罗森伯格无源互调分析仪20110406

天线无源互调检测暗室-PIM暗室-antenna PIM test Chamber-无源互调暗室-PIM Chamber-介绍

无源互调检测暗室介绍 PIM介绍: 无源互调（Passive Inter-Modulation, PIM）是由天线发射系统中各种无源器件的非线性特性引起的。在大功率、多信道系统中，由于其大功率特性，使传统的无源线性器件产生较强的非线性效应，这些无源器件的非线性会产生相对于工作频率的更高次谐波，这些谐波与工作频率混合会产生一组新的频率，其最终结果就是在空中产生一组无用的频谱（三阶互调产物, 五阶互调产物, 七阶互调产物…）,如果这些互调产物落在发射或接收波段区间，并且这些互调产物的功率超过系统中有用信号的最小幅度, 就会影响正常的通信。所有无源器件由于非线性特性都会产生互调失真，其产生的原因很多，如机械接触的不可靠、虚焊和表面氧化等。 在GSM900通信系统与3G通信系统中，随着发射功率的增加，由发射频段产生的三阶互调产物会落入到他们各自的接收频段。通过以下数学计算可以来验证这个现象 1- 2G GSM上行/下行 [890,915]/[935,960] fPIM3=[910,985] fPIM5=[885,1010] fPIM7=[860,1035] 2- 3G WCDMA / CDMA2000 / TD-SCDMA 上行/下行 [1920,2060]/[2110,2170] fPIM3=[2050,2230] fPIM5=[1990,2290] fPIM7=[1930,2350] 从上述计算结果可知，GSM900与3G通信系统中，fPIM3/ fPIM5/ fPIM7均落入到上行的接收频段。如果在发射频段产生一个-110dBm的无源互调信号，也就是干扰信号，这可能会给系统带来影响，因为这个数值已经大于系统中有用信号的最小幅度。

无源互调测量及解决方案

１概述 无源器件会产生非线性互调失真吗？答案是肯定的！尽管还没有系统的理论分析，但是在工程中已经发现在一定条件下无源器件存在互调失真，并且会对通信系统（尤其是蜂窝系统）产生严重干扰。 无源互调（Ｐａｓｓｉｖｅ　Ｉｎｔｅｒ－Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ，ＰＩＭ）是由发射系统中各种无源器件的非线性特性引起的。在大功率、多信道系统中，这些无源器件的非线性会产生相对于工作频率的更高次谐波，这些谐波与工作频率混合会产生一组新的频率，其最终结果就是在空中产生一组无用的频谱从而影响正常的通信。 所有的无源器件都会产生互调失真。无源互调产生的原因很多，如机械接触的不可靠、虚焊和表面氧化等。 ５年前，大部分射频工程师很少提及无源器件互调问题。但是，随着移动通信系统新频率的不断规划、更大功率发射机的应用和接收机灵敏度的不断提高，无源互调产生的系统干扰日益严重，因 无源互调测量及 解决方案 朱　辉 上海创远信息技术股份有限公司 此越来越被运营商、系统制造商和器件制造商所关注。 长期以来，无源器件的互调失真测量技术一直被国外公司所掌握，并垄断了测量产品市场。今天这种局面发生了变化，无源互调测量技术难关已经被中国本土的射频工程师们攻克，而且低成本的商用无源互调测量系统也已诞生。 ２无源互调的表达方式 无源互调有绝对值和相对值两种表达方式。绝对值表达方式是指以ｄＢｍ为单位的无源互调的绝对值大小；相对值表达方式是指无源互调值与其中一个载频的比值（这是因为无源器件的互调失真与载频功率的大小有关），用ｄＢｃ来表示。 典型的无源互调指标是在两个４３　ｄＢｍ的载频功率同时作用到被测器件ＤＵＴ时，ＤＵＴ产生－１１０　ｄＢｍ（绝对值）的无源互调失真，其相对值为－１５３　ｄＢｃ。 ３无源互调测量方法 由于无源互调值非常小，因此无源

无源互调测试流程和方法_V1

无源互调测试流程和方法 罗森伯格亚太电子有限公司 2011年5月

目录 1.0 无源互调简介 (1) 2.0 PIM 测试仪 (1) 3.0 PIM的单位 (2) 4.0 PIM测试指导 (2) 4.1 RF安全 (2) 4.2 RF连接器的维护 (2) 4.3 外部PIM信号源 (3) 4.4 测试精确性 (3) 4.5 测试系统搭建以及PIM测试基准的现场核查 (3) 5.0 验收标准 (3) 6.0 器件测试 (4) 6.1 天线产品PIM测试 (4) 6.2 多端口器件的PIM测试 (5) 6.2.1 电缆组件（二端口） (5) 6.2.2 功分器和合路器（三端口或多端口） (5) 6.2.3 天线共用器和多频合路器（三端口） (6) 6.2.4 塔顶放大器（TMA）的PIM测试 (6) 6.2.4.1 Duplexing TMA (6) 6.2.4.2 Dual-Duplexing TMA (6) 6.2.5 带RRH的系统PIM测试 (7) 7.0 互调仪参数设置 (8)

1.0无源互调简介 无源互调（PIM）是两个或更多不同频率的信号混合输入到无源器件中，由于连接点或材料的非线性，而产生的失真信号。干扰的产生和本地下行频点相关，可以导致在多系统共享基础设施时，上行频段噪声上升。PIM对网络质量的影响是非常严重的，特别是UMTS或LTE这种宽频系统。PIM 干扰会导致接收机灵敏度下降，掉 话率增加，接入失败率提高，过早 切换，降低数据传输速率，并降低 系统的覆盖范围和容量。 RF路径中的任何组件都可能 产生PIM干扰，包括天线，TMAs， 天线共用器，双工器，避雷器，电 缆和连接器。此外，当天线系统大 功率辐射时，松动的机械连接和生 锈的表面，也会产生PIM干扰。2.0PIM 测试仪 PIM测试仪是将两路高功率信号输入到被测件中。如果被测件中有非线性连接，就会产生互调信号。测试信号将被负载吸收，或是被天线发射到自由空间。互调信号会在各个方向进行传输。在同轴系统中，互调信号不仅会朝着负载或天线 的方向传输，也会朝着PIM测试仪的方向传 输。落在系统Rx频段的互调信号会通过双工 器传输到接收机上。这个小信号会通过滤波器 和低噪放，然后到达测试仪的接收机。 这种互调测试方式被称为反射式测试。精 确的测试的难点在于在一个发射大功率信号 的系统里去检测一个非常小的信号。IEC 62037 [3]对互调测试给出了更为详细的定义。 当使用负载去吸收通过被测的传输器件的发 射信号时，这个负载必须是“低互调”（LOW PIM）的。如果负载含有能产生高互调信号的 因素时，即使被测件没有产生互调信号，PIM测试仪也无法分辨互调信号是负载产生的还是被测件产生的，就会造成测试失败。需要注意的是，VSWR扫频测试的负载，是不能用于互调测试的。这类精密负载的设计，没有考虑承受互调测试的高功率信号，一旦使用，将会造成永久性损坏。 PIM测试仪的自身互调信号（残留PIM）应进行现场验证，并保证在一定的电平之下。测试系统的残留PIM信号（包括测试仪表、负载、，测试线缆、转接器）应进行现场验证，以确保之前的使用没有造成损坏。

无源互调的测试

射频电缆的无源互调测试 一、无源互调介绍 在无线通信系统中，日益增加的语音和数据信息必须在一个固定带宽中传输，无源互调失真已经成为限制系统容量的重要因素。就好像在有源器件中，当两个频率以上的信号以一个非线性形式混合在一起时，就会产生一些伪信号，这就是无源互调信号。当这些伪互调信号落在基站的接收（上行）频段内时，接收机就会发生减敏现象。这种现象可以降低通话质量，或者降低系统的载干比（C/I），从而减少通信系统的容量。 造成无源互调的原因很多，其中包括机械接触不良，射频通道中的含铁导体，和射频导体表面的污染。事实上，很难准确预知器件的无源互调值，测量所得的数据只能用来大致描述器件的性能。由于结构技术方面的微小改变都会导致互调指标的严重变化，所以一些生产厂商通过对产品100%的检验来保证基站中使用的射频器件的无源互调水平都能满足指标要求。当存在两个或两个以上频率时，基站的大功率传输通道中的每个组件和子系统都会产生互调失真。本文仅关注其中的一种组件：集成电缆。针对集成电缆产生的互调失真既是有方向性的，又是依赖于频率的理解，对于集成电缆的指标及其在通信基站中的使用是一个非常重要的因素。 二、电缆互调测试的实现 一条集成电缆（或者是任何两端口射频器件）都有两种无源互调响应：反射互调和通过互调。图1为Summitek公司的无源互调分析仪测量这两个互调信号的原理。在SI-1900A型设备中，通过端口1向集成电缆注入两个大功率信号，电缆的另一端与端口2连接。端口2作为这两个大功率信号的负载，并且其无源反射互调很小，可忽略。在端口1处测量反射

无源互调响应，在端口2处测量通过（即前向）无源互调。与目前使用的大多数无源互调测试设备不同的是，Summitek公司的互调分析仪支持前向和反向互调响应的同时测量，而不需要重新接驳。这样可以避免重新接驳时所必须的配对和再配对操作，从而使反射响应和通过响应的测量误差最小化。将该特性与Summitek分析仪的扫频互调测量功能相结合，就可以对电缆完整的互调特性做测量了。 图1(a) Summitek 无源互调失真分析仪对反射和通过互调响应的测试框图 图1(b)用于集成电缆互调测量的分析仪图片

无源互调测试仪检测方法及功能分析_JOINTCOM

无源互调测试仪检测方法 及“工兵行动”所需互调仪功能分析

目录 一. 互调仪整机性能测试 (3) 1.残余互调(自身互调)测试 (3) 2.标准件测试测试 (3) 3.总结 (4) 二. 互调仪模块性能测试 (4) 1.发射模块测试 (4) 2.接收模块测试 (4) 3.总结 (5) 三. 互调仪一致性测试 (5) 四. “工兵行动”所需互调仪功能分析 (5) 1. 中国移动需要什么样的互调仪？ (5) 2.为什么互调仪的重量要求足够轻？ (5) 3.为什么互调仪必须要测量频谱？ (6) 4.为什么国际标准EGSM便携互调仪国内不能使用？ (7)

一. 互调仪整机性能测试 互调仪由发射机和接收机组成，因此可以利用其收发特性对整机性能进行验证。整机性能测试包括两项，一项是残余互调测试，另外一项是标准件测试。 1. 残余互调(自身互调)测试 测试设备包括被测互调分析仪、低互调负载、低互调测试电缆，其连接如图1所示，仪表设置如下：两路载波输出功率为+43dBm ，互调阶数为3阶，选择扫频测试，记录整个频段范围内的互调最差点，这个值就是互调仪残余互调。 建议残余互调≤－125 dBm （－168dBc@2×43dBm ），该值越小越好。残余互调是互调仪的一项重要指标，他决定了仪表的测量范围和测量精度。根据互调测试IEC 62037相关国际标准，要求测试系统残余互调至少必被测件互调值低10dB ，也就是说残余互调为－125 dBm@2×43dBm 的互调仪，最低可以测到－115 dBm@2×43dBm 无源互调，低于－115 dBm ，测试结果不准确。反过来也可以讲，在被测件互调值确定情况下，互调仪残余互调值越低，测量结果越精确。 低互调负载 图1 残余互调测试框图 2. 标准件测试测试 低互调负载 图2 标准件测试框图 测试设备包括被测互调分析仪、标准件、低互调负载、低互调测试电缆，其连接如图2所示。标准件是一种在确定的功率(2×43dBm)下产生确定互调值（譬如-80dBm 或-100dBm 等）的设备，其外形与一般连接器相同。仪表设置如下：两路载波输出功率为+43dBm ，互调阶数为3阶，选择扫频测试，记录整个频段范围内的数据，计算其与标准（譬如-80dBm ）的差值。 建议标准件偏差在±3dB 之内，偏差值越小越好。标准件测试是另外一个整机测试指标，它用来衡量测试的准确性。与网络分析仪的测量误差(0.05dB~0.1dB)相比，±3dB 互调仪的测试偏差比较明显，这是由于互调测试的复杂性及不确定性造成。

无源互调PIM

无源互调测量及解决方案 1、概述 无源器件会产生非线性互调失真吗?答案是肯定的!尽管还没有系统的理论分析，但是在工程中已经发现在一定条件下无源器件存在互 调失真，并且会对通信系统（尤其是蜂窝系统）产生严重干扰。 无源互调（PassiveInter-Modulation，PIM）是由发射系统中各种无源器件的非线性特性引起的。在大功率、多信道系统中，这些无源器件的非线性会产生相对于工作频率的更高次谐波，这些谐波与工作频率混合会产生一组新的频率，其最终结果就是在空中产生一组无用的频谱从而影响正常的通信。 所有的无源器件都会产生互调失真。无源互调产生的原因很多，如机械接触的不可靠、虚焊和表面氧化等。 5年前，大部分射频工程师很少提及无源器件互调问题。但是，随着移动通信系统新频率的不断规划、更大功率发射机的应用和接收机灵敏度的不断提高，无源互调产生的系统干扰日益严重，因此越来越被运营商、系统制造商和器件制造商所关注。 长期以来，无源器件的互调失真测量技术一直被国外公司所掌握，并垄断了测量产品市场。今天这种局面发生了变化，无源互调测量技术难关已经被中国本土的射频工程师们攻克，而且低成本的商用无源互调测量系统也已诞生。 2、无源互调的表达方式 无源互调有绝对值和相对值两种表达方式。绝对值表达方式是指以dBm为单位的无源互调的绝对值大小；相对值表达方式是指无源互调值与其中一个载频的比值（这是因为无源器件的互调失真与载频功率的大小有关），用dBc来表示。 典型的无源互调指标是在两个43dBm的载频功率同时作用到被测器件DUT时，DUT产生-110dBm（绝对值）的无源互调失真，其相对值为-153dBc。 3、无源互调测量方法 由于无源互调值非常小，因此无源互调的测量非常困难。到目前为止，无源互调的测量项目和测量方法尚无相应的国际标准，通常都是采用IE C推荐的测量方法。IEC推荐

【CN109889282A】一种射频印刷电路板材无源互调耦合馈电快测夹具及方法【专利】

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请号 201910188996.6 (22)申请日 2019.03.13 (71)申请人 西安交通大学 地址 710049 陕西省西安市咸宁西路28号 (72)发明人 贺永宁　张可越　赵小龙　 (74)专利代理机构 西安通大专利代理有限责任 公司 61200 代理人 徐文权 (51)Int.Cl. H04B 17/29(2015.01) H04L 12/26(2006.01) (54)发明名称 一种射频印刷电路板材无源互调耦合馈电 快测夹具及方法 (57)摘要 本发明公开了一种射频印刷电路板材无源 互调耦合馈电快测夹具及方法，该夹具包括同轴 法兰、同轴介质、镀银金属插针、介质支架以及具 有中空腔体且两端及顶部开口的金属屏蔽壳；其 中，介质支架上开设有两层中空结构，上层为用 来固定待测件的矩形中空结构，下层为用来固定 镀银金属插针的矩形凹槽；测试时，待测件固定 在矩形中空结构内，两个镀银金属插针的一端对 称设置在矩形凹槽内，且两个镀银金属插针之间 留有缝隙，每个镀银金属插针的另一端均由内至 外依次套装有同轴介质和同轴法兰，并通过同轴 法兰与介质支架紧固在一起。本发明在标准PIM 测试方法的基础上，提出了一种新的无源互调快 速标定方法，并结合电磁仿真结果验证了该方法 的可行性与通用性。权利要求书1页 说明书4页 附图3页CN 109889282 A 2019.06.14 C N 109889282 A

权　利　要　求　书1/1页CN 109889282 A 1.一种射频印刷电路板材无源互调耦合馈电快测夹具，其特征在于，包括同轴法兰(1)、同轴介质(2)、镀银金属插针(3)、介质支架(4)以及具有中空腔体且两端及顶部开口的金属屏蔽壳(5)；其中， 介质支架(4)上开设有两层中空结构，上层为用来固定待测件(7)的矩形中空结构，下层为用来固定镀银金属插针(3)的矩形凹槽，测试时，待测件(7)固定在矩形中空结构内，两个镀银金属插针(3)的一端对称设置在矩形凹槽内，且两个镀银金属插针(3)之间留有缝隙，每个镀银金属插针(3)的另一端均由内至外依次套装有同轴介质(2)和同轴法兰(1)，并通过同轴法兰(1)与介质支架(4)紧固在一起。 2.根据权利要求1所述的一种射频印刷电路板材无源互调耦合馈电快测夹具，其特征在于，金属屏蔽壳(5)的纵向截面呈U型状，使得介质支架(4)能够镶嵌在金属屏蔽壳(5)的中空腔体内。 3.根据权利要求1所述的一种射频印刷电路板材无源互调耦合馈电快测夹具，其特征在于，测试时，待测件(7)通过尼龙螺钉(6)固定在介质支架(4)的矩形中空结构内。 4.根据权利要求1所述的一种射频印刷电路板材无源互调耦合馈电快测夹具，其特征在于，同轴法兰(1)与介质支架(4)通过金属螺钉紧固在一起。 5.根据权利要求1所述的一种射频印刷电路板材无源互调耦合馈电快测夹具，其特征在于，测试时，该夹具两端的镀银金属插针(3)通过DIN头与测试系统连接。 6.一种射频印刷电路板材无源互调耦合馈电快测方法，其特征在于，该方法基于权利要求1至5中任一项所述的一种射频印刷电路板材无源互调耦合馈电快测夹具，包括以下步骤： Step 1，通过尼龙螺钉(6)将待测件(7)固定在夹具上方的介质支架(4)上； Step 2，用矢量网络分析仪测试包含待测件(7)的夹具S参数，如果满足测试条件则进行下一步； Step 3，将包含待测件(7)的夹具接入PIM测试回路中； Step 4，读出PIM指标。 2

PCB常用分析仪器介绍

常用分析仪器知识 一、绪论 1.与我们制程产品相关，所使用的相对复杂一些的仪器包括以下： 1）原子吸收分光光度仪（AAS） 2）紫外-可见分光光度仪（UV-VIS） 3）循环伏安分析仪（CVS） 4）X射线能量色散光谱仪（EDX） 5）扫描电子显微镜（SEM） 6）X射线测厚仪（XRF测厚） 2.常用仪器综述 1）按仪器的通常分类，AAS、XRF测厚、EDX（其实也是属于XRF的一种）和UV都是属于光谱仪；CVS属于电化学仪器；SEM属于电镜仪器。 2）SEM通常可与XRF测厚和EDX联合使用，有些EDX机器也同时兼具XRF测厚功能，从相关常见的分析报告可同时看到样品的SEM图和分析 测量的结果图表。 3）AAS、UV、XRF测厚、EDX和CVS都是使用分析比较技术，要求进入仪器测试的标准样品和未知样品具有相似性和重现性，简而言之，样品测试 前需要作校正和样品处理。 二、AAS 1.AAS定量分析原理和仪器结构组成 1）分析原理：原子吸收的过程是当基态原子吸收某些特定波长的能量由基态到激发态。根据Lambert-Beer 定律，吸收值与浓度成正比关系，从标准溶 液作出校正曲线后，再读出未知溶液的浓度。原子吸收分光光度仪即是利 用原子化器将样品原子蒸气化后，吸收某一特定波长光，此光来自空心阴 极灯管，再经过光学系统分光经由单光器过滤仅有要测的波长光进入侦测 器。 2）仪器组成：A.放射光源(空心阴极管或EDL灯管)；B.样品导入装置-简易雾化器；C.火焰式原子化器；D.分光仪(Echell 分光系统)；E.侦测器(固态 半导体) 2.优缺点 1）优点：A.可做多种金属元素的定量分析（约70多个）.

各种检测仪器的简单介绍

[转] 各种仪器分析的基本原理及谱图表示方法！！（补图中......) 2013-11-28 19:05阅读(2)转载自古道尘 ?赞(2478) ?评论(1) ?已成功转载 ?分享(9714) ?复制地址 ?收藏夹按钮收藏收藏 ?更多 已经是第一篇| 下一篇：院士大牛们一年N... 化学专业学生必备：各种仪器分析的基本原理及谱图表示方法！！ 紫外吸收光谱 UV 分析原理：吸收紫外光能量，引起分子中电子能级的跃迁 谱图的表示方法：相对吸收光能量随吸收光波长的变化 提供的信息：吸收峰的位置、强度和形状，提供分子中不同电子结构的信息 荧光光谱法 FS 分析原理：被电磁辐射激发后，从最低单线激发态回到单线基态，发射荧光 谱图的表示方法：发射的荧光能量随光波长的变化 提供的信息：荧光效率和寿命，提供分子中不同电子结构的信息

红外吸收光谱法 IR 分析原理：吸收红外光能量，引起具有偶极矩变化的分子的振动、转动能级跃迁 谱图的表示方法：相对透射光能量随透射光频率变化 提供的信息：峰的位置、强度和形状，提供功能团或化学键的特征振动频率拉曼光谱法 Ram 分析原理：吸收光能后，引起具有极化率变化的分子振动，产生拉曼散射谱图的表示方法：散射光能量随拉曼位移的变化 提供的信息：峰的位置、强度和形状，提供功能团或化学键的特征振动频率核磁共振波谱法 NMR 分析原理：在外磁场中，具有核磁矩的原子核，吸收射频能量，产生核自旋能级的跃迁 谱图的表示方法：吸收光能量随化学位移的变化

提供的信息：峰的化学位移、强度、裂分数和偶合常数，提供核的数目、所处化学环境和几何构型的信息 电子顺磁共振波谱法 ESR 分析原理：在外磁场中，分子中未成对电子吸收射频能量，产生电子自旋能级跃迁 谱图的表示方法：吸收光能量或微分能量随磁场强度变化 提供的信息：谱线位置、强度、裂分数目和超精细分裂常数，提供未成对电子密度、分子键特性及几何构型信息 质谱分析法 MS 分析原理：分子在真空中被电子轰击，形成离子，通过电磁场按不同m/e分离 谱图的表示方法：以棒图形式表示离子的相对峰度随m/e的变化 提供的信息：分子离子及碎片离子的质量数及其相对峰度，提供分子量，元素组成及结构的信息 气相色谱法 GC 分析原理：样品中各组分在流动相和固定相之间，由于分配系数不同而分离谱图的表示方法：柱后流出物浓度随保留值的变化 提供的信息：峰的保留值与组分热力学参数有关，是定性依据；峰面积与组分含量有关 反气相色谱法 IGC 分析原理：探针分子保留值的变化取决于它和作为固定相的聚合物样品之间的相互作用力 谱图的表示方法：探针分子比保留体积的对数值随柱温倒数的变化曲线 提供的信息：探针分子保留值与温度的关系提供聚合物的热力学参数 裂解气相色谱法 PGC 分析原理：高分子材料在一定条件下瞬间裂解，可获得具有一定特征的碎片谱图的表示方法：柱后流出物浓度随保留值的变化 提供的信息：谱图的指纹性或特征碎片峰，表征聚合物的化学结构和几何构型 凝胶色谱法 GPC 分析原理：样品通过凝胶柱时，按分子的流体力学体积不同进行分离，大分子先流出 谱图的表示方法：柱后流出物浓度随保留值的变化 提供的信息：高聚物的平均分子量及其分布 热重法 TG 分析原理：在控温环境中，样品重量随温度或时间变化 谱图的表示方法：样品的重量分数随温度或时间的变化曲线 提供的信息：曲线陡降处为样品失重区，平台区为样品的热稳定区 热差分析 DTA 分析原理：样品与参比物处于同一控温环境中，由于二者导热系数不同产生温差，记录温度随环境温度或时间的变化 谱图的表示方法：温差随环境温度或时间的变化曲线 提供的信息：提供聚合物热转变温度及各种热效应的信息

无源互调(PIM)影响因素及常见问题(一)

无源互调（PIM）影响因素及常见问题（一） 随着通信技术的快速发展，特别是5G天线，通信频率的增高，以及语音和数据信号容量的增加，之前对信号产生影响较小的因素也被越来越重视起来，无源互调就是其中之一。 1什么是无源互调（PIM） 无源互调（Passive Inter-Modulatio）又称无源交调、互调失真等，是由射频系统中各种无源器件产生的，只要一个射频导体中存在两个或两个以上的RF信号，就会产生互调，产生一个或多个新的频率，这些新产生的频率与工作频率混合在一起就会影响到通信系统。无源互调值非常小，一个典型的无源互调指标是在二个+43dBm的载频功率同时作用到被测器件（DUT）时，DUT产生-110dBm（绝对值）的无源互调失真，其相对值为-153dBc,相当于一根头发丝的直径对比地球到太阳之间的距离。因此测试非常因难，大多采用IEC 推荐的正向和反射互调产物的测量方法。 2无源互调的来源 PIM可以发生在任何两种不同金属的连接点或接口处，例如连接器和电缆组件的连接处，天线和天线馈源的连接处。接触不良的连接器，内部生锈或氧化的连接器也可能会导致PIM。PCB材料也可能是PIM的来源，它可能来自于材料本身，也可能来自馈电点。 3无源互调分类 （1）正向互调 正向互调也被称为传输互调，其定义是当两个载频同时输入到一个双端口(或多端口）器件时，在输出端所产生的互调。在测试过程中，任何空闲端口必须接低互调负载。 从频段细分，正向互调又可分为落入发射频段和落入接收频段两种,它们的区别取决于f1和f2的之间的差值△，2f1—f2和f1之间的间隔、2f2—f1和f2之间的间隔都等于△，从这个规律可以直观判断互调产物的位置。同样是正向互调，落入发射频段和接收频段互调的测试方法却大相径庭。

最全的各类分析仪器介绍

电子称电子称是用来对货物进行称重的自动化称重设备，通过传感器的力电转换，经称重仪表处理来完成对货物的计量，适用于各种散货的计量。 电子秤电子秤是用来对货物进行称重的自动化称重设备，通过传感器的力电转换，经称重仪表处理来完成对货物的计量，适用于各种散货的计量。 测厚仪测厚仪用来测量不同单一材料或者覆盖层的厚度，分无损和有损两种，其中大部分是无损的。 硬度计硬度计是测量各种材料硬度的仪器，分为洛氏、维氏、布氏、邵氏、里氏、消氏等不同类别。 电子天平是实验室分析或质量控制所必须的仪器，具有称量大，精度高，在较差使用环境下亦可达到精密称量的要求。 测温仪是温度计的一种，用红外线的原理来感应物体表面温度，操作比较方便，特别是高温物体的测量。应用广泛，如钢铸造、炉温、机器零件、玻璃及室温、体温等各种物体表面温度的测量。 干燥箱干燥箱是一种常用的仪器设备,主要用来干燥样品,也可以提供实验所需的温度环境.干燥箱应用与化工,电子,铸造,汽车,食品,机械等各个行业. 分光光度计常用分析仪器之一，常用于样品的定性与定量的分析，或透射、反射等光谱分析。广泛应用于医药，食品，石油，建材等各个领域 电导率仪电导率仪是适用于精密测量各种液体介质的仪器设备,主要用来精密测量液体介质的电导率值,当配以相应常数的电极可以精确测量高纯水电导率，广泛应用各领域的科研和生产. 粘度计一种用于测量液体的粘性阻力与液体的动力粘度的仪器，广泛应用于油脂、油漆。电流表电流表是测定电流强弱和方向的电学仪器。分直流电流表和交流电流表。供实验室和工业现场测试用。 温湿度计用来测定环境的温度及湿度，以确定产品生产或仓储的环境条件。也应用于人们日常生活。应用较为广泛。 水分测定仪快速测定物质含水量，可提供实时温度、样品质量、脱水率、样品含水百分比等数。 酸度计酸度计是一种常用的仪器设备,主要用来精密测量液体介质的酸碱度值,配上相应

无源互调的机理分析及其抑制措施

无源互调的机理分析及其抑制措施 【摘要】本文讨论了无源互调产物的产生机理及其减小措施。指出无源互调干扰主要来自两种无源非线性：接触非线性和材料非线性。对几种重要的非线性机理进行了特别的描述，给出了PIM产物的主要抑制措施。 【关键词】无源互调；接触非线性；材料非线性；抑制措施 一、引言 近年来，随着通信系统及其用户数量大幅增加，移动通信系统中的无源互调产物，已成为影响系统通信质量的重要寄生干扰之一。因此科学有效的分析无源互调机理及测量其产物对提高整个通信系统的通信质量将具有重要的意义。为了比较全面地理解无源互调干扰问题，我们有必要首先了解无源互调的产生机理。在大功率卫星通信系统和移动通信系统中，微波器件的PIM干扰主要来自两种无源非线性：接触非线性和材料非线性。前者指的是具有非线性电流电压特性的任何金属接触；后者指的是具有固有非线性导电特性的铁磁材料、碳纤维和铁镍钴合金。需要特别指出的是，除了上述两种无源非线性机理外，还可能存在一些其他的非线性效应，这对无源互调的产生也有一定的贡献。 二、无源互调的几种重要的机理分析 （一）接触非线性机理 接触非线性主要包括由材料结构和时间相关现象引起的非线性效应。由材料结构引起的非线性产生机理主要包括：由接合面上的点接触引起的机械效应；由点电子接触引起的电子效应；由点电子接触和局部大电流引起的热效应。由时间相关现象引起的非线性主要包括：斑点尺寸随着电流的通过而增大；由强直流电流引起的金属导体中离子的电迁移；引起接触面相对运动的热循环；引起接触面相对运动的振动和磨损；不同热膨胀系数的器件接触引起的热循环；金属接触的松动和滑动以及氧化层或污染物的增加。 1.量子隧穿与热电子发射效应 根据经典的理论，“金属-绝缘体-金属”（MIM）式的结构是无法实现电流传导的。但是，量子理论表明，对于表面氧化层很薄的情形，金属中的电子可以通过隧道效应穿过势垒，从一个金属到达另一个金属。从上个世纪五六十年代以来，人们对于MIM结构的导电机理做了大量的研究，研究结果表明：量子隧穿和热电子发射效应是金属-金属接触中产生PIM的两个重要因素。如果金属中的电子具有足够的能量越过介质形成的势垒从而形成金属之间的电流传导，则称这种现象为热电子发射电流；反之，当金属中的电子能量不太高且介质形成的势垒厚度较薄时，电子将通过量子隧穿效应实现电流传导。图1显示了薄势垒MIM结构的能带图及其相应的导电机理。 图1 薄势垒MIM结构的能带图及其导电机理 量子隧穿电流通常对势垒高度、外加偏压和介质层厚度等参数非常敏感，且具有很强的非线性特性。依据Simmons的研究成果，可由下式计算：（1-1） 式中， 式中为势垒高度，单位为eV；为介质层厚度，单位为?；为MIM结构的偏压，单位为V；为电流密度，单位为A/cm2；为介质层的相对介电常数。 而热电子发射电流计算公式为：

Rosenberger便携式无源互调分析仪操作手册

便携式无源互调分析仪操作 手册
罗森伯格亚太电子有限公司

Rosenberger Asia Pacific Electronic Co., Ltd.
目录
安全指南与注意事项..................................................... 2 第一章 产品说明 ...............................................................................................................3
Rosenberger 便携式无源互调分析仪整体视图 ............................. 3 前面板视图........................................................... 4 前面板功能键......................................................... 5 后面板视图........................................................... 8 后面板接口........................................................... 9 测试附件............................................................ 11
定互调转接器 ................................................................ 11 低互调负载模块 .............................................................. 11
第二章
操作指南 .............................................................................................................12
屏幕................................................................ 12 硬件手动操作........................................................ 14
系统设置 .................................................................... 14 工作模式设置 ................................................................ 17 开始测试 .................................................................... 19
软件远程控制........................................................ 22
运行 PIA .................................................................... 系统设置 .................................................................... 开始测量 .................................................................... 存储结果及生成报告 .......................................................... 退出软件 .................................................................... 其他功能说明 ................................................................ 22 22 27 33 39 40
第三章
应用指南.............................................................................................................45
测量范围............................................................ 45 不确定度............................................................ 45 测试与保养.......................................................... 48
选择合适的测试电缆组件 ...................................................... 48 保护测试端口 ................................................................ 48
测试实例............................................................ 51
测试电缆组件 ................................................................ 51 测试天线 .................................................................... 51 测试双工器 .................................................................. 53
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无源互调(PIM)影响因素及常见问题(二)

无源互调（PIM）影响因素及常见问题（二） 6.2.2 PCB对PIM影响因素总结 （1）PIM值受电流密度的影响与设计的电路有关，电流密度越小，其PIM性能越好。（2）铜箔表面越粗糙，其PIM性能越差，反之铜箔表面越光滑，PIM性能越好。 （3）线路使用阻焊油和化学锡进行表面处理可以优化PIM，约小4-6dBc。不过化学锡的厚度对于PIM值几乎没有影响，化学镍金的PIM性能较差。 （4）材料结构，尽量避免出现阻抗不连续性，尽可能保持一致的阻抗特性，选用低PIM 的材料（如PTFE或PIM材料）。 （5）介质层厚度对PIM影响还需进一步验证。 （6）铜厚越小，互调性能越好，这是因为越厚的铜厚，蚀刻效果越差，蚀刻毛边对互调性能产生影响。 （7）线路蚀刻的毛边/蚀刻因子，蚀刻因子控制≧3.0,毛边越小，PIM性能越好。阻焊前处理建议采用微蚀工艺。 （8）表面油墨厚度,油墨越厚，PIM性能越好。 （6）镀层表面氧化，导电性不好，镀层厚度不够。 （7）含有磁性材料，如铁、钴、镍等。 （8）介电常数温度系数（TCDk，用于衡量Dk随温度变化）,越低越好。 （9）线长从254mm-76.2mm为材料损耗性能最常见的规格,线长254mm,127mm,76.2mm。线长越长，互调值越差。 （10）线宽从2.0mm开始减半直径到0.25mm,可考察驻波差异对互调的影响。线宽缩窄，阻抗增加，反射能量也随之增加，反射能量与入射能量叠加导致能量汇集，最终导致被测线路的温度上升。互调值与温度呈反比，线宽缩窄导致温度升高，从而互调变差。（11）PCB级要在RF板的微带线两边引入接地，最好不要单纯的只是一根线而不去选择顶层地，测试结果表现顶层地会改善一些PIM。 （12）板内微带线如需要电容，尽量用Q值小的，其选频效果要稍好一些。

常用仪器分析介绍

近代分析仪器及其发展（一） （北京普析通用仪器有限责任公司分析中心北京 100081）Recent Analysis Instruments and Development Beijing Purking General InstrumentCo.，Lt Analytical Centre 近代分析仪器的发展促进了分析化学向纵深发展，并在国民经济各个领域获得了广泛的应用，从航天材料、食品安全、环境污染、医疗卫生、地质勘探、工业生产、农业生产、检验检疫诸多方面都离不开分析仪器。现代分析化学的发展趋势是高灵敏度、高选择性（复杂体系）、智能化、快速、自动、简便、经济。对分析仪器而言，一方面要降低仪器的信噪比，另一方面是各类分析仪器的联用，特别是分离仪器和检测器的连用，如色谱仪 (气相色谱、液相色谱或超临界流体色谱仪、多维色谱仪等)和各种分析仪器（质谱、核磁共振波谱、傅立叶红外光谱、原子吸收光谱和原子发射光谱）的联用，利用前者的优异的分离功能，将组分分离后由后者加以识别，进行定性和定量分析。此外，近红外光谱化学计量学软件设计及其在各行业的应用软件 (包括建模、校准、评价、数据优化等软件和软件包)的开发和完善也将成为国内外分析仪器发展的另一个热点。 1 原子光谱分析法 1.1 原子发射光谱分析法（AES） 21世纪新兴的原子光谱分析光源是等离子体光源(plasma source)，分为直流等离子体 (DCP)、高频电感耦合等离子体(ICP)和微波等离子体 (MP)。直流等离子体是最早用于原子光谱分析的一种等离子体光源，功率较ICP低，雾化器不易堵塞，总氩气的用量只及 ICP耗气量的一半，无高频辐射，检出限与ICP相近或稍差，精密度不如ICP好，线性范围比ICP窄，基体效应比 ICP严重，电极易污染。ICP具有优良的分析特性，被测元素能有效的进行原子化和消除化学干扰，工作曲线有较宽的线性范围，达 4～6个数量级，信噪比高，可快速进行多元素的同时测定。微波等离子体包括电容耦合微波等离子体(CMP)和诱导微波等离子体 (MIP)，常用微波频率为 2450 MHz，主要优点是激发能力强，以He气为工作气体时，可以测定包括卤素在内的几乎所有元素，有很好的检出限。AES法广泛应用于钢铁、合金、有色金属、地质、石化等领域的分析。 1.2 原子吸收光谱法（AAS） 按照所用的原子化方法的不同，可分为火焰原子吸收法(FAAS)、石墨炉原子吸收法 (GFAAS)和石英炉原子化法，可以在较低的温度下原子化，包括汞蒸气原子化、氢化物原子化和挥发物原子化。背景校正器有氘灯背景校正器、塞曼效应背景校正器、自吸背景校正器。原子吸收法的优点是检出限低，FAAS为 10-6～10-9 g/mL，GFAAS为10-10～10-14g/mL。目前， 1.3 原子荧光光谱法（AFS） 原子荧光光谱在元素及其形态分析方面有着广泛的应用，特别是与氢化物发生进样技术的结合，在测定地质样品、钢铁合金、环境样品、食品、生物样品等中的 Ge、Sn、Pb、As、Sb、Bi、Se、Te、Hg和 Cd等元素都有很好的效果。原子荧光光谱法的特点是谱线简单、光谱干扰少、检出限低，测定空气中的汞，检出限达到每立方米2.2×10-9个原子，可进行多元素同时测定，校正曲线的线性范围宽，达到4～7数量级，适用元素的范围不如AES和 AAS广泛。AFS法与AAS、AES分析技术互相补充，在冶金、地质、环境监测、生物、医学分析等领域得到了日益广泛的应用。 2 分子光谱分析法 2.1 紫外一可见分光光度法（UV-VIS） 紫外可见分光光度法是历史最悠久、应用面最为广泛的一种仪器分析方法，现在又发展了多种分光光度测量技术，如双波长（三波长）分光光度法，可以有效地消除复杂试样的背景吸收、散射、浑浊对测定的影响，很适合于生物样品和环境样品的分析。胶束增溶分光光度法可以提高测定选择性和灵敏度，摩尔吸收系数一般可达 106 L/(mol·cm )。导数分光光度法提高了对重叠、平坦谱带的分辨率与测定灵敏度，示差分光光度法提高了测定很稀或很浓溶液吸光度的精度。正交函数吸光光度法在吸收曲线的某一区域选择适当的正交多项式，使干扰组分的正交多项式系数最小，以致可以忽略不计，用待测组分的正交多项式的系数进行定量分析。随着化学计量学方法的兴起，出现了多种计算机辅助分光光度法，如因子分析、偏最小二乘法、多元线性回归分光光度法等，可以在谱带严重重叠的情况下，不经分离可以直接实现多组分的同时测定。此外，还有流动注射吸光光度法、动力学吸光光度法、浮选吸光光度法、固相吸光光度法、计量学吸光光度法等。 2.2 红外光谱吸收法（IR） 红外光谱能提供有机化合物丰富的结构信息，特别是中红外光谱是鉴定有机化合物结构最主要的手段之一。近年来，近红外光谱技术与各种化学计量学算法相结合，取得了显著的研究成果。目前，傅立叶变换红外光谱仪 (FTIR)，逐渐取代了色散型红外光谱仪，它主要由红外光源、光学系统、检测器以及数据处理与数据控制系统组成。现在数据库已储存有大量的有机化合物的标准红外图谱，检索也十分方便。对于化工生产控制和未知物剖析有很大帮助。 综 述

无源互调分析及建议

无源互调分析及建议 网络优化进行了这么多年，大部分在有源设备测做工作，但忽视无源系统的性能评估，天馈系统的问题逐渐的成为影响网络质量的主要因素之一，下列频谱为典型的无源系统质量引起的干扰。 1、无源互调的概念 当两个以上不同频率的信号作用在具有非线性特性的无源器件时，会产生无源互调产物PIM（Passive Inter-Modulation)。在所有的互调产物中，三阶互调产物的危害性最大，因为其幅度较大、可能落在本系统或其他系统接收频段，无法通过滤波器滤除而对系统造成较大危害。 2、通信系统互调干扰分析 1）单系统的互调 在单系统通信中由于采用多载频，两个载频F1、F2会产生三阶互调产物:2F1-F2、2F2-F1，有可能落在本系统的接收频段，比如： 三阶互调(2F1-F2、2F2-F1)： 系统TX（MHz)RX （MHz)PIM3范围 （MHz) 影响系统(接收） CDMA-25M869~894824~849844~849CDMA-25 GSM-25M935~960890~915910~915GSM DCS1805~188 01710~17 85 1730~1785DCS 2）多系统(合路）通信中，单系统互调的影响

在多系统通信中，由于系统通过合路器合路，一个系统产生的三阶互调不但对自身系统造成影响，也会落在其他系统的接收频段而对系统造成影响：三阶互调(2F1-F2、2F2-F1)： 系统TX（MHz)RX （MHz)PIM3范围 （MHz) 影响系统(接收） CDMA-10M870~880825~835860~890GSM CDMA-25M869~894824~849844~919CDMA-25、GSM GSM-25M935~960890~915910~985GSM 移动 GSM-24M 930~954885~909906~978移动GSM、联通GSM DCS1805~188 01710~17 85 1730~1955DCS、PHS、WCDMA PHS1900-191 1890~1920WCDMA 二阶互调产物(F1+F2)也会对系统造成影响： 系统TX（MHz)RX （MHz)PIM2范围 （MHz) 影响系统(接收） CDMA-10M870~880825~8351740~1760DCS GSM-25M935~960890~9151870~1920DCS、PHS、WCDMA 3）多系统(合路）通信中，多系统间的互调影响 在多系统合路中，不同系统的功率信号也会在合路器中产生三阶互调： F1+F2-F3 例1：GSM与WCDMA合路： F1=935MHz （GSM） F2=2110MHz （WCDMA) F3=2135MHz（WCDMA) PIM3=F1+F2-F3=935+2110-2135=910(MHz) 可见三阶互调落在GSM接收频率范围内 例2：CDMA与GSM合路 F1=875MHz (CDMA) F2=955MHz (GSM) F3=940MHz (GSM) PIM3=F1+F2-F3=875+955-940=890(MHz) 可见三阶互调产物落在GSM接收频率范围内。 3、无源互调三阶互调指标的分析 ——如果指标要求PIM3:<-120dBc@2*43dBm 对工作在其他功率条件下的互调产物的功率进行估算。当两个输入载频功率每增大1dBm，PIM3值增大3dBm。