成品机老化测试标准(1)
深圳市龙之源科技有限公司
文件修订履历表
版次修订前内容修订后内容修订者修订日期批准A0 初版发行
文件配发部门□总经办□销售部□工程部□资材部□采购部□生产部□品质部□人资部□财务部
制定部门：工程部
生效日期： 2012-04-16
编写确认批准
1、目的
为了规范本公司老化标准统一，保证本公司所有产品符合客户要求。
2、范围
适用于本公司所有成品机型的充放电老化测试。 3.定义
老化测试：是模拟产品在现实使用条件中涉及到的各种因素对产品产生老化的情况进行相应条件加强实验的过程。此标准中指的是充放电过程模拟。 4、操作内容
4.1.老化流程
4.2.老化时状态及检查方式
4.2.1.充电时状态：机器红、绿灯常亮，充电器红、绿灯亮。
4.2.2.充满电状态机器红灯灭，绿灯亮。充电器亮红灯，绿灯灭。根据机型不同充电的时间不同。请参照4.3。
4.2.3.在充电过程当中每30分钟巡查一次。确认是否有转绿灯现象(即是否有充满电,机器红灯灭，绿灯亮)，在规定的充电时间内如果有提前转灯则判定为不良，需层别后进行分析。 4.2.4.放电过程是：将机器开机录像使其消耗电量。状态是机器绿灯常亮、蓝灯闪亮，一直放电到没有电或内存录满为止，放电时间需符合4.3的要求。 4.2.
5.在录像放电过程当中30分钟巡查一次是否有蓝灯常亮、死机等不良现象或有未达到放电时间要求就关机的现象。如果有则判定为不良，需层别后进行分析。 4.3机型与充放电时间
开机放电
格式化 开机放电
插USB 充电器充电
一直放到自动关机 一直放到自动关机
成品测试完后 插USB 充电器充电
项目
机型
充电时间放电时间
LY-33H 50分钟之内充满转绿灯为不良，在1.3小
时充满OK。充电时间延续2小时绿灯亮
静态 80-100分钟 ,放电时间短为异
常。
LY-33W 50分钟之内充满转绿灯为不良，在1.3小
时充满OK。充电时间延续2小时绿灯亮
静态 80-100分钟 ,放电时间短为异
常。
LY-38H 50分钟之内充满转绿灯为不良，在1.3小
时充满OK。充电时间延续2小时绿灯亮
静态 80-100分钟 ,放电时间短为异
常。
LY-38W 50分钟之内充满转绿灯为不良，在1.3小
时充满OK。充电时间延续2小时绿灯亮
静态 80-100分钟 ,放电时间短为异
常。
LY-26V2 1.5小时之内充满转绿灯为不良，在2小
时充满OK。充电时间延续3小时绿灯亮.
静态 130-140分钟，放电时间短为异
常。
LY-30V 40分钟之内充满转绿灯为不良，在1小时
充满OK。充电时间延续2小时绿灯亮
静态 70-75分钟，放电时间短为异
常。
LY-3OV2 40分钟之内充满转绿灯为不良，在1小时
充满OK。充电时间延续2小时绿灯亮
静态 70-75分钟，放电时间短为异常。
LY-32HW 50分钟之内充满转绿灯为不良，在1.3小
时充满OK。充电时间延续2小时绿灯亮
静态 80-100分钟 ,放电时间短为异
常。
LY-32W 50分钟之内充满转绿灯为不良，在1.3小
时充满OK。充电时间延续2小时绿灯亮
静态 80-100分钟 ,放电时间短为异
常。
LY-35. LY-36 1.5小时之内充满转绿灯为不良，在2小
时充满OK。充电时间延续3小时绿灯亮.
静态 130-140分钟，放电时间短为异
常。
LY-63 2小时之内充满转绿灯为不良，在3小时
充满OK。充电时间延续4小时绿灯亮
静态 130-140分钟，放电时间短为异
常。
4.4.老化记录.
4.4.1.老化相关测试记录于【老化测试记录表】。
电源测试和老化规范
目录 1目的 (4) 2适用范围 (4) 3 产线测试规范 (4) 3.1 测试设备 (4) 3.2 测试项目 (4) 3.3 测试方法 (5) 3.4测试合格标准 (6) 3.5高温测试适用范围 (6) 4研发测试规范 (7) 4.1 测试设备 (7) 4.2 测试项目 (7) 4.3 测试方法 (9) 4.4测试合格标准 (9) 4.5安全和电磁兼容 (10) 5 电源老化规范 (11) 5.1 测试设备 (11) 5.2常温老化 (11) 5.3高温老化 (12) 5.4高温老化适用范围 (13)
5.5老化合格标准 (13) 6电气检测常规注意事项 (13) 7电气检测流程示意图及说明 (14)
LED电源测试和老化规范 1.目的 为LED灯具及相关产品配套的开关电源，驱动部分在产品开发与生产过程中,为产品质量得到保障而制定此文件 2.适用范围 本文件适用于LED灯具及灯具相关产品配套的开关电源驱动部分，包括内置电源和外置电源以及相对可独立的成品电源板子或模块．本电源驱动仅作为一般民用或一般商用，并特指AC-DC类型。DC-DC和其他特殊用途如军用、航天等除外。 3. 产线测试规范 3.1测试设备 交流隔离电源(AC power) 、功率计、数字万用表、夹具、负载。其中负载可以是实际负载也可以是相同能力的假负载，假负载必需包含可见的LED部分(为防止灯光频闪)。 3. 2 测试项目 3. 2. 1输入数据 单电压电源输入的在AC 220V 或110V 时，检测带载和空载的输入PFC、有功功率。全电压的需同时测AC 220V 和110V输入时的PFC、有功功率。 3. 2. 2输出数据
整机老化试验规范
1.目的 规范本公司生产的汇流箱的老化试验方法，提高汇流箱稳定性、可靠性。 2.范围 适用本公司生产的所有汇流箱的老化试验。 3.权责 3.1工程部：确定产品老化方式及老化的时间，老化房的制作等。 3.2技术部：巡检稽核老化的状况。 3.3生产部：确保老化流程按标准作业及执行产品老化测试。 4.规范性引用文件 下列文件对于本规范具有指导作用： GB/T 2423.2-2008 电工电子产品基本环境试验规程试验B：高温试验方法（IEC 60068-2-2:1974, IDT）。 GB/T 2423.3-2006 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Cab：恒定湿热方法 （IEC60068-2-78:2001，IDT）。 5.老化房的使用 5.1温度控制器：控制老化房的温度。 5.2电流表：测量整个系统的电流。 5.3计数器：设定计数时间。 5.4抽风时间：手动，可以将温度迅速降到所需温度；自动，系统设置为5℃，当实际温度大于设定 的温度的时候，自动抽风。 5.5计时开关：当实际温度达到设定温度的-2℃时，自动计时；如设定55℃，当温度达到53℃时开 始计时。 5.6电热开关：用来加热。 5.7启动开关：启动开关和温度控制器同步。 6.老化试验内容 6.1老化试验前的准备工作。
6.1.1 老化的标准操作由产品工程师负责制定，标准操作内容应包括：汇流箱使用老化房老化； 老化的输入电压。 6.2老化测试条件的确定。 6.2.1 根据汇流箱规格书要求。 6.2.2 通常情况，汇流箱老化试验的环境温度条件：55℃。 6.2.3 把需要做老化试验的汇流箱准备好，检测保证汇流箱工作性能正常；把汇流箱放进老化房， 接好线，使汇流箱能和外部电脑连接。 6.2.4 调整老化房的温度以及各种需要的环境条件。 6.3 老化试验的时间：16小时。（如客户有特殊要求以其为标准。） 6.4 上电试验：给汇流箱加上48V电压观察汇流箱的显示状态以及通过外接电脑观察汇流箱的通讯 情况。 6.5 老化巡检：老化试验过程中操作员每隔半小时巡检一次，巡检时要仔细观察汇流箱的通讯等情 况，发现不良情况需要及时记录。 6.6 老化试验过程中技术质量部要对操作员的巡检进行监督，并且不定时的对正在老化试验的产品 进行巡检。 6.7 老化试验过程中尽可能确保老化方法的正确，避免人为因素造成产品的不良。 6.8 老化试验结束后，操作员应把设备整理好，关闭老化房切断电源。 6.9 老化房应该每季度检查一次，做好检查记录。
产品高温老化标准
https://www.wendangku.net/doc/aa12377000.html, 产品高温老化标准 恒温老化房又叫烧机老化房，老化房或老化试验室，是针对高性能电子产品（如：机算机整机，显示器，终端机，车用电子产品，电源供应器，主机板、监视器、交换式充电器等）仿真出一种高温、恶劣环境测试的设备，是提高产品稳定性、可靠性的重要实验设备、是各生产企业提高产品质量和竞争性的重要生产流程，该设备广泛应用于电源电子、电脑、通讯、生物制药等领域。 主要功能：为了达到满意的合格率，几乎所有产品在出厂前都要先藉由老化。制造商如何才能够在不缩减老化时间的条 件下提高其效率？本文介绍在老化过程中进行功能测试的新方案，以降低和缩短老化过程所带来的成本和时间问 题。 在半导体业界，器件的老化问题一直存在各种争论。像其它产品一样，半导体随时可能因为各种原因而出现 故障，老化就是藉由让半导体进行超负荷工作而使缺陷在短时间内出现，避免在使用早期发生故障。如果不藉由 老化，很多半导体成品由于器件和制造制程复杂性等原因在使用中会产生很多问题。 在开始使用后的几小时到几天之内出现的缺陷(取决于制造制程的成熟程度和器件总体结构)称为早期故障， 老化之后的器件基本上要求100%消除由这段时间造成的故障。准确确定老化时间的唯一方法是参照以前收集到 的老化故障及故障分析统计数据，而大多数生产厂商则希望减少或者取消老化。 老化制程必须要确保工厂的产品 满足用户对可靠性的要求，除此之外， 它还必须能提供工程数据以便用来改 进器件的性能。
https://www.wendangku.net/doc/aa12377000.html, 一般来讲，老化制程藉由工作环 境和电气性能两方面对半导体器件进 行苛刻的试验使故障尽早出现，典型 的半导体寿命曲线如右图。由图可见， 主要故障都出现在器件寿命周期开始 和最后的十分之一阶段。老化就是加 快器件在其寿命前10%部份的运行过 程，迫使早期故障在更短的时间内出 现，通常是几小时而不用几月或几年。 不是所有的半导体生 是根据客户的产品需要而分类的名称：老化房 比如：做药品存储;名称可能就会叫恒温室。 做电子产品、汽车仪表、电能表、液晶显示器、工业仪表、手机等等：通电老化筛选名称可能叫做为：高温老化房或者高温老化筛选室。 做逆变器、电子仪器设备、电脑主机、冰箱、洗衣机、空调、打印机、饮水机、轮胎等等等等；名称有可能叫高温老化试验室或者老化室 此设备外框架构采用双面彩钢保温库板组合而成，大小根据客户要求订制，根据不同的要求来进行配置。老化房主要由箱体、控制系统、风循环系统、加热系统、时间控制系统、测试负载等组成。通过老化测试，可检查出不良品或不良件，为客户迅速找出问题并解决问题提供了有效的手段，充分提高了客户生产效率和产品品质。 由于老化房的性能及环境必须保证产品所需要的温度、电源质量、负载量、工作时间及操作人员的安全、习惯等要求，所以，一套合格的老化设备，应该是一套安全可靠，高效节能、功能齐全和具有可扩充性的设备。
电路板老化标准
电路板老化标准 为了达到满意的合格率，几乎所有产品在出厂前都要先藉由老化。制造商如何才能够在不缩减老化时间的条 件下提高其效率？本文介绍在老化过程中进行功能测试的新方案，以降低和缩短老化过程所带来的成本和时间问题。 在半导体业界，器件的老化问题一直存在各种争论。像其它产品一样，半导体随时可能因为各种原因而出现故障，老化就是藉由让半导体进行超负荷工作而使缺陷在短时间内出现，避免在使用早期发生故障。如果不藉由老化，很多半导体成品由于器件和制造制程复杂性等原因在使用中会产生很多问题。 在开始使用后的几小时到几天之内出现的缺陷(取决于制造制程的成熟程度和器件总体结构)称为早期故障，老化之后的器件基本上要求100%消除由这段时间造成的故障。准确确定老化时间的唯一方法是参照以前收集到的老化故障及故障分析统计数据，而大多数生产厂商则希望减少或者取消老化。 老化制程必须要确保工厂的产品 满足用户对可靠性的要求，除此之外， 它还必须能提供工程数据以便用来改 进器件的性能。 一般来讲，老化制程藉由工作环 境和电气性能两方面对半导体器件进 行苛刻的试验使故障尽早出现，典型 的半导体寿命曲线如右图。由图可见， 主要故障都出现在器件寿命周期开始 和最后的十分之一阶段。老化就是加 快器件在其寿命前10%部份的运行过 程，迫使早期故障在更短的时间内出 现，通常是几小时而不用几月或几年。 不是所有的半导体生 产厂商对所有器 件都需要进行老化。普通器件制造由 于对生产制程比较了解，因此可以预先掌握藉由统计得出的失效预计值。如果实际故障率高于预期值，就需要再作老化，提高实际可靠性以满足用户的要求。 本文介绍的老化方法与 10 年前几乎一样，不同之处仅仅在于如何更好地利用老化时间。提高温度、增加动态信号输入以及把工作电压提高到正常值以上等等，这些都是加快故障出现的通常做法；但如果在老化过程中进行测试，则老化成本可以分摊一部份到功能测试上，而且藉由对故障点的监测还能收集到一些有用信息，从总体
老化测试管理规定
1、目的 为了规范产品老化操作步骤及老化环境要求，特制定本规范，严格按照本规范要求作业。 2、适用范围 公司老化房。 3、权责 工程部门负责老化房设备的维护保养及操作，生产部门负责老化车的维护保养。 4、定义 恒温老化房，也叫高温老化房和老化房，是针对高性能电子产品仿真出一种高温、恶劣环境测试的设 备，是提高产品稳定性、可靠性的重要实验设备、是各生产企业提高产品质量和竞争性的重要生产流 程，根据不同的要求配置主体系统、主电系统、控制系统、加热系统、温度控制系统、风力恒温系统、时间控制系统、测试负载等可检杳出不良品或不良件，是客户迅速找出问题、解决问题提供有效手段。 5、作业内容 5.1所需设备 5.1.1老化台车及老化电源，按客户出货电源要求调整电压，特殊产品使用专用电源（详 查BOM单）。 5.1.2 220V 50HZ交流电源。 5.1.3老化加热系统。 5.2老化步骤： 5.1.1将DIP通电测试OK的产品接在老化车上 5.1.2将一台装好产品的老化台车进行预通电，检查产品的电源灯是否能点亮，将电源灯不 点亮的PCBA从老化车取下并做好标示放置在不良品箱中，不良品给到工程与PE分析，按照《不良品处理规范》操作。 5.1.3产品推进老化房老化之前须将老化房环境温度设定为45+/-5℃，提前给老化房升温，老化房温度达到40度才开始老化。 5.1.4将预通电OK后的老化车的总电源插头插到老化房墙壁上的电源插座上进行通电，并开启老化车上变压器电源，当老化产品通电后其电源灯亮的状态必须一致的，否则亮灯异常的为不良品送至维修处维修，进出老化房时随手关好老化房门，记录产品开始老化时间并填写到“老化记录表”里面。 5.1.5产品在老化过程中，老化操作人员及IPQC人员要每隔1个小时进行巡查，检查老化房中温度计上显示应在45+/-5℃间，则表示该环境温度为合格；巡检过程中发现的不良品（例如灯不亮、烧爆IC和电容、冒烟、外壳变形等）及不良一定要拿出由产品工程师和维修人员共同分析，不良品按照《不良品处理规范》操作。 5.1.6老化房中的老化车要摆放整齐，老化房中的温度计及湿度计要定期校验合格后才能使用。 5.1.7产品老化时间规定为4小时，特殊产品老化时间按客户要求而定。由于产品的试验等特殊性的要求及特殊情况，需要更改产品老化时间，以《工程更改通知》或由产品工程师在《老化记录表》备注栏签字. 5.1.8不良品太多（超过2%）应立即通知工程技术人员分析，出现起火要立即关总电源开关。 5.1.9老化完后将老化车变压器的开关关闭，拔下插头，将老化车推出老化房。 5.1.10将老化OK的产品全部放置到指定的已老化的区域，按照规定和结合“7 S ”来放置，在老化台车上面贴好标示单。
橡胶热老化试验标准
橡胶热老化试验标准 警告：使用本标准的人员应熟悉正规实验室操作规程。本标准无意涉及因使用本标准可能出现的所有安全问题。制定相应的安全和健康制度并确保符合国家法规是使用者的责任。 1 范围 本标准适用于硫化橡胶或热塑性橡胶在常压下进行热空气加速老化和耐热试验。 2 引用标准 下列标准所包含的条文，通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时，所示版本均为有效。所有标准都会被修订，使用本标准的各标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。 GB/T 2941-1991橡胶试样环境调节和试验的标准温度、湿度及时间(eqv ISO 471:1983) GB/T 9865.1-1996硫化橡胶或热塑性橡胶样品和试样的制备第一部分物理试验(idt ISO 4661-1:1993) GB/T 14838-1993 橡胶与橡胶制品试验方法标准精密度的确定(neq ISO/TR 9272:1986) 3 原理 试样在高温和大气压力下的空气中老化后测定其性能，并与未老化试样的性能作比较。与使用权有关的物理性能应用来判定老化程度，介在没有这些性能的确切鉴定的情况下，建议测定拉伸强度、定伸应力、拉断伸长率和硬度。 3.1 热空气加速老化 在本试验方法中，氧气浓度很低，即使氧化作用很快，氧气也无法充分扩散到橡胶内部以保持一致的氧化作用。因此，在标准试验方法中规定的厚度的样品适合于本试验方法使用时，本老化试验方法对老化性能差的橡胶可能得出错误的结果。 3.2 耐热试验 在本试验方法中，试样经受与使用时间相同温度和规定时间后，测定适当的性能，并与未老化试样的性能作比较。 4 试验装置 橡胶试样采用热空气老化箱进行试验，老化箱应符合下列要求： a)具有强制空气循环装置，空气流速0.5m/s～1.5m/s,试样的最小表面积正对气流以避免干扰空气流速; b)老化箱的尺寸大小应满足样品的总体积不超过老化箱有效容积的10%，悬挂试样的间距至少 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局2001-08-28批准2002-05-01实施 为10㎜，试样与老化箱壁至少相距50㎜;
电子产品高温老化的原理
电子产品高温老化的原理 类别：网文精粹阅读：1015 随着电子技术的发展，电子产品的集成化程度越来越高，结构越来越细微，工序越来越多，制造工艺越来越复杂，这样在制造过程中会产生潜伏缺陷。对一个好的电子产品，不但要求有较高的性能指标，而且还要有较高的稳定性。电子产品的稳定性取决于设计的合理性、元器件性能以及整机制造工艺等因素。目前，国内外普遍采用高温老化工艺来提高电子产品的稳定性和可*性，通过高温老化可以使元器件的缺陷、焊接和装配等生产过程中存在的隐患提前暴露，保证出厂的产品能经得起时间的考验。 1 高温老化的机理 电子产品在生产制造时，因设计不合理、原材料或工艺措施方面的原因引起产品的质量问题有两类，第一类是产品的性能参数不达标，生产的产品不符合使用要求；第二类是潜在的缺陷，这类缺陷不能用一般的测试手段发现，而需要在使用过程中逐渐地被暴露，如硅片表面污染、组织不稳定、焊接空洞、芯片和管壳热阻匹配不良等等。一般这种缺陷需要在元器件工作于额定功率和正常工作温度下运行一千个小时左右才能全部被激活（暴露）。显然，对每只元器件测试一千个小时是不现实的，所以需要对其施加热应力和偏压，例如进行高温功率应力试验，来加速这类缺陷的提早暴露。也就是给电子产品施加热的、电的、机械的或多种综合的外部应力，模拟严酷工作环境，消除加工应力和残余溶剂等物质，使潜伏故障提前出现，尽快使产品通过失效浴盆特性初期阶段，进入高可*的稳定期。电子产品的失效曲线如图1所示。 老化后进行电气参数测量，筛选剔除失效或变值的元器件，尽可能把产品的早期失效消灭在正常使用之前。这种为提高电子产品可*度和延长产品使用寿命，对稳定性进行必要的考核，以便剔除那些有“早逝”缺陷的潜在“个体”（元器件），确保整机优秀品质和期望寿命的工艺就是高温老化的原理。 2 高温老化室空间结构和绝热措施 2.1 老化室的空间布置 根据电子产品高温老化的要求以及我单位的实际情况，对一间厂房进行了改造装修，其重点放在空间布置和绝热设
老化测试标准
老化测试标准 科标检测为您提供包括橡胶、塑料、涂料、胶黏剂、建筑材料、金属材料、电芯电缆、汽车配件、化工品等多行业多种类材料产品的老化性能检测服务。 自然大气曝晒试验 直接自然大气曝晒（ASTM G7，ASTM D4141等） 黑箱曝晒（SAE J1976，ISO877等） 太阳跟踪IP/DP箱曝晒试验（ISO2810，ISO105-B03等） 玻璃下曝晒（GB/T3681，GB/T9276等） 太阳跟踪聚光加速试验（GB/T3511，GB/T15596等） 人工加速光老化试验 氙弧灯老化试验（ASTM G155，ASTM D4459，ASTM D2565，ASTM D6695，ISO4892-2，ISO11341，ISO105-B02，ISO105-B04，ISO105-B06，ISO4665，ISO3917，GB/T1865，GB/T16422.2, SAE J2412，SAE J2527等） 氙灯测试(高辐照度试验（ASTM G155,NES M0135中1-2-1A，2-2-1，NES M0141等） 荧光紫外灯老化试验（ASTM G154，ASTM D4329，ASTMD499，ASTM D5208，ASTM D4587，ISO 4892-3，ISO11507，SAE J2020，GB/T16422.3，GB/T14522等） 金属卤素灯老化试验（DIN75220，IEC60068-2-5，ISO9022-9，ISO12097-2，MIL STD810F 等） 红外灯老化试验（NES M0131，PV2005等） 阳光碳弧灯老化试验箱（GB/T16422.4、ISO4892-4、ASTM G152、JIS B7753、JIS D0205等） 紫外碳弧灯老化试验箱（JIS L08422004、AATCC16方法1、JIS A14151999，TSL0601G 等） 温湿度老化试验 高温试验（ISO188，GB/T2423.2，ASTM D573，IEC60068-2-2等） 低温试验（GB/T2423.1，IEC60068-2-1等） 恒温恒湿试验（GB/T2423.3，IEC60068-2-78等） 温度循环试验（GB/T2423.22） 温湿度循环试验（GB/T2423.4，IEC60068-2-30等）
常用三种加速老化测试模型
常用三种加速老化测试模型 在环境模拟试验中，常常会遇到这样一个问题：产品在可控的试验箱环境中测试若干小时相当于产品在实际使用条件下使用多长时间？这是一个亟待解决 的问题，因为它的意义不仅仅在于极大地降低了成本，造成不必要的浪费，也让测试变得更具目的性和针对性，有利于测试人员对全局的掌控，合理进行资 源配置。 在众多的环境模拟试验中，温度、湿度最为常见，同时也是使用频率最高的模拟环境因子。实际环境中温度、湿度也是不可忽略的影响产品使用寿命的因素。所以，迄今将温度、湿度纳入考量范围所推导出的加速模型在所有的老化测试加速模型中占有较大的比重。由于侧重点的不同，推导出的加速模型也不一样。下面，本文将解读三个极具代表性的加速模型。 模型一.只考虑热加速因子的阿伦纽斯模型( Arrhenius Mode ) 某一环境下，温度成为影响产品老化及使用寿命的绝对主要因素时，采用单纯考虑热加速因子效应而推导出的阿伦纽斯模型来描述测试，其预估到的结果会更接近真实值，模拟试验的效果会更好。此时，阿伦纽斯模型的表达式为： AF=exp{(E a/k) ? [(1/T u)-(1/T t)]} 式中： AF是加速因子； E a是析出故障的耗费能量，又称激活能。不同产品的激活能是不一样的。一般来说，激活能的值在0.3ev~1.2ev之间；
K是玻尔兹曼常数，其值为8.617385 X 10-5； T u是使用条件下(非加速状态下)的温度值。此处的温度值是绝对温度值, 以K(开尔文)作单位； T t是测试条件下(加速状态下)的温度值。此处的温度值是绝对温度值，以K(开尔文)作单位。 案例：某一客户需要对产品做105C的高温测试。据以往的测试经验，此种产品的激活能E a取0.68最佳。对产品的使用寿命要求是10年，现可供测试的样品有5个。若同时对5个样品进行测试，需测试多长时间才能满足客户要求？ 已知的信息有T t、E a,使用的温度取25C,贝U先算出加速因子AF: 5 AF=exp{[0.68/(8.617385 X 10-)] ?【[1/(273+25)]-[1/(273+105)] 】} 最 终： AF^ 271.9518 又知其目标使用寿命： L 目标=10years=10 X 365X 24h=87600h 故即可算出： L 测试=L 目标/AF=87600/271.9518h=322.1159h ?323h 现在5个样品同时进行测试，则测试时长为： L 最终=323/5h=65h 这即是说明，若客户用5个产品同时在105C高温下测试65h后产品未发生故障，则说明产品的使用寿命已达到要求。 通过这个案例可以看出，利用阿伦纽斯模型可以提前预估测试的相关信息，指导客户该怎样进行测试才既能达到目标值而又最大限度的降低成本。本案例中，若客户急需测试结果，那么可以投入10个或者更多的样品来缩短整个测试时长；或者在允许的情况下进一步提高温度，加快完成测试。根据需求灵活的调整测试方案，这才能更完美地达到目标，提高工作效率，省去一些不必要的费用。 模型二.综合温度及湿度因素的阿伦纽斯模型(Arrhenius ModeWith Humidity )
电子产品高温老化的原理
哈尔滨帕特尔技术有限公司技术资料 电子产品高温老化的原理 随着电子技术的发展，电子产品的集成化程度越来越高，结构越来越细微，工序越来越多，制造工艺越来越复杂，这样在制造过程中会产生潜伏缺陷。对一个好的电子产品，不但要求有较高的性能指标，而且还要有较高的稳定性。电子产品的稳定性取决于设计的合理性、元器件性能以及整机制造工艺等因素。目前，国内外普遍采用高温老化工艺来提高电子产品的稳定性和可靠性，通过高温老化可以使元器件的缺陷、焊接和装配等生产过程中存在的隐患提前暴露，保证出厂的产品能经得起时间的考验。 高温老化的机理： 电子产品在生产制造时，因设计不合理、原材料或工艺措施方面的原因引起产品的质量问题有两类，第一类是产品的性能参数不达标，生产的产品不符合使用要求；第二类是潜在的缺陷，这类缺陷不能用一般的测试手段发现，而需要在使用过程中逐渐地被暴露，如硅片表面污染、组织不稳定、焊接空洞、芯片和管壳热阻匹配不良等等。一般这种缺陷需要在元器件工作于额定功率和正常工作温度下运行一千个小时左右才能全部被激活（暴露）。显然，对每只元器件测试一千个小时是不现实的，所以需要对其施加热应力和偏压，例如进行高温功率应力试验，来加速这类缺陷的提早暴露。也就是给电子产品施加热的、电的、机械的或多种综合的外部应力，模拟严酷工作环境，消除加工应力和残余溶剂等物质，使潜伏故障提前出现，尽快使产品通过失效浴盆特性初期阶段，进入高可*的稳定期。电子产品的失效曲线如图1所示。 图1 电子产品的失效曲线 老化后进行电气参数测量，筛选剔除失效或变值的元器件，尽可能把产品的早期失效消灭在正常使用之前。这种为提高电子产品可*度和延长产品使用寿命，对稳定性进行必要的考核，以便剔除那些有“早逝”缺陷的潜在“个体”（元器件），确保整机优秀品质和期望寿命的工艺就是高温老化的原理。 哈尔滨帕特尔技术有限公司技术部2009年12月16日
常用三种加速老化测试模型
在环境模拟试验中，常常会遇到这样一个问题：产品在可控的试验箱环境中测试若干小时相当于产品在实际使用条件下使用多长时间这是一个亟待解决的问题，因为它的意义不仅仅在于极大地降低了成本，造成不必要的浪费，也让测试变得更具目的性和针对性，有利于测试人员对全局的掌控，合理进行资源配置。 在众多的环境模拟试验中，温度、湿度最为常见，同时也是使用频率最高的模拟环境因子。实际环境中温度、湿度也是不可忽略的影响产品使用寿命的因素。所以，迄今将温度、湿度纳入考量范围所推导出的加速模型在所有的老化测试加速模型中占有较大的比重。由于侧重点的不同，推导出的加速模型也不一样。下面，本文将解读三个极具代表性的加速模型。 模型一．只考虑热加速因子的阿伦纽斯模型（Arrhenius Mode） 某一环境下，温度成为影响产品老化及使用寿命的绝对主要因素时，采用单纯考虑热加速因子效应而推导出的阿伦纽斯模型来描述测试，其预估到的结果会更接近真实值，模拟试验的效果会更好。此时，阿伦纽斯模型的表达式为： AF=exp{(E a /k)·[(1/T u )-(1/T t )]} 式中： AF是加速因子； E a 是析出故障的耗费能量，又称激活能。不同产品的激活能是不一样的。 一般来说，激活能的值在~之间； K是玻尔兹曼常数，其值为×10-5； ` T u 是使用条件下(非加速状态下)的温度值。此处的温度值是绝对温度值，以K(开尔文)作单位； T t 是测试条件下(加速状态下)的温度值。此处的温度值是绝对温度值，以K(开尔文)作单位。 案例：某一客户需要对产品做105℃的高温测试。据以往的测试经验， 此种产品的激活能E a 取最佳。对产品的使用寿命要求是10年，现可供测试的样品有5个。若同时对5个样品进行测试，需测试多长时间才能满足客户要求 已知的信息有T t 、E a ，使用的温度取25℃，则先算出加速因子AF：
高温老化测试标准及技术要求大纲
高温老化测试标准及技术要求 高温老化房是针对高性能电子产品（如：LED、LCD成品或半成品，计算机整机，显示器，终端机，车用电子产品，电源供应器，主机板、监视器、交换式充电器等）仿真出一种高温、恶劣环境测试的设备，是提高产品稳定性、可靠性的重要实验设备、是各生产企业提高产品质量和竞争性的重要生产流程，该设备广泛应用于电源电子、电脑、通讯、生物制药等领域。 设备特点 机台使用室外新进风、室外排风、室内回风的内循环原理设计，有效的达到节能环保的工作原理。 机台抓住老化室在升温和降温时大能耗损原理，利用新进风和室外排风的方式辅助降温;利用负载发热升温内循环升温，同时部分排风恒定有效在到50％以上的节能工作，同时不影响室内（有负载/无负载的）正常均匀度，有效的达到温度内环循。 1、控制 机台一共设4个温度探头，新进风口一支，室内两支，主机箱超温保护一支。 利用室内温度两支探头平均温度值采样，室外新进风温度测量决定新进风量，主机箱超温保护根据主机室加热制冷制温度上下限决定新进风量和排风量。 2、降温： 传统：老化室降温将完全采用压缩机全能长时间低温输出内循环降温 智能：在不影响风环循的同时，采用大量新空气（经过过滤）进入内循环，同时循环回风90％以上的室外排风，同时压缩机制冷采用伺服冷煤流量调节制冷输出;有效的缩短降温时间，有效的达到室内恒定状态，同时很大程度的达到节能环保作用。 3、升温： 传统：老化室的升温采用加热系统全加热，到达温度，启用压缩机制冷平衡室温。 智能：利用有效的发热负载和室温，决定加热系统加热量（加热系统采用SSR 智能加热）到达温度采用循环30％回风排出恒定室内温度，有效的缩短升温时间，更有效的达到室内恒定状态，同时很大程度的达到节能环保作用。 4、恒温：
无菌医疗器械包装的加速老化试验标准指南
ASTM F 1980:2002 无菌医疗器械包装的加速老化试验标准指南 Standard Guide for Accelertated Aging of Sterile Medical Device Package 1 范围 1.1 本指南提供了开发加速老化方案的信息，以便快速确定包装的无菌完好性和包装材料的物理特性受所经历的时间和环境的影响。 1.2 用本指南获得的信息可用以支持产品包装的有效日期。 1.3 加速老化指南涉及初包装整体，不涉及包装与产品间的相互作用或相容性，这在新产品的开发中可能涉及到。在包装设计之前的材料分析过程中宜涉及包装与产品的相容性和相互作用。 1.4本指南不涉及实际时间老化方案，但进行实际时间老化研究能证实用同样评价方法的加速老化试验的结果。 1.5 用于包装过程确认的方法，包括机械过程、灭菌过程、运输、贮存的影响也不在本指南的范围内。 1.6 本标准不打算涉及标准使用中的所有安全问题，本标准的使用者在使用前有责任建立相应的安全和卫生规范，并确定法规限制的适用性。 2 规范性引用文件 2.1 ASTM 标准 D 3078 用气泡发射法测定软性包装的试验方法 D 4169 运输容器和系统的性能试验规范 D 4332 容器、包装或包装组件的试验用状态调节的规范 E 337 用干湿球温度计（测量湿球温度和干球温度）测定湿度的试验方法 F 88 软质屏障材料密封强度的试验方法 F 1140医疗应用无约束包装抗内压破坏试验方法 F1327 医用包装屏障材料的相关术语 F 1585 医用包装多孔屏障材料完好性试验指南 F 1608 医用包装多孔屏障材料的微生物等级的试验方法 F 1929 用染色穿透的方法测定多孔材料医用包装中密封泄漏的试验方法 2.2 AAMI 标准 ANSI/AAMI/ISO 11607 最终灭菌医疗器械的包装 AAMI TIR 17-1997 辐射灭菌材料鉴定 3 术语 3.1 定义 医疗器械包装的一般定义见ISO 11607。有关医用包装屏障材料的术语见F1327 3.2 本标准规定术语的定义： 3.2.1 加速老化（AA） 样品贮存在严酷的温度（T AA），以一种缩短时间的方式来模拟实际时间老化 3.2.2 加速老化因子（AAF） 一个估计的或计算出的与实际时间（RT）条件贮存的包装达到同样水平的物理性能变化的时间比率
电子产品高温老化原理
电子产品高温老化的原理 电子产品高温老化的原理 随着电子技术的发展，电子产品的集成化程度越来越高，结构越来越细微，工序越来越多，制造工艺越来越复杂，这样在制造过程中会产生潜伏缺陷。对一个好的电子产品，不但要求有较高的性能指标，而且还要有较高的稳定性。电子产品的稳定性取决于设计的合理性、元器件性能以及整机制造工艺等因素。目前，国内外普遍采用高温老化工艺来提高电子产品的稳定性和可*性，通过高温老化可以使元器件的缺陷、焊接和装配等生产过程中存在的隐患提前暴露，保证出厂的产品能经得起时间的考验。 1 高温老化的机理 电子产品在生产制造时，因设计不合理、原材料或工艺措施方面的原因引起产品的质量问题有两类，第一类是产品的性能参数不达标，生产的产品不符合使用要求；第二类是潜在的缺陷，这类缺陷不能用一般的测试手段发现，而需要在使用过程中逐渐地被暴露，如硅片表面污染、组织不稳定、焊接空洞、芯片和管壳热阻匹配不良等等。一般这种缺陷需要在元器件工作于额定功率和正常工作温度下运行一千个小时左右才能全部被激活（暴露）。显然，对每只元器件测试一千个小时是不现实的，所以需要对其施加热应力和偏压，例如进行高温功率应力试验，来加速这类缺陷的提早暴露。也就是给电子产品施加热的、电的、机械的或多种综合的外部应力，模拟严酷工作环境，消除加工应力和残余溶剂等物质，使潜伏故障提前出现，尽快使产品通过失效浴盆特性初期阶段，进入高可*的稳定期。电子产品的失效曲线如图1所示。 老化后进行电气参数测量，筛选剔除失效或变值的元器件，尽可能把产品的早期失效消灭在正常使用之前。这种为提高电子产品可*度和延长产品使用寿命，对稳定性进行必要的考核，以便剔除那些有“早逝”缺陷的潜在“个体”（元器件），确保整机优秀品质和期望寿命的
一、LED灯老化检测标准参考
一、LED灯老化检测标准参考 二、高低温试验箱技术规格 三、高低温冲击试验箱技术规格 四、高温老化试验箱技术规格 LED灯老化检测标准参考 一、高温高压及其冲击测试： 针对对象：LED灯具（含LEDDriver的成品灯具） 参照标准：行业经验 测试方法： 1,将5款LED灯具放置在一个室温为60℃的房间； 2,通过调压器将LED灯具的输入电压调为最大额定输入电压的1.1倍； 3,接通电源，点灯24H,并观察灯具是否有损坏、材料受热变形等异常现象； 4,点灯测试后，通过继电器控制灯具在此环境下进行冲击测试，测试设置为：点灯20s、熄灯20s,循环100次。 测试要求： A,灯具在经过高温高压测试后，不能发生表面脱漆、变色、开裂、材料变 形等异常现象； B,灯具在经过冲击测试后，不能发生漏电、点灯不亮等电气异常现象。 二、低温低压及其冲击测试： 针对对象：LED灯具（含LEDDriver的成品灯具） 参照标准：行业经验 测试方法： 1,将5款LED灯具放置在一个-15℃的环境下； 2,通过调压器将LED灯具的输入电压调为最小额定输入电压的0.9倍； 3,接通电源，点灯24H,并观察灯具是否有损坏、材料受热变形等异常现象； 4,点灯测试后，通过继电器控制灯具在此环境下进行冲击测试，测试设置为：点灯20s、熄灯20s,循环100次。 测试要求： A,灯具在经过低温低压测试后，不能发生表面脱漆、变色、开裂、材料变形等异常现象； B,灯具在经过冲击测试后，不能发生漏电、点灯不亮等电气异常现象。 三、常温常压冲击测试： 针对对象：LED灯具（含LEDDriver的成品灯具） 参照标准：行业经验 测试方法： 1,将5款LED灯具放置在一个室温为25℃的环境下； 2,按LED灯具的额定输入电压接通电源点灯； 3,通过继电器控制灯具在常温常压下进行冲击测试，测试设置为：点灯30s、熄灯30s,循环10000次。
老化试验的标准
老化试验的标准 自然大气曝晒试验 直接自然大气曝晒（ASTM G7，ASTM D4141等） 黑箱曝晒（SAE J1976，ISO877等） 太阳跟踪IP/DP箱曝晒试验（ISO2810，ISO105-B03等） 玻璃下曝晒（GB/T3681，GB/T9276等） 太阳跟踪聚光加速试验（GB/T3511，GB/T15596等） 人工加速光老化试验 氙弧灯老化试验（ASTM G155，ASTM D4459，ASTM D2565，ASTM D6695，ISO4892-2，ISO11341，ISO105-B02，ISO105-B04，ISO105-B06，ISO4665，ISO3917，GB/T1865，GB/T16422.2,SAE J2412，SAE J2527等） 氙灯测试(高辐照度试验（ASTM G155,NES M0135中1-2-1A，2-2-1，NES M0141等） 荧光紫外灯老化试验（ASTM G154，ASTM D4329，ASTMD499，ASTM D5208，ASTM D4587，ISO4892-3，ISO11507，SAE J2020，GB/T16422.3，GB/T14522等） 金属卤素灯老化试验（DIN75220，IEC60068-2-5，ISO9022-9，ISO12097-2，MIL STD810F等）红外灯老化试验（NES M0131，PV2005等） 阳光碳弧灯老化试验箱（GB/T16422.4、ISO4892-4、ASTM G152、JIS B7753、JIS D0205等）紫外碳弧灯老化试验箱（JIS L08422004、AATCC16方法1、JIS A14151999，TSL0601G等）温湿度老化试验 高温试验（ISO188，GB/T2423.2，ASTM D573，IEC60068-2-2等） 低温试验（GB/T2423.1，IEC60068-2-1等） 恒温恒湿试验（GB/T2423.3，IEC60068-2-78等） 温度循环试验（GB/T2423.22） 温湿度循环试验（GB/T2423.4，IEC60068-2-30等） 冷凝水试验（ISO6270-2，DIN50017等） 耐温水试验（ASTM D870-09，ISO2812-2等） 老化后性能评估与分析 表观性能（色差、色牢度、光泽、外观） 力学性能（拉伸、弯曲、冲击、剥离、撕裂、压缩）
电子产品可靠性试验汇总
電子產品可靠性試驗 第一章 可靠性試驗概述 1 電子產品可靠性試驗的目的 可靠性試驗是對產品進行可靠性調查、分析和評價的一種手段。試驗結果為故障分析、研究採取的糾正措施、判斷產品是否達到指標要求提供依據。具體目的有： (1) 發現產品的設計、元器件、零部件、原材料和工藝等方面的各種缺陷； (2) 為改善產品的完好性、提高任務成功性、減少維修人力費用和保障費用提供資訊； (3) 確認是否符合可靠性定量要求。 為實現上述目的，根據情況可進行實驗室試驗或現場試驗。 實驗室試驗是通過一定方式的類比試驗，試驗剖面要儘量符合使用的環境剖面，但不受場地的制約，可在產品研製、開發、生產、使用的各個階段進行。具有環境應力的典型性、資料測量的準確性、記錄的完整性等特點。通過試驗可以不斷地加深對產品可靠性的認識，並可為改進產品可靠性提供依據和驗證。 現場試驗是產品在使用現場的試驗，試驗剖面真實但不受控，因而不具有典型性。因此，必須記錄分析現場的環境條件、測量、故障、維修等因素的影響，即便如此，要從現場試驗中獲得及時的可靠性評價資訊仍然困難，除非用若干台設備置於現場使用直至用壞，忠實記錄故障資訊後才有可能確切地評價其可靠性。當系統規模龐大、在實驗室難以進行試驗時，則樣機及小批產品的現場可靠性試驗有重要意義。 2 可靠性試驗的分類 2.1 電子裝備壽命期的失效分佈 目前我們認為電子裝備壽命期的典型失效分佈符合“浴盆曲線”，可以劃分為三段：早期失效段、恒定（隨機或偶然）失效段、耗損失效段。可參閱圖1.2.1。 早期失效段，也稱早期故障階段。早期失效出現在產品壽命的較早時期，產品裝配完成即進入早期失效期，其特點是故障率較高，且隨工作時間的增加迅速下降。早期故障主要是由於製造工藝缺陷和設計缺陷暴露產生，例如原材料缺陷引起絕緣不良，焊接缺陷引起虛焊，裝配和調整不當引起參數漂移，元器件缺陷引起性能失效等。早期失效可通過加強原材料和元器件的檢驗、工藝檢驗、不同級別的環境應力篩選等嚴格的品質管制措施加以暴露和排除。 恒定失效段，也稱偶然失效段，其故障由裝備內部元器件、零部件的隨機性失效引起，其特點是故障率低，比較穩定，因此是裝備主要工作時段。 耗損失效段，其特點是故障率迅速上升，導致維修費用劇增，因而報廢。其故障原因主要是結構件、元器 件的磨損、疲勞、老化、損耗等引起。 2.2 試驗類型及其分佈曲線的變化 針對電子裝備壽命期失效分佈的三個階段，人們在設計製造和使用裝備時便有針對地採取措施，以提高可靠性和降低壽命週期的費用。在設計製造階段，要儘量減少設計缺陷和製造缺陷，即便如此仍然會存在早期失效和隨機失效。為此，承制方需要運用工程試驗的手段來暴露和消除早期失效，降低隨機失效的固有水準。通過這些措施，可以改變產品的壽命分佈曲線的形狀，可參閱圖1.2.2。在耗損階段，用戶可通過維修和局部更新的手段延長裝備的使用壽命。 圖 1.2.2 示意了兩組產品壽命失效率分佈曲線，圖中表明產品B 的可靠性水準比產品A 的優良，因為B 的恒定失效率比A 的低，B 的早期失效段比A 的短。如果曲線A 和B 是同一種產品的不同階 失效率 早期 耗損 失效 偶然失效段 失效 時間 圖1.2.1 電子裝備壽命期失效分佈的浴盆曲線示意
常见的老化检测项目及检测标准
常见的老化检测项目及检测标准 老化测试是模拟产品在现实使用条件中涉及到的各种因素对产品产生老化 的情况进行相应条件加强实验的过程，该检测项目主要针对塑胶材料，常见的老 化主要有光照老化，湿热老化，热风老化。以下就科标检测中心的老化检测为例 介绍几种常见的老化测试的检测项目及相应的检测标准，该中心专业从事老化检 测服务，所以有一定的参考价值。 各项老化检测项目及检测标准： 1.热老化 适用产品：各种产品耐热老化测试，如PBC板、电器中绝缘橡胶、长寿命需求 产品；考察材料随着使用时间的推移，产品性能的变化状况，考察产品使用的可 靠性。 参考标准：GB/T7141；ASTM D3045；JIS K 6257 2.温热老化 适用产品：水敏感的材料，如PET、PBT等。 参考标准：GB/T 15905；GB/T 2573；各产品、企业标准 3.臭氧老化 适用产品：考察TPU、EPDM等新型弹性体的抗臭氧性能。 参考标准：GB/T 7762；GB/T24134；GB/T13642；HG/T 2869；JIS K 6259；ASTM D 1149 4.高低温循环：高低温循环、冻融循环 适用产品：建筑涂料、特殊环境使用设备 参考标准：GB/T 10125；JG/T 25 5.盐雾老化——中性盐雾、酸性盐雾、铜离子加速、盐雾测试 适用产品：各类涂料，如建筑外墙涂料、船用涂料、货柜用涂料、各类镀层 参考标准：GB/T 10125；GB/T12000；ASTM D117；JIS Z 2371 6.老化——氙弧灯老化、紫外光老化、碳弧灯老化 适用产品：户外、室内使用的橡塑、涂料、油墨产品、通讯、电器等设备外壳、汽车件、摩托车配件 参考标准：氙弧灯老化：GB/T 8427.GB/T1865.ASTM D4355.ASTM G155.JIS K5600 紫外光老化：GB/T 18950.ASTM G 154.ASTM D-4674.ASTM_D4674等 碳弧灯老化：ASTM G153.JIS D 0205.JIS B 7753
电子厂电子产品品保部可靠性试验作业指导书 经典
毅力電子貿易有限公司 電威電子有限公司 電科電子有限公司 品質系統工作指導書 (ISO9001: 2000) 文件名稱：可靠性試驗工作指導書 文件編號﹕NL-QUA-WI-04 發行日期：Aug.01.2002 控制碼﹕ NL-MAN-F05
1.0目的 為確保公司所有產品的質量達到國際標準或客戶要求, 特制定本文件闡述對有關產品進行可靠性試驗的工作指引, 以確保各產品的可靠性試驗項目均能按規定執行, 並使公司產品達到具有高度可靠及安全性能的目的。 2.0适用范圍 本文件适用于本公司品管部及對本公司所有開發及生產的產品進行可靠性試驗(包括原材料)。 3.0用語定義 3.1可靠性試驗: 指對本公司開發的產品在量產前(即試產後)、量產中, 或產品的原材料物件進行的各種可靠性試驗, 以 確保產品能夠滿足客戶的要求, 並符合安全性、耐久性、適用於目的地區使用性, 在一般環境下操作或 運輸過程中不容易被損壞等情況。產品改良後或原材料試驗需經總管級以上批准。可靠性試驗項目類 別一般分為以下九大類: a.一般動作檢驗：產品在試驗前及試驗後,必須在常溫下進行外觀及性能等檢測,檢測的方法、標準 按品管部要求[詳細請參閱《品管部工作指導書(QC)》NL-QUA-WI-02]。 b.環境試驗：對產品在高溫高濕、低溫環境流通或使用時的外觀及性能進行檢測,並與常溫檢驗標 準作比較。 c.運輸模擬試驗：對產品在運輸過程中所受振動及沖擊等破壞程度的測試。 d.安全性能試驗：對高壓、絕緣和內部安全性能的測試。 e.耐久性試驗：對產品零部件壽命、零部件強度進行測試。 f.防腐蝕試驗：對產品外殼絲印、噴油顏色及螺絲、拉杆天線等金屬零部件防腐蝕能力進行測試。 g.老化性試驗：對產品進行加/減電壓、常電壓連績老化測試。 h.靜電試驗：用模擬靜電發生器對產品進行靜電放電破壞測試。 i.cd抗震能力測試：對產品cd防震能力進行測試。 3.2室溫: 又稱常溫, 通常指在20℃~26℃範圍。 4.0權責 4.1品管部經理 a.負責統籌可靠性試驗室的一切運作, 確保本公司產品質量均能達到安全可靠的目的。 b.確認可靠性試驗的記錄/報告。 4.2主管 a.協助品管部(助理)經理直接對各種產品的可靠性試驗進行管理及指導。 b.審核可靠性試驗的記錄/報告。 4.3科文 a.現場指導及嚴格監管產品各項可靠性之試驗, 直接協助技術人員對各種產品的可靠性試驗進行管 理及指導。 b.維護可靠性試驗室內的有關儀器、設備、工具等(包括環境維護), 確保能正常及適當使用。 4.4技術員 a.按規定工作程序及上司指示,對所有進行可靠性試驗檢測之產品,切實做好各項規格性能指標檢測 及試驗後不良品壞機分析,包括有關數據資料記錄。 b.對於使用的有關儀器、設備、工具等, 需要正確、適當使用及維護。