实验箱使用说明书
传感信号检测与转换实验箱
使用说明书
“传感信号检测与转换实验箱”研制项目组
2013年1月
传感信号检测与转换实验箱
使用说明书
1、实验箱的组成
系统硬件主要由三部分构成：电源模块、传感信号检测转换调理模块、传感信号数字化处理模块。三个模块各自分立，相互间通过信号线连接。上位机为PC机。
2、系统电源模块
系统电源模块具体由传感信号检测转换调理模块供电电路和传感信号数字化处理模块供电电路两部分构成。工作原理为交流变直流。为确保系统用电安全和模拟电路与数字电路两区域的完全的电气隔离，提高系统电路本身的抗电气干扰性能，采用了双绕组输出的单相隔离变压器。
模拟电路模块供电直流稳压电源：±15V，±5V。
数字电路模块供电直流稳压电源；+5V，+3.3V
3、传感信号检测转换调理模块
传感信号检测转换调理模块电气部分具体包括：霍尔传感器实验模板、电容传感器实验模板、温度传感器实验模板、电涡流传感器实验模板、应变片实验模板、以及三种不同性能与增益信号调理电路模板。具体布局见图3.1所示。
图3.1传感信号检测转换调理模块布局图
3.1应变片实验模板
应变片式传感器实验模板如图3.2所示。
图3.2应变片式传感器实验模板
实验模板中的R1、R2、R3、R4为金属箔式电阻应变片，没有文字标记的5个电阻符号下面是空的，其中4个组成电桥模型是为实验者组成电桥方便而设，面板上虚线所示电阻为虚设，仅为组桥提供插座。具体包括：应变片式单臂电桥连接电路、应变片式半桥连接电路、应变片式全桥连接电路。图中的实线表示电路连接线。
本实验系统中4片金属箔式电阻应变片已安装在平行式悬臂梁上，如图3.3所示。左上角应变片为R1；右下角为R3；左下角为R4；右上角为R2。当传感器托盘支点受压时，R1、R3阻值增加，R2、R4阻值减小，可用四位半数显万用进行测量判别。常态时应变片阻值为350Ω。加热电阻也已安装在悬臂梁下面，加热丝电阻值为50Ω左右。
此4片应变片已连接在应变片式传感器实验模板上方的R1、R2、R3、R4上。
图3.3金属箔式电阻应变片安装示意图
3.2电容传感器实验模板
电容传感器实验模板如图3.4所示。电路由三部分构成：555多谐振荡电路、环形二极管充放电法测量电容电路、L型高低通滤波电路。电路后续输出端VO1接一级差动放大电路。
图3.4电容传感器实验模板
（1）环形二极管充放电法测量电容电路工作原理
本实验系统中的电容传感器测量电路选用环形二极管充放电法测量电容电路。工作原理图如图3.5所示。555时基芯片构成多谐振荡电路，作为环形二极管充放电法测量电容电路的脉冲激励源。C3与L1构成无源L型高通滤波器； L2与C5构成无源L型低通滤波器。
图3.5环形二极管充放电法测量电容电路工作原理示意图环形二极管充放电法测量电容电路工作原理：e为正半周时，方波由E1跃变到E2时，电容Cx1和C X2两端的电压皆由E1充电到E2。对电容Cx1充电的电流i1，对C X2充电的电流i3.。VD2、 VD4一直处于截止状态。在T1这段时间内由A点向C点流动的电荷量为q1=C X2(E2-E1)；。e为负半周时，方波由E2返回到E1时，Cx1、C X2放电，它们两端的电压由E2下降到E1，放电电流i2、 i4。在放电过程中(T2时间内)，VD1、VD3截止。在T2这段时间内由C点向A点流过的电荷量为q2=Cx1(E2-E1)。流过A、C支路的瞬时电流的平均值
I 为 ：
ΔE 为方波的幅值，ΔE=E2-E1。 I 正比于ΔCx 。
（2）电容传感器结构原理
本实验系统的电容传感器可以测量0~±2.5mm 的距离，传感器由两组定片盒一组动片组成。结构示意图如图3.6所示：当动片上、下改变位置，与两组静片之间的重叠面积发生变化，极间电容也发生相应变化，成为差动电容。将上层定片与动片形成的电容定位Cx1，下层定片与动片形成的电容定为Cx2，当Cx1 和Cx2接入桥路作为相邻臂时，桥路的输出电压与电容量的变化有关，即与动片的位移有关。
图3.6 圆筒式变面积差动结构电容传感器结构示意图
（3）测微头的组成和读数方法
电容传感器测试位移实验需要正确安装与使用测微头。
测微头的结构组成和读数方法如图3.7所示：
图3.7 测微头结构组成与读数方法示意图
测微头组成： 测微头由不可动部分安装套、轴套和可动部分测杆、微分筒、微调钮组成。
测微头读数与使用：测微头的安装套便于在支架座上固定安装，轴套上的主尺有两排刻度线，标有数字的是整毫米刻线(1ｍｍ／格)，另一排是半毫米刻线(０.５ｍｍ／格)；
微分X
X x X x C E f C C E f E E f C E E f C I ??=-?=---=)()()(21122121
筒前部圆周表面上刻有50等分的刻线(０.０１ｍｍ／格)。
用手旋转微分筒或微调钮时，测杆就沿轴线方向进退。微分筒每转过1格，测杆沿轴方向移动微小位移０.０１毫米，这也叫测微头的分度值。
测微头的读数方法是先读轴套主尺上露出的刻度数值，注意半毫米刻线；再读与主尺横线对准微分筒上的数值、可以估读1／10分度，如图3.7甲读数为３.６７８ｍｍ，不是３.１７８ｍｍ；遇到微分筒边缘前端与主尺上某条刻线重合时，应看微分筒的示值是否过零，如图3.7乙已过零则读２.５１４ｍｍ；如图3.7丙未过零，则不应读为２ｍｍ，读数应为１.９８０ｍｍ。
测微头使用：测微头在实验中是用来产生位移并指示出位移量的工具。一般测微头在使用前，首先转动微分筒到１０ｍｍ处(为了保留测杆轴向前、后位移的余量)，再将测微头轴套上的主尺横线面向自己安装到专用支架座上，移动测微头的安装套(测微头整体移动)使测杆与被测体连接并使被测体处于合适位置(视具体实验而定)时再拧紧支架座上的紧固螺钉。当转动测微头的微分筒时，被测体就会随测杆而位移。
3.3霍尔传感器实验模板
霍尔传感器实验模板如图3.8所示。
图3.8霍尔传感器实验模板
本实验系统中霍尔传感器安装位置与方法如图3.9所示：
图3.9霍尔传感器安装示意图
霍尔传感器是利用霍尔效应，把相关测试量转换为电动势的变化。霍尔效应把一块载流子导体置于静止的磁场中，当载流子导体中有电流通过时，在垂直于电流方向和磁场的方向上就会产生电动势，这种现象称为霍尔效应，所产生的电动势称为霍尔电势，此载流子导体称为霍尔元件或霍尔片。霍尔效应原理示意图如图3.10所示。
图3.10 霍尔效应原理示意图
一块N 型半导体，长为l ，宽为 b ，厚度为h 的，在半导体长度方向通以电流I ，将其置于的磁感应强度为B 的磁场中（磁场强度方向垂直于半导体平面），则半导体中的载流子电子将会受到洛仑兹力的作用，根据物理学知识: 式中 q 0 —电子的电荷量；v —半导体中电子的运动速度； B —磁场的磁感应强度 F L 方向如图3.10所示。在力F L 的作用下，按长度方向运动的电子将会向半导体的一侧偏移，形成电子累积，而在另一侧将会累积正电荷，从而又在两侧之间形成一附加内场E H ,即霍尔电场。此时霍尔电场E H 两端之间的电位差U H 霍尔电势）为：
霍尔常数 R H ：
霍尔元件灵敏度（灵敏系数）K H ：
所以霍尔电势与磁感应强度B 和激励电流I 成正比，与霍尔片厚度长反比。因而在实际应用中为了提高灵敏系数，霍尔元件常常制成薄片形状。
霍尔元件的结构很简单，它由霍尔片、引线和壳体三部分构成，如图3.11(a)所示。霍尔片是一块矩形半导体薄片，在它的四个端面引出四根引线，其中引线1和3为激励电压或
vB
q F L 0=H H bE U =BI
K U H H =ned d R K H H 1==
ne R H 1
=
d IB n
e U H ?=1d IB
R U H H ?
=
电流引线，称为激励电极。引线2和4为霍尔电势输出引线，称为霍尔电极。其等效电路和电路符号如图3.11(b)所示。
霍尔片材料常用的主要有锗、硅、砷化铟、锑化铟等半导体材料，霍尔元件壳体由不具有导磁性的金属、陶瓷或环氧树脂封装而成。
图3.11 霍尔元件结构外形、图形符号、基本测量电路示意图
3.4电涡流传感器实验模板
电涡流传感器实验模板如图3.12所示：
图3.12电涡流传感器实验模板
本实验的电涡流传感器测量电路为变频调幅式测量电路，电路组成：
（1）T1、C1、C2、C3组成电容三点式振荡器，产生频率为1MHz左右的正弦载波信号。电涡流传感器接在振荡回路中，即传感器线圈是振荡回路的一个电感元件。振荡器的作用是将位移变化引起的振荡回路的Q值变化转换成高频载波信号的幅值变化。
（2）D1、C5、L2、C6组成了由二极管和LC形成的π形滤波的检波器。检波器的作用是将高频调幅信号中传感器检测到的低频信号取出来。
（3）T2组成射极跟随器。射极跟随器的作用是输入、输出匹配以获得尽可能大的不失真输出的幅度值。
电涡流传感器是通过传感器端部线圈与被测物体（导电体）间的间隙变化来测物体的振动相对位移量和静位移的，它与被测物之间没有直接的机械接触，具有很宽的使用频率范围（从0～10Hz）。当无被测导体时，振荡器回路谐振于f0，传感器端部线圈Q0为定值且最高，对应的检波输出电压Vo 最大。当被测导体接近传感器线圈时，线圈Q值发生变，振荡器的谐振频率发生变化，谐振曲线变得平坦，检波出的幅值Vo变小。Vo变化反映了位移ｘ的变化。Q值测试法谐振曲线如图3.13所示。
图3.13 Q值测试法谐振曲线
本实验的电涡流传感器是一个平绕线圈。电涡流传感器与测微头的安装方法与位置见图3.14所示。
图3.14电涡流传感器安装示意图
电涡流传感器工作原理是依据电涡流效应，如图3.15所示：当高频（100kHz左右）信号源产生的高频电压施加到一个靠近金属导体附近的电感线圈J1时，将产生高频磁场H1。如被测导体置于该交变磁场范围之内时，被测导体就产生电涡流i2。电涡流也将产生一个
新的磁场H2。H2与H1方向相反，因而抵消部分原磁场，从而导致线圈的电感量、阻抗和品质因素发生改变。i2在金属导体的纵深方向并不是均匀分布的，而只集中在金属导体的表面，这称为集肤效应（也称趋肤效应）。集肤效应与激励源频率f、工件的电导率σ、磁导率μ等有关。频率f越高，电涡流的渗透的深度就越浅，集肤效应越严重。
电涡流线圈受电涡流影响时的等效阻抗Z的函数表达式为：
Z=R+jωL=f（i1、f、μ、σ、r、x）
如果控制上式中的i1、f、μ、σ、r不变，电涡流线圈的阻抗Z就成为间距x的单值函数，这样就成为非接触地测量位移的传感器。
图3.15电涡流传感器工作原理示意图
3.5温度传感器实验模板
温度传感器实验模板如图3.16所示。具体包括：Pt100铂电阻测温、K热电偶（镍铬-镍硅热电偶）：集成电流型温度传感器AD590测温、数字温度传感器DS18B20测温电路。
图3.16温度传感器实验模板
热电式传感器是将温度变化转换为电量变化的装置。它是利用某些材料或元件的性能随温度变化的特性来进行测量的。例如将温度变化转换为电阻、热电动势、热膨胀、导磁率等的变化，再通过适当的测量电路达到检测温度的目的。把温度变化转换为电势的热电式传感器称为热电偶；把温度变化转换为电阻值的热电式传感器称为热电阻。半导体热敏电阻属于热电阻中的特殊一类。热电式传感器根据输出信号性质进行分类，还可分为模拟式温度传感器和数字式传感器两类。
本实验系统的温度传感器实验模板设置有Pt100铂热电阻实验、K型热电偶实验、集成
温度传感器AD590实验以及数字温度传感器DS18B20实验。
（1）热电阻工作原理
热电阻是中低温区最常用的一种温度检测器。它的主要特点是测量精度高、性能稳定。其中铂热电阻的测量精确度是最高的，它不仅广泛应用于工业测温，而且被制成标准的基准仪。热电阻是基于电阻的热效应进行温度测量的，即电阻体的阻值随温度的变化而变化的特性。因此只要测量出感温热电阻的阻值变化，就可以测量出温度。目前主要有金属热电阻和半导体热敏电阻两类。
热电阻测温是基于金属导体的电阻值随温度的增加而增加这一特性来进行温度测量的。热电阻大都由纯金属材料制成。目前应用最广泛的热电阻材料是铂和铜，现在已开始采用镍、锰和铑等材料制造热电阻。铂电阻精度高，适用于中性和氧化性介质，稳定性好，具有一定的非线性，温度越高电阻变化率越小；铜电阻在测温范围内电阻值和温度呈线性关系，温度线数大，适用于无腐蚀介质，超过150°C易被氧化。我国最常用的有R0=10Ω、R0=100Ω和R0=1000Ω等几种，分度号分别为Pt10、Pt100、Pt1000；铜电阻有R0=50Ω和R0=100Ω两种，它们的分度号为Cu50和Cu100。其中Pt100和Cu50应用最为广泛。Pt100分度表见附表2。
半导体热敏电阻是利用半导体材料的热敏特性工作的半导体电阻。它是用对温度变化极为敏感的半导体材料制作成的，其电阻值随温度变化而发生极为敏显的变化。热敏电阻是非线性电阻，它的非线性特性基本上表现在电阻与温度的关系不是直线关系，而是指数关系，电压、电流的变化不符合欧姆定律。
按电阻温度系数不同，热敏电阻分为正温度系数热敏电阻（PTC）和负温度系数热敏电阻（NTC）两种。在工作温度范围内，正温度系数热敏电阻的阻值随温度升高而急剧增大，负温度系数热敏电阻的阻值随温度升高而急剧减小。
DS18B20是由美国DALLAS公司生产的单总线数字式智能型传感器，它直接将温度物理
量转化为数字信号，并以总线方式传送到计算机进行数据处理。
（2）热电偶工作原理
热电偶是利用热电效应制成的温度传感器。如图3.17所示。
图3.17 热电偶工作原理示意图
所谓热电效应，就是两种不同材料的导体（或半导体）组成一个闭合回路，当两接点温度T和T0不同时，则在该回路中就会产生电动势的现象。由热点效应产生的电动势包括接触电动势和温差电动势。接触电动势是由于两种不同导体的自由电子密度不同而在接触处形成的电动势。其数值取决于两种不同导体的材料特性和接触点的温度。温差电动势是同一导体的两端因其温度不同而产生的一种电动势。其产生的机理为：高温端的电子能量要比低温端的电子能量大，从高温端跑到低温端的电子数比从低温端跑到高温端的要多，结果高温端因失去电子而带正电，低温端因获得多余的电子而带负电，在导体两端便形成温差电动势。
在实际使用热电偶中，编制出了针对各种热电偶的热电势与温度对照表，称为分度表。见附表2所示。温度按100℃分档，其中间温度值可按内差值法计算。表中均按参考端温度为0 ℃的条件取值。根据对照表，测出热电势V，查表可求得T,但是参考端是以0 ℃为基础的。若参考端温度不为0℃，如其它温度Tx,则首先测出两点间的电势Ex,再加上低温端的电势△E0,根据总电势Ex ＋△E0，求温度T=Tx+T0。
如当热端温度为t时，分度表所对应的热电势e AB(t, 0)与热电偶实际产生的热电势e AB(t,t0)之间的关系可根据中间温度定律得到： e AB(t,0)= e AB(t,t0)+e AB(t0，0)
由此可见，e AB(t0，0)是冷端温度t0的函数，因此需要对热电偶冷端温度进行补偿。补偿的方法有：补偿导线法、计算修正法、水浴法（冰点槽法）、补偿电桥法、软件处理法。
特殊情况下，热电偶可以串联或并联使用，但只能是同一分度号的热电偶，且冷端应在同一温度下。如热电偶正向串联，可获得较大的热电势输出和提高灵敏度；在测量两点温差时，可采用热电偶反向串联；利用热电偶并联可以测量平均温度。
3.6信号调理电路模板
本实验系统信号调理电路模板由三种类型电路、三个模块构成：
（1）三运放高共模抑制比放大电路，也称为仪表放大器（精密放大器），如图3.18(a)所示。反向比例放大电路的作用主要是用于放大电路的输出调零。RW9为增益调节电位。RW10为调零电位器。
（2）差分比例运算电路：可把差动传感信号转换为单一的放大的电压信号输出。可有效地抑制共模干扰电压的影响。如图3.18 (b)所示。
（3）图3.18 (c)是一个比例加法电路，其功能是将输入信号按比例放大后，在A/D参考电压的半电位点（1.25V）上下波动，同时输出电压在0～2.5之间，满足A/D转换器对输入信号电压幅值的要求。
(a)
(b) (c)
图3.18 信号调理电路模板
4传感信号数字化处理模块
传感信号数字化处理模块具体包括：MSP430F147单片机最小系统模块、4×4键盘矩阵模块、LM24016RFW液晶显示与LED显示模块、RS232串行接口模块、RS485串行接口模块。
（1）MSP430系列是由TI公司设计的一种16位精简指令集超低功耗单片机，它的工作电压在1.8V到3.6V之间。这种类型单片机上集中了许多外围模块，使它具备了构造片上系统的能力。现在MSP430系列单片机，广泛的应用于三表技术、手持设备和各种低功耗系统之中。
MSP430内部一般集成有以下一些功能模块：看门狗（WDT）、定时器A、定时器B、模拟比较器、串口0、串口1、硬件乘法器（部分型号器件）、液晶驱动器、ADC（有十位，十二位，十四位）、I/0口、基本定时器。各模块的具体介绍请参看本系统实验指导书第3章拓展型实验项目中的介绍。
（2）4×4矩阵键盘输入接口电路如图4.1所示，此电路的功能是完成相关传感器信号检测处理的限值参数设置等功能。
（3）LED与
（4）系统与上位机数据通讯可通过RS232与RS485两种通讯接口，如图4.3所示。
嵌入式系统实验箱说明书综述
EFLAG-ARM-S3C44B0 嵌入式系统实验箱说明书 北京工业大学电控学院 DSP和嵌入式系统研究室 二零零四年十月
嵌入式系统是嵌入式计算机系统的简称，以ARM为CPU的SOC系统作为嵌入式系统的硬件基础，以实时（uC/OS, VxWorks等）或非实时的(uCLinux, Linux, WinCE等)嵌入式操作系统作为软件平台。这样的嵌入式系统是一个完整的计算机系统。特别是有了嵌入式操作系统的支持以后，系统的软件开发的复杂程度大大降低。程序员在操作系统层面设计和编写程序，降低了对程序员硬件知识水平的要求，扩大的开发队伍，提高了开发速度，缩短了开发周期，增强了系统的可靠性和稳定性。 ARM是处理器，“ARM”即是ARM公司的名字，也是ARM CPU的名字。ARM公司是一家集成电路设计公司，本身不生产芯片，也不销售芯片，ARM公司向其他芯片制造厂商出售他们的设计，即IP （知识产权）。芯片制造公司（如Intel，Samsung，Atmel，Philips等）生产基于ARM处理器的SOC（片上系统）芯片。ARM公司要求，所有使用ARM处理器的芯片必须印有ARM标志。 ARM本身是CPU，不是单片机。以ARM为CPU生产的SOC芯片在内部结构上是完整的计算机系统结构，而非传统单片机的控制器结构，故以ARM为核心制造的芯片区别原有的单片机而被称之为SOC芯片。 ARM处理器被许多芯片制造大厂采用，芯片制造厂商使用ARM处理器，再整合不同的外设，生产出不同的SOC芯片，如Intel使用ARM V5TE版本处理器，添加SDRAM控制器，LCD控制器，USB控制器，串口，IIC等外设生产Xscale芯片，Xscale是Intel公司的SOC芯片，其内部使用的处理器是ARM。不同厂商基于同一个版本的ARM处理器生产的SOC芯片CPU的指令集是相同的，这就给开发人员带来了极大的便利，更大的加速了ARM处理器的市场占有率。 S3C44B0是Samsung公司生产的基于ARM7TDMI的SOC芯片，内部集成了SDRAM控制器，LCD控制器，8通道ADC，DMA控制器，8Kbyte的CACHE，IIC控制器，IIS控制器，串口，同步串口，PWM输出，定时器，PLL，中断控制器，看门狗定时器，实时时钟等资源。其工作频率可达到66MHz。 EFLAG－ARM－S3C44B0实验箱配置外设： 用于调试的JTAG端口； 直接同计算机并口相连的用于调试的JTAG仿真器； 两个9针串口； SMSC91C113 10M/100M以太网口； Philips D12 USB接口； UDA1341 IIS音频输入/输出口，板上麦克风； 2M字节的线性Flash存储器，8M字节的SDRAM，24C16IIC存储器； 5.7寸STN彩色LCD显示屏； 基于AD9850的DDS信号发生器； 四颗高亮度玫瑰红色LED； 德国进口长寿命4×4键盘（手感极好）； 外接信号接线孔。
嵌入式系统实验箱说明书
. EFLAG-ARM-S3C44B0 嵌入式系统实验箱说明书 北京工业大学电控学院 DSP和嵌入式系统研究室 二零零四年十月
一、系统概述 嵌入式系统是嵌入式计算机系统的简称，以ARM为CPU的SOC系统作为嵌入式系统的硬件基础，以实时（uC/OS, VxWorks等）或非实时的(uCLinux, Linux, WinCE等)嵌入式操作系统作为软件平台。这样的嵌入式系统是一个完整的计算机系统。特别是有了嵌入式操作系统的支持以后，系统的软件开发的复杂程度大大降低。程序员在操作系统层面设计和编写程序，降低了对程序员硬件知识水平的要求，扩大的开发队伍，提高了开发速度，缩短了开发期，增强了系统的可靠性和稳定性。 ARM是处理器，“ARM”即是ARM公司的名字，也是ARM CPU的名字。ARM 公司是一家集成电路设计公司，本身不生产芯片，也不销售芯片，ARM公司向其他芯片制造厂商出售他们的设计，即IP （知识产权）。芯片制造公司（如Intel，Samsung，Atmel，Philips等）生产基于ARM处理器的SOC（片上系统）芯片。ARM公司要求，所有使用ARM处理器的芯片必须印有ARM标志。 ARM本身是CPU，不是单片机。以ARM为CPU生产的SOC芯片在部结构上是完整的计算机系统结构，而非传统单片机的控制器结构，故以ARM为核心制造的芯片区别原有的单片机而被称之为SOC芯片。 ARM处理器被多芯片制造大厂采用，芯片制造厂商使用ARM处理器，再整合不同的外设，生产出不同的SOC芯片，如Intel使用ARM V5TE版本处理器，添加SDRAM控制器，LCD控制器，USB控制器，串口，IIC等外设生产Xscale 芯片，Xscale是Intel公司的SOC芯片，其部使用的处理器是ARM。不同厂商基于同一个版本的ARM处理器生产的SOC芯片CPU的指令集是相同的，这就给开发人员带来了极大的便利，更大的加速了ARM处理器的市场占有率。
普中科技单片机实验板使用操作说明
单片机学习的良师益友 好帮手单片机学习套件 -PRECHIN 使用手册 普中科技有限公司
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考。 单片机与嵌入式系统应用技术是一门实战性很强的学科。离开了实践就如无源之水。于是我们总结出了如下成功的公式： 理论学习＋实践＋针对问题的理论学习＋解决问题的实践＝开发工程师然而我们的大学生朋友由于受种种条件的限制，没有足够的实践机会，因此，我们为大家奉献的这套开发板，希望能成为是大家学习实践的好帮手；成为大家加速步入控制领域的好帮手。 同时，提醒在校大学生千万不要抱着毕业之后到公司去学的态度，因为企业主要目的是盈利，而培训要花费相当长的时间和精力，因此对于企业来说，更亲睐那些知识结构健全、应用经验丰富、创新能力极强的人。这正好印证了我们常说的一句话：机会总是留给那些有准备的人！抓紧准备吧，我亲爱的大学生朋友们，从知识结构、专业技能等方面塑造自己、发展自己，提高实际应用能力，以增加自己在就业时的筹码。 当然，也有很多在工作的朋友，想加入这行但还没能入这行的。那么，请抓紧宝贵的时间,行动起来吧！我们为您构建了符合社会实际需求的单片机开发平台，让您的实践直接面向实际应用，直接面向市场需求。只要掌握市场所需的技术，您一定会成为当今社会急需的人才。 为方便广大读者的学习，本说明书除有详细的操作说明外，还配有很多例程及配套光盘供大家学习参考。 作者 2008年5月 展望C51 对于51，前景是一片光明，就像4位的单片机到现在很多小的电子产品中还
北京高低温试验箱使用说明书
高低温试验箱结构及五大系统 高低温试验箱具有较宽的温度控制范围，其性能指标均达到国家标准GB10592-89高低温试验箱技术条件，适用于按GB2423.1、GB2423.2《电工电子产品环境试验试验A：低温试验方法，试验B：高温试验方法》对产品进行低温、高温试验及恒定温热试验。产品符合GB2423.1、GB2423.2、GJB150.3、GJB150.4、IEC、MIL标准。 高低温试验箱结构; (1) 试验箱箱体为整体结构形式，制冷系统位于箱体后下部，控制系统位于试验箱的上部。 (2)工作室一端的风道夹层内，分布加热器、制冷蒸发器、风叶等装置；试验箱左侧设有Ф50电缆孔，试验箱为单开门(不锈钢嵌入式门拉手) (3)采用双层耐高温抗老化硅橡胶密封，可有效保证试验箱温度的流失 (4)箱门上设有观察窗、防霜装置及可开关控制的照明灯。观察窗采用多层中空钢化玻璃,内侧胶合片式导电膜加热除霜。照明灯采用进口品牌飞利浦灯管，可有效的全方位观察工作室内的试验变化。 高低温试验箱五大系统 一、控制系统: 1.采用多款进口控制器，用户可以根据自身要求进行选择。 （1）韩国进口TIME880彩色触摸屏可程式温湿度控制器，中英文切换界面，操作简单。（2）原装进口韩国TIME300数显薄膜按键数据输入温湿度控制器，英文显示界面。 （3）进口日本“OYO”数显触摸按键温湿度控制仪，PID高精度控制，杜绝长期运行不稳定现象。 2.资料及试验条件输入后，控制器具有锁定功能，避免人为触摸而改变温度值。 3.高低温试验箱控制器具有P.I.D自动演算的功能，可将温度变化条件立即修正，使温度控制更为精确稳定。 4.可选配打印机，能打印记录设定参数和扫描出温湿度变化曲线。4~200mA标准信号。 5.传感器采用铂金电阻PT100Ω/MV。 6.具有RS-232通讯界面，可在电脑上设计程式，监视试验过程并执行自动开关机等功能。 二、制冷、加热及风路循环系统: 1.制冷系统：选用全封闭法国泰康（或半封闭德国谷轮）压缩机。采用风冷单机压缩/风冷复叠压缩制冷方式。 2.加热系统：全独立系统，镍铬合金电加热式加热器。 3.风路循环系统:采用多翼式送风机强力送风循环，避免任何死角，可使测试区域内温度分布均匀。风路循环出风回风设计，风压风速均符合测试标准，并可使开门瞬间温度回稳时间快。 4.电器控制系统：电器控制主件采用进口“施耐德”及“梅日梅兰”元件，更好的控制温度。 5.升温、降温、系统完全独立可提高效率，降低测试成本，增长寿命，减低故障率。温度控制输出功率均由微电脑演算，以达高精度及高效率用电效益。 三、安全保护系统: 无熔丝开关，防干烧装置，极限高低温保护，温度偏差报警，压缩机超压、过载、过电流保护，缺相、逆相、短路、漏电保护。 高低温试验箱满足标准 高低温试验箱执行标准; GB 10586-89湿热试验箱技术条件 GB 10592-89高、低温试验箱技术条件 GB/T10589-1989低温试验箱技术条件 高低温试验箱满足标准;
电子技术综合实验箱使用说明书
目录 一、系统简介 (1) 二、配置 (2) 三、软、硬件安装 (2) 四、系统功能介绍 (4) 五、MCU单片机小系统详述 (22) 六、ISE9.1简明教程 (36) 七、电子技术综合实验箱实验项目简介 (48) 实验一、流水灯控制实验 (48) 实验二、数码管显示实验 (50) 实验三、液晶显示实验 (52) 实验四、串行A/D实验 (53) 实验五、串行D/A实验 (54) 实验六、232通讯实验 (55) 实验七、鼠标键盘驱动及VGA显示实验 (57) 实验八：简易电子琴实验 (61) 实验九：音乐回放实验 (62) 实验十：等精度频率计实验 (62) 实验十一：DDS实验 (64) 实验十一：扩展部分实验（只提供方案） (66) 实验一、数字存储示波器 (66) 实验二、频谱分析仪 (68) 八、ISE9.1i安装步骤 (73)
电子技术综合实验箱使用说明书 一、系统简介 电子技术综合实验箱是由鑫三知科教设备研发的，以单片机与FPGA为核心的综合实验系统。主要适用于各高校参加全国大学电子竞赛的赛前辅导，以及本科生的单片机与FPGA 的入门级教学，同时该实验系统也可作为研究生、中小企业的电子工程师等使用者的开发平台和辅助培训工具。开发工程师可使用VHDL语言、Verilog语言、原理图或方程式，结合Xilinx集成开发环境开发FPGA的应用，使用C语言或汇编语言开发单片机应用程序。 二、配置 2.1 基本配置 ★ 1. 5V、3.3V、1.8V板上电源 ★ 2. 40万门SpartanⅢ XC3S400 FPGA ★ 3. 支持JTAG、Slave Serial、Select MAP等多种加载模式 ★ 4. 支持FPGA EEPROM配置，EEPROM芯片为XCF02S ★ 5. 置50MHZ晶振，满足高速设计要求 ★ 6. 以STC89c58RD+为核心的单片机最小系统 ★ 7. 高速AD/DA模块 ★ 8. 支持标准RS232串行接口 ★ 9. PS2键盘接口、PS2鼠标接口，支持3D、4D滚轮鼠标 ★ 10. VGA监视器接口，支持800×600、1600×1200或自定义分辨率 ★ 11. 12864点阵LCD显示（可选） 2.2 可选配置 ★ 12. 大容量高速SRAM模块，容量128KB ★ 13. 直接数字合成DDS模块 ★ 14. 语音处理模块 三、软、硬件安装 3.1 开发套件容 ★电子技术综合实验箱； ★ FPGA下载线； ★串口电缆； ★用户手册(含原理图和元器件清单)； ★ CD-ROM（含ISE7.1、ModelSim6.0、Keilc51、ISPlay v1.5开发软件（数据手册）； 3.2 电子技术综合实验箱各模块基本配置： ◎底板： ★ +12V、-12V、5V、-5V、3.3V、1.8V电源 ★ VGA显示接口 ★ PS2鼠标、键盘接口 ★ RS232串行通信接口 ★音频输入/输出接口
单片机实验箱的使用
前言 本实验教材是根据教育部《关于加强高等学校本科教育工作提高教学质量的若干意见》文件精神和《高等学校国家级实验教学示范中心建设标准》，并考虑到精品课建设要求编写的一套适应21 世纪教学改革要求的实验教材。 由于单片机具有高可靠性、超小型、低价格、容易产品化等特点，在仪器仪表智能化、实时工业控制、实时数据采集、智能终端、通信设备、导航系统、家用电器等控制应用领域，具有十分广泛的用途。由于目前在国内单片机应用中，MCS-51系列单片机仍然是一种主流单片机，所以本实验指导书为学习MCS-51单片机的学生和广大的工程技术人员，配合《单片机原理及应用》课程的教学，结合一种单片机仿真开发型实验系统编写了这本实验指导书。 《单片机原理及应用》是一门实践性很强的课程，提高教学质量的一个重要环节是上机实习和训练，无论是学习汇编语言程序设计，还是学习接口电路和外设与计算机的连接，或者软硬兼施地研制单片机应用系统，不通过加强动手是不能获得预期效果的。本实验指导书提供10个实验的指导性材料，有些实验还有一些有一定难度的选做项目，可以根据课时的安排和教学要求进行取舍。为了达到某些实验的目的，书中提供的参考程序与实际应用中的程序会有些差别，所以不一定是最优的。 本实验指导书由朱斌老师编写，并由王玉平老师、谭勇老师等协助上机验证程序的正确性，2006级的部分同学也协助做了一些工作，特此致谢。 由于编者水平有限，加上编者学识有限，书中如有不妥之处，敬请读者批评指正。 编者 2007.3编写
目录 第一章DVCC单片机实验系统简介 (1) 1.1 系统的性能指标 (1) 1.2 系统性能指标 (2) 1.3 系统提供的主要实验项目 (3) 1.4 系统的连接 (4) 1.5 键盘显示简介 (5) 1.6 系统资源的使用 (6) 第二章DVCC单片机实验系统安装与启动 (16) 2.1 系统硬件安装............................................................................................................................ 2.2 系统软件的安装........................................................................................................................ 2.3 系统启动.................................................................................................................................... 第三章实验系统软件使用说明. (18) 3.1主界面......................................................................................................................................... 3.2文件编辑部分............................................................................................................................. 3.3 调试部分.................................................................................................................................... 3.4 窗口部分.................................................................................................................................... 3.5 工具栏........................................................................................................................................ 实验一单片机开发系统的使用................................................................. 错误！未定义书签。实验二MCS-51单片机I/O口实验........................................................... 错误！未定义书签。实验三数据排序实验................................................................................. 错误！未定义书签。实验四字符串查找实验............................................................................. 错误！未定义书签。实验五交通灯控制实验............................................................................. 错误！未定义书签。实验六D/A转换实验................................................................................. 错误！未定义书签。实验七流水灯设计..................................................................................... 错误！未定义书签。实验八小直流电机调速实验..................................................................... 错误！未定义书签。实验九继电器控制实验............................................................................. 错误！未定义书签。
高低温试验箱说明书
高低温试验箱说明书 一、产品规格 型号:KHG-100 内型尺寸:D×W×H 450×450×500 型号: KHG-225 内型尺寸:D×W×H 500×600×750 型号: KHG-500 内型尺寸:D×W×H 800×700×900 型号: KHG-010 内型尺寸:D×W×H 1000×1000×1000 型号: KHG-013 内型尺寸: D×W×H 1000×1000×1300 二、技术指标： 1、温度范围：-20℃～150℃、-40℃～150℃、-60℃～150℃、-70℃～150℃ 2、温度均匀度：≤±2℃（空载时） 3、温度波动度：±0.5℃（空载时） 4、温度偏差:≤±2℃ 5、降温速率：0.7～1.2℃/min 6、升温速度：1.0～3.0℃/min 7、时间设定范围：0～999 小时 8、噪音：＜65dB 三、结构简介： 1、外胆均采用优质（t=1mm）A3钢板数控机床加工成型，外壳表面进行喷塑处理，更显光洁、美观。 2、内胆采用进口高级不锈钢（SUS304）镜面板。 3、保温材质:高密度玻璃纤维棉.保温厚度为100mm 4、温湿度循环系统:采用特制空调型低噪音长轴风扇电机，耐高低温之不锈钢多翼式叶轮,以达强度对流垂直扩散循环。 5、门与箱体之间采用双层耐高温之高张性密封条以确保测试区的密闭 6、采用无反作用门把手，操作更容易 7、机器底部采用高品质可固定式PU活动轮. 8、观察窗采用多层中空钢化玻璃,内侧胶合片式导电膜加热除霜（清楚观察试验过程） 9、测试孔(机器左侧)可外接测试电源线或信号线使用(孔径或孔数须增加需指示) 四、加热系统 1、采用远红外镍合金高速加温（2KW×2）电加热器 2、高温完全独立系统，不影响低温试验、高温试验及交变湿热 3、温湿度控制输出功率均由微电脑演算，以达高精度及高效率之用电效益 五、电路控制系统 1、进口数显触摸按键，PID微电脑SSR温度控制器（日本RKC仪表）； 2、精度：0.1℃(显示范围) 3、解析度：±0.1℃； 4、感温传感器：PT100铂金电阻测温体； 5、控制方式：热平衡调温调湿方式；所有电器均采用（施耐德）系列产品 6、温度控制采用P . I . D＋S.S.R系统同频道协调控制 7、具有自动演算的功能，可将温度变化条件立即修正，使温湿度控制更为精确稳定 8、控制器操作界面设中英文可供选择，实时运转曲线图可由屏幕显示
实验箱使用说明书
传感信号检测与转换实验箱 使用说明书 “传感信号检测与转换实验箱”研制项目组 2013年1月
传感信号检测与转换实验箱 使用说明书 1、实验箱的组成 系统硬件主要由三部分构成：电源模块、传感信号检测转换调理模块、传感信号数字化处理模块。三个模块各自分立，相互间通过信号线连接。上位机为PC机。 2、系统电源模块 系统电源模块具体由传感信号检测转换调理模块供电电路和传感信号数字化处理模块供电电路两部分构成。工作原理为交流变直流。为确保系统用电安全和模拟电路与数字电路两区域的完全的电气隔离，提高系统电路本身的抗电气干扰性能，采用了双绕组输出的单相隔离变压器。 模拟电路模块供电直流稳压电源：±15V，±5V。 数字电路模块供电直流稳压电源；+5V，+3.3V 3、传感信号检测转换调理模块 传感信号检测转换调理模块电气部分具体包括：霍尔传感器实验模板、电容传感器实验模板、温度传感器实验模板、电涡流传感器实验模板、应变片实验模板、以及三种不同性能与增益信号调理电路模板。具体布局见图3.1所示。 图3.1传感信号检测转换调理模块布局图
3.1应变片实验模板 应变片式传感器实验模板如图3.2所示。 图3.2应变片式传感器实验模板 实验模板中的R1、R2、R3、R4为金属箔式电阻应变片，没有文字标记的5个电阻符号下面是空的，其中4个组成电桥模型是为实验者组成电桥方便而设，面板上虚线所示电阻为虚设，仅为组桥提供插座。具体包括：应变片式单臂电桥连接电路、应变片式半桥连接电路、应变片式全桥连接电路。图中的实线表示电路连接线。 本实验系统中4片金属箔式电阻应变片已安装在平行式悬臂梁上，如图3.3所示。左上角应变片为R1；右下角为R3；左下角为R4；右上角为R2。当传感器托盘支点受压时，R1、R3阻值增加，R2、R4阻值减小，可用四位半数显万用进行测量判别。常态时应变片阻值为350Ω。加热电阻也已安装在悬臂梁下面，加热丝电阻值为50Ω左右。 此4片应变片已连接在应变片式传感器实验模板上方的R1、R2、R3、R4上。 图3.3金属箔式电阻应变片安装示意图
EDA实验箱手册
EDA实验箱使用手册 https://www.wendangku.net/doc/3b17491986.html,
第一章 GW48 SOC/EDA 系统使用说明 第一节 GW48教学实验系统原理与使用介绍 一、GW48系统使用注意事项 a ：闲置不用GW48 EDA/SOC 系统时，关闭电源，拔下电源插头！！！ b ：EDA 软件安装方法可参见光盘中相应目录中的中文README.TXT ；详细使用方法可参阅本书或《EDA 技术实用教程》、或《VHDL 实用教程》中的相关章节。 c ：在实验中，当选中某种模式后，要按一下右侧的复位键，以使系统进入该结构模式工作。 d ：换目标芯片时要特别注意，不要插反或插错，也不要带电插拔，确信插对后才能开电源。其它接口都可带电插拔（当适配板上的10芯座处于左上角时，为正确位置）。 e ：对工作电源为5V 的CPLD （如1032E/1048C 、95108或7128S 等）下载时。最好将系统的电路“模式”切换到“ b ”，以便使工作电压尽可能接近5V 。 g: GW48详细使用方法可参见《EDA 技术实用教程》配套教学软件*.ppt 。 h:主板左侧3个开关默认向下，但靠右的开关必须打向上（DLOAD ），才能下载。 i:跳线座“SPS ” 默认向下短路（PIO48）；右侧开关默认向下（TO MCU ）。 j:左下角拨码开关除第4档“DS8使能”向下拨（8数码管显示使能）外，其余皆默认向上拨。 二、GW48系统主板结构与使用方法 附图1-1A 为GW48-CK 型EDA 实验开发系统的主板结构图（GW48-GK/PK 型未画出，具体结构说明应该参考实物主板），该系统的实验电路结构是可控的。即可通过控制接口键SW9，使之改变连接方式以适应不同的实验需要。因而，从物理结构上看，实验板的电路结构是固定的，但其内部的信息流在主控器的控制下，电路结构将发生变化。这种“多任务重配置”设计方案的目的有3个：1.适应更多的实验与开发项目；2. 适应更多的PLD 公司的器件；3. 适应更多的不同封装的FPGA 和CPLD 器件。系统板面主要部件及其使用方法说明如下（请参看相应的实验板板面和附 图1-1A ）。 以下是对GW48系统主板功能块的 注释，但请注意，有的功能块仅GW48-GK 获GW48-PK 系统存在： （1） SW9 ：按动该键能使实 验板产生12种不同的实验电路结构。这些结构如第二节的13 张实 验电路结构图所示。例如选择了“NO.3”图，须按动系统板上的 SW9键，直至数码管SWG9显示“3”，于是系统即进入了NO.3 图所示的 附图1-1B 、GW48-GK/PK 系统目标板插座引脚信号图
高低温试验箱维护保养方法
高低温试验箱维护保养方法 恒温恒湿试验箱日常维护保养 1、机身周围和底部的地面要随时保持清洁； 2、机器在操作前应先将内部杂质(物)清除;实验室内每年至少清洁一次以上； 3、开关门或从箱内取测试物时,不得让物品与门密封条接触； 4、当试验产品时间到达后取产品时，必须在关机状态下进行取放产品。 5、制冷系统是恒温恒湿试验箱的核心，务必半年巡检一次所有铜管有无泄漏等情况,各功能接头、焊接口，如有油渍外泄，必须立即处理; 6、冷凝器应定期保养，保持清洁。灰尘粘糊冷凝器会使压缩机高压开关跳脱而产生误报警，冷凝器应定期每月保养，利用真空吸尘器将冷凝器散热网片上附着之其尘吸除或开机后使用质硬的毛刷刷之或用高压气嘴吹干净灰尘。 7、每次试验结束，建议用清水清洗干净试验箱体，以保持设备的清洁；箱体清洁后，应对箱体进行烘干，保持箱体干燥； 8、.电路断路器、超温保护器，提供本机测试品以及操作者的安全保护，故请定期检查； 请广大用户详细阅读说明书，方可操作本机。 雅士林品牌恒温恒湿试验箱技术资料请参阅 恒温恒湿试验箱规格型号:
型号工作室尺寸D×W×H 外型尺寸D×W×H YSL-DHS-100 450×450×500mm 1150×900×1650mm YSL-DHS-225 500×600×750mm 1200×1100×1900mm YSL-DHS-500 800×700×900mm 1350×1280×2200mm YSL-DHS-800 800×1000×1000mm 1450×1480×2300mm YSL-DHS-010 1000×1000×1000mm 1650×1480×2300mm 恒温恒湿箱技术参数： 温度范围：0℃～150℃ 温度均匀度：±2℃（空载时） 温度波动度：±0.5℃（空载时） 湿度范围：30%～98% RH（温度在25℃～80℃时） 湿度偏差：+2、-3% RH 升温速率：1.0℃～3.0℃/min 降温速率：0.7℃～1.0℃/min 时间设定范围：1～9999 小时 恒温恒湿箱使用条件: 1、安装场地 地面平整，通风良好 设备周围无强烈振动 设备周围无强电磁场影响 设备周围无易燃、易爆、腐蚀性物质和粉尘 设备周围留有适当的使用及维护空间，
冰箱测试系统使用说明书
冰箱测试系统使用 说明书 1
冰箱测试系统使用说明书
第一章，设备框图 1.1计算机局域网图：由服务器、交换机、登录验关电脑、后台查询 电脑、返修查询电脑、静态抽检电脑构成一个客户机服务器系统结构。如图1所示。 1.2，动态测试子系统框图：
1.3，静态测试子系统框图：
第二章，系统概述： 本系统是为XX公司设计、制造的专用冰箱制冷性能检测系统，系统能够在线检测220v/50Hz、冰箱制冷性能，系统检测项目为：冰箱制冷温度（箱内4路，管路2路，）、冰箱的有效功率、电流、电压、功率因数等，检测工位：动态120个、静态40个；整个系统分为3部分，⑴计算机局域网。⑵动态测试子系统。⑶静态测试子系统。 2.1计算机局域网。采用5台计算机、1台服务器、一个交换机组成 一个小型局域网进行数据管理。 1台测试系统应用服务器，负责整个计算机局域网的文档管理。 1台动态验关计算机，负责动态子系统的登录和验关，以及动态 163个测试盒的数据采集处理。
1台静态计算机，负责静态测试房60台测试盒的数据采集与处理。 1台后台管理计算机，进行冰箱标准建模、查询、统计等； 1台维修计算机，负责维修工位的信息采集管理 1台入库计算机，负责入库的冰箱数据采集管理。 2.2动态测试子系，包括163个能够采集冰箱性能参数并与动态基站 进行无线数据交换的测试盒，一个无线电的数据收发基站，1个 在登录位置的光电开关，1台有2个显示器的验关计算机。 2.3静态测试子系统，包括60个能够采集冰箱性能参数并与动态基站 进行无线数据交换的测试盒，一个无线电的数据收发基站,1台静态计算机 第三章，动态测试子系统 3.1动作流程 如图所示，动态测试过程流程图如下：
盐雾试验箱使用说明书
、八 前 首先，感谢贵单位对本公司YWX/Q- 系列盐雾腐蚀试验箱的厚爱，以及对本公司事业的大力支持！ 市场的竞争，产品质量的要求，推动了环境研究的发展，反过来环境研究的进步，又促进材料产品质量的提高。可喜的是，我国企业界已认识到：产品的环境适应性试验，是产品质量考核的一个重要手段，环境试验结果的反馈，是提高产品质量的重要依据——事实上，环境试验考核产品质量，已成为现代企业一个必备的程序。 在环境适应性试验设备的研究和开发方面，我们遵循客观规律，以严格的标准，精心制作。从而保证了设备的精确性、可靠性和实用性。 为使贵单位能够迅速了解和正确使用本系列设备，我们精心编制这册使用说明书。在贵单位启用本系列设备时，请充分阅读， 并务必遵循说明书中所列安全注意事项和操作方法，以防止本系列设备的损坏，保证使用的安全和试验的质量。
一、产品概述 1、盐雾试验箱，可以模拟海洋及自然环境中自由沉降的盐雾空气，或则模拟汗水等工作环境。这种试验适合于有较强抗腐蚀作用的多层组合镀层，例如铜镍铬镀层或多层镍镀层等方面。 2、本系列产品适用于下列试验 A :中性盐雾试验（NSS） B :醋酸盐雾试验（ASS） C :铜盐加速乙酸盐雾试验（CASS）
（环境温度10-35C，气压86-106Kpa条件下） 1、型号：YWX/Q-750 2、工作室尺寸（mm ）: 740X1100）500 （长瀝湛） 3、温度范围：35?55C 4、温度波动度：±）5C 5、温度均匀度：i2C 6、盐雾沉降量：1?2ml/80cm2h 7、喷雾方式：塔式喷雾方式 8、工作方式：连续或周期喷雾任选
高低温试验箱使用说明书
高低温试验箱使用说明书 尊敬的用户： 感谢您选用巨为仪器高低温试验箱，在使用本产品前，请详细参阅操作说明书，相信它能让您的试验发挥最大的功效。阅读完本说明书后，请将其妥善保管，以便随时查阅。 高低温试验箱使用条件: 1、安装场地 地面平整，通风良好 设备周围无强烈振动 设备周围无强电磁场影响 设备周围无易燃、易爆、腐蚀性物质和粉尘 设备周围留有适当的使用及维护空间， 2、供电条件 电源要求：AC380V±10%50±0.5Hz三相五线制 预装功率：总功率+2.0KW 要求用户在安装现场为设备配置相应容量的空气或动力开关，并且此开关必须是独立供本设备使用（建议电源开关容量：32A） 3、环境条件 环境温度：5℃～＋30℃（24小时内平均温度≤30℃） 环境湿度：≤85%RH 4、供水条件（仅限湿热型及需要用水设备） 采用纯净水、蒸馏水、去离子水。电阻率≥500Ω.m 5、其它注意事项 试验过程中打开试验箱的门，会造成箱内的温、湿度波动；在试验过程中如果多次打开门或长时间敞开门或试验样品散发湿汽，可能会造成制冷系统换热器结冰而无法正常工作 高低试验箱用途 该产品用于高、低温的可靠性试验。对电子电工、汽车摩托、航空航天、橡胶、塑胶、金属、船舶兵器、高等院校、科研单位等相关产品的零部件及材料在高、低温变化的情况下，检验其各项性能指标。 高低温试验箱参照标准 GB/T2423.1-2008试验A《低温试验方法》；GB/T2423.2-2008试验B《高温试验方法》；以及其它相关标准的要求，可进行各种高低温环境试验
【巨为品牌】高低温试验箱规格型号 型号规格工作室尺寸mm 外形尺寸mm 温度范围JW-2005450×450×5001150×1050×1750A:-20℃～150℃B:-40℃～150℃C:-60℃～150℃D:-80℃～150℃ JW-2006500×600×7501200×1100×1900JW-2007700×800×9001450×1400×2150JW-2008800×1000×10001500×1550×2200JW-2009 1000×1000×1000 1720×1580×2280 高低温试验箱技术参数温度均匀度：±2℃（空载时）温度波动度：±0.5℃（空载时）升温速率：1.0℃～3.0℃/min 降温速率：0.7℃～1.0℃/min 时间设定范围：1～9999小时 高低温试验箱箱体结构 设备外壳采用优质A3钢板数控机床加工成型，外壳表面进行喷塑处理，更显光洁、美观；内胆材质为SUS304优质不锈钢板； 保温材质为高密度玻璃纤维棉(厚度100mm)，使室内温度不会传导到设备外部，确保箱内温度平衡稳定； 箱门合理的位置设置一个透明窗口，用以观测室内试样的变化。观察窗采用多层中空钢化玻璃,内侧胶合片式导电膜，具有透明、隔热、不易产生蒸汽结霜等优点； 搅拌系统采用长轴风扇电机，耐高低温之不锈钢多翼式叶轮,以达强制对流垂直扩散循环，使实验室内的温湿度均匀并保持稳定； 设备的门与箱体之间采用双层耐高低温之高张性密封条以确保测试区的密闭。并采用无反作用门把手，操作更容易 引线测试孔(机器左侧)可外接测试电源线或信号线使用(直径50mm ，标配一个)；高低温箱控制系统 温度控制仪表采用（韩国三元）进口数显高精度集成控制器；精度：0.1℃(显示范围)； 温度传感器：PT100铂金电阻测温体；控制方式：热平衡调温方式； 温度控制采用P ·I ·D ＋S ·S ·R 系统同频道协调控制； 具有自动演算的功能，可将温度变化条件立即修正，使温度控制更为精确稳定。高低温试验箱制冷系统 压缩机：全封闭法国泰康；制冷方式：双机复迭制冷；冷凝方式：强制风冷； 制冷剂：R404A 、R23（环保型）； 全系统管路均作通气加压48H 捡漏测试；加温、降温系统完全独立；内螺旋式冷媒铜管；
数字电路实验箱使用说明
数字电路实验箱使用说明 本实验箱可以完成数字电路课程实验，由实验板和保护箱组成。该实验箱的实验板采用独特的两用板工艺，正面贴膜，印有原理图及符号，反面为印制导线并焊有相应元器件，需要测量及观察的部分装有自锁紧式接插件，使用直观、可靠。 一、技术性能及配置 1、电源 输入: AC220V 士10 ％。 输出: DC 5V/1A、DC 1、25V ～15V/0、2A (两路) 有过载保护及自动恢复功能。 2、信号源 单脉冲:为消抖动脉冲，可同时输出正负两个脉冲，前后沿≤20ns ，脉冲宽度≤0、2μs ，脉冲幅值为TTL 电平。 连续脉冲：两组，一组为4 路固定频率的方波。其频率分别为200KHZ 、100KHz、50KHz、25KHz 。另一组为: 1Hz～5KHz 连续可调方波，分二档由开关切换，两路输出均为TTL 电平。 3、八组逻辑电平开关:可输出“O”、“1”电平。置于H时输出为+5V，置于L时输出为0。 4、八位电平显示:由红色LED 及驱动电路组成。当政逻辑“1”电平送入时LED亮，反之不亮。 5、数码显示:由二位7段LED数码管及二一十进制译码器组成。 6、元件库:由开关、电位器、扬声器、二极管、阻容元件构成, 其参数均在面扳上标明。 7、圆孔型双列直插式集成电路插座: 14脚10只，16只脚3只，20 脚1 只。 二、电路原理 本实验箱有电源、信号源、电平指示、电平开关、数码管等部分组成。相应电路及器件在面板背面的印制电路板上。 三、使用方法 1、将标有220V的电源插入市电插座，接通开关，面板指示灯亮，表示实验箱电源正常工作。 2、连接线：实验箱面板上的插孔应使用专用的连接线，该连接线插头可叠插使用，顺时针向下旋转即锁紧，逆时针向下旋转即可松开。拔出时不要直接拉导线。 3、面板上IC插座均未接电源，实验时应按插入IC的引脚接好相应的电源线才能正常工作。 4、IC插入插座前应调整好双列引线间距，仔细对准插座后均匀压入，拔出时需用螺丝刀从旁边轻轻翘起。 5、实验时应先阅读实验指导书，在断开电源开关的状态下按实验线路接好连接线（实验中用到可调直流电源时，应在该电源调到实验值在接到实验电路中），检查无误后接通电源。 6、实验时要更改接线或元器件，应先关断电源开关，插错或多余的线要拔去，不能一端插在电路上，另一端悬空，防止碰到电路其他部分。 为保证实验顺利进行，要注意所有集成电路的使用规则，特别是对输入空端和多余电路单元要按规定接相应电平。
零下60℃低温试验箱操作说明书
使用前请详细阅读说明书 HS-DW-60 低温试验箱 使 用 说 明 书 上海和晟仪器科技有限公司
一、用途与特点 本设备适用于各种产品的低温速冻试验,如化工，物理，医药，仪器，仪表，电器，海洋生物等，疫苗血清的低温存放，微生物的研究和培养，药品的试验和储存，建筑材料的低温检测等，本仪器由名牌进口压缩机、冷凝器、过滤器、毛细管，蒸发器恒温槽数显仪表数码控温系统等组成。本机制冷速度快噪音小，使用可靠方面。 二、技术参数 本仪器容积：115L 最低温度：-60℃ 控温精度（均匀性）：±2℃ 电源：AC220V、50Hz 环境温度：0-23℃ 相对湿度：不大于75% 三、结构特点 该仪器选用上开门，加厚保温层,对低温保持效果好，实验方便，恒温槽采用防腐性较强的合金板，外用优质钢板制作，中间充聚胺脂保温材料。 四、注意事项 1、仪器不允许在有潮湿及腐蚀性气体的环境中存放与使用。第一次使用（长时间未用情况下）本机必须工作2小时后方
能做检测，以免第一次使用数值不准确。 2、由于某些原因断电或停电，就立即关掉电源开关，若需要新启动，必需间隔30分钟以上方能开机使用，以免急速 的间隙，以保证冷气流动，降温均匀。 2、在试验湿度较高物件和易失水份的物件，请用密封胶好的食品袋或保鲜纸包好放入，以防水份跑出，在工作室内结
霜，影响制冷。 3、严禁在冷冻箱内存放易挥发、燃烧的气体、液体，如强碱、强酸、汽油、酒精等物品。 4、一次放入的试样不能多，否则会使压缩机长时间不停机而且箱内温度下降缓慢，反而达不到要求。 5、工作完毕后，切断电源，取出已冷冻样品，打开冷冻箱门让其自然升温，化霜层融化，将水放出用软布吸干擦净。六．使用方法： 1、在使用速冻箱之前，仔细阅读使用说明书。 2、开机前检查：A)速冻箱必须有独立的电源插座及可靠接地。电压允许波动范围220-240V，频率49-51HZ。B)在接通外电源之前，必须首先检查面板上开关，保证面板上开关处于关机状态。 3、开机：插上电源，同时将面板上电源开关置开机状态，此时显示表头显示出箱体温度值。电脑温控器设定的延时启动时间过后压机开始运转。 4、工作：待温度达到要求后，迅速，逐渐将储存物品均匀放入箱内。 5、停机：使用完毕后，需要停机时，必须首先将面板上电源开关置关机状态（显示器灭）然后切断外接电源。 七、维修与保养：
单片机开发板操作手册.
单片机开发板操作手册 一、概述 1，多功能单片机开发板，板载资源非常丰富，仅是包括的功能（芯片）有：步进电机驱动芯片ULN2003、 八路并行AD转换芯片ADC0804、 八路并行DA转换芯片DAC0832、 光电耦合（转换）芯片MOC3063、 八路锁存器芯片74HC573、 实时时钟芯片DS1302及备用电池、 IIC总线芯片A T24C02、 串行下载芯片MAX232CPE， 双向可控硅BTA06-600B、 4*4矩阵键盘、 4位独立按键、 DC5V SONGLE继电器、 5V蜂鸣器、 八位八段共阴数码管 5V稳压集成块78M05 八路发光二极管显示 另还有功能接口（标准配置没有芯片但留有接口，可直接连接使用）：单总线温度传感器DS18B2接口、 红外线遥控接收头SM003接口8、 蓝屏超亮字符型液晶1602接口、 蓝屏超亮点阵图形带中文字库液晶12864接口、 2（4）相五线制小功率步进电机接口、 外接交流（7V-15V）电源接口 USB直接取电接口 镀金MCU晶振座 40DIP锁紧座 外接电源和5V稳压电源的外接扩展接口及MCU所有IO口扩展2，可以完成的单片机实验： 1、LED显示实验（点亮某一个指示灯、流水灯）， 2、八位八段数码管显示实验（你可以任意显示段字符和数字以及开发板所有功能芯 片的显示）， 3、液晶显示（1602液晶显示、12864点阵中文图形液晶显示、可以显示出开发板所 有功能芯片的操作）， 4、继电器的操作 5、蜂鸣器的操作（你可以编写程序让它发出美妙动听的歌声） 6、可控硅的操作（胆大的朋友就利用这一独有的功能吧，你见过实验室温度实验箱 没有，它的驱动就是这样的；聪明的朋友就可以自己写个程序把把加热温度温 度恒定在（X±0.5）度的范围内了 7、步进电机的操作（这个是迈向自动化控制的第一步，现在的数控机床、机器人呀