动态氮吸附孔径分布测试的原理和方法

动态氮吸附孔径分布测试的原理和方法

许多超细粉体材料的表面是不光滑的，甚至专门设计成多孔的，而且孔的尺寸大小、形状、数量与它的某些性质有密切的关系，例如催化剂与吸附剂，因此，测定粉体材料表面的孔容、孔径分布具有重要的意义。国际上，一般把这些微孔按尺寸大小分为三类：孔径≤2nm为微孔，孔径=2~50nm为中孔，孔径≥50nm为大孔,其中中孔具有最普遍的意义。

用氮吸附法测定孔径分布是比较成熟而广泛采用的方法，它是用氮吸附法测定BET比表面的一种延伸，都是利用氮气的等温吸附特性曲线：在液氮温度下，氮气在固体表面的吸附量取决于氮气的相对压力（P/P

），P

为氮气分压，P

0为液氮温度下氮气的饱和蒸汽压；当P/P

在0.05~0.35范

围内时，吸附量与（P/P

）符合BET方程，这是氮吸附法测定粉体材料比

表面积的依据；当P/P

≥0.4时，由于产生毛细凝聚现象，即氮气开始在微孔中凝聚，通过实验和理论分析，可以测定孔容、孔径分布。所谓孔容、孔径分布是指不同孔径孔的容积随孔径尺寸的变化率。

所谓毛细凝聚现象是指，在一个毛细孔中，若能因吸附作用形成一个凹形的液面，与该液面成平衡的蒸汽压力P必小于同一温度下平液面的饱

和蒸汽压力P

，当毛细孔直径越小时，凹液面的曲率半径越小，与其相平

衡的蒸汽压力越低，换句话说，当毛细孔直径越小时，可在较低的P/P

压力下，在孔中形成凝聚液，但随着孔尺寸增加，只有在高一些的P/P

0压力下形成凝聚液，显而易见，由于毛细凝聚现象的发生，将使得样品表面的吸附量急剧增加，因为有一部分气体被吸附进入微孔中并成液态，当固体表面全部孔中都被液态吸附质充满时，吸附量达到最大，而且相对压

力P/P

也达到最大值1。相反的过程也是一样的，当吸附量达到最大（饱和）的固体样品，降低其相对压力时，首先大孔中的凝聚液被脱附出来，随着压力的逐渐降低，由大到小的孔中的凝聚液分别被脱附出来。

设定粉体表面的毛细孔是圆柱形管状，把所有微孔按直径大小分为若干孔区，这些孔区按大到小的顺序排列，不同直径的孔产生毛细凝聚的压

力条件不同，在脱附过程中相对压力从最高值（P

）向下降低时，先是大孔后再是小孔中的凝聚液逐一脱附出来，显然可以产生凝聚现象或从凝聚态脱附出来的孔的尺寸和吸附质的压力有一定的对应关系，凯尔文方程给出了这个关系：

r

k = -0.414 log(P/P

) (1)

r

K 叫凯尔文半径，它完全取决于相对压力P/P

，即在某一P/P

下，开

始产生凝聚现象的孔的半径，同时可以理解为当压力低于这一值时，半径

为r

K

的孔中的凝聚液将气化并脱附出来。

进一步的分析表明，在发生凝聚现象之前，在毛细管臂上已经有了一

层氮的吸附膜，其厚度（t）也与相对压力(P/P

)相关，赫尔赛方程给出了这种关系：

t = 0.354[-5/ln(P/P

)]1/3 (2)

与P/P

0相对应的开始产生凝聚现象的孔的实际尺寸（r

p

）应修正为：

r

p = r

k

+ t (3)

显然，由凯尔文半径决定的凝聚液的体积是不包括原表面t厚度吸附

层的孔心的体积，r

K 是不包括t的孔心的半径，因此以下把r

k

表示为r

c

,

下标c代表“心”。

现在来分析不同孔径的孔中脱附出的氮气量，最终目的是反过来从脱附氮气量反推出这种尺寸孔的容积。

第一步，氮气压力从P

0开始，下降到P

1

,这时尺寸从r

C0

到r

C1

孔的孔

心凝聚液被脱附出来，设这一孔区的平均孔径为r

C1

,那么该孔区的孔心容

积（V

C1）,实际孔容积（V

P1

）及孔的表面积（S

P1

）可分别由下式求得：

V

C1 = πr

C1

2 L

1

(5)

V

p1 = πr

p1

2 L

1

(6)

S

p1 = 2 πr

C1

L

1

(7)

上三式中L

1为孔的总长度，r

C1

、r

p1

可通过凯尔文方程(1)和赫尔赛方程(2)

得出。用(6)除以(5)和(7)除以(6)后，第一孔区的孔的容积和表面积为：

V

P1 =（r

P1

/ r

C1

）2. V

C1

(8)

S

P1= 2 V

P1

/r

P1

(9)

（8）式和（9）式表明，只要通过实验求得，压力从P

0降至P

1

时，样品脱

附出来的氮气量,再把这个气体氮换算为液态氮的体积V

c1

,便可求得尺寸

为r

0到r

1

的孔的容积及其表面积。

第二步，把氮气分压由P

1

降至P

2

，这时脱附出来的氮气包括了两个部

分:第一部分是r

p1到r

p2

孔区的孔心中脱附出来的氮气，第二部分是上一孔

区（r

p0~r

p1

）的孔中残留的吸附层中的氮气由于层厚的减少(△t

2

=t

1

-t

2

）所

脱附出来的氮气，因此第二孔区中脱附出来的氮气体积V

C2、孔体积（V

P2

）

和孔面积（S

g2

）为：

V

C2 = πr

C2

2 L

2

+ S

p1

△t

2

(10)

V

p2 = πr

p2

2 L

2

(11)

S

p2 = 2 πr

C2

L

1

(12)

同样经过简单处理后,第二孔区的孔容积和比表面积为：

V

P2=（r

p2

/r

C2

）2[V

C2

- S

P1

△t

2

] (13)

S

P2=2V

P2

/r

p2

(14)

上式（13）中的V

C2是压力由P

1

变为P

2

后，固体表面脱附出的氮气并

折算成液体的体积。

以此类推，第i个孔区即r

p（i-1）~r

pi

时，该孔区的孔容积△V

pi

及表面

积△S

pi

为：

△V

pi = （r

pi

/r

ci

）2[△V

ci

-2△t

i∑

-

=

1

1

i

j

△V

pj

/r

pj

] (15)

△S

pi = 2△V

pi

/r

pi

(16)

公式（15）的物理意义是很清楚的，△V

pi

是第i个孔区，即孔半径从

r

p（i-1）到r

pi

之间的孔的容积，V

ci

是相对压力从P

（i-1）

降至P

i

时固体表面脱

附出来的氮气量并折算成液氮的体积，从气体氮折算为液体氮的公式如下：

V

液= 1.547×10-3V

气

(17)

最后一项是大于r

pi 的孔中由△t

i

引起的脱附氮气，它不属于第i孔

区中脱出来的氮气，需从V

ci 中扣除；（r

pi

/r

ci

）2是一个系数，它把半径为

r c的孔体积转换成r p的孔体积。当孔径很小时，由△t引起的气体脱附量不能近似成一个平面，应对此项加以适当校正，这就是常用的DJH方法。

基于以上的理论分析，用氮吸附法测定孔径分布的实验及计算方法迎

刃而解。首先，设计若干实验的P/P

0值(即分成若干孔区)，根据P/P

，所

有计算所需的参数均可通过如下相关公式求出,并组成第一个”计算参数表”。表中所用的公式再分列于下：

r

ci = r

ki

= -0.414 / log(P/P

)

i

(凯尔文方程)

t

i = 0.354[-5 / ln(P/P

)

i

]1/3 (赫尔赛方程)

r

pi = r

ci

+ t

i

r

pi = 1/2 (r

p（i-1）

+ r

pi

)

r

ci = 1/2 (r

c（i-1）

+ r

ci

)

△t

i = t

(i-1)

-t

i

R

i = (r

pi

/r

ci

)2

噪声测量三种方法

噪声系数测量的三种方法 本文介绍了测量噪声系数的三种方法：增益法、Y系数法和噪声系数测试仪法。这三种方法的比较以表格的形式给出。 前言 在无线通信系统中，噪声系数(NF)或者相对应的噪声因数(F)定义了噪声性能和对接收机灵敏度的贡献。本篇应用笔记详细阐述这个重要的参数及其不同的测量方法。 噪声指数和噪声系数 噪声系数有时也指噪声因数(F)。两者简单的关系为： NF = 10 * log10 (F) 定义 噪声系数(噪声因数)包含了射频系统噪声性能的重要信息，标准的定义为： 从这个定义可以推导出很多常用的噪声系数（噪声因数）公式。 下表为典型的射频系统噪声系数： *HG=高增益模式，LG=低增益模式

噪声系数的测量方法随应用的不同而不同。从上表可看出，一些应用具有高增益和低噪声系数(低噪声放大器(LNA)在高增益模式下)，一些则具有低增益和高噪声系数(混频器和LNA在低增益模式下)，一些则具有非常高的增益和宽范围的噪声系数(接收机系统)。因此测量方法必须仔细选择。本文中将讨论噪声系数测试仪法和其他两个方法：增益法和Y系数法。 使用噪声系数测试仪 噪声系数测试/分析仪在图1种给出。 图1. 噪声系数测试仪，如Agilent公司的N8973A噪声系数分析仪，产生28VDC脉冲信号驱动噪声源 (HP346A/B)，该噪声源产生噪声驱动待测器件(DUT)。使用噪声系数分析仪测量待测器件的输出。由于分析仪已知噪声源的输入噪声和信噪比，DUT的噪声系数可以在内部计算和在屏幕上显示。对于某些应用(混频器和接收机)，可能需要本振(LO)信号，如图1所示。当然，测量之前必须在噪声系数测试仪中设置某些参数，如频率范围、应用(放大器/混频器)等。 使用噪声系数测试仪是测量噪声系数的最直接方法。在大多数情况下也是最准确地。工程师可在特定的频率范围内测量噪声系数，分析仪能够同时显示增益和噪声系数帮助测量。分析仪具有频率限制。例如，Agilent N8973A可工作频率为10MHz至3GHz。当测量很高的噪声系数时，例如噪声系数超过10dB，测量结果非常不准确。这种方法需要非常昂贵的设备。 增益法 前面提到，除了直接使用噪声系数测试仪外还可以采用其他方法测量噪声系数。这些方法需要更多测量和计算，但是在某种条件下，这些方法更加方便和准确。其中一个常用的方法叫做“增益法”，它是基于前面给出的噪声因数的定义：

微机原理试题及答案

1 一、选择题（20分，在每小题的4个备选答案中选出一个正确的答案编号填写在该题空白处，每题2分） 1.指令MOV DX，[BX]的寻址方式是 D 。 （A）立即寻址（B）直接寻址（C）寄存器寻址（D）寄存器间接寻址2.若AL的内容为3FH，执行SHL AL，1指令后，AL的内容为 A 。 （A）7EH （B）1FH （C）9FH （D）7FH 解析：shl al ，1 即目的操作数各位左移一次，移动一次，相当于将目的操作数乘以2。3fh=63 63*2=126 126=7eh 故选A 3.属于在工作中需定时刷新的存储器的芯片是 B 。 （A）SRAM （B）DRAM （C）EEPROM （D）EPROM 4.某EPROM芯片上有19条地址线A 0～A 18 ，它的容量为 C 。 （A）128K （B）256K （C）512K （D）1024K 5.8086/8088CPU的SP寄存器是多少位的寄存器 B 。 （A）8位（B）16位（C）24位（D）32位 6.在STOSB指令执行的时候，隐含着寄存器的内容作为操作数的偏移地址， 该寄存器是 D 。 （A）SP （B）BX （C）SI （D）DI 解析：stos数据串存储指令功能：将累加器al或ah中的一个字或字节，传送到附加段中以di为目标指针的目的串中，同时修改di，以指向串中的下一个单元。 7.8255工作在方式0时，下面哪种说法不正确 C 。 （A）A口输入无锁存能力（B）A、B口输出有锁存能力 （C）C口输入有锁存能力（D）A、B、C三个口输出均有锁存能力 解析：对于方式0，规定输出信号可以被锁存，输入不能锁存 8.采用DMA方式来实现输入输出是因为它 A 。 （A）速度最快（B）CPU可不参与操作（C）实现起来比较容易（D）能对突发事件做出实时响应 9.工作在最小模式下，8086/8088CPU芯片中，将地址信号锁存的信号是 C 。 （A）DT/R （B）DEN （C）ALE （D）AEN 10.在LOOP指令执行的时候，隐含着对计数器减1的操作，该计数器是用寄存 器 C 。 （A）AX （B）BX （C）CX （D）DX 解析：loop：循环指令。指令执行前必须事先见重复次数放在cx寄存器中，每执行一次loop指令，cx自动减1。 二、填空题（每小题2分，共10分） 1.两个无符号数相等，该两数相减后ZF标志＝ 1 。解析：zf： 全零标志位。本次运算结果为0时，zf=1，否则zf=0。 2.执行LODSB后，SI的内容较该指令执行前增加1，说明DF＝ 0 。

页岩全尺度孔径分布测试方法及特征研究

龙源期刊网 https://www.wendangku.net/doc/8d10998789.html, 页岩全尺度孔径分布测试方法及特征研究 作者：吴魏 来源：《中国化工贸易·上旬刊》2017年第05期 摘要：本文分别用高压压汞、液氮吸附及低温二氧化碳吸附方法获取了页岩的不同孔径 分布，分析了三种方法的适用范围，获取了页岩全尺度孔径分布。 关键词：页岩；孔径分布；压汞；液氮 目前研究页岩孔隙分布特征的方法主要有电镜扫描、高压压汞、液氮吸附及低温二氧化碳吸附等方法。因此本文旨在用这三种方法测试同一岩样的孔径分布并分析三种孔径分布的特征，研究页岩全尺度孔径分布的特征，为评价及优选有利储层提供技术支持。 1 实验方法 1.1 实验材料 页岩样品取自川南龙马溪组页岩。为排出水分对孔径分布测试的影响及获取样品较为真实的孔径分布，样品取回后在100℃下烘48小时，然后再根据不同实验的要求处理样品。 1.2 实验设备 高压压汞孔径分布实验采用国外引进的Poremaster高压压汞仪器，液氮孔径分布实验采用Autosorb-6B吸附仪，低温二氧化碳孔径分布实验采用Autosorb-IQ吸附仪。 2 高压压汞孔径分布特征 实验发现进汞退汞曲线不重合现象明显，而且进汞饱和度普遍偏低，分布在25%～58%之间，说明巨大的毛管力阻碍了退汞，同时意味着样品存在大量的微孔，而且还存在相当一部分微孔未被汞侵入，因此高压压汞不能得到整个样品的孔径分布。 4块样品的峰值均出现在60nm及800-1000nm左右，说明样品高压压汞孔径分布均呈双峰形态。又因为取样储层的破裂压力约在85MPa左右，同样压力下的汞能进入直径约为20nm的孔隙，因此进汞压力大于85MPa时页岩样品（或孔隙）很有可能被破坏，所以认为孔径小于20nm的孔径分布可信度不高。排除20nm及以下的孔径分布后，发现孔隙体积分布仍然呈双 峰形态，孔隙度越大对应分布曲线的峰值也越大，说明孔径分布特征与孔隙度间存在良好的对应关系，即在孔径大于20nm的范围内高压压汞能有效表征样品的孔径分布特征，而且我们认为具体的适用范围与储层破裂压力密切相关。

微机原理试题及答案

微机原理试题及答案 微机原理试题及答案 一、填空题(每空1分，共15分) 1、在计算机中，对带符号数的运算均采用补码。带符号负数1100 0011的补码为_10111101_。2、单片机通常采用“三总线”的应用模式，芯片内部设有单独的地址总线、数据总线_ 和控制总线。 3、当使用80C51单片机时，需要扩展外部程序存储器，此时EA应为_0__。 4、若(A)=B3H，(R0)=A8H,执行指令XRL A,R0之后，(A)=_1BH__。 5、在80C51单片机中，带借位减法SUBB指令中，差的D7需借位时，_CY_=1，差的D3需借位时，AC_=1。 6、80C51单片机中，在调用子程序前，用_PUSH__指令将子程序中所需数据压入堆栈，进入执行子程序时，再用___POP__指令从堆栈中弹出数据。 7、在十六进制数与ASCII码值的转换过程中，当十六进制数在0~9之间时，其对应的ASCII码值为该十六进制数加___30H______。 8、外部中断INT0和INT1有两种触发方式：___电平触发方式_____和__边沿触发方式__。 9、在单片机串行通信中，依发送与接收设备时钟的配置情况，串行通信可以分为 __异步通信___和__同步通信_。10、若累加器A中的数据为

0111 0010B，则PSW中的P=__0___。二、选择题(每题1分，共15分) 1、单片机是在一片集成电路芯片上集成了以下部分，除了( D ) A、微处理器 B、存储器 C、I/O接口电路 D、串口通信接口2、一个机器周期包含多少个晶振周期(D ) A、2 B、6 C、8 D、12 3、80C51单片机有21个特殊功能寄存器，其中与串行口相关的有以下几个，除了( B ) A、SBUF B、TCON C、SCON D、PCON 4、 80C51系列单片机具有4个8位的并行I/O口，其中哪个口工作时需要外接上拉电阻(A ) A、P0 B、P1 C、P2 D、P3 5、寄存器中的内容为地址，从该地址去取操作数的寻址方式称为( C ) A、寄存器寻址 B、直接寻址 C、寄存器间接寻址 D、变址寻址6、源地址为1005H。目的'地址为 0F87H。当执行指令“JC rel”时，rel为( B )。A、7EH B、80H C、82H D、84H 7、若(R0)=30H，(30H)=75H，(75H)=90H，执行指令MOV A,@R0后，(A)=__B____。A、30H B、75H C、90H D、00H 8、下列哪个语句是起始地址设置伪指令( A )。A、ORG B、END C、DW D、EQU 9、在80C51单片机中，各中断优先级最低的是( D )。A、外部中断0 B、外部中断1 C、定时器0 D、计数器1 10、80C51单片机的中断响应时间至少需要( C )个完整的机器周期。A、1 B、2 C、3 D、5 11、在80C51单片机中，

孔径检测系统校验方法

孔径检测系统校验方法 本方法适用于新购和使用中以及修理后的JJC-1D孔径检测系统的验证。 一、验证依据 依据《公路桥涵施工技术规范》（JTG/T F50-2011），对JJC-1D孔径检测系统进行验证试验。 二、验证项目及条件 2.1验证项目 2.1.1 JJC-1D孔径检测系统孔径检测。 2.2验证用器具 2.2.1圆形钢筒：圆形钢筒各方向直径一致,筒的位置固定。 三、校验方法 3.1 标定孔径 ⑴标定方法 首先选择仪器编号，点击本窗体中“仪器编号”按钮，选择要标定的仪器（编号由用户设定）。点击本窗体“标定孔径”按钮输入孔径值（单位：mm），应与孔径仪测量腿置于所附的校正架上该孔的标准刻度值相对应。作线性拟合确定线性拟合方程系数：将测量腿依次置于校正架上的标准孔，从大→小1200、1100、1000、900、800、700、600、500mm，再从小→大600、700、800、900、1000、1100、1200mm,每变换一次，在标准孔径文本框中依次输入对应的标准刻度值后按“回车”确认。如在标定过程中某一输入的孔径值或该测点的测量值不正确，点击“标定孔径”按钮旁的“清除”按钮，可清除此错误值。待所有取值全部输入完成后，点击“停止标定”按钮软件可计算并存储仪器孔径计算方程的线性拟合方程系数。如需外加测量杆增大测量范围,点击“测量腿参数”按钮,输入仪器外径、仪器外加测点到原测量杆的垂直距离、仪器原测量杆长度、仪器外加测量杆的测点到支点的距离等参数。 ⑵验证 验证线性拟合方程，确保孔径仪的测量值在误差允许范围内，仪器才算通过标定。将井径仪测量腿预置一标准值，点击本窗体“验证孔径值”按钮，“实测孔径”文本框中显示的是仪器的测量值，依次选取几个标准孔径值，如实测值均

磁粉检测中的连续法

磁粉检测中的连续法 采用连续法时，被检工件的磁化、施加磁粉的工艺及观察磁痕显示都应在磁化通电时间内完成，通电时间为1s～3s，而又要求磁粉要以云雾状形式缓慢施加到工件表面，形成薄而均匀的覆盖层，防止磁粉堆积。 详细分解： 1、连续法-在外加磁场磁化的同时，将磁粉或磁悬液施加到工件上进行磁粉检测的方法。 2、应用范围 1）适用于所有铁磁性材料和工件的磁粉检测。 2）工件形状复杂不易得到所需剩磁时。 3）表面覆盖层较厚的工件。 4）使用剩磁法检验时，功率达不到时。 3、操作程序 1）在外加磁场作用下进行检验（用于光亮工件）。 预处理→磁化（浇磁悬液→检验）→退磁→后处理 2）在外加磁场中断后进行检验（用于表面粗糙的工件） 预处理→磁化（浇磁悬液）→检验→退磁→后处理 4、操作要点 （1）湿连续法先用磁悬液润湿工件表面，在通电磁化的同时浇磁悬液，停止浇磁悬液后再通电数次，待磁痕形成并滞留下来时停止通电，再进行检验。

（2）干连续法对工件通电磁化后开始喷洒磁粉，并在通电的同时吹去多余的磁粉，待磁痕形成和检验完后再停止通电。 5、优点 1）适用于任何铁磁性材料。 2）最高的检测灵敏度。 3）可用于多向磁化。 4）交流磁化不受断电相位的影响。 5）能发现近表面缺陷。 6）可用于湿法和干法检验。 6、局限性 1）效率低 2）易产生非相关显示。 3）目视可达性差 JB/T4730-2005中磁粉检测条形显示按长度评定，而在实际工作中，产品技术条件中允许条形缺陷的存在，只要深度不大于0..5mm，仍算合格，对于此类产品的无损检测，由于两个标准的评价标准的不同，如果按照JB/T4730-2005，一些按照技术条件合格的产品会被判废，但磁粉又不能检测出表面缺陷深度，对于此类问题，不知同行有什么好的解决办法？我们目前采用打磨的办法打磨一定深度，用塞尺检查打磨深度。

微机原理及应用 第2章 习题及答案

CH02 8086／8088指令系统 习题与思考题 1．假定DS=2000H，ES=2100H，SS=1500H，SI=00A0H，BX=0100H，BP=0010H，数据变量VAL的偏移地址为0050H，请指出下列指令源操作数是什么寻址方式？源操作数在哪里？如在存储器中请写出其物理地址是多少？ （1）MOV AX，0ABH （2）MOV AX，[100H] （3）MOV AX，VAL （4）MOV BX，[SI] （5）MOV AL，VAL[BX] （6）MOV CL，[BX][SI] （7）MOV VAL[SI]，BX （8）MOV [BP][SI]，100 解答： （1）MOV AX，0ABH 寻址方式：立即寻址；源操作数在数据线上；物理地址：无 （2）MOV AX，[100H] 寻址方式：直接寻址；源操作数在存储器中；物理地址：DS＊16+100H＝2000H*16+100H＝20100H （3）MOV AX，VAL 寻址方式：直接寻址；源操作数在存储器中；物理地址：DS＊16+VAL＝2000H*16+0050H＝20050H （4）MOV BX，[SI] 寻址方式：寄存器间接寻址；源操作数在存储器中；物理地址：DS＊16+SI＝2000H*16+00A0H＝200A0H （5）MOV AL，VAL[BX] 寻址方式：变址寻址；源操作数在存储器中；物理地址：DS＊16+VAL+BX＝2000H*16+0050H+0100＝20150H （6）MOV CL，[BX][SI] 寻址方式：基址加变址寻址；源操作数在存储器中；物理地址：DS＊16+BX+SI＝ 2000H*16+0100H+00A0H ＝201A0H （7）MOV VAL[SI]，BX 寻址方式：寄存器寻址；源操作数在寄存器中；物理地址：无 （8）MOV [BP][SI]，100 寻址方式：立即寻址；源操作数在；物理地址：无 ．设有关寄存器及存储单元的内容如下：2． DS=2000H，BX=0100H，AX=1200H，SI=0002H，[20100H]=12H，[20101H]=34H，[20102H]=56H，[20103]=78H，[21200]=2AH，[21201H]=4CH，[21202H]=0B7H，[21203H]=65H。

微机原理习题集以及答案

第一部分 例题与习题 第1章 微型计算机基础 例 题 1．把十进制数转化为二进制数。P7 解：把十进制数转换成二进制数时，需要对一个数的整数部分和小数部分分别进行处理，得出结果后再合并。 整数部分：一般采用除2取余法 小数部分：一般采用乘2取整法 余数 低位 整数 高位 2 | 137 2 | 68 × 2 2 | 34 2 | 17 × 2 2 | 8 2 | 4 × 2 2 | 2 1 高位 低 位 (137)10=()2 10=2 所以，10=(.111)2 2．把二进制数转换为八进制数和十六进制数。P9 解：八进制、十六进制都是从二进制演变而来，三位二进制数对应一位八进制数，四位二进制数对应一位十六进制数，从二进制向八进制、十六进制转换时，把二进制数以小数点为界，对小数点前后的数分别分组进行处理，不足的位数用0补足，整数部分在高位补0，小数部分在低位补0。 (10 1)2=(010 100)2=8 (1 2=(0001 2=16 3．将八进制数转换为二进制数。P9 解：8=(010 100)2=2 4．X=，Y=－，求[X －Y]补，并判断是否有溢出P11 解：[X －Y]补=[X]补＋[－Y]补 [X]补= [Y]补= [－Y]补= ＋ -------------- 1 -------------- 0 -------------- 0 -------------- 1 -------------- 0 -------------- 0 -------------- 0 -------------- 1 ------------- 1 ------------- 1 ------------- 1

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一、输入框 1、字符型输入框： （1）字符型输入框：英文全角、英文半角、数字、空或者空格、特殊字符“~！@#￥%……&*？[]{}”特别要注意单引号和&符号。禁止直接输入特殊字符时，使用“粘贴、拷贝”功能尝试输入。 （2）长度检查：最小长度、最大长度、最小长度-1、最大长度+1、输入超工字符比如把整个文章拷贝过去。 （3）空格检查：输入的字符间有空格、字符前有空格、字符后有空格、字符前后有空 格 （4）多行文本框输入：允许回车换行、保存后再显示能够保存输入的格式、仅输入回 车换行，检查能否正确保存（若能，检查保存结果，若不能，查看是否有正常提示）、（5）安全性检查：输入特殊字符串 （null,NULL, ,javascript,,