薄膜硅太阳电池及材料.193.
薄膜生长,这种情况就是通常的非晶硅,晶体硅异质结。随着缓冲层SH的增加到50%,部分外延生长可以观察到,此时薄膜硅由非晶态和晶态硅混合相组成。当缓冲层sH为97%时,薄膜硅是完全外延生长的,界面比较平滑。低温下的外延生长是由于HWCVD过程中有高的原子氢密度,原子氢可以打断弱的Si—si键,对晶格有弛豫作用,有利于薄膜的晶化【8】。
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图1不同缓冲层氢稀释度条件下W2一V变化曲线
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图2不同缓冲层S。条件下有效缺陷态密度
图3不同缓冲层稀释度时TEM图片
我们测试了不同缓冲层sH条件下太阳能电池的J-V曲线,发现发射极和缓冲层的外延生