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电子连接器可靠性试验及其测试方法

电子连接器可靠性试验及其测试方法
电子连接器可靠性试验及其测试方法

在各种军机和武器装备中,电连接器的用量较大,特别是飞机上使用电连接器的用量特大。一般来讲一架飞机电连接器的使用量可达数百件至几千件,牵扯到好几万个线路。因此,电连接器除了要满足一般的性能要求外,特别重要的要求是电连接器必须达到接触良好,工作可靠,维护方便,其工作可靠与否直接影响飞机电路的正常工作,涉及整个主机的安危。为此,主机电路对电连接器的质量和可靠性有非常严格的要求,也正因为电连接器的高质量

连接器测试一般涉及以下几个项目:

插拔力测试、耐久性测试、绝缘电阻测试、耐电压测试、振动测试、机械冲击测试、冷热冲击测试、混合气体腐蚀测试等

连接器具体测试项目如下:

(一)插拔力测试

参考标准:EIA-364-13

目的:验证连接器的插拔力是否符合产品规格要求

原理:将连接器按规定速率进行完全插合或拔出,记录相应的力值

(二)耐久性测试

参考标准:EIA-364-09

目的:评估反复插拔对连接器的影响,模拟实际使用中连接器的插拔状况原理:按照规定速率连续插拔连接器直至达到规定次数。

(三)绝缘电阻测试

参考标准:EIA-364-21

目的:验证连接器的绝缘性能是否符合电路设计的要求或经受高温,潮湿等环境应力时,其阻值是否符合有关技术条件的规定。

原理:在连接器的绝缘部分施加电压,从而使绝缘部分的表面或内部产生漏电流而呈现出来的电阻值。

(四)耐电压测试

参考标准:EIA-364-20

目的:验证连接器在额定电压下是否能安全工作,能否耐受过电位的能力,从而评定连接器绝缘材料或绝缘间隙是否合适原理:在连接器接触件与接触件之间,接触件与外壳之间施加规定电压并保持规定时间,观察样品是否有击穿或放电现象。

(五)接触电阻测试

参考标准:EIA-364-06/EIA-364-23

目的:验证电流流经接触件的接触表面时产生的电阻值原理:通过对连接器通规定电流,测量连接器两端电压降从而得出电阻值

(六)振动测试:

参考标准:EIA-364-28

目的:验证振动对电连接器及其组件性能的影响

振动类型:随机振动,正弦振动

(七)机械冲击测试

参考标准:EIA-364-27

目的:验证连接器及其组件耐冲击的能力或评定其结构是否牢固

测试波形:半正弦波,方波

(八)冷热冲击测试

参考标准:EIA-364-32

目的:评估连接器在急速的大温差变化下,对于其功能品质的影响

(九)温湿度组合循环测试

参考标准:EIA-364-31

目的:评估连接器在经过高温高湿环境储存后对连接器性能的影响

(十)高温测试

参考标准:EIA-364-17

目的:评估连接器暴露在高温环境中于规定时间后端子和绝缘体性能是否发生变化

(十一)盐雾测试

参考标准:EIA-364-26

目的:评估连接器,端子,镀层耐盐雾腐蚀能力

(十二)混合气体腐蚀测试

参考标准:EIA-364-65

目的:评估连接器暴露在不同浓度混合气体中的耐腐蚀能力及对其性能的影响

(十三)线材摇摆测试

参考标准:EIA-364-41

广州广电计量检测股份有限公司GRGT电磁兼容检测中心通过了国家实验室(CNAS),国防实验室(DILAC)和总装军实验室认可,并通过中国计量认证(CMA),同时满足军标准和民

用标准的测试要求,可为汽车电子类、信息类、家电类、车载产品、机载产品、船载产品、无线电及电信终端设备,工业设备、机械及军工产品,提供EMC设计、EMC测试及预测试、EMC整改及解决方案,并针对测试中未能满足标准要求的产品提供整改咨询服务。经过不断的技术改造与锤炼,在重点行业或领域形成了综合测试能力,尤其在汽车电子,无线电子,军工,机载,船载等产品的电磁兼容测试等方面具有优势。

我所认知的电子设备可靠性工程

我所认知的电子设备可靠性工程 04091102班04091061 石坚 摘要:说到到可靠性工程,由于这学期在学校开了个鸡排店,用到了油炸的机器,接触到了有关可靠性设计的部分。所以选了电子设备可靠性工程这门选修课,以便进一步了解机器的可靠性设计,尤其是和我们专业有关的电子设备的可靠性。可靠性是指产品在规定的条件下和规定的时间内完成规定功能的能力。任何产品不论是机械、电子,还是机电一体化产品都有一定的可靠性,产品的可靠性与实验、设计和产品的维护有着极大的关系。通过自己的亲身经历,觉得可靠性是个很重要的参数,而随着社会的进步和科学技术的发展,人们对电子设备、电子器件的可靠性更是要求越来越高。本文就电子元器件的可靠性,包括电子元器件在不同条件下的不同特征,元件失效的规律,发生故障的概率等做了简单的论述。 引言:可靠性的定义是系统或元器件在规定的条件下和规定的时间内,完成规定功能的能力。可靠性技术基于两个重要的理论基础:失效物理和概率统计,同时,它产生了两个重要的应用领域,即系统可靠性和元器件可靠性。在元器件可靠性领域又进一步可分为元器件固有可靠性和使用可靠性。前者主要研究元器件的设计和制造过程中的可靠性,后者侧重研究在电子系统研制过程中如何选好、买好、用好和管好元器件,防止、控制引入过应力而损坏可靠元器件和接收、使用可靠性不能满足要求得元器件。根据电子行业界分析,60%以上的生产故障是由于元器件失效引起的,70%以上的市场返修也是因为器件失效引起的。国内外地有关资料表明:在电子元器件的失效中,由于选择或使用不当等人为因素导致失效的比列高达失效数的50%以上。 一.提高电子产品的可靠性意义重大 提高产品的可靠性,可以防止故障和事故的发生,尤其是避免灾难性的事故发生,从而保证人民生命财产安全。1986年1月28日,美国航天飞机“挑战者”号由于1 个密封圈失效,起飞76s 后爆炸,其中7 名宇航员丧生,造成12 亿美元的经济损失;1992年,我国发射“澳星”时,由于一个小小零件的故障,使“澳星”发射失败,造成了巨大的经济损失和政治影响。

李明德-射频连接器可靠性设计探讨

射频连接器可靠性设计探讨 李明德 提要:本文从可靠性的基本概念入手,阐述了射频连接器在可靠性指标方面的特殊性。进而从实施质量体系认证制度,强化设计控制;做好设计验证、优化设计、安保设计和冗余设计;继承传统,发扬企业优势;以曾现失效模式为鉴,避免失效现象重现等方面,阐明了可靠性设计的具体措施和内容,以达到提高射频连接器固有可靠性的目的。 关键词:射频连接器可靠性设计固有可靠性 1 引言 提到可靠性,不论对射频连接器设计者、制造者、还是对射频连接器使用者来说都是非常关注、非常重视的问题。产品的可靠性是产品质量的重要体现。产品可靠性的高低,体现了产品质量的好坏。高可靠,既是使用者殷切的希望,也是射频连接器设计者、制造者追求的目标。射频连接器的可靠性,与其设计选用的材料、生产工艺、生产过程、质量控制及其正确使用有关。但对射频连接器的固有可靠性而言,起决定性作用的是在连接器生产定型前的设计各阶段。即:方案论证、初样设计、初样验证、正样设计、设计确认(设计定型)、小批量试生产和生产定型等阶段。在这个研制全过程中,既是产品设计的全过程,也包含了可靠性验证和可靠性增长的过程,同时,也是进行了可靠性设计的全过程。 射频连接器可靠性设计的主要依据是:射频连接器研制任务书,合同或技术协议书,以及相关的产品标准、法规和技术条件。可靠性设计的指导思想是在以“预防为主”的方针指导下,在产品设计过程中,采取可靠性设计技术,既要使产品符合射频连接器相关标准、法规,满足用户要求,又要达到增强产品固有可靠性的目的。 2 射频连接器在可靠性指标方面的特殊性 关于可靠性这个概念,它的定义为:产品在规定的条件下完成规定任务的可能性(概率),叫做产品的可靠性。所谓规定的条件是指:规定的时间、产品所处的环境条件、维护条件、使用条件及其完成规定任务所规定的时间。完成规定任务的可能性往往用一个大体的百分比值来表示。这意味着,如果有大批同样产品,则大体上有多少百分比的产品能完成规定的任务。因而,产品的可靠性指标则定义为:在军用规范的额定条件下所获得的失效率的最大值。一般以每小时负n次方(10-n /小时)来表示。这种概念进一步深化,就是概率。 一般来说,产品的可靠性包括如下三大指标:第一,保险期。产品出厂时间越久,一般来说它完成规定任务的可能性就越低。所以,一定的可靠性是对一定的时期而言的,这个时期通常叫做产品的保险期;第二,有效性。当需要产品执行任务时,它在规定时间内能够执行任务的可能性,叫做产品的有效性。有效性决定于产品出故障的可能性的大小,发生故障所在部位及排除故障所需时间的长短,备份件是否足够。适当的维护,假如定期周密地进行检查、维修、更新,可以提高产品的有效性;第三,狭义可靠性。指产品在规定时间内完成规定任务的无故障工作的可能性。有的用无故障工作时间来表示,有的用MTBF(平均故障间隔)来表示。 以上是一般意义上理解的产品可靠性及其特点。对于射频连接器,不论是我国军用标准(GJB),还是我国的国家标准(GB/T);不论是美国的军用标准(MIL),还是国际电工委员会标准(IEC),都没有规定射频连接器的可靠性指标,也没有规定具体的质量等级。MIL-HDBK-217E,1986年《电

电子产品可靠性试验-环境试验要点

一、可靠性理论基础 二、试验(GB) 一.总则:GB2421-2008 电工电子产品环境试验 本系列标准不涉及环境试验样品性能要求,环境试验期间和试验以后,试验样品的容许性能限值由被试验样品的相关规范规定。 基准标准大气压:20℃,101.3KPa 测量与试验标准大气压:15℃-30℃,25%RH-75%RH,86KPa-106KPa。 自由空气条件:无限大空间,空气运动只受散热试验样品本身影响,样品辐射能量全部由周围空气吸收。 散热试验样品与非散热试验样品界定:在自由空气条件和试验标准大气压下,温度稳定后测得的试验样品温度与环境温度是否大于5℃。 环境温度:是采用在试验样品之下0mm - 5 0mm的一个水平面上面,而且与试验样品和试验箱壁等距离处或者距离试样品1 m处若干温度。( 二者取温度值小的) 的平均值。应采取适当措施防止热辐射影响这些温度的测量。 热稳定:试验样品表面温度与最后所测表面温度之差<3℃(非散热试验样最后所测表面温度即试验箱温度;散热试验样品则需多次测量才能确定) A: 低温。 B: 高温 C: 恒定湿热。 D: 交变湿热 E: 冲撞( 例如冲击和碰撞) 。 F: 振动。 G: 稳态加速度。 H: 待定( 原分配在贮存试验) 。 J : 长霉。 K: 腐蚀性大气( 例如盐雾) 。 L: 砂尘。 M: 高气压或低气压 N: 温度变化。 P : 待定( 原分配在“可燃性”试验) Q: 密封( 包括板密封,容器密封与防止流体浸入和漏出的密封) 。 R: 水( 例如雨水、滴水) 。 S : 辐射( 例如太阳辐射,但不包括电磁辐射) T: 锡焊( 包括耐焊接热) 。 U: 引出端强度( 元件的)。 V: 待定( 原分配在“噪声”. 但“噪声诱发的振动”将归于试验F g ,即“振动”系列试验之一) 。W: 待定。 X:作为字头与另一个大写字母一起用于新增加的试验方法命名。例如试验XA:在清洗剂中浸渍 Y: 待定。 Z:用于表示综合试验与组合试验。方法如下:Z后面跟一斜杠和一组综合实验或组合试验相关的大写字母。例如Z/AM:试验低温和低气压综合试验。 综合试验:≥2种试验环境同时作用于试验样品。组合实验:依次连续暴露≥2种试验环境分别进行试验 试验顺序(s e q u e n c e o f t e s t s)试验样品被依次暴露到两种或两种以上试验环境中的顺序。 1 各次暴露之间的时间间隔通常对试验样品不产生明显影响 2 各次暴露之间通常要进行预处理和恢复 3 通常在每次暴露之前和之后进行检测,前一项暴露的最后检测就是下项暴露的初始检测 受控恢复条件:实际试验温度±1℃(15℃-30℃),73%RH-77%RH,86KPa-106KPa。(测量前如果要求对试验样品进行干燥,除有关规范另有规定外,应在下述的条件下干燥6 h。标准干燥条件55±2℃/<20%) 恢复条件: 条件试验后,在检测之前:试验样品应在检测环境温度下稳定;当样品试验后电气参数变化很快,应按受控恢

连接器检验方法[1]非常实用-可做检验试验

连接器检验方法 上海航天技术研究院808所杨奋为 不论是高频电连接器,还是低频电连接器,接触电阻、绝缘电阻和介质耐压(又称抗电强度)都是保证电连接器能正常可靠地工作的最基本的电气参数。通常在电连接器产品技术条件的质量一致性检验A、B组常规交收检验项目中都列有明确的技术指标要求和试验方法。这三个检验项目也是用户判别电连接器质量和可靠性优劣的重要依据。 但根据作者多年来从事电连接器检验的实践发现;目前各生产厂之间以及生产厂和使用厂之间,在具体执行有关技术条件时尚存在许多不一致和差异,往往由于采用的仪器、测试工装、操作方法、样品处理和环境条件等因素的不同,直接影响到检验结果的准确性和一致性。为此,作者认为:针对目前这三个常规电性能检验项目在实际操作中存在的问题进行一些专题研讨,对提高电连接器检验可靠性是十分有益的。 另外,随着电子信息技术的迅猛发展,新一代的多功能自动检测仪正在逐步替代原有的单参数测试仪。这些新型测试仪器的应用必将大大提高电性能的检测速度、效率和准确可靠性。 具体: 2接触电阻检验 2.1作用原理 在显微镜下观察连接器接触件的表面,尽管镀金层十分光滑,则仍能观察到5-10微米的凸起部分。会看到插合的一对接触件的接触,并不是整个接触面的接触,而是散布在接触面上一些点的接触。实际接触面必然小于理论接触面。根据表面光滑程度及接触压力大小,两者差距有的可达几千倍。 实际接触面可分为两部分; 一是真正金属与金属直接接触部分。即金属间无过渡电阻的接触微点,亦称接触斑点,它是由接触压力或热作用破坏界面膜后形成的。这部分约占实际接触面积的5-10%。 二是通过接触界面污染薄膜后相互接触的部分。因为任何金属都有返回原氧化物状态的倾向。实际上,在大气中不存在真正洁净的金属表面,即使很洁净的金属表面,一旦暴露在大气中,便会很快生成几微米的初期氧化膜层。例如铜只要2-3分钟,镍约30分钟,铝仅需2-3秒钟,其表面便可形成厚度约2微米的氧化膜层。即使特别稳定的贵金属金,由于它的表面能较高,其表面也会形成一层有机气体吸附膜。此外,大气中的尘埃等也会在接触件表面形成沉积膜。因而,从微观分析任何接触面都是一个污染面。 综上所述,真正接触电阻应由以下几部分组成; 1)集中电阻 电流通过实际接触面时,由于电流线收缩(或称集中)显示出来的电阻。将其称为集中电阻或收缩电阻。 2)膜层电阻 由于接触表面膜层及其他污染物所构成的膜层电阻。从接触表面状态分析;表面污染膜可分为较坚实的薄膜层和较松散的杂质污染层。故确切地说,也可把膜层电阻称为界面电阻。

电子产品可靠性试验国家标准清单

电子产品可靠性试验国家标准清单 GB/T 15120、1-1994 识别卡记录技术第1部分: 凸印 GB/T 14598、2-1993 电气继电器有或无电气继电器 GB/T 3482-1983 电子设备雷击试验方法 GB/T 3483-1983 电子设备雷击试验导则 GB/T 5839-1986 电子管与半导体器件额定值制 GB/T 7347-1987 汉语标准频谱 GB/T 7348-1987 耳语标准频谱 GB/T 9259-1988 发射光谱分析名词术语 GB/T 11279-1989 电子元器件环境试验使用导则 GB/T 12636-1990 微波介质基片复介电常数带状线测试方法 GB/T 2689、1-1981 恒定应力寿命试验与加速寿命试验方法总则 GB/T 2689、2-1981 寿命试验与加速寿命试验的图估计法(用于威布尔分布) GB/T 2689、3-1981 寿命试验与加速寿命试验的简单线性无偏估计法(用于威布尔分布) GB/T 2689、4-1981 寿命试验与加速寿命试验的最好线性无偏估计法(用于威布尔分布) GB/T 5080、1-1986 设备可靠性试验总要求 GB/T 5080、2-1986 设备可靠性试验试验周期设计导则 GB/T 5080、4-1985 设备可靠性试验可靠性测定试验的点估计与区间估计方法(指数分布)

GB/T 5080、5-1985 设备可靠性试验成功率的验证试验方案 GB/T 5080、6-1985 设备可靠性试验恒定失效率假设的有效性检验 GB/T 5080、7-1986 设备可靠性试验恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案GB/T 5081-1985 电子产品现场工作可靠性有效性与维修性数据收集指南 GB/T 6990-1986 电子设备用元器件(或部件)规范中可靠性条款的编写指南 GB/T 6991-1986 电子元器件可靠性数据表示方法 GB/T 6993-1986 系统与设备研制生产中的可靠性程序 GB/T 7288、1-1987 设备可靠性试验推荐的试验条件室内便携设备粗模拟 GB/T 7288、2-1987 设备可靠性试验推荐的试验条件固定使用在有气候防护场所设备精模拟 GB/T 7289-1987 可靠性维修性与有效性预计报告编写指南 GB/T 9414、1-1988 设备维修性导则第一部分: 维修性导言 GB/T 9414、2-1988 设备维修性导则第二部分: 规范与合同中的维修性要求 GB/T 9414、3-1988 设备维修性导则第三部分: 维修性大纲 GB/T 9414、4-1988 设备维修性导则第五部分: 设计阶段的维修性研究 GB/T 9414、5-1988 设备维修性导则第六部分: 维修性检验 GB/T 9414、6-1988 设备维修性导则第七部分: 维修性数据的收集分析与表示 GB/T 12992-1991 电子设备强迫风冷热特性测试方法 GB/T 12993-1991 电子设备热性能评定

电子产品可靠性测试规范

产品可靠性测试规范 1.目的 本文制定产品可靠性测试的要求和方法,确保产品符合可靠性的质量 要求。 2.范围 本文件适用本公司所有产品。 3.内容 3.1 实验顺序 除客户特殊要求外,试验样品进行试验时,一般按下表的顺序进行: 3.2实验条件 3.2.1 实验条件:

3.2.2 试验机台误差: a.温度误差:高温为+/-2℃,低温为+/-3℃. b.振动振幅误差:+/-15%. c.振动频率误差:+/-1Hz. 3.2.3 落地试验标准 3.2.3.1 落地试验应以箱体四角八边六面(任一面底部相连之四角、与此四角相连之八边, 六面为前、后、左、右、上、下这六个面)按规定高度垂直落下的方式进行。 重量高度 0~10kg以内75cm 10~20kg以内60 cm 20kg以上53 cm 3.2.3.2 注意事项: 5.2.3.2.1 箱内样品及包材在每个步骤后进行外观与功能性检验。 5.2.3.2.2 跌落表面为木板。 3.2.4 推、拉力试验方法和标准 3.2. 4.1、目的:为了评定正常生产加工下焊锡与焊盘或焊盘与基材的粘结质量。 3.2. 4.2、DIP类产品,需把元件用剪钳剪去只留下元件脚部分(要求留下部分 可以自由通过元件孔),且须把该焊盘与所连接的导线分开,然后固定 在制具上用拉力机以垂直于试样的力拉线脚(如下图),直到锡点或焊 盘拉脱为止,然后即可在拉力计上读数。 拉力方向 焊锡 焊盘

(图1) 3.2. 4.3、SMT类产品,片式元件用推力计以如下图所示方向推元件。推至元件或焊盘脱落后在推 拉力计上读数。并把结果记录在报告上。 三极管推力方向如下图所示,推至元件或焊盘脱落后在推拉力计上读数,并记录。 3.2. 4.4、压焊类产品,夹住排线(FFC或FPC)以如下图所示方向做拉力,拉至FFC或FPC 断或焊锡与焊盘脱离(锡点脱离)或焊盘与基材脱离(起铜皮),把结果记录在报告 上。 3.2. 4.5、产品元器件抽样需含盖全面规格尺寸。产品各抗推、拉力标准为;

各类连接器可靠性维护检查方法

各类连接器可靠性维护检查方法 摘要当前各类连接器品类繁多,由于结构老化及工程人员使用问题,导致各类连接器可靠性下降情况较为严重,本文对各类连接器特性进行了分析和比较,提出了可操作性强,实效性强的可靠性维护检查方法。 关键词连接器;可靠性;检查维护 0 引言 连接器,即电连接器,一般由插头和插座两部分组成。通过插头和插座的插合,为电子设备提供电气连接,以便设备的组装、维修、置换。线缆连接情况以及接口紧固情况是设备可靠性检查中必不可少的一项内容,大多数故障原因出在连接器上。在大量可靠性检查的经验基础上,针对各类设备连接器型号差异性较大、检查维护方式不同的情况,总结了各类连接器的检查维护要点。 1 维护检查普适原则 1.1 做好防静电措施 静电的特点是高电压、低电量、小电流和作用时间短。人走过化纤地毯的静电大约是35000伏,翻阅塑料说明书大约7000伏,已远远超过了特装系统敏感器件的承受能力。 防静电设备有除静电球、防静电工作服、防静电手环、离子风机等。在接触设备之前,必须首先穿上防静电工作服,之后触摸除静电球。待放完静电之后方可带上防静电手环进行操作和维护。通过以上一系列操作,能避免由于静电放点引起的元器件硬击穿和软击穿,保证设备安全。 1.2 切忌频繁插拔 无论是插针与插孔构成的插合式接触组合件,还是光纤接口,其接触体都应满足四点:一是要在振动、冲击条件下电接触良好;二是插拔方便,连接可靠;三是一般应有至少插拔500次的寿命;四是必须保证当接触体各部分的尺寸及其在绝缘体中安装位置的公差关系处于极限位置时,其电气和机械特性仍能达到设计要求。 1.3 确保线缆不受力 由于焊接工艺以及设备晃动影响,线缆与连接器焊接部位、连接器插头与插座接合部位一般为整个线缆的故障易发生点。在维护检查连接器的同时,必须首先关注线缆受力情况,方法是轻抬连接器末端的线缆,感受受力情况。若受力较大,应及时使用扎带固定线缆,避免长期扯动导致接口松动或焊接处断开等故障。

电子产品可靠性试验

电子产品可靠性试验 第一章 可靠性试验概述 1 电子产品可靠性试验的目的 可靠性试验是对产品进行可靠性调查、分析和评价的一种手段。试验结果为故障分析、研究采取的纠正措施、判断产品是否达到指标要求提供依据。具体目的有: (1) 发现产品的设计、元器件、零部件、原材料和工艺等方面的各种缺陷; (2) 为改善产品的完好性、提高任务成功性、减少维修人力费用和保障费用提供信息; (3) 确认是否符合可靠性定量要求。 为实现上述目的,根据情况可进行实验室试验或现场试验。 实验室试验是通过一定方式的模拟试验,试验剖面要尽量符合使用的环境剖面,但不受场地的制约,可在产品研制、开发、生产、使用的各个阶段进行。具有环境应力的典型性、数据测量的准确性、记录的完整性等特点。通过试验可以不断地加深对产品可靠性的认识,并可为改进产品可靠性提供依据和验证。 现场试验是产品在使用现场的试验,试验剖面真实但不受控,因而不具有典型性。因此,必须记录分析现场的环境条件、测量、故障、维修等因素的影响,即便如此,要从现场试验中获得及时的可靠性评价信息仍然困难,除非用若干台设备置于现场使用直至用坏,忠实记录故障信息后才有可能确切地评价其可靠性。当系统规模庞大、在实验室难以进行试验时,则样机及小批产品的现场可靠性试验有重要意义。 2 可靠性试验的分类 2.1 电子装备寿命期的失效分布 目前我们认为电子装备寿命期的典型失效分布符合“浴盆曲线”,可以划分为三段:早期失效段、恒定(随机或偶然)失效段、耗损失效段。可参阅图1.2.1。 早期失效段,也称早期故障阶段。早期失效出现在产品寿命的较早时期,产品装配完成即进入早期失效期,其特点是故障率较高,且随工作时间的增加迅速下降。早期故障主要是由于制造工艺缺陷和设计缺陷暴露产生,例如原材料缺陷引起绝缘不良,焊接缺陷引起虚焊,装配和调整不当引起参数漂移,元器件缺陷引起性能失效等。早期失效可通过加强原材料和元器件的检验、工艺检验、不同级别的环境应力筛选等严格的质量管理措施加以暴露和排除。 恒定失效段,也称偶然失效段,其故障由装备内部元器件、零部件的随机性失效引起,其特点是故障率低,比较稳定,因此是装备主要工作时段。 耗损失效段,其特点是故障率迅速上升,导致维修费用剧增,因而报废。其故障原因主要是结构件、元器 件的磨损、疲劳、老化、损耗等引起。 2.2 试验类型及其分布曲线的变化 针对电子装备寿命期失效分布的三个阶段,人们在设计制造和使用装备时便有针对地采取措施,以提高可靠性和降低寿命周期的费用。在设计制造阶段,要尽量减少设计缺陷和制造缺陷,即便如此仍然会存在早期失效和随机失效。为此,承制方需要运用工程试验的手段来暴露和消除早期失效,降低随机失效的固有水平。通过这些措施,可以改变产品的寿命分布曲线的形状,可参阅图1.2.2。在耗损阶段,用户可通过维修和局部更新的手段延长装备的使用寿命。 图 1.2.2 示意了两组产品寿命失效率分布曲线,图中表明产品B 的可靠性水平比产品A 的优良,因为B 的恒定失效率比A 的低,B 的早期失效段比A 的短。如果曲线A 和B 是同一种产品的不同阶段的失效率分布,则表明该产品经过了可靠性增长试验,取得成效,因此曲线B 的恒定失效率大为 失效率 早期 耗损 失效 偶然失效段 失效 时间 图1.2.1 电子装备寿命期失效分布的浴盆曲线示意

连接器可靠性测试项目及其测试标准

连接器检测一般涉及以下几个项目:插拔力测试、耐久性测试、绝缘电阻测试、振动测试、机械冲击测试、冷热冲击测试、混合气体腐蚀测试等。 连接器具体测试项目如下: (一)连接器插拔力测试 参考标准:EIA-364-13 目的:验证连接器的插拔力是否符合产品规格要求。 原理:将连接器按规定速率进行完全插合或拔出,记录相应的力值。 (二)连接器耐久性测试 参考标准:EIA-364-09 目的:评估反复插拔对连接器的影响,模拟实际使用中连接器的插拔状况。 原理:按照规定速率连续插拔连接器直至达到规定次数。 (三)连接器绝缘电阻测试 参考标准:EIA-364-21 目的:验证连接器的绝缘性能是否符合电路设计的要求或经受高温,潮湿等环境应力时,其阻值是否符合有关技术条件的规定。 原理:在连接器的绝缘部分施加电压,从而使绝缘部分的表面或内部产生漏电流而呈现出来的电阻值。 (四)连接器耐电压测试 参考标准:EIA-364-20 目的:验证连接器在额定电压下是否能安全工作,能否耐受过电位的能力,从而评定连接器绝缘材料或绝缘间隙是否合适。 原理:在连接器接触件与接触件之间,接触件与外壳之间施加规定电压并保持规定时间,观察样品是否有击穿或放电现象。 (五)连接器接触电阻测试 参考标准:EIA-364-06/EIA-364-23 目的:验证电流流经接触件的接触表面时产生的电阻值。 原理:通过对连接器通规定电流,测量连接器两端电压降从而得出电阻值。 (六)连接器振动测试

参考标准:EIA-364-28 目的:验证振动对电连接器及其组件性能的影响。 振动类型:随机振动,正弦振动。 (七)连接器机械冲击测试 参考标准:EIA-364-27 目的:验证连接器及其组件耐冲击的能力或评定其结构是否牢固。 测试波形:半正弦波,方波。 (八)连接器冷热冲击测试 参考标准:EIA-364-32 目的:评估连接器在急速的大温差变化下,对于其功能品质的影响。 (九)连接器温湿度组合循环测试 参考标准:EIA-364-31 目的:评估连接器在经过高温高湿环境储存后对连接器性能的影响。 (十)连接器高温测试 参考标准:EIA-364-17 目的:评估连接器暴露在高温环境中于规定时间后端子和绝缘体性能是否发生变化。(十一)连接器盐雾测试 参考标准:EIA-364-26 目的:评估连接器,端子,镀层耐盐雾腐蚀能力。 (十二)连接器混合气体腐蚀测试 参考标准:EIA-364-65 目的:评估连接器暴露在不同浓度混合气体中的耐腐蚀能力及对其性能的影响。(十三)连接器线材摇摆测试

连接器检测不良及原因

连接器检测不良及原因 1引言 不论是高频电连接器,还是低频电连接器,绝缘电阻、介质耐压(又称抗电强度)和接触电阻都是保证电连接器能正常可靠地工作的最基本的电气参数。通常在电连接器产品技术条件的质量一致性检验A、B组常规交收检验项目中都列有明确的技术指标要求和试验方法。这三个检验项目也是用户判别电连接器质量和可靠性优劣的重要依据。但根据笔者多年来从事电连接器检验的实践发现,目前各生产厂之间以及生产厂和使用厂之间,在具体执行有关技术条件时尚存在许多不一致和差异,往往由于采用的仪器、测试工装、操作方法、样品处理和环境条件等因素不同,直接影响到检验准确和一致。为此,笔者认为,针对目前这三个常规电性能检验项目和实际操作中存在的问题进行一些专题研讨,对提高电连接器检验可靠性是十分有益的。 另外,随着电子信息技术的迅猛发展,新一代的多功能自动检测仪正在逐步替代原有的单参数测试仪。这些新型测试仪器的应用必将大大提高电性能的检测速度、效率和准确可靠性。 2绝缘电阻检验 2.1作用原理 绝缘电阻是指在连接器的绝缘部分施加电压,从而使绝缘部分的表面或内部产生漏电流而呈现出的电阻值。即绝缘电阴(MΩ)=加在绝缘体上的电压(V)/泄漏电流(μA)。通过绝缘电阻检验,确定连接器的绝缘性能能否符合电路设

计的要求,或在经受高温、潮湿等环境应力时,其绝缘电阻是否符合有关技术条件的规定。 绝缘电阻是设计高阻抗电路的限制因素。绝缘电阻低,意味着漏电流大,这将破坏电路和正常工作。如形成反馈回路,过大的漏电流所产生的热和直流电解,将使绝缘破坏或使连接器的电性能变劣。 2.2影响因素 主要受绝缘材料、温度、湿度、污损、试验电压及连续施加测试电压的持续时间等因素影响。 2.2.1绝缘材料 设计电连接器时选用何种绝缘材料非常重要,它往往影响产品的绝缘电阻能否稳定合格。如某厂原使用酚醛玻纤塑料和增强尼龙等材料制作绝缘体,这些材料内含极性基因,吸湿性大,在常温下绝缘性能可满足产品要求,而在高温潮湿下则绝缘性能不合格。后采用特种工程塑料PES(聚苯醚砜)材料,产品经200℃、1000h和240h潮湿试验,绝缘电阻变化较小,仍在105MΩ以上,无异常变化。 2.2.2温度 高温会破坏绝缘材料,引起绝缘电阻和耐压性能降低。对金属壳体,高温可使接触件失去弹性、加速氧化和发生镀层变质。如按GJB598生产的耐环境快速分离电连接器系列II产品,绝缘电阻规定25℃时应不小于5000MΩ,而200℃时,则降低至不小于500MΩ。 2.2.3温度

连接器可靠性测试项目介绍

连接器可靠性测试项目介绍 连接器是将一个回路上的两个导体桥接起来,使得电流或者讯号可以从一个导体流向另一个导体的导体设备。连接器形式和结构是千变万化的,随着应用对象、频率、功率、应用环境等不同,有各种不同形式的连接器。 连接器做可靠性测试项目有插拔力测试、耐久性测试、绝缘电阻测试、振动测试、机械冲击测试、冷热冲击测试、混合气体腐蚀测试等。 连接器可靠性测试方法: 1、插拔力测试 参考标准:EIA-364-13 目的:验证连接器的插拔力是否符合产品规格要求; 原理:将连接器按规定速率进行完全插合或拔出,记录相应的力值。 2、耐久性测试 参考标准:EIA-364-09 目的:评估反复插拔对连接器的影响,模拟实际使用中连接器的插拔状况。 原理:按照规定速率连续插拔连接器直至达到规定次数。 3、绝缘电阻测试 参考标准:EIA-364-21 目的:验证连接器的绝缘性能是否符合电路设计的要求或经受高温,潮湿等环境应力时,其阻值是否符合有关技术条件的规定。 原理:在连接器的绝缘部分施加电压,从而使绝缘部分的表面或内部产生漏电流而呈现出来的电阻值。 4、耐电压测试 参考标准:EIA-364-20 目的:验证连接器在额定电压下是否能安全工作,能否耐受过电位的能力,从而评定连接器绝缘材料或绝缘间隙是否合适原理:在连接器接触件与接触件之间,接触件与外壳之间施加规定电压并保持规定时间,观察样品是否有击穿或放电现象。 5、接触电阻测试 参考标准:EIA-364-06/EIA-364-23 目的:验证电流流经接触件的接触表面时产生的电阻值原理:通过对连接器通规定电流,测量连接器两端电压降从而得出电阻值 6、振动测试: 参考标准:EIA-364-28 目的:验证振动对电连接器及其组件性能的影响。 振动类型:随机振动,正弦振动 7、机械冲击测试 参考标准:EIA-364-27 目的:验证连接器及其组件耐冲击的能力或评定其结构是否牢固; 测试波形:半正弦波,方波。 8、冷热冲击测试 参考标准:EIA-364-32

连接器电气性能检测

1 引言 不论是高频电连接器,还是低频电连接器,绝缘电阻、介质耐压(又称抗电强度)和接触电阻都是保证电连接器能正常可靠地工作的最基本的电气参数。通常在电连接器产品技术条件的质量一致性检验A、B 组常规交收检验项目中都列有明确的技术指标要求和试验方法。这三个检验项目也是用户判别电连接器质量和可靠性优劣的重要依据。但根据笔者多年来从事电连接器检验的实践发现,目前各生产厂之间以及生产厂和使用厂之间,在具体执行有关技术条件时尚存在许多不一致和差异,往往由于采用的仪器、测试工装、操作方法、样品处理和环境条件等因素不同,直接影响到检验准确和一致。为此,笔者认为,针对目前这三个常规电性能检验项目和实际操作中存在的问题进行一些专题研讨,对提高电连接器检验可靠性是十分有益的。 另外,随着电子信息技术的迅猛发展,新一代的多功能自动检测仪正在逐步替代原有的单参数测试仪。这些新型测试仪器的应用必将大大提高电性能的检测速度、效率和准确可靠性。 2 绝缘电阻检验 2.1作用原理 绝缘电阻是指在连接器的绝缘部分施加电压,从而使绝缘部分的表面或内部产生漏电流而呈现出的电阻值。即绝缘电阴(MΩ)=加在绝缘体上的电压(V)/泄漏电流(μA)。通过绝缘电阻检验,确定连接器的绝缘性能能否符合电路设计的要求,或在经受高温、潮湿等环境应力时,其绝缘电阻是否符合有关技术条件的规定。 绝缘电阻是设计高阻抗电路的限制因素。绝缘电阻低,意味着漏电流大,这将破坏电路和正常工作。如形成反馈回路,过大的漏电流所产生的热和直流电解,将使绝缘破坏或使连接器的电性能变劣。 2.2影响因素 主要受绝缘材料、温度、湿度、污损、试验电压及连续施加测试电压的持续时间等因素影响。 2.2.1绝缘材料 设计电连接器时选用何种绝缘材料非常重要,它往往影响产品的绝缘电阻能否稳定合格。如某厂原使用酚醛玻纤塑料和增强尼龙等材料制作绝缘体,这些材料内含极性基因,吸湿性大,在常温下绝缘性能可满足产品要求,而在高温潮湿下则绝缘性能不合格。后采用特种工程塑料PES(聚苯醚砜)材料,产品经200℃、1000h和240h潮湿试验,绝缘电阻变化较小,仍在105MΩ以上,无异常变化。 2.2.2温度 高温会破坏绝缘材料,引起绝缘电阻和耐压性能降低。对金属壳体,高温可使接触件失去弹性、加速氧化和发生镀层变质。如按GJB598生产的耐环境快速分离电连接器系列II产品,绝缘电阻规定25℃时应不小于5000MΩ,而200℃时,则降低至不小于500MΩ。 2.2.3温度 潮湿环境引起水蒸气在绝缘体表面的吸引和扩散,容易使绝缘电阻降低到MΩ级以下。长期处于高温环境下会引起绝缘体物理变形、分解、逸出生成物,产生呼吸效应及电解腐蚀及裂纹。如按GJB2281生产的带状电缆电连接器,标准大气条件下的绝缘电阻值应不小于5000MΩ,而经相对湿度90%~95%、温度40±2℃、96h湿热试验后的绝缘电阻降至不小于1000MΩ。 2.2.4污损 绝缘体内部和表面的洁净度对绝缘电阻影响很大,由于注塑绝缘体用的粉料或胶接上、下绝缘安装板的胶料中混有杂质,或由于多次插拔磨损残留的金属屑及锡焊端接时残留的焊剂渗入绝缘体表面,都会明显降低绝缘电阻。如某厂生产的圆形电连接器在成品交收试验时发现有一个产品接触件之间的绝缘电阻很低,仅20MΩ,不合格。后经解剖分析发现,这是因注塑绝缘体用的粉料中混有杂质而造成的。后只得将该批产品全部报废。 2.2.5 试验电压 绝缘电阻检验时施加的试验电压对测试结果有很大关系。因为试验电压升高时,漏电流的增加不成线性

电子产品的可靠性试验研究及方法

电子产品的可靠性试验研究及方法 电子产品的可靠性是指产品在规定的条件下及规定的时间内完成规定功能的能力,它是电子产品质量的一个重要组成部分。一个电子产品尽管其技术性能指标很高,但 如果它的可靠性不高,它的质量就不能算是好的。 1、引言 电子产品的可靠性是指产品在规定的条件下及规定的时间内完成规定功能的能力,它是电子产品质量的一个重要组成部分。一个电子产品尽管其技术性能指标很高,但 如果它的可靠性不高,它的质量就不能算是好的。产品的可靠性不高将会给生产带来 很大损失,随着控制系统的大型化,一个系统所用的电子元件越来越多,只要其中一 个元件发生故障,一般都会导致整个系统发生故障,由此产生的经济损失将远远超过 一个元件本身的价值,所以元件的可靠性越来越重要。电子产品是否适应预定的环境 和满足可靠性指标,必须通过可靠性试验进行鉴定或考核;有时还需通过试验来暴露 产品在设计和工艺中存在的问题,通过故障分析确定主要的故障模式和发生的原因, 进而采取改进措施。所以可靠性试验不仅是可靠性活动的重要环节,也是进一步提高 产品可靠性的有效措施。 2、电子产品可靠性特点 电子产品的可靠性变化一般都有一定的规律,其特征曲线如图1所示,由于其形状象浴盆,通常称之为“浴盆曲线”。从图1可以看出,在产品试验和设计初期,由 于设计制造中的错误、软件不完善以及元器件筛选不够等原因而造成早期失效率高, 通过修正设计、改进工艺、老化元器件、以及整机试验等,使产品进入稳定的偶然失 效期;使用一段时间后,由于器件耗损、整机老化以及维护等原因,产品进入了耗损 失效期。这就是可靠性特征曲线呈“浴盆曲线”型的原因。 通常我们定义,在多次实验中,某随机事件出现的次数叫做该事件的频数。如在M次试验中,事件A出现的频数是M,则事件A出现的相对频数是M / N。在状态不变的条件下,在多实践中,事件A出现的相对频数就反映了该事件A出现的可能性。它 是事件A出现的一个大概的百分率,称为事件A概率,记为P(A)。 P(A)=M / N (N很大)(1)

连接器测试

一.连接器测试的目 接器测试的目的是确认产品的功能是否已达成设计目标以及产品是否能够达到应用要求。测试将作为设计/产品开发阶段的一个延续加以考虑。藉适当的测试选择、排序以及严格的水平,测试具有如下效果: 1.评定设计能力 2.评定产品对一般的机能失效的敏感度 3.显示出本领域中的期望性能 4.作为失效模式分析的工具 5.避免代价过高的领域更替(避免用于更高价值领域中的产品替换) 为了实现测试的潜在作用(益处),一个意义长远的测试计划的设计与开发要求在整个过程中具有自始至终的细心和逻辑性,如同创作与设计该产品本身一样。 二.连接器测试程序的分类 有六种基本的测试程序是常用到的: 设计校核测试、验收测试、质量鉴定测试、长期性能(质量)鉴定、可靠性(强度)测试、工程研究、分析性试验 每个程序都具有不同的目的,并且需要进行复杂程度不同的测试并应用特定的知识背景。 a. 设计校核测试 如其名称所表示的那样,设计校核测试(DVT)通常是用于确认一个产品是否达到了其预期的性能标准。DVT一般不包括顺序测试,它只测试产品是否已达到了所设定的基本功能标准。例如,DVT包括总的电阻测试、耐用周期(或循环测试)及插拔配合力的测试。DVT 是在产品开发过程中进行的,而且成为一个广为认同的测试程序中必不可少的一部分。b. 验收测试 验收测试通常在生产加工过程进行并成为终检的一部分,它包括一个或两个独立的测试,藉这些测试以保证产品之特定属性达到要求的性能质量的水平并符合产品运行要求。它是生产过程的一部份,其使用程度是由最终使用者自己来决定的,并基于品保的目的也可被采购部门加以利用。 c. 质量鉴定 质量鉴定通常结合设计的需要进行一系列连续测试(也就是对电镀类型及镀层厚度,端子材料等的测试),这将使Connector/Socket有条件达到一个特定的规格要求,而这种规格也许来自于产品、最终使用者或工业标准。测试环境的保持时间一般是较短的或适度的(大约是100或240个小时),且其包括对类型广泛的各种特性或运行特征的监测。最普通的质量鉴定测试类型是以军用的规格来要求的。这些测试不需要测定连接器系统的长期运行性能,但要确定是否有严重的问题存在。正常的质量鉴定测试仅仅在于解决已有技术和已知的材料体系问题。 d. 长期性能(质量)鉴定 这种测试涉及以长期暴露方式进行、并且通常集中于对连接器系统的电气稳定性评估方面的一系列连续测试,确定持续暴露时间以确定在该产品或体系的预计寿命内,其是否对与时间有关的失效机理敏感。(测试)持续时间长度的确定即依赖于经验,也依赖于与本领域的测试条件/暴露时间有关的综合因素。 从使用者的角度来看,所选择的测试环境及(测试)持续时间只需要反映出所考虑的特定应用情况下的问题即可。而从制造商的角度来看,尤其对于一个普通意义的产品而言,测试程序必须多样化以能够反映出较大范围的应用条件/要求。这类测试对于新技术,末确定的材料体系,以及全新的设计概念作出了很正规地评估。

电子连接器可靠性试验及其测试方法

在各种军机和武器装备中,电连接器的用量较大,特别是飞机上使用电连接器的用量特大。一般来讲一架飞机电连接器的使用量可达数百件至几千件,牵扯到好几万个线路。因此,电连接器除了要满足一般的性能要求外,特别重要的要求是电连接器必须达到接触良好,工作可靠,维护方便,其工作可靠与否直接影响飞机电路的正常工作,涉及整个主机的安危。为此,主机电路对电连接器的质量和可靠性有非常严格的要求,也正因为电连接器的高质量 连接器测试一般涉及以下几个项目: 插拔力测试、耐久性测试、绝缘电阻测试、耐电压测试、振动测试、机械冲击测试、冷热冲击测试、混合气体腐蚀测试等 连接器具体测试项目如下: (一)插拔力测试 参考标准:EIA-364-13 目的:验证连接器的插拔力是否符合产品规格要求 原理:将连接器按规定速率进行完全插合或拔出,记录相应的力值

(二)耐久性测试 参考标准:EIA-364-09 目的:评估反复插拔对连接器的影响,模拟实际使用中连接器的插拔状况原理:按照规定速率连续插拔连接器直至达到规定次数。 (三)绝缘电阻测试 参考标准:EIA-364-21 目的:验证连接器的绝缘性能是否符合电路设计的要求或经受高温,潮湿等环境应力时,其阻值是否符合有关技术条件的规定。 原理:在连接器的绝缘部分施加电压,从而使绝缘部分的表面或内部产生漏电流而呈现出来的电阻值。 (四)耐电压测试 参考标准:EIA-364-20 目的:验证连接器在额定电压下是否能安全工作,能否耐受过电位的能力,从而评定连接器绝缘材料或绝缘间隙是否合适原理:在连接器接触件与接触件之间,接触件与外壳之间施加规定电压并保持规定时间,观察样品是否有击穿或放电现象。 (五)接触电阻测试 参考标准:EIA-364-06/EIA-364-23 目的:验证电流流经接触件的接触表面时产生的电阻值原理:通过对连接器通规定电流,测量连接器两端电压降从而得出电阻值 (六)振动测试: 参考标准:EIA-364-28 目的:验证振动对电连接器及其组件性能的影响 振动类型:随机振动,正弦振动 (七)机械冲击测试 参考标准:EIA-364-27 目的:验证连接器及其组件耐冲击的能力或评定其结构是否牢固 测试波形:半正弦波,方波

电子产品的可靠性试验

电子产品的可靠性试验 评价分析电子产品可靠性而进行的试验称为可靠性试验。试验目的通常有如下几方面: 1. 在研制阶段用以暴露试制产品各方面的缺陷,评价产品可靠性达到预定指标的情况; 2. 生产阶段为监控生产过程提供信息; 3. 对定型产品进行可靠性鉴定或验收; 4. 暴露和分析产品在不同环境和应力条件下的失效规律及有关的失效模式和失效机理; 5. 为改进产品可靠性,制定和改进可靠性试验方案,为用户选用产品提供依据。 对于不同的产品,为了达到不同的目的,可以选择不同的可靠性试验方法。可靠性试验有多种分类方法. 1. 如以环境条件来划分,可分为包括各种应力条件下的模拟试验和现场试验; 2. 以试验项目划分,可分为环境试验、寿命试验、加速试验和各种特殊试验; 3. 若按试验目的来划分,则可分为筛选试验、鉴定试验和验收试验; 4. 若按试验性质来划分,也可分为破坏性试验和非破坏性试验两大类。 5. 但通常惯用的分类法,是把它归纳为五大类: A. 环境试验 B. 寿命试验 C. 筛选试验 D. 现场使用试验 E.鉴定试验 1. 环境试验是考核产品在各种环境(振动、冲击、离心、温度、热冲击、潮热、盐雾、低气压等)条件下的适应能力,是评价产品可靠性的重要试验方法之一。 2. 寿命试验是研究产品寿命特征的方法,这种方法可在实验室模拟各种使用条件来进行。寿命试验是可靠性试验中最重要最基本的项目之一,它是将产品放在特定的试验条件下考察其失效(损坏)随时间变化规律。通过寿命试验,可以了解产品的寿命特征、失效规律、失效率、平均寿命以及在寿命试验过程中可能出现的各种失效模式。如结合失效分析,可进一步弄清导致产品失效的主要失效机理,作为可靠性设计、可靠性预测、改进新产品质量和确定合理的筛选、例行(批量保证)试验条件等的依据。如果为了缩短试验时间可在不改变失效机理的条件下用加大应力的方法进行试验,这就是加速寿命试验。通过寿命试验可以对产品的可靠性水平进行评价,并通过质量反馈来提高新产品可靠性水平。 3. 筛选试验是一种对产品进行全数检验的非破坏性试验。其目的是为选择具有一定特性的产品或剔早期失效的产品,以提高产品的使用可靠性。产品在制造过程中,由于材料的缺陷,或由于工艺失控,使部分产品出现所谓早期缺陷或故障,这些缺陷或故障若能及早剔除,就可以保证在实际使用时产品的可靠性水平。 可靠性筛选试验的特点是: A. 这种试验不是抽样的,而是100%试验; B. 该试验可以提高合格品的总的可靠性水平,但不能提高产品的固有可靠性,即不能提高每个产品的寿命; C. 不能简单地以筛选淘汰率的高低来评价筛选效果。淘汰率高,有可能是产品本身的设计、元件、工艺等方面存在严重缺陷,但也有可能是筛选应力强度太高。淘汰率低,有可能产品缺陷少,但也可能是筛选应力的强度和试验时间不足造成的。通常以筛选淘汰率Q和筛选效果β值来评价筛选方法的优劣:合理的筛选方法应该是β 值较大,而Q值适中。 上述各种试验都是通过模拟现场条件来进行的。模拟试验由于受设备条件的限制,往往只能对产品施加单一应力,有时也可以施加双应力,这与实际使用环境条件有很大差异,因而未能如实地、全面地暴露产品的质量情况。现场使用试验则不同,因为它是在使用现场进行,故最能真实地反映产品的可靠性问题,所获得的数据对于产品的可靠性预测、设计和保证有很高价值。对制定可靠性试验计划、验证可靠性试验方法和评价试验精确性,现场使用试验的作用则更大。 鉴定试验是对产品的可靠性水平进行评价时而做的试验。它是根据抽样理论制定出来的抽样方案。在保证生产者不致使质量符合标准的产品被拒收的条件下进行鉴定试验。 1 .可靠性设计的意义 ①可靠性贯穿于电子产品的整个寿命周期,从产品的设计、制造到安装、使用、维护的个阶段都有一个可靠性问题。但首先要抓好可靠性设计。产品可靠性的定量指标应该在设计过程就得到落实,为产品的固有可靠性奠定良好的基础。反之,一个忽视可靠性设计的产品,必然是“先天不足,后患无穷”,在使用过程中大部会暴露出一系列不可靠问题。据统计,由于设计不当而影响产品可靠性的程度占各种不可靠因素的首位。所以,我们必须扭转只搞性能指标设计,忽视可靠性设的倾向,在产品研制、设计阶段,认真开展可靠性设计,为产品固有可靠性奠定基础。②随着科学技术的进步和经济技术发展的需要,电子产品日益向多功能、小型化、高可靠方向发展。功能的复杂化,使设备应用的元器件、零部件越来越多,对可靠性要求也越来越高。每一个元器件的失效,都可能使设备或电子系统发生故障。

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