤，再按《去皮》键。 七、电子秤回到称重状态，即完成调试。 大河电子秤调试方法 按“⑨⑦⑤⑤”键，单价窗显示一个“0”。再输入②⑧①②③，按“去皮”键几秒后，显示“0.000 LOAD———”。加1/3砝码。再按“去皮”键，显示“0.000 LOAD 0”。输入砝码重量值，再按“去皮”。输入砝码的满程值。再按“去皮”。几秒后完成调试。 本熙电子秤调试方法 开机归零后输入3658，再按“去皮”键。单价栏显示一个“0”。再输入密码1。再按“去皮”键。再加1/3砝码。再按“去皮”键。输入砝码的重量值。再按“去皮”键。输入砝码的满程值。再按“去皮”。即标定成功。 大河电子台秤的调试 按“⑨⑦⑤⑤”键，按“去皮”键单价窗显示一个“0”。再输入②☉①②③，按“输入”键几秒后，显示“0.000 LOAD———”。加1/3砝码。再按“输入”键，显示“0.000 LOAD 0”输入砝码重量值，再按“输入”。输入砝码的满程值。再按“输入”。几秒后完成调试。 宏马电子秤调试方法（永州电子秤方法相同） ⒈打开机盖，插上短路环。开机进入调试状态。稳定后，加1/2砝码。按“去皮”键。重量窗显示1/2砝码值。按“清除”键回到称重状态。拨回短路环，完成调试 ⒉按《累计》键开机，回零后再按《累计》键一下，输入③①⑤⑧。按《累计》进入调试状态。加1/2砝码后，再按《去皮》键，回到称重状态。调试完成。 3. 打开机盖，插上短路环。按《去皮》键，按《1》，再按《去皮》键，加15.00KG砝码。再按《去皮》键，输入砝码值。再按《去皮》键，输入满程值。再按《去皮》键，输入分度值5，再按《去皮》键。调试完成。 世伟电子秤调试方法 打开机盖，插上短路环。开机进入调试状态。稳定后，加1/2砝码。按“去皮”键。重量窗显示1/2砝码值。按“清除”键回到称重状态。拨回短路环，完成调试 中银电子秤调试方法 打开机盖，插上短路环。开机。按“3579”键，单价窗显示一个“0”。再输入15908，按“去皮”键几秒后，显示“0.000 LOAD－—”。加1/3砝码。再按“去皮”键，显示“0.000 LOAD 0”。输入砝码重量值，再按“去皮”。输入砝码的满程值。再按“去皮”。几秒后完成调试。

SSB变桨系统试验常见故障

1.SSB变桨系统地面出厂试验时，在调整95°限位开关及挡块位置时操作人员不慎将60947-5-1#95°限位开关直动头冲断。 2.G8-064315变桨控制柜，实验时变桨速度过快，执行速度远大于设定速度。初步判 断电机驱动器损坏，造成无法正常使用。 3. 473399－60#旋编编码器做变桨功能试验时，编码器存在角度无变化故障 4、466631－04#旋编编码器做变桨功能试验时，编码器存在角度跳变故障 5. 叶轮功能试验时，由于操作人不慎误将G8-070588变桨控制柜内的1F1防雷模块的火线与零线接反，导致1F1防雷模块烧坏。 6.变桨控制柜实验时系统报电机过温PTC故障，经更换柜内9A1模块后此故障消除。 7、变桨控制柜实验时系统报电机过温PTC故障，经更换柜内9A1模块后此故障消除。 8、G8-070093#变桨控制柜实验时柜内12A1模块指示灯不亮，经更换此故障消除。 9. 旋编编码器做变桨功能试验时，编码器角度始终保持在0°无变化，无法正常使用。 10、旋编编码器旋转时有卡阻现象，并且内部有异响。无法正常使用 11. 95°限位开关压下直动头不能正常复位，造成该95°限位开关无法正常使用。 12. 变桨系统中有2个限位开关触头有卡阻现象，活动不自如，无法正常使用。 13. 叶轮组在调试时发现，闭合电容开关时，9U1不动作，面板上显示9U1故障，无法正常使用 14. LED显示H.N,面板显示：变流器故障，散热片温度故障，无法正常使用。 15. 变桨柜G8-065677打开电容开关后面板显示电容电压9U1为故障状态，9U1不动作，无法正常使用。 16. SSB控制柜配套带来的旋转编码器形状不同, 一套三个旋编信号线接头位置不同,装后性能不受影响。

TCS电子台秤说明书

1.0 概 述 T C S 系 列 电 子 台 秤 采 用 本 公 司 生 产 的 高 精 度 称 重 显 示 仪 和 称 重 传 感 器 ， 具 有 结 构 新 颖 ， 计 量 准 确 ， 经 久 耐 用 的 特 点 ， 台 面 采 用 不 锈 钢 或 碳 钢 材 料 ， 可 适 用 于 工 业 及 商 业 的 称 重 场 合 。 该 台 秤 如 配 置 打 印 机 或 与 计 算 机 联 接 ， 可 实 现 称 重 数 据 的 计 算 机 管 理 。 2.0 安 装 使 用 说 明 2.1 结 构 图一 LP7610电子台秤总装图 1、 台面板 2、 支脚 3、 上称架 4、 传感器 5、 下称架 6、 限位螺栓 7、 立柱 8、 称重显示器

图 二 LP7611/7612系 列 台 秤 结 构 示 意 图 2.2 安 装 说 明 开 箱 ： 1). 打 开 包 装 箱 ， 取 出 秤 体 和 仪 表 ， 将 说 明 书 、 合 格 证 、 保 修 卡 等 资 料 妥 善 保 管 好 。 装 配 ： 1). 拿 去 台 面 ， 将 秤 体 平 稳 放 置 ， 调 整 四 支 承 脚 使 水 泡 居 中 。 2）调 整 四 角 的 限 位 螺 栓， 使 之 与 上 台 面 的 间 隙 为 2~3 mm 。 2). 用 螺 栓 将 立 柱 托 架 安 装 到 下 秤 体 上 ， 将 立 柱 插 入 立 柱 托 架 。 3). 将 传 感 器 电 缆 线 穿 过 立 柱 托 架 及 立 柱 ，并 用 螺 栓 拧 紧 立 柱 ( 注 意 螺 栓 不 要 拧 在 电 缆 上 )， 按 仪 表 说 明 书 要 求 将 传 感 器 电 缆 插 头 插 入 仪 表 的 插 座 。 4). 将 仪 表 安 装 到 立 柱 上 ， 将 多 余 的 电 缆 线 塞 入 立 柱 内 。 5). 盖 上 台 面 ， 仪 表 通 电 。 6). 该 台 秤 在 工 厂 已 校 正 过 。 1、 台面板 2、 支脚 3、 上称架 4、 传感器 5、 下称架 6、 限位螺栓 7、 立柱 8、 称重显示器

电子秤安装调试步骤马

电子秤安调培训 一、100T电子秤现场联机安调流程 1、电子秤运到安装位置后固定支脚。 2、通常安装电子秤的设备都把电机侧作为进口，这样增加了进口的 长度。顶屏显正对着进口方向。 3、打开100T电控箱侧顶罩板，把穿墙式航空插头固定在顶罩板的圆 孔上。 4、联线：电子秤引出线6条，加一条W14线缆共计7条。W18接入 设备穿墙式插头的下端；W17连接D型插座的屏显； W4接电器控制箱的K1M接口；白线9针D型头接W14并用扎带绑扎固定避免松脱；W14（接工控机）接工控机串口卡的P2；电源线接入外电源（上电时）；W5脚踏开关放在操作台下面； 5、安装2个屏显：带航空插头的屏显用M4×50的螺钉固定在设备进 口顶端，航空插头和穿墙式插头对插；W17线缆连接的屏显用M4×30的螺钉固定随机配送的钢板后立在桌面上； 6、拆除电子秤两侧不锈钢罩板，松开并取下上下秤体固定垫木的螺 栓用随机附带的千斤顶从4角顶起上秤体，取出垫木，使上秤体平行下秤体落在称重传感器上。上电后，任意取一重物分别放在电子秤上表面的4个角上，称重显示应该一致。 7、安装电子秤外罩板，注意：外罩板不能碰触下秤体，否则会影响 称重数值的准确。

8、登录OIS管理员用户，在高级管理中打开电子秤功能，OIS软件 界面出现电子秤操作窗口。调整进出口方向和按键方向使电子秤、主机传送带方向、出图方向、键盘按键方向一致。 9、称重显示：OIS软件称重显示和2个屏显显示数据应该一致。 附图： 电子秤：

2个屏显： 穿墙式插头：

电子秤线缆： 桌面屏显固定板：

上下秤体间的垫木： 主机：（带航插的屏显安装到电控箱侧的顶板上） 电控箱：

Lust变桨系统调试相关事项说明_更新

Lust变桨系统调试说明 1、操作说明： 为确保系统调试安全，必须预先进行以下措施： ①现场调试人员必须佩戴好安全帽； ②400V电源的三相线、零线和地线必须可靠连接，避免缺相或漏接； ③上电前确认主控箱和轴控箱的开关处于断开状态； ④所有连接电缆连接正确（电机后面的编码器电缆号是S1、S2和S3；冗 余编码器的电缆号是T1、T2和T3，若反接，会出现飞车故障）； ⑤上电前将电机的轴键拆除或利用扎带将其捆扎牢固； ⑥上电前确认电机与底座是否可靠固定； ⑦电池箱箱盖闭合（完成检查）； 2、系统紧急顺桨： ①Profibus通信故障（或者不正常）； ②Pitch Master故障； ③电机侧编码器故障； ④安全链信号输入无＋24V（硬输入点）； ⑤未提供＋24COM(硬输入点)； ⑥Emergency mode位为1； 3、手动模式 手动模式用于机械调零和现场安装调整用，转动速度为2.5度/秒。 手动模式前提条件： ①手动模式信号为1（硬输入点），并观察主控箱的9A1的第8通道的灯是 否点亮； ②Profibus通信正常，或者短接17K7的13、14引脚； ③Normal Operation Mode设置为0； ④Emergency Mode位为0； ⑤转动任一个桨叶时，另外两个桨叶为91度位置（或者通过关闭轴箱的电 源模拟）； ⑥轴箱电池开关处于断开状态； ⑦手动旋钮的通道选择的0、1、2和3分别对应空档、轴控箱1、轴控箱2 和轴控箱3；转动方向旋钮控制的是电机的正传和反转； 4、自动模式

自动模式必须满足以下条件： ①先闭合主控箱的400V电源； ②Profibus通信正常； ③将Fault Reset置位1，然后置0； ④闭合轴箱的电池开关和电源开关前确保通信的Emerge Mode（读）为0 和Normal Operation Mode（写）为0；硬接点的Safety Signal（为高电平）、+24V和0V有正常连接，Manual Operation为0。否则会出现飞车现象； ⑤轴控箱上电顺序：先闭合电池开关（5Q1），然后闭合电源开关（6S1）。 正常状态下电机会由于内部的电路的控制不会出现转动； ⑥自动控制是通过通信软件控制，先设置好控制桨叶的目标角度、转速（建 议为3度/秒以下）和加速度（建议0.5～2度/秒2），然后将Normal Operation Mode置1，启动自动模式；若要中途停止，只能通过以下任一方式：将Normal Operation Mode置0、将对应的91度限位开关触发和关闭轴控箱电源（6S1）； 5、限位开关 91度限位开关用于控制Pitch Master（主控变频器）的输出控制，当触发了该限位开关后，7K6复位，然后电机会停止，相对而言动作比较缓慢； 96度限位开关用于控制电机和Ptich Master的ENPO信号，当触发了该限位开关后，6K2和6K3复位，然后电机立即停止，相对而言动作比较迅速。 6、Bypass Bypass信号是用于旁通2个限位开关触发了以后继续启动电机转动，有硬信号和软信号之分。 Bypass软信号是对应91度限位开关。当91度触发了以后，利用通信将对应桨叶的Bypass信号置1，然后电机才可以往96度方向转动；而需要往0度方向转动不需要将对应桨叶的Bypass信号置1（实际上该Bypass信号用途不大）； Bypass硬信号是对应96度限位开关，当96度触发了以后，利用硬结点的Bypass信号置1，然后电机只可以往0度方向转动； 7、温度预处理说明 根据通信中的所有温度值，需要在控制当中进行预处理，其温度的预处理值建议如下（根据Lust技术人员的建议）： ①Pitch Master停机温度值为80度；

杰力TCS-100电子秤

杰力TCS-100电子台秤说明书 一、重量警示设置 1．在称重状态下，按【设定】键进入重量警示设置，显示窗口轮流显示上一次设定的重量置上限值如“00300.0”和提示符“－HH－”，按【↑】键，即进入数字输入状态，在数字输入过程中，按【↑】键，当前某位的数值加1，按【去皮】键，确认当前数值并开始设定下一位，如果是最末尾的数值，则进入下一步。如果交替显示情况下直接按【去皮】键，则不改变上一次的设定值，直接进入下限设定。 2．设定下限，显示窗口显示上一次设定的重量下限和提示符“－LL－”，过程同上限设定。 3．报警方式设定，重量窗口显示“－IN－”表示范围内报警，显示“－OUT－”表示范围外报警，显示“－NO－”表示没有报警，此时，按【↑】键切换，选择好后按【去皮】键结束设定。 4．设定过程中按【去皮】键退出设定，当前值无效。 5．在计重模式下所设定的上下范围和报警方式被储存在称内，不同的单位对应不同的报警范围和方式。通过【↑】键输入的数值不能大于称的范围。 二、计数模式 1．按【计重\计数】键，当计数灯亮时，则进行重量取样，显示“SAPX”（X为当前的取样个数）。 2．按【↑】键，循环选择10 20 50 100 200 500六种取样个数，按【去皮】键确认。 3．选择取样个数，重量显示“LOAD-C”，在称上放足样品个数，按【去皮】键完成取样，进入计数模式。 4．在取样状态下，按【设定】键，则退出取样状态。 5．当要进入称重模式时，再按一次【计重\计数】键，此时计数灯暗，进入称重状态。 三、重量标定 方法一 1．按住【去皮】键约3秒，重量显示“CAL.” 2．满量程，分度值，重量小数点设定。 3．按【去皮】进入小数点设定，显示“Pot X”,按【↑】键选择“X”数值，按【去皮】键确认进入下一项满量程值。 4．显示上一次设定数值和提示符“－FS－”,按【↑】键选择,按【去皮】键确认进入下一项分度值设定。 5．显示窗口显示“DEC XX”,按【↑】选择，有1,2,5,10,20，50等6个分度值。按【去皮】键确认进入下一项标定。 6．重量窗口显示上一次标定重量，按【↑】和【去皮】键输入本次的重量，数值输入后(数字全部闪烁），加载相应的重量，稳定后按【去皮】键，按【↑】和【去皮】键输入本次的重量，数值输入后(数字全部闪烁），加载相应的重量，稳定后按【去皮】键，此时显示的重量就是砝码重量，标定完成，返回称重状态。 方法二 1．按住【去皮】键约3秒，重量显示“CAL.”后，按【设定】键，重量窗口显示上一次标定重量，按【↑】和【去皮】键输入本次的重量，数值输入后(数字全部闪烁），加载相应的重量，稳定后按【去皮】键，，标定完成，返回称重状态。

高通平台常用调试Tool介绍1

高通平台的常用的调试tool: QPST, QRCT, QXDM, Trace32(use JTAG) 2013年09月07日?综合?共 4410字?字号小中大?评论关闭 OverView: QPST 综合工具, 传输文件, 查看device的EFS文件系统, 代码烧录 QRCT 测试RF QXDM 看log JTAG trace32调试 QPST,QXDM的使用说明，具体的可以看我上传到csdn的资源文件，我都是看它，看了那个user guide就完全会了，很简单的 QPST是一个针对高通芯片开发的传输软件。简单的说就是用高通处理芯片的手机理论上都可以用 QPST传输文件，可以修改C网机器内部参数的软件。 一次可以track多台电脑 QPST还可进行代码烧入 包括: 5个 client applications ? QPST Configuration monitor the status of: Active phones Available serial ports Active clients To start QPST Configuration, from the Start menu, select Programs → QPS T → QPST Configuration. ? Service Programming provide service programming for CDMA phones that contain Qual comm ASICs. With it, you can save SP data to a file, then download the data in that file to multiple pho nes. The SP application accesses settings regardless of the phone’ s internal memory implementation. It is feature- aware and displays settings pages appropriate to the phone being programmed. To start SP, from the Start menu, select Programs → QPST → Service Programming.

寺岗电子称设置(方式)

寺岗电子称设置（方式） R—交易模式（处理所有的销售） X—报表打印模式（打印销售报表） S—编程模式（编制预设数据，如商品、店名） Z—清空报表模式（清除储存的销售数据） X—（闪烁）-密码设置模式（设置X、S、和Z模式下的密码） 用户功能设置(141)(初始化操作) 按“方式” 键四次（显示z1.0 reset sales daily） 按住“置零”键不放，再输入141 显示：全 第一步：0X4，按[打印]：（设置条形码格式，标准格式：F1F2CCCCCXXXXXCD） 第二步：3X28，按[打印]：(设置条码前导位，如21) 第三步：24X16, 按[打印]：(设置标签格式，标准格式：F1) 第四步：41X0, 按[打印]：（称重和非称重自动转换） 第五步：42X0，按[打印]：（调出PLU码后可改价） 第六步：49X2，按[打印]：(做联网设置) 第七步：50X1, 按[打印]：(做联网设置) 第八步：64X1, 按[打印]：(禁止设置密码) 第九步：135X18，按[打印]：(设置秤号：即IP地址第四位)[前三位IP设置参考d]按[#]键保存,再按[方式]键退回到称重状态 称重与计量的设置（142）称 第一步：按“方式”键四次（显示z1.0 reset salet daily） 第二步：按住“置零”键不放，再输入3752（显示：TO CIEAR DAIL Y TRANS） 第三步：按住“置零”键不放，再输入142 第四步：输入628 X 1，按打印 第五步：输入629 X4，按打印（表示：第一位价格的四舍五入） 第六步：输入645X1，按打印 第七步：输入646X1，按打印 第八步：输入621x1，按打印（调用商品时去皮）按[#]健保存。再按[方式]键 IP地址的设置 第一步：按“方式”键四次（显示z1.0 reset salet daily）

变桨系统带载测试平台要求

变桨系统带载测试平台试验大纲 1 前言 本部分规定了各种型号的电动变桨驱动系统工作性能的测试要求和测试方法。适用于各种电动 变桨驱动系统出厂性能验收和新产品性能测试。 2 测试内容 电机负载测试内容主要分成三个部分： 1）变桨系统带载功能性测试 2）变桨系统带载故障模拟测试 3）变桨系统带载连续运行测试 测试的主要部件为：变桨电机、刹车系统、伺服驱动器、蓄电池、编码器。 3 测试依据 2MW 风机根据《变桨驱动系统采购规范》SB-030.02.05-A 3.6MW 风机根据《变桨驱动系统采购规范》V-69.2-BV.MR.00.00-A-D GB/T 1311-2008《直流电机试验方法》 GB/T 1029-2005《三相同步电机试验方法》 4 变桨系统带载功能测试 4.1 变桨电机额定负载测试 需测试电机在额定负载下的变桨位置、电机转速、转矩响应特性。位置给定范围为（0°～30°）， 测试变桨速度为2°/S。 测试需要得到如下响应曲线图：电机运动位置给定曲线、电机位置响应曲线、电机速度响应曲 线、电机转矩响应曲线、电机电流变化曲线、电机温升曲线。 Y520000064-2 变桨系统带载测试平台试验大纲共3 页第 2 页 FDJL-JS-027 4.2 变桨电机变化负载测试 需测试电机在变化负载下的变桨位置、电机转速、转矩响应特性。位置给定范围为（0°～30°）， 变化负载范围为额定负载的±50%，测试变桨速度为2°/S。 测试需要得到如下响应曲线图：电机运动位置给定曲线、电机位置响应曲线、电机速度响应曲 线、电机转矩响应曲线、电机电流变化曲线、电机温升曲线。 4.3 变桨电机最大负载测试 需测试电机在最大负载下（3s 内）的变桨位置、电机转速、转矩响应特性。位置给定范围为（0°～ 30°），测试变桨速度为2°/S。 测试需要得到如下响应曲线图：电机运动位置给定曲线、电机位置响应曲线、电机速度响应曲

ACS电子计价秤说明书

ACS-A系列交直流两用电子计价秤使用说明书 技术指标: 内置可充电蓄电池，充电时可以开机使用。2.开机自动置零。3.零点自动跟踪。4.累计次数1~30次。 5．电源：交流220V（±10%）/ 50Hz直流4V/4Ah（内置可充电蓄电池） 6．工作温度范围：0℃~+40℃。 7．相对湿度: ≤85% RH。 型号称量范围检定分度数检定分度值（e）准确度等级 ACS---3A 3 kg3000 1 gⅢ ACS---6A6 kg30002 gⅢ ACS---15A15 kg30005 gⅢ ACS---30A30 kg300010 gⅢ 操作方法: 电子秤应置于稳定平整的台面上；调整四个底脚螺钉使秤处于水平位置，然后开机（如果需要则应先放上专用秤盘）。电子秤不能长期在去皮状态下使用，否则零位自动跟踪功能消失，零位会产生漂移。 键盘操作说明 1.开机：按开关机键2－3秒即可开机或关机。 2.【置零】键：重量显示置零。（置零范围：≤2%FS，去皮状态下无效）。 3.【去皮】键：（去皮范围:小于等于1/3满量程）（1）按此键，重量显示为零, “去皮”标志出现。 （2）称重物取下，重量显示为负值，再按【去皮】键，称重复零，“去皮”标志消失。 4.【0】~【9】键，从右到左循环输入单价，隔3秒后再按任何数字键均可清除原单价，同时输入该数字。 5.【累计】键：称重状态时，按此键累计金额，“累计”标志出现，重量窗显示“Add”，单价窗显示累计的次数，金额窗显示为总计金额。若金额为零，则不进行累计，按此键无效。按任何数字键均可退出本次累计（记忆的累计数据仍保留），恢复称重状态，等待下一次累计。 6.【总计】键：用来查询累计金额，按此键，重量窗显示为“TOTAL”，单价窗显示为已累计的次数，金额窗显示为总计金额。按任何数字键均可退出此状态（记忆的累计数据仍保留），恢复称重状态， 7.【累清】键：按此键，清除内存的累计数据，退出累计状态，“累计”标志消失。 8.【清除】键：在称重状态下，按此键清除单价。 9．背光功能：按住【背光】键2---3秒，可以设定背光工作模式，共有常开，常关，自动3种模式。 24键计价秤键盘操作补充说明 1.【·】小数点键，长按小数点键2－3秒，可以选择是否使用小数输入功能。若使用该功能，按此键前，输入单价的整数部分，按此键后，输入小数部分。否则直接输入单价。 2.【累清/设定】键：“累计”标志出现时，按此键，清除内存的累计数据，退出累计状态，“累计”标志消失；“累计”标志没有出现时，按此键进入单价设定功能。 3. 【找钱】键：按此键进入找钱功能（金额显示为零或者金额显示“--OF--”时无效），重量窗显示“-CHA-”金额窗显示“------”提示输入收钱金额。此时可以按“0-9”数字键在单价窗输入收钱金额，按“清除”键可以清除输入的收钱金额，同时单价窗和金额窗恢复显示“------”，当输入金额大于原计价金额时，金额窗显示当前的找钱金额。再按一次【找钱】键，则退出找钱功能，恢复称重状态。 4. 【单价1】～【单价8】：用来提取已设定的单价； 5. 单价设定方法：

电子秤相关参数调节方法

电子秤相关参数调节方法 1、调WEIGHT的字体大小 按“方式”三次显示PLU文件，输入11，按“*”，输入1，按*后显示WEIGHT：， 按平台上的“V4”，C调总价显示，G1到G6的大小确认后，按“*”在按“#”保存， 按“方式”退出.。 2、调KG字体的大小 按“方式”三次显示PLU文件，输入11，按“*”，输入2，按*后显示KG：，按平台上的“V4”，C调总价显示，G1到G6的大小确认后，按“*”在按“#”保存，按“方式”退出。 3、调文本的上下左右： 按“方式”三次显示PLU文件，输入12，按“*”，输入1，按多次*后显示PLU代码， 输入“26”（表示要设的文档1），按“*”出现“X”坐标（表示左右）后输入所要设置的参数（毫米），按“*”出现Y坐标后输入参数，按“*”在按“#”保存，按“方式”退出.，emark:26表示文本1 27表示文本2 28表示文本3 依次类推. 如文本：26，X坐标32，按“*”，Y坐标0，按“*”，宽35，按“*”，宽6按“*”，打印状态7， 按“*”在按“#”保存，按“方式”退出.。 按“方式”三次显示PLU文件，输入12，按“*”，输入1，按多次*后显示PLU代码，1、输入4，在按“*”键进入显示重量（11.233）“X”坐标（表示左右）调整，按“*”键“#”键保存，按“方式”退出。 2、输入12，在按“*”键进入条形码出现“X”坐标（表示左右）调整，按“*”键“#”键保存，按“方式”退出。 3、输入26，在按“*”键进入文本1（WEIGHT：）出现“X”坐标（表示左右）调整，按“*”键“#”键保存，按“方式”退出。 4、输入27，在按“*”键进入文本2（KG）出现“X”坐标（表示左右）调整，按“*”键“#”键保存，按“方式”退出。注：“X”坐标（表示调整左右），“Y”坐标（表示调整上下） 4、IP地址的设置 按“方式”三次，按住“置零”不放同时输入“3752”，松开“置零”，再按住“置零”同时输入“0416”后会出现IP地址.显示出来的IP地址要和主机的IP地址一致，方可双击打开TOP2000，工具，水平设置查看网络IP地址是否和电子秤地址一致，单击“确定”。 5、设0000100XXXX 按“方式”三次，输入“1”，输入“*”，输入“10.00”，依次输入* * 10 #，退出.。 6、设开头25 按“方式”四次，按住“置零”不放同时输入“141”出现（项目条码），输入“3X”，显示F1和F2（13位机PLU条码），输入所需要的参数设置如（025，000等），按“*”，按“#”，按“方式”退出.。

TRACE32-使用

目录 1．系统组成 1．1硬件 1．1.1主机 1．1.2调试电缆 1．1.3通过USB与PC连接 1．1.4通过JTAG与目标连接 1．1.5对PC硬件的要求 1．1.6对目标板硬件的要求 1．1.7加电 1．2软件 1．2.1驱动程序的安装 2．PowerView调试界面的使用 3．1 打开调试界面 3．2 JTAG连接设置 3．3 运行脚本文件 3．4 观察/修改寄存器 3．5 观察/修改存储器 3．6 下载程序 3．7 观察符号表 3．8 打开程序列表窗口 3．9 单步执行程序 3．10 设置软件断点 3．11 设置Onchip硬件断点 3．12 设置数据观察断点 3．13 全速运行程序 3．14 停止运行程序 3．15 观察变量 3．16 观察堆栈 3．17 在线Flash编程 1．系统组成 TRACE-ICP调试系统由硬件和软件两部分组成，硬件是自行研发的，软件是第三方的。 下面分成硬件和软件两部分来介绍。 1．1硬件 TRACE-ICP的硬件设计采用模块化的结构，分为主机和调试电缆两部分。 1．1.1主机 下面三张照片是TRACE-ICP主机的顶视图和前视图以及后视图。 图一、TRACE-ICP顶视图

图二、TRACE-ICP前视图 图三、TRACE-ICP后视图 在图二中的连接器是标准DB25/M连接器，用于连接调试电缆。在图三 中，有两个连接器和一个LED指示灯。左边的连接器是USB接口，用于 通过USB电缆和PC连接。右边的连接器是TRACE-ICP的外接5VDC电 源接口。TRACE-ICP可以通过USB供电，在USB供电不足的情况下， 使用外接电源。LED指示灯是TRACE-ICP的电源指示灯。 1．1.2调试电缆 下图是TRACE-ICP的调试电缆的照片。 图四、TRACE-ICP的调试电缆

电子秤组装与调试预赛资料

电子组装与调试”预赛“电子秤”电路功能简介 一、功能说明 电子秤主要以单片机STC90C52RC控制核心，实现电子秤的基本控制功能。系统扩展了电子日历时钟,系统可以分为最小系统、数据采集、人机交互界面和系统电源、时钟和语音报数六大部分。最小系统部分主要包括STC90C52RC和经典复位电路；数据采集部分由称重传感器、信号放大和A/D转换部分组成，信号放大和A/D转换部分主要由专用型高精度24位AD转换芯片HX711实现；人机交互界面为键盘输入和点阵式液晶显示，主要使用4*4矩阵键盘和1602液晶显示器，可以方便的输入数据和直观的显示数据；时钟模块主要由时钟芯片DS1302和时钟电路组成；语音报数模块可语音报读时间和电子秤系统的重量、单价、金额等语音内容，主要由SC1010B实现。该电子秤可以实现基本的称重功能（称重范围为0～5Kg，重量误差不大于±0.005Kg）,并扩展了时钟和语音报数的功能，时钟模块还可设置闹钟功能。系统在称量时还具有超量程报警功能。整个系统结构简单，使用方便，功能齐全，精度高，具有一定的开发价值。 二、电路功能简介 系统硬件的结构框图如下图1所示： 图1 系统硬件结构框图

电子秤键盘面板： 显示状态：用于时钟模式与闹钟模式的切换。 独立按键S17与S18： S17为时钟按键：按下后由电子秤显示转换为时钟显示。 S18为电子秤按键：按下后由时钟显示转换为电子秤显示。 三、元器件介绍 1.集成电路AT24C02 AT24C02是基于I2C的串行E2PROM存储器件，具有数据掉电不丢失的特点，其管脚如图2所示。 图2 集成电路AT24C02 2.集成电路HX711 HX711 是一款专为高精度称重传感器而设计的24位A/D 转换器芯片。

国电 变桨 调试

PROJECT GUP CCV风场变桨调试TO GUP Customer ENGINEER MOOG Service Remark GUP CCV风场变桨调试 1、变桨柜内无电检查 1.1 查验系统元器件包括电缆有无缺陷。 a、检查柜体在运输过程中是否存在由于震动造成的一些元器件损伤，主要是看元器件有无硬件损伤。 b、检查所要连接的重载电缆有无绝缘破损情况，Harting有无损坏。 c、查看柜内有无铁屑、铜丝等金属危险品 确保上电后设备及人身的安全。 1.2 校线检查 1.2.1 24V控制滑环线缆检查 使用万用表对从滑环进轮毂的线缆进行校线检查，确保接线没有错误。 注意：防雷模块的区别 6R1：接Profibus通讯线为5V防雷模块 16R1、17R1为24V防雷模块 注：此项接线必须校线检查，不然24V如果接线短路，就会造成防雷模块的损坏。 1.2.2 400V线缆检查 使用万用表对从机舱进轮毂的线缆进行校线检查。 注：400V的线缆校线检查必须提高警惕，严禁出现零线与火线或者地线与火线接反的情况！！！ 目前在已经调试的风场中 1）尚义风场发现400V的防雷模块损坏较多，查出原因为机舱出火线与地/零线接反导致防雷模块的损坏2）在武川风场出现有，机舱零线未接紧，上电之后，系统缺零导致烧坏AC400充电器以及24V开关电源。 1.2.3 测量Canbus终端电阻60±5? 可测量BVL E线harting上，白棕两线间阻值 1.2.4 激活profibus终端电阻 DP插头上拨动开关处于ON状态 1）未接主控通讯线时，可测得6R1：1-2间阻值为220±10? 2）若连接主控通讯线之后阻值在110±5? 注：此阻值测量是在主控与变桨均未上电情况下测量的 1.2.5 线路测量 连接外部电源线之后（外部给变桨供电400V电源开关必须保持断开），闭合变桨柜体内所有开关（电池柜5Q1,axis1,axis2,axis3开关保持断开），做上电之前的线路测量 1）检测L1、L2、L3、N、PE线间的短路测量。 2）24+与L1、L2、L3、N、PE线间的短路测量。 3）24-与L1、L2、L3、N、PE线间的短路测量。 4）测量柜内各个端子排N线与N线以及PE线间的导通性。 注意：各个电压等级之间不能有回路电压串入 5）检测PITCHmaster进线进出线的对地的短路测量 确保上电之前线路无短路情况，保护设备及人身安全 1.2.6 电池电压测量 查看连接电池的短接线，保证电池短接线完全连接好，不能有虚接现象。 依次测量每个电池柜的电压，查看电池柜电压是否平衡，一般在230V左右，若出现电池柜电压偏低情况，上电后优先闭合这个电池柜开关，优先充电。

TRACE32SimulatorforARM

1 前言 Trace32 ICD ARM USB能实时DEBUG代码在手机中的运行情况，功能强大，但需要连接TRACE32硬件才能工作。更重要的是，对于概率性死机的BUG，用Trace32 ICD ARM USB应该是很难找到问题，因为你不能确定手机什么时候crash。 其实TRACE32还有一个WIN32版本，用户只需要把手机crash时候的寄存器信息dump出来，就能在WIN32下定位到死在代码的那一行，非常类似于EMP 平台的CHKARM工具。 这就是本文将要描述的Trace32 Simulator for ARM工具。 2 安装 WIN32版的TRACE32需要重新安装，安装文件和硬件版TRACE32是一样的，只是安装时候的选项不同，而且WIN32版的需要安装在不同的目录下（比如trace32-win32）。 z运行安装文件\trace32\bin\setup\setup.exe。首先设置安装路径，注意不要和硬件版TRACE32安装在同一个目录下，请新建一个文件夹（比如 trace32-win32）

z选择【New Installation】，然后Next z选择【Simulator】，这个是WIN32版TRACE32的选项（硬件版TRACE32是选择第2项，注意不要搞错了）

z选择默认值，然后Next z选择【SIM ARM7 ARM9 ARM10 ARM11】，和硬件版TRACE32一样

z安装中，安装完毕后就可以使用了。 3 使用 首先请确保你有保存当前手机软件的原始ARM文件。 手机死机时，按“#”键进入downloading模式。 z运行【QPST】→【Memory Debug】，制指定数据线端口

电子秤标定方法(2011年)

24键电子秤标定步骤 1、开机预热5分钟。 2、打开密码锁，即将线路板正面右下角一黑色短路置于左边。 3、清除秤盘上的物品或按“置零”键，“重量”窗显示为“0”。 4、按“输入”键，“单价”窗显示为1个“0”，输入“97.528”按“输入”键，“金额”窗口出现“------” 5、放上满量程砝码、稍等。 6、按“输入”键，待稳定后，输入砝码重量，按“输入”键，再输入满量程重量，按“输入”键。 7、将密码锁锁上，标定完毕。 科星电子秤标定程序 储存点863，储存，加标准砝码（-5-10kg）输入码砝重量值储存，输最重重量值，储存。即可， 电子秤更改分度值，381.8，储存。 多利多计价秤 按845.45，去支放15公斤砝码，按置零. 3公斤计重秤 开机归零按标定健,放3公斤砝码，按确认健

上海友声电子计价秤 标定程序 先用螺钉短路开机归零,30kg按找钱4，放砝码，按找钱6，再按找钱9，拔下断路环，即可 30kg找钱4 15kg找钱3 6kg找钱2 3kg找钱1 杰力标定 短路开机置零去皮放砝码去皮 上海华德电子计价秤 标定程序 先断路，开机归零，按输入键，输密码97.528输入，放标准砝码，输入键，砝码重量值,按输入键，输入最大重量值再按输入即可。 枝花牌电子计价秤标定程序 按8518去皮，再按1去皮，放标准砝码，输砝码值，再按去皮键，输最大秤量值，按去皮键，即可 友声60公斤标定 开机按累清3 金额出现分度值,按2单价出现60，按去皮100按累清。

宝山华泰牌电子计价秤 标定方法 开机归零，输密码8692按去皮键，放标准砝码，输砝码值，按去皮键，输最大秤量，按去皮，按5键去皮，即可。 友声机电子仪表 标定方法 按住累清键不放，再按1键，待单位窗出现P，输密码02626，按累清键放标准砝码，输砝码值，按累清，即可。 先断路，开机按总计7键，金额窗显------，放标准砝码，按总计，再按找钱9 杰力台秤标定 按98.98去皮，按1选择，显示10-00，按6，按砝码重量，按置零，按去皮，方可。（97.97去皮即可） 山峰牌电子计价秤 标定方法 开机自检归零，输密码159去皮键158去皮键，加标准砝码，按去皮键，输砝码值，按去皮，再输最重秤量，按去皮，即可。

定量包装秤的调试方法

LCS-B系列定量包装秤的调试方法(一) 一、基本工作原理及结构 当定量包装秤进入自动运行状态后，控制系统打开给料门开始加料，该给料装置为快、慢两级给料方式；当物料重量达到快给料设定值时，停止快给料，保持慢给料；当物料重量达到最终设定值时，关闭给料门，完成称重过程；此时系统检测夹袋装置是否处于预定状态，当包装袋已夹紧后，系统发出控制信号打开称量斗卸料门，物料进入包装袋中，物料放完后自动关闭称量斗的卸料门；卸空物料后松开夹袋装置，包装袋自动落下；包装袋落下后进行缝包并输送到下一工位。如此循环往复自动运行。 定量包装秤由称重单元、小车、缝包输送装置、气动系统、除尘系统等组成。其中影响打包速度和准确度的关键部件是称重单元，它包括储料仓、闸门、截料装置、秤体、夹袋装置、支架、电气控制装置等。储料仓为缓冲式料仓，用于物料储备并提供一个接近均匀的物料流；闸门位于储料仓底部，当设备检修或出现故障时，用于将物料封阻在储料仓内；截料装置由截料斗、截料门、气动元件、补气门等组成，在称重过程中提供快、慢两级给料，其快、慢给料的物料流均可单独进行调整，从而保证定量包装秤满足计量的准确度要求和速度要求；补气门的作用为平衡称重时系统内的空气压差；秤体主要由称量斗、承重支架和称重传感器组成，完成重量到电信号的转变并传输给控制单元；夹袋装置主要由夹袋机构、气动元件等组成，作用为夹紧包装袋，让称重完毕的物料全部落入包装袋；电气控制装置由称重显示控制器、电气元器件、控制柜组成，作用为控制系统工作，使整个系统按预先设定的程序，有序工作。 二、称量调试 检查传感器接线无误后，打开控制柜电源并预热15分钟，方可调试。本文以最大秤量100kg、分度值0.01kg、定量值90kg和准确度等级满足≤0.2%的技术要求为例介绍如下： (1)偏载调整 将10kg砝码，分别集中放置在称量斗两个承重点上。当称重显示器显示“正差”时，传感器输出应向降低方向调整；当称重显示器显示“负差”时，传感器输出应向提高方向调整。例如：1#传感器的输出降低时，将与1#传感器有关的一组微调电阻(原始值为10欧姆)，以相同的旋转量向左旋转。 向右旋转(顺时针方向)电阻值减小，显示值增大(记为“加”)； 向左旋转(逆时针方向)电阻值增加，显示值减小(记为“减”)。 注意：旋转微调电阻时，如果每组两只的旋转量不一致时，会使调整变得困难，因此传感器的每组微调电阻在调整时的旋转量应尽量一致。各承重点误差绝对值不大于10g为合格。 (2)称量调整 按照称重显示控制器说明书校准的步骤进行称量调整。检定时从零点到最大值点之间，分别以0kg、40kg、70kg、90kg、100kg的顺序递增砝码，误差分别不大于10g、20g、35g、45g、50g；从最大值到零点之间分别以100kg、90kg、70kg、40kg、0kg的顺序递减砝码，误差不大于各自允差；在40kg、100kg两定量点进行重复性检定，每个称量点进行３次，每次误差不大于各自允差。 (3)参数设定 定量包装秤须设定的参数较多，下面以常用关键参数为例介绍如下： a、称重显示控制器定量值可设置为定量目标值，如90kg等。 b、快加提前量、慢加提前量。

TCS-150 电子秤标准操作规程

* * * * 制药厂操作标准----设备管理 文件名称 TCS-150电子秤 标准操作规程编码SOP-SB-003-00 页数1-1 实施日期 制订人审核 人 批准人 制订日期审核日 期 批准日 期 制订部门工程 部 分发部 门 生产部、生产车间 目的：规范使用电子秤的使用过程。 适用范围：适用于TCS-150电子秤的使用、操作。 责任：TCS-150电子秤操作人员按本规程操作，班组长、车间主任对本规程的有效执行承担监督检查责任。 内容： 1.开机及置零。 1.1按“开/关”键仪表进行99999-00000自动回零后，便进入称量状态。 1.2在使用的过程中，空称、零点不为零时，即可按“零”键。仪表数字自动回零，置零范围±2%。 2.操作

2.1将所需称量的物体放在称台上，待仪表上的数值稳定便是此次称量的毛重数据。 2.2当称同一物体或同一批数量的物体时可采用按“累计”键把单次重量进行储存，在称完之后再按“累计重示”键可显示出此次所称物体的毛重。如想随时察看累计重量，按“累计重示”键，则显示已累计次数及累计重量值，保持2秒钟后，返回称重状态。如想长时间察看，则按“累计重示”键不放。如清除累计可同时按“扣重”和“累计重示”键，即可清除累计结果，此时累计指示符号熄灭，中途开、关机后，累计结果丢失。 2.3被称物体需要去皮时，将物体置于秤台上，待显示稳定后，按“扣重”键，即完成去皮重程序，此时仪表显示净重为“0”扣重标志符号亮。 3.称重完毕后按“开/关”键便进入关机状态。 4.每天下班对电子秤按《电子称清洁标准操作规程》（SOP-WS-028-00）清洁，清洁完毕，挂上“已清洁”卫生状态牌。

使用 Trace32 对 FLASH 编程

使用 Trace32 对 FLASH 编程 随着软硬件复杂性的增加，在嵌入式系统开发中，调试器对项目的开发进度、质量起着越来越重要的作用。在众多的调试器中，Lauterbach 公司的 Trace32 凭借其强大的功能，出色的性能，成为目前嵌入式系统开发中，尤其是高端系统中普遍采用的调试工具。 Trace32 除了具有对代码设置断点、跟踪调试等常规的功能以外，还能够控制对目标系统的FLASH 进行编程。本文首先对比了 Trace32 FLASH 编程的两种方式："Emulator controlled flash programming" 和 "Target controlled flash programming"，指出"Target controlled flash programming"方式的优点；然后介绍了与 FLASH 编程相关的 Trace32 脚本命令，以及Trace32 脚本命令与 FLASH 编程软件之间的通信机制；最后，给出了 "Target controlled flash programming" 方式的控制流程。 注：本文中使用的"编程"一词，除了具有对 FLASH 烧写的含义外，还包括擦除、校验等其它对 FLASH 的操作。 一、FLASH 编程的两种方式 对目标系统中的 FLASH 有两种方式进行编程，分别是 "Emulator controlled flash programming" 和"Target controlled flash programming"。 在 "Emulator controlled flash programming" 方式下，所有对 FLASH 编程的操作都是由Emulator 完成的，不使用目标系统的资源。Trace32 软件支持市面上几乎所有的 FLASH芯片，只要在脚本命令 FLASH.Create 中指明目标 FLASH 的型号，地址范围以及总线的配置，用户就可以使用脚本命令直接将数据烧写到 FLASH，不需要编写任何对 FLASH 操作的代码。 在"Target controlled flash programming"方式下，对 FLASH 的编程控制是由运行在目标系统上的 FLASH 编程软件完成的，而这个软件必须由用户自行开发。此时，Trace32通过使用脚本对目标系统内存地址空间的访问，向 FLASH 编程软件传送控制参数和数据。 由于直接在目标系统的处理器上运行，采用"Target controlled flash programming" 方式可以获得比"Emulator controlled flash programming"方式快得多的编程速度。这对于烧写大的文件，以及生产线等场合来说十分重要。另外，只要编写相应的 FLASH 编程软件，用户选择的任何 FLASH 都能够被支持。 因此，对于 FLASH 编程的内容较少，或者对编程的时间要求不高的情况下，可以使用"Emulator controlled flash programming" 方式；但是，对于需要编程较大的文件，而且对速度要求较高的情况下，"Target controlled flash programming" 方式是唯一的选择。本文中只讨论"Target controlled flash programming" 方式。 二、Trace32 脚本 在 Trace32 的界面中，可以使用菜单，鼠标完成操作，也可以完全使用命令操作。事实上，Trace32 内嵌了强大的命令和脚本处理功能。使用 Trace32 的命令不仅可以完成所有的功能，而且可以获得比菜单方式更大的操纵性和灵活性。脚本以 .CMM 为后缀。 下面就介绍 Trace32 中与 FLASH 操作相关的命令，见下表：