数模混合信号的测试与仿真

数模混合信号的测试与仿真

徐卫林;何怡刚;厉芸

【期刊名称】《现代电子技术》

【年(卷),期】2004(027)022

【摘要】VLSI的发展特别是SoC的出现,对混合信号测试的研究提出了紧迫的要求.结合系统级芯片的可测试性设计技术所面临的技术难点,本文着重讨论了目前现有的各种测试手段及其各自的特点.

【总页数】4页(80-82,93)

【关键词】片上系统;混合信号;扫描测试;内置自测试;故障仿真

【作者】徐卫林;何怡刚;厉芸

【作者单位】湖南大学,电气与信息工程学院,湖南,长沙,410082;湖南大学,电气与信息工程学院,湖南,长沙,410082;湖南大学,电气与信息工程学院,湖南,长沙,410082

【正文语种】中文

【中图分类】TP352

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